CS218006B1

CS218006B1 - Connection to non-contact current-voltage converter

Info

Publication number: CS218006B1
Application number: CS826679A
Authority: CS
Inventors: Stanislav Netopil
Original assignee: Stanislav Netopil
Priority date: 1979-11-30
Filing date: 1979-11-30
Publication date: 1983-02-25

Abstract

Podstatou vynálezu jsou spínací tranzistory typu MOS-FET spojené hradly s řídicím obvodem, přičemž emitory prvních a druhých dvojic spínacích tranzistorů jsou spojeny s první testovací špičkou, třetích a čtvrtých dvojic s druhou testovací špičkou až n-tých dvojic s n-tou testovací špičkou, přičemž výstupní svorky jsou spojeny přes ócljranné odpory s výstupy operačních zesilovačů, které jsou vždy identicky spojeny s kolektory jedné trojice spínacích tranzistorů a přes stabilizační odpory s kolektory druhé trojice spínacích tranzistorů.The essence of the invention is MOS-FET type switching transistors connected by gates to the control circuit, with the emitters of the first and second pairs of switching transistors being connected to the first test tip, the third and fourth pairs to the second test tip up to the nth pairs to the nth test tip, with the output terminals being connected via shunt resistors to the outputs of operational amplifiers, which are always identically connected to the collectors of one trio of switching transistors and via stabilization resistors to the collectors of the second trio of switching transistors.

Description

Vynález se týká zapojení k bezkontaktnímu přepojování převodníku proud-napětí k testované špičce integrovaného obvodu se spínacími tranzistory typu MOS-FET.The invention relates to a circuit for contactless switching of a current-voltage converter to a test tip of an integrated circuit with MOS-FET switching transistors.

Automatické testery logických integrovaných obvodů používají jako základních funkčních prvků převodníků proud-napětí. Tyto převodníky v součinnosti s komparátorem nebo číslicovým voltmetrem jsou využívány ke kontrole vstupních a výstupních proudů testovaných obvodů. Dosavadní známá zapojení používají k tomuto účelu reléové matice, pomocí které se provádí přepojování měřiče proudu na testovací špičku, nebo převodník proud-napětí a komparátor samostatně na každou testovací špičku. Dosavadní řešení má ty nevýhody, že je při použití v kompaktních testerech integrovaných obvodů s vyšším počtem testovacích špiček příliš složité, konstrukčně prostorově náročné a tím výrobně nákladné.Automatic logic integrated circuit testers use current-voltage converters as essential functional elements. These converters, in conjunction with a comparator or digital voltmeter, are used to control the input and output currents of the circuits under test. Known prior art uses for this purpose relay matrices, by means of which the current meter is switched to the test tip, or the current-voltage converter and comparator separately to each test tip. The prior art solution has the disadvantages that when used in compact ICs with a higher number of test tips, it is too complex, space-consuming and thus expensive to manufacture.

Tyto dosavadní nevýhody odstraňuje zapojení k bezkontaktnímu přepojování převodníku proud-napětí k testovací špičce integrovaného obvodu se spínacími tranzistory typu MOS-FET, jehož podstatou je, že výstupní svorky jsou spojeny přes odpory převodníků se svorkou napětí a s kolektory výstupních tranzistorů, jejichž báze jsou spojeny přes ochranné odpory s výstupy operačních zesilovačů, které jsou neinvertujícími vstupy spojeny přes svodové odpory se společným vodičem a invertujícími vstupy jsou spojeny s kolektory první trojice spínacích tranzistorů a přes stabilizační odpor s emitory výstupních tranzistorů, které jsou spojeny s kolektory druhé trojice spínacích tranzistorů, přičemž hradla všech spínacích tranzistorů jsou spojena s jednotkou řídicích obvodů, přičemž emitory prvních a druhých dvojic spínacích tranzistorů jsou spojeny s první testovací špičkou, emitory třetích a čtvrtých dvojic spínacích tranzistorů s druhou testovací špičkou a emitory pátých a šestých dvojic spínacích tranzistorů jsou spojeny s třetí testovací špičkou.These previous disadvantages are eliminated by wiring for contactless switching of the current-voltage converter to the test tip of an integrated circuit with switching transistors of the MOS-FET type, which is based on the fact that the output terminals are connected via the resistors of the transmitters to the voltage terminal. protective resistors with operational amplifier outputs which are connected via non-inverting inputs via common conductor and inverting input resistors to the collectors of the first three switching transistors and through the stabilizing resistor to the emitters of the output transistors connected to the collectors of the other three switching transistors all switching transistors are connected to the control circuit unit, the emitters of the first and second pairs of switching transistors are connected to the first test tip, the emitters of the third and fourth pairs of sleep and the emitters of the fifth and sixth pairs of switching transistors are coupled to the third test peak.

Hlavní předností popisovaného zapojení je vyloučení nutnosti použití složitých reléových matic, které jsou nahrazeny poměrně jednoduchým zapojením, umožňujícím dosažení nízkých svodových proudů při současném měření na velkém počtu testovacích špiček se dvěma převodníky proud-napětí.The main advantage of the described circuit is the elimination of the need to use complex relay matrices, which are replaced by a relatively simple circuit, allowing to achieve low leakage currents while simultaneously measuring on a large number of test peaks with two current-voltage converters.

Vynález blíže objasní příklad zapojení na výkresu. Obvod je v podstatě tvořen spínacími tranzistory typu MOS-FET zapojenými řídicími elektrodami — hradly s jednotkou řídicích obvodů a tvoří v podstatě dvě identická zapojení, každé zakončené výstupní svorkou 6, 7. První dvojice prvních a druhých spínacích tranzistorů 11, 12 a 21, 22 je spojena emitory s první testovací špičkou 3. Emitory třetích a čtvrtých spínacích trazistorů 13, 14 a 23, 24 jsou spojeny s druhou testovací špičkou 4 a emitory pátých a šestých spínacích tranzistorů 15, 16 a 25, 26 jsou spojeny se třetí testovací špičkou 5. Jak naznačeno přerušovanými čarami, mezi čtvrtými a pátými tranzistory lze zařadit další n-počet testovacích špiček. Výstupní svorky 6,7 jsou spojeny přes odpory 19, 29 převodníků se svorkou UB napětí a dále s kolektory výstupních tranzistorů 8, 9 bázemi spojených přes ochranné odpory 18, 28 s výstupy operačních zesilovačů 1, 2, jejichž neinvertující vstupy jsou spoíeny přes svodové odpory 17, 27 se společným vodičem a invertujícími vstupy jsou spojeny s kolektory první trojice spínacích tranzistorů 11, 12, 13, a 21, 22, 23 a ještě přes stabilizační odpor 20, 30 s emitory výstupních tranzistorů 8, 9, které jsou spojeny s kolektory druhé trojice spínacích tranzistorů 14, 15, 16 a 24, 25, 26.The invention will be explained in more detail by way of example with reference to the drawing. The circuit consists essentially of MOS-FET switching transistors connected by control electrodes - gates with a control circuit unit, and consists essentially of two identical connections, each terminated by output terminal 6, 7. The first pair of first and second switching transistors 11, 12 and 21, 22 The emitters of the third and fourth switching transducers 13, 14 and 23, 24 are coupled to the second test tip 4, and the emitters of the fifth and sixth switching transistors 15, 16 and 25, 26 are coupled to the third test tip 5. As indicated by dashed lines, an additional n-number of test peaks may be included between the fourth and fifth transistors. Output terminals 6.7 are connected via UB voltage resistors 19, 29 of the transducers and collectors of output transistors 8, 9 by bases connected via protective resistors 18, 28 with outputs of operational amplifiers 1, 2, whose non-inverting inputs are connected via leakage resistors. 17, 27 with a common conductor and inverting inputs are connected to the collectors of the first three switching transistors 11, 12, 13, and 21, 22, 23 and still through the stabilizing resistor 20, 30 with the emitters of the output transistors 8, 9 connected to the collectors. the other three switching transistors 14, 15, 16 and 24, 25, 26.

Přepojování převodníků proud-napětí se provádí za provozu takto. Podle programu uloženého v paměti testeru za pomoci jednotky 10 řídicích obvodů se připojuje převodník proud-napětí k testovacím špičkám 3, 4, 5. Převodník proud-napětí první větve sestává z prvního operačního zesilovače 1, výstupního tranzistoru 8 ve spojení s odpory 17,18,19,20. Podle určeného programu se postupně přivádí napětí U_IH na testovací špičky 3, 4, 5 přes první svodový odpor 17 na vstup prvního operačního zesilovače 1. Proud tekoucí z testovací špičky 3, 4, 5 je na odporu 19 převeden na napětí, které se odebírá na první výstupní svorce 6. Stejným způsobem se z jednotky 10 řídicích obvodů připojuje postupně spínacími tranzistory 21, 22; 23, 2425, 26 převodník pr ouď-hapětí, tvořený druhým Operačním zesilovačem 2, druhým výstupním tranzistorem 9 a odpory 27, 28, 29 30. Ná testovací špičky 3, 4, 5 se přivádí napětí UIL přes druhý svodový odpor 27 na vstup druhého operačního zesilovače 2. Proud z testovací špičky 3, 4, 5 převedený odporem 29 na napětí se odebírá na druhé výstupní svorce 7.Switching current-voltage transducers is performed as follows during operation. According to the program stored in the tester memory by means of the control circuit unit 10, the current-voltage converter is connected to the test peaks 3, 4, 5. The current-voltage converter of the first branch consists of a first operational amplifier 1, output transistor 8 in connection with resistors 17,18 , 19.20. According to a predetermined program, the voltage U _IH is successively applied to the test tips 3, 4, 5 via a first leakage resistor 17 to the input of the first operational amplifier 1. The current flowing from the test tip 3, 4, 5 is converted to a voltage on the first output terminal 6. In the same way, it is connected sequentially from the control circuit unit 10 by switching transistors 21, 22; 23, 2425, 26 a current-to-hap converter, consisting of a second operational amplifier 2, a second output transistor 9, and resistors 27, 28, 29 30. The test tips 3, 4, 5 supply UIL voltage across the second leakage resistor 27 to the second input. The current from the test tip 3, 4, 5 converted by the resistor 29 to voltage is drawn at the second output terminal 7.

Zapojení je určeno pro testovací zařízení měřicích systémů pro měření parametrů logických integrovaných obvodů.The wiring is designed for testing equipment of measuring systems for measuring the parameters of logic integrated circuits.

Claims

Connection for contactless connection of current-voltage transducer to the test tip of an integrated circuit with two-output MOS-FET switching transistors, characterized in that the output terminals (6, 7) are connected via resistors (19, 29j of the transducers with terminal (UB)) voltage and with collectors of output transistors (8, 9), whose bases are connected via protective resistors (18, 28) with outputs of operational amplifiers (1, 2), which are connected by non-inverting inputs via leakage resistors (17, 27) with common conductor and inverting inputs are connected to the collectors of the first three switching transistors (11, 12, 13; 21, 22, 23) and via the stabilizing

INVENTION resistors (20, 30) with emitters of output transistors (8, 9) that are coupled to collectors of a second triad of switching transistors (14, 15, 16; 24, 25, 26), the gates of all switching transistors (11, 12, 13, 14, 15, 16; 21, 22, 23, 24, 25, 2,6) are connected to a control circuit unit (10), the emitters of the first and second pairs of switching transistors (11, 12; 21, 22) being connected to the first test tip (3), the emitters of the third and fourth pairs of switching transistors (13, 14; 23, 24) to the second test tip (4) and the emitters of the fifth and sixth pairs of switching transistors (15, 16; 25, 26) are connected to a third test tip (5).