CS232480B1 - Způsob měření hlavních směrů ionizujícího záření a zařízení k jeho provádění - Google Patents

Způsob měření hlavních směrů ionizujícího záření a zařízení k jeho provádění Download PDF

Info

Publication number
CS232480B1
CS232480B1 CS831276A CS127683A CS232480B1 CS 232480 B1 CS232480 B1 CS 232480B1 CS 831276 A CS831276 A CS 831276A CS 127683 A CS127683 A CS 127683A CS 232480 B1 CS232480 B1 CS 232480B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
ionizing radiation
measuring
main directions
current
voltage
Prior art date
Application number
CS831276A
Other languages
English (en)
Other versions
CS127683A1 (en
Inventor
Milos Janu
Miroslav Pesek
Original Assignee
Milos Janu
Miroslav Pesek
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Milos Janu, Miroslav Pesek filed Critical Milos Janu
Priority to CS831276A priority Critical patent/CS232480B1/cs
Publication of CS127683A1 publication Critical patent/CS127683A1/cs
Publication of CS232480B1 publication Critical patent/CS232480B1/cs

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

Způsob měření hlavních směrů ionizujícího záření a zařízení k jeho provádění je určeno pro proměřování expozičních příkonů z hlavních směrů působení ionizujícího záření a k proměřování hlavních směrů působení ionizujícího záření a je tvořeno velkoplošnou polovodičovou diodou s maximální účinností ve směru kolmém na její čelní plochu, kde se generovaný proud nebo napětí zavádí do měřidla proudu nebo napětí. Zařízení k provádění způsobu měření hlavních směrů ionizujícího záření je tvořeno velkoplošnou polovodičovou diodou 1 s účinnou plochou 100 až 4 000 ma, která je uložena ve stínícím prstenci 3 a vývody jsou připojeny k vyhodnocovacímu zařízení s výhodou přístroji na měření proudu nebo napětí 2. Zařízení je možno použít v různých oblastech jaderná techniky všude, kde je nutná proměřovat větší expoziční příkony a hlavní směry působení ionizujícího záření zvláětě u velkých radiačních zdrojů.

Description

Vynález se týká způsobu Měřeni hlavních směrů ionizujícího záření a zařízení k jeho provádění a je určen k proměřování expozičního příkonu z hlavních směrů působení ionizujícího záření pomocí velkoplošná polovodičové diody a vyhodnocovacího zařízení.
Polovodičová dioda může být ne obvodu opatřena přídavným prstencovým stíněním pro zvýšení směrové účinnosti.
Pro směrovou detekci ionizujícího zářeni se dosud používají převážně scintilační detektory a plynové GU počítače. Jak GM počítače, tak scintilační detektory jsou především používány pro detekci malých expozičních příkonů, přičemž obecnou nevýhodou Git počítačů je nízká detekční účinnost a nevýrazná směrová citlivost.
Rovněž scintilační krystaly válcového tvaru nevykazují směrové vlastnosti s výjimkou nízkoenergetického záření gama, detekovaného anorganickými scintilátory s podstatně větším průměrem než výškou scintilátoru.
Přitom je nutno pro vyhodnocení používat složité elektronické aparatury. Nejběžněji se pro dosažení směrových účinků detektoru používá stínění detektoru. Nevýhodou je ve většině případů značná hmotnost stínění GM počítačů a scintilačních krystalů, nebot je většinou rozměrné a bývá zhotovováno z olova nebo z jiných těžkých kovů.
Používají se rovněž kompenzační systémy, které sestávají ze dvou detekčních kanálů a vyhodnocuje se rozdíl mezi četnostmi z obou kanálů. Při tomto systému je nutno použít jeden nebo více detektorů, zvyáuje se statistická chyba vlivem rozdílového vyhodnocování četností a jsou obecně větší rozměry detektoru.
Podrobněji je problematika směrové detekce záření popsána v přehledném článku PETRA; Radioisotopy 12(3), 327-370 (1976).
Výše uvedené nedostatky odstraňuje vynález umožňující proměřovat hlavni směry působení ionizujícího záření a proměřování expozičních příkonů z hlavních směrů působení ionizujícího zářeni, jehož podstatou jsou velkoplošné polovodičové PN systémy s vyhodnocovacím zařízením s výhodou přístrojem pro měření generovaného proudu nebo napětí.
Mohou to být např. mikroampérmetr nebo pikoampérmetr pro proměřování generovaného proudu nebo milivoltmetr nebo mikrovoltmetr pro proměřováni generovaného napětí, popřípadě odpovídající registrační přístroje.
Příkladné provedeni zařízení k měření hlavních směrů ionizujícího záření je na připojených výkresech, kde na obr. 1 je celkové schéma s diagramem příjmu, na obr. 2 je příčný řez i pohled shora a na obr. 3 je stínící prstenec v řezu.
Způsob měření hlavních směrů ionizujícího záření se provádí tak, že velkoplošná polovodičová dioda 1 se natočí maximální účinností ve směru kolmém na zdroj ionizujícího záření a generovaný proud nebo napětí se zavede do měřidla proudu nebo napětí 2.
Zařízení k provádění způsobu měření hlavních směrů ionizujícího záření je tvořeno o
velkoplošnou polovodičovou diodou 1 s účinnou plochou výhodně 100 až 4 000 mm , která je uložena ve stínícím prstenci g tak, aby její čelní plocha byla ve středu stínícího prstence I·
Vývody Velkoplošné polovodičové diody 1 jsou připojeny k vyhodnocovacímu zařízení, a výhodou k přístroji na měření proudu nebo napětí g.
Velkoplošné polovodičové PN systémy generují proud nebo odpovídající napětí ve svazku ionizujícího záření v závislosti na poloze detektoru vůči směru působení ionizujícího záře ní (obr. 1), neboli tyto polovodičové PN systémy mají různou směrovou účinnost. Navíc je možno směrový efekt ještě zesílit pomocí přídavného stínění např. ve tvaru prstence J (obr. 2a, b).
Ionizující záření je možno registrovat ve dvou vzájemně kolmých směrech a z rozdílu snáze stanovit hlavní směry působení ionizujícího záření a odpovídající expoziční příkony.
Podle vynálezu je možno proměřovat hlavní směry působení ionizujícího záření a odpovídající expoziční příkony i u silných radiačních zdrojů, kde se expoziční příkony pohybují kolem 10 aA/kg, kde např. GM počítače nebo podobné systémy není možno vůbec použít.
Je možno samozřejmě proměřovat hlavní směry působení ionizujícího záření i u podstatně slabších zdrojů záření a to jak u zéření gamu, tak u zářeni beta nebo u urychlených elektronů, v některých případech i u záření protonového hebo u zéření alfa nebo u jiných typů ionizujícího záření.
Přídavné stínění může být v různé formě. Může být např. ve formě jednoduchého tenkého prstence J, který obepíná ploché polovodičové čidlo, .nebo může být ve tvaru koliaétoru 3 a (obr. 3).
Při použití plochého tenkého prstence J je hlavní směr působeni ionizujícího záření možno stanovit na základě určení směru, ve kterém je registrován minimální údaj na polovodičovém čidle, např. je registrován pomocí ampérmetru minimální generovaný proud (obr. !).
V případě, že se tímto čidlem otáčí a výsledný generovaný proud se snímá na registračním zařízení, lze získat přehled o hlavních směrech působení ionizujícího záření v celé rovině z regi sírovaného záznamu.
Pokud je použito stínění, které obklopuje z větší části polovodičové čidlo a je ponechán pouze úzký otvor, kterým dopadá ionizující záření na čidlo, je možno vyhodnotit hlavní směr působeni ionizujícího záření na základě určeni směru, ve které® je registrována maximální změna na polovodičovém čidle, např. je registrován pomocí ampérmetru maximální generovaný proud.
V hlavních směrech působení ionizujícího záření je možno současně stanovovat pomocí vhodné kalibrace intenzitu dopadajícího ionizujícího záření a odpovídající expoziční příkony. Polovodičová čidla je možno používat bu3 jednotlivá, nebo je možno je pro zvýšení účinku uspořádat do plošného souboru, kde budou umístěny vedle sebe (paralelně), nebo je rovněž umístit při měření za sebou.
Eventuální přídavné stínění je potom umístěno kolem souboru těchto polovodičových čidel. S výhodou je možné použít polovodičových prvků, jako jsou velkoplošné křemíkové Pří systémy kontaktované a připojené k dilatačním podložkám nebo i PN systémy s jen vytvořeným kontaktem pomocí niklu (Ni) nebo napařeným zlatém (Au), hliníkem (AI) a podobnými kovy.
Vzhledem k minimálnímu časovému zpoždění dosahovaných efektů je možno zaznamenat a vyhodnotit údaje s minimální časovou ztrátou a získané výsledky jsou k dispozici téměř okamžitě.
Způsob měření hlavních směrů ionizujícího záření a zařízení k jeho provádění je možno používat pro proměřování a pro stanovování hlavních směrů působení ionizujícího záření » ve velkých ozařovacích radiačních zdrojích.
Způsob měření hlavních směrů ionizujícího záření a zařízení k jeho provádění je možno současně využívat pro rychlé stanovování expozičních příkonů ve velkých radiačních zdrojích a proměřování radiačního pole těchto zdrojů.
Je možno rovněž určovat místa, kde se např. nachází zářič, nad nímž byla ztracena kontrola. Vynález může být využit i při lokalizaci míst intenzivního zamoření radioaktivními látkami, pro určení výskytu silných radioaktivních zářičů a pro podobné účely.

Claims (2)

PŘEDMĚT VYNÁLEZU
1. Způsob měření hlavních směrů ionizujícího záření, vyznačující se tím, ie se použije velkoplošné diody (1) s maximální účinností ve směru kolmém na její čelní plochu a generovaný proud nebo napětí se zavádí do měřidla proudu nebo napětí (2).
2. Zařízení k provádění způsobu měření hlavních směrů ionizujícího záření podle bodu 1, vyznačující se tím, že je tvořeno velkoplošnou polovodičovou diodou (1) s účinnou plochou například 100 až 4 000 mm*', která je uložena ve stínícím prstenci (3) tak, aby její čelní plocha byla ve středu stínícího prstence (3) a vývody jsou připojeny k vyhodnocovacímu zařízení, s výhodou přístroji na měření proudu nebo napětí (2).
CS831276A 1983-02-24 1983-02-24 Způsob měření hlavních směrů ionizujícího záření a zařízení k jeho provádění CS232480B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS831276A CS232480B1 (cs) 1983-02-24 1983-02-24 Způsob měření hlavních směrů ionizujícího záření a zařízení k jeho provádění

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS831276A CS232480B1 (cs) 1983-02-24 1983-02-24 Způsob měření hlavních směrů ionizujícího záření a zařízení k jeho provádění

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS127683A1 CS127683A1 (en) 1984-06-18
CS232480B1 true CS232480B1 (cs) 1985-01-16

Family

ID=5346750

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS831276A CS232480B1 (cs) 1983-02-24 1983-02-24 Způsob měření hlavních směrů ionizujícího záření a zařízení k jeho provádění

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS232480B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS127683A1 (en) 1984-06-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3911280A (en) Method of measuring a profile of the density of charged particles in a particle beam
US8168953B2 (en) Method, apparatus and computer program for measuring the dose, dose rate or composition of radiation
US4857737A (en) Gamma ray measurement utilizing multiple compton scattering
US8829443B2 (en) Neutron and gamma-ray detection system
US6862087B2 (en) Radiation source position detection method, radiation source position detection system and radiation source position detection probe
ES8106404A1 (es) Un dispositivo para examinar un cuerpo utilizando radiacion penetrante
US3566118A (en) An axially aligned gamma ray-neutron detector
US5442180A (en) Apparatus for the field determination of concentration of radioactive constituents in a medium
US4494001A (en) Detection of concealed materials
US2954473A (en) Cerenkov radiation fission product detector
US3132248A (en) Beta radiation backscatter gauge
Ryan et al. A scintillating plastic fiber tracking detector for neutron and proton imaging and spectroscopy
US3299268A (en) Quantitative chemical analysis comprising irradiating with neutrons and measuring the characteristic decay pattern
EP0262524B1 (en) Heated scintillator
US2967938A (en) Thickness measurement
CS232480B1 (cs) Způsob měření hlavních směrů ionizujícího záření a zařízení k jeho provádění
US8147134B2 (en) Method and apparatus for isotope identification and radioactivity measurement of alpha-emitting-radionuclides using a low temperature detector
JPS63158490A (ja) 多重コンプトン散乱を利用したx線又はガンマ線測定方法及び装置
RU2217776C2 (ru) Устройство для поиска фотонных источников
RU2386146C1 (ru) Устройство со сферической зоной обзора для поиска фотонных источников
JP4037590B2 (ja) 陽電子消滅γ線測定方法および装置
US3012143A (en) Testing and measuring device
Kennedy et al. Parameterization of detector efficiency for the standardization of NAA with stable low flux reactors
CN119471768A (zh) 一种可核素识别的个人剂量仪
US3240939A (en) Measurement of electric and magnetic fields by backscattering of nuclear radiation particles