CS230082B1 - Sposob lokalizácie čiastočných výbojov vo vn a wn zariadeniach - Google Patents

Description

1 230 082

Predraetom vynálezu je spósob lokalizácie čiastočných výbojovvo vn a vvn zariadeniach, pri ktorom na skúšané zariadenie je při-pojené napátie a paralelné so skúšaným zariadením je zapojený v sérii vázobný kondenzátor a meracia impedancia, z ktorej sa sníma-jú impulzy vyvolané čiastočnými výbojmi v skúšanom zariadení, V súčasnosti známe spósoby lokalizácie čiastočných výbojovvo vn a vvn zariadeniach vyuzívajú rožne javy súvisiace so vzni-kom čiastočných výbojov ako sú například zvuk a ultrazvuk, teplo,světlo, elektromagnetické vlnenie, připadne elektrické impulzy,ktoré sa šíria k výstupu skúšaného zariadenia, Výstupom móžu byťsvorky vn vinutia transformátora, konce káblov, alebo vývodyz vn přístrojov. Avšak lokalizácia čiastočných výbojov v súčas-nosti známými spósobmi je mimoriadne náročná na meraciu aparatu-ru a nedosahuje sa požadovaná přesnost v určovaní miesta vznikučiastočného výboja. V mnohých prípadoch, kedy sa jedná o uzavře-,tý izolačný systém, sa súčasné spósoby lokalizácie čiastočnýchvýbojov nedajú vóbec použit, Taktiež sa nedsjú súčasné metody lo-kalizácie použit, ak sa súčasné vyskytnú čiastočné výboje na via-cerých miestach.

Nevýhody v súčasnosti známých spósobov lokalizácie čiastoč-ných výbojov vo vn a vvn zariadeniach sú v podstatnej miere odstránené spósobom podlá předloženého vynálezu. Podstatou spósobu podlávynálezu je, že na skúšané zariadenie sa připojí napátie, rovna-júce sa 0,7 až 0,9 násobku počiatočného napátia čiastočných výbo-jov a skúšané zariadenie sa po častiach ožaruje ionizujúcim žia-rením.

Spósob podlá vynálezu umožňuje poměrně přesné zistenie polo-hy čiastočného výboja /aj v uzavretých izolačných systémoch/, Prelokalizáciu čiastočných výbojov sa použije aparatúrs, ktorou sa

meria maximálny zdánlivý náboj qffl, g připadne iný parameterM - 2 - 230 082 ias-očných výbojov. Tým, že spósobom podlá vynálezu sa presnezistí poloha čiastočných výbojov na skúšanom zariadení, sa umož-ní konštrukčnou úpravou odstranit tieto čiastočné výboje, ktoréspósobujú degradáciu izolácie, straty elektrickej energie, vznikozónu a dalších sprievodných javov, ktoré v značnej miere znižu-jú životnost vysokonapáťových zariadení.

Na priloženom obrázku je schematicky znázorněné zapojeniemeracej aparatúry s připojeným skúšaným zariadením, na ktorom salokalizujú Čiastočné výboje spósobom podlá vynálezu.

Na skúšané zariadenie 1 je z vysokonapáťového zdroja 2 cezimpedanciu 3 připojené skúšobné napátie. Impulzy, vyvolané čias-točnými výbojmi v skúšanom zariadení JL sú privádzané cez vázobnýkondenzátor 5 a meraciu impedanciu 6 do meracieho zariadenia 7.

Pri lokalízácii čiastočných výbojov spósobom podlá vynále-zu sa postupuje následovně. Skúšobné napátie, ktoré je připojenéna skúšané zariadenie 1 sa zvyšuje na hodnotu počiatočného napá-tia čiastočných výbojov. Potom skúšobné napátie sa zníži na hodno-tu 0,7 až 0,9 násobku počiatočného napátia čiastočných výbojov,pri ktorom čiastočné výboje zaniknú. Pri takto zníženom skúšobnomnapatí sa skúšané zariadenie 1. po častiach ozařuje ionizujúcimžiarením zo žiariča 4, lonizujúce žiarenie v mieste jeho pósobe-nia znižuje velkost napátia potřebného pre vznik čiastočných vý-bojov a preto, ak v tomto mieste bol čiastočný výboj, po ožiare-ní tohoto miesta vznikne tu čiastočný výboj aj pri nižšom napatí,ako je počiatočné napátie čiastočných výbojov. Nakolko nikde indenie sú přítomné čiastočné výboje, je jednoznačné toto miesto čias- -točných výbojov lokalizované. Postupným ozařováním skúšaného za-riadenia 1_ sa lokalizujú dalšie miesta čiastočných výbojov.

Claims (1)

1. 3 PŘEĎME T VYNÁLEZU 230 082 Spdsob lokalizácie čiastočných výbojov vo vn a vvn zariade-niach, při ktorom paralelné so skúšaným zariadeníra je zapojenýv sérii vázobný kondenzátor a meracia irapedancia, z ktorej sasniroajú impulzy vyvoděné čiastočnýroi výbojrai v skúšanom zariade-ní, vyznačujúci sa tým, že na skášané zariadenie sa připojí napatie rovnajúce sa 0,7 až 0,9 násobku počiatočného napátia čiastočných výbojov a skúšané zariadenie sa po častiach ožaruje ionizu-júcim žiarením. 1 výkrem