CS213916B1 - Circuitry for metering time interval of contact overtravel in electric change-over switches - Google Patents
Circuitry for metering time interval of contact overtravel in electric change-over switches Download PDFInfo
- Publication number
- CS213916B1 CS213916B1 CS80280A CS80280A CS213916B1 CS 213916 B1 CS213916 B1 CS 213916B1 CS 80280 A CS80280 A CS 80280A CS 80280 A CS80280 A CS 80280A CS 213916 B1 CS213916 B1 CS 213916B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- buffer
- time interval
- circuits
- circuitry
- measuring
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Description
Vynález se týká zapojení pro měření časového intervalu přeběhu kontaktu u elektrických přepínačů, použitelného předevSím pro měření v typových zkušebnách spolehlivosti výrobce i spotřebitele.The invention relates to a circuit for measuring the contact override time interval of electrical switches, which can be used, in particular, for measurement in manufacturer and consumer reliability tests.
Jedním ze základních parametrů, které charakterizují některé typy elektrických přepínačů je délka časového intervalu přepnutí. V mnoha případech je požadována i znalost přechodových jevů na začátku a na konci přepínací funkce. Dosavadní metody měření časového intervalu přeběhu kontaktu u elektriokých přepínačů jsou relativně velmi náročné na měřicí techniku i na kvalifikovanou obsluhu, neboí měření se provádí na speciálních paměíovýoh ocsiloskopech. Za hlavní nedostatek dosavadního stavu techniky je však nutno považovat skutečnost, že dosud známé metody a zařízení pro tyto metody používaná nejsou způsobilé pro rychlé, přesné a přitom hromadné měření přepínačů. Vzhledem k tomu, že různé druhy elektrických přepínačů mají ve spotřební i investiční, silnoproudé i slaboproudé elektrotechnice velký význam, je pro jejioh použití důležitá i znalost parametru časové délky přepnutí, který může zásadním způsobem ovlivnit kvalitu finálních výrobků, ve kterých jsou použity.One of the basic parameters that characterize some types of electrical switches is the length of the switching time interval. In many cases, knowledge of transients at the beginning and end of the switching function is also required. The current methods of measuring the time interval of contact override in electrical switches are relatively very demanding both for measuring technique and for qualified operators, as the measurement is performed on special memory oscilloscopes. However, a major drawback of the prior art is that the methods and devices used hitherto are not suitable for rapid, accurate yet mass measurement of switches. Since different types of electrical switches are of great importance in consumer and investment, high and low current electrical engineering, it is important to use the switch-over time parameter that can significantly affect the quality of the final products in which they are used.
Výše uvedené nedostatky odstraňuje podle tohoto vynálezu zapojení pro měření časového intervalu přeběhu kontaktu u elektrických přepínačů. Podstata vynálezu spočívá v tom, že měřený přepínací prvek je svými pevnými kontakty připojen k první vstupní svorce a přepí213 916According to the present invention, the above-mentioned drawbacks eliminate the wiring for measuring the contact override time interval of electrical switches. The principle of the invention consists in that the measured switching element is by its fixed contacts connected to the first input terminal and switches over
213 916 nacím kontaktem k druhé vstupní svorce, přičemž k témto svorkám je též připojen přes sériový odpor zdroj stejnosměrného napětí a vyrovnávaoí paměí, jejíž výstup je připojen k ukládací paměti a výstup této ukládací paměti je připojen k obvodům zpraoování dat, přičemž vyrovnávaoí a ukládací paměí jsou propojeny s logiokými řídíoími obvody, z niohž je vyvedena elektromechanická vazba k měřenému přepínacímu prvku.213 916 is connected to a second input terminal, and a DC voltage source and a buffer, the output of which is connected to the storage and connected to the data processing circuits, are connected to the terminals via a series resistor, the buffer and the storage are connected to logic control circuits, from which an electromechanical coupling to the measured switching element is led.
Vyrovnávaoí paměí je dělena na n-části a je opatřena n-páry vstupních svorek a ke každému páru těchto svorek je připojen samostatný obvod tvořený měřioím přepínacím prvkem, sériovým odporem a zdrojem stejnosměrného napětí.The buffer memory is divided into n-parts and is provided with n-pairs of input terminals and each pair of terminals is connected with a separate circuit consisting of a measuring switch element, a series resistor and a DC voltage source.
Alespoň jeden z obvodů spojených přímo, či nepřímo s vyrovnávací pamětí, s výjimkou obvodů připojených ke vstupním svorkám, může být nahrazen obvody samočinného počítače.At least one of the circuits connected directly or indirectly to the buffer, with the exception of the circuits connected to the input terminals, may be replaced by the computer circuitry.
Účelem vynálezu je odstranění nedostatků současného stavu měřicí techniky přepínačů, s cílem umožnit automatizované, rychlé, přesné a přitom hromadné měření časového intervalu přeběhu kontaktu u elektrických přepínačů ve velkých souborech těchto přepínačů a přitom kontrolou každé jednotlivé součástky podle výsledků měření předejít poruchovosti finálních výrobků, v nichž jsou tyto přepínače použity.The purpose of the invention is to eliminate the shortcomings of the state of the art of switch measurement technology, in order to enable automated, fast, accurate yet mass measurement of the contact override time interval of electrical switches in large sets of switches. where these switches are used.
Pokrok dosažený zapojením podle vynálezu spočívá především v automatizovaném, rychlém, přesném a hlavně hromadném měření každé součástky z početně velkých souborů přepínačů, přičemž získaná informace, uchovaná v ukládací paměti, může podchycovat i přechodové jevy a může být libovolně dále zpracovávána početně, což znamená, že může být proveden výpočet průměrných, maximálních nebo minimálních hodnot z měřeného souboru. Zavedením tolerancí mohou být určeny vyhovující a nevyhovující součástky. Mimoto je také možno vyjádřit některé výsledky graficky. Měření je velmi rychlé a efektivní, zvláětě je-li předmětné zapojení použito ve spojení se samočinným počítačem.The progress achieved by the circuitry according to the invention consists mainly in the automated, fast, accurate and, above all, mass measurement of each component of the numerically large switch sets, whereby the information stored in the storage memory can capture transient phenomena and can be arbitrarily processed numerically, It is possible to calculate the average, maximum or minimum values from the measured set. By introducing tolerances, compliant and non-compliant components can be identified. In addition, some results can also be expressed graphically. The measurement is very fast and efficient, especially when the circuit is used in conjunction with a computer.
Zapojení pro měření časového intervalu přeběhu kontaktu u elektrických přepínačů podle vynálezu bude následovně blíže popsáno v příkladovém provedení s pomooí připojeného vyobrazení, znázorňující blokové sohema předmětného zapojení, se zřetelem na srozumitelnější pochopení zjednodušené pro měření pouze jednoho přepínače.The circuit for measuring the contact override time interval of the electrical switches of the invention will be described in greater detail below in an exemplary embodiment with reference to the accompanying drawing, illustrating a block diagram of the circuit in question, with a more understandable understanding simplified for measuring only one switch.
Podle přiloženého vyobrazení je paralelně k měřenému přepínači £ připojen zdroj napětí χ přes odpor £, jehož hodnota je volena tak, aby při funkoi procházející elektrický proud byl řádově nižší, než dovoluje zatížení konstrukce měřeného přepínače P. Paralelně k měřenému přepínači £ na svorky £, £ je též připojena vyrovnávaoí paměl 2.» jejíž výstup je přiveden do ukládaoí paměti 5.. Pro řízení vyrovnávaoí paměti 2.» ukládací paměti £ a pro spínání měřeného přepínače £ jsou použity logické obvody £. Z bloku logickýoh obvodů £ vycházejí dva sběrnioové spoje, jednak do ukláclací paměti 2 a jednak do vyrovnávací paměti 2.·According to the enclosed figure, a voltage source χ is connected in parallel to the measured switch přes via a resistor jehož, the value of which is selected such that the electrical current passing through the circuit is of the order of magnitude lower. A buffer 2 is also connected, the output of which is fed to the storage memory 5. Logic circuits 6 are used to control the buffer 2 of the storage memory and to switch the measured switch 6. From the block of logic circuits 2, two bus connections are provided, both to the storage memory 2 and to the buffer 2.
Dále z bloku logických obvodů £ vychází spoj elektromechanické vazby k měřenému přepínači £. Z ukládací paměti 2 vede výstup do obvodů zpraoování dat 6. Při funkoi zapojení je v čase před a po přepnutí přepínače £ na vstupu vyrovnávaoí paměti 2. nulové napětí - logická nula, v intervalu přepínání, tj. v časovém intervalu přeběhu kontaktu, bude na vstupu vyrovnávací paměti 2. plné napětí zdroje £ - logioká jednička. Jednotlivé buňky vyrovnávaoí paměti 2. jsou pak v rychlém sledu zaplňovány touto dvouhodnotovou informací. Protože zaplňování se děje v pravidelných a známých časových intervalech, lze zjistit podle počtu bu3Furthermore, a junction of the electromechanical coupling to the measured switch 6 emerges from the block of logic circuits. From storage memory 2, the output goes to data processing circuits 6. In the wake-up circuit, at the time before and after the changeover switch 6 is switched on the buffer memory input 2, there is a zero voltage - logic zero in the switching interval, i.e. Buffer input 2. Full source voltage £ - logic one. The individual memory buffer cells 2 are then filled in rapid succession with this two-valued information. Since the filling takes place at regular and known time intervals, it can be determined by the number of bu3
213 916 něk obsahujících informaci logické jedničky, celkovou dobu intervalu přeběhu kontaktu měřeného přepínače P. Z vyrovnávací paměti 2. jsou informace paralelně převzaty do ukládací paměti 2, odkud jsou pak předávány do obvodů zpracování dat 6.213 916 some containing the logic 1 information, the total switch-on time of the switch P to be measured.
Funkce logického obvodu £ probíhá v oasovém sledu tak, že nejprve tyto obvody vydají povel ke startu přepisu do vyrovnávací paměti 2.» následuje povel k přepnutí měřeného přepínače £ a dále k ukončení přepisu do vyrovnávací paměti 2.· Dalším povelem logického obvodu £ se provede přenos dat z vyrovnávací paměti 2, do ukládací paměti % a následným povelem z ukládací paměti £ ůo obvodu zpracování dat 6.The function of the logic circuit 6 proceeds in a time sequence by first commanding the start of the transcription to the buffer 2. »followed by the command to switch the measured switch £ and then to the end of the transcription to the buffer 2. · transferring data from the buffer 2 to the storage% and subsequent command from the storage memory 6 to the data processing circuit 6.
V konkrétním provedení zapojení podle vynálezu může být vyrovnávací paměí 2. realizována posuvným registrem se sériovým vstupem a paralelním výstupem. Jak již bylo uvedeno, je funkce zapojení podle vynálezu popsána v příkladovém provedení se zřetelem na zjednodušení ilustrace podstaty vynálezu pouze na jednom kusu měřeného přepínače P. V případě měření na celém souboru zůstává předmětné zapojení v podstatě nezměněno, zvyšují se pouze nároky na kapacitu vyrovnávací paměti 2. a ukládací paměti 2.» přičemž každý jednotlivý měřený přepínač P z celého souboru je připojen ke zdroji napětí £ přes samostatný odpor 2 a vyrovnávací paměť 2. «ná tolik vstupů, kolik je měřených přepínačů P v celém souboru.In a particular embodiment of the circuit according to the invention, the buffer 2 may be realized by a shift register with a serial input and a parallel output. As already mentioned, the circuitry according to the invention is described in an exemplary embodiment with a view to simplifying the illustration of the principle of the invention on only one piece of the measured switch P. In the case of measurements over the whole set, the circuit in question remains substantially unchanged; 2. and storage memories 2. »wherein each individual measured switch P of the entire set is connected to a voltage source 6 via a separate resistor 2 and a buffer 2 as many inputs as there are measured switches P throughout the set.
Zapojení pro měření časového intervalu přeběhu kontaktu u elektrických přepínačů plní vytýčenou funkci v popsaném samostatném obvodovém uspořádání. Je-li však k disposici samočinný počítač, nabízí se možnost jeho výhodného využití, neboť může nahradit některé z popisovaných obvodů svými vlastními obvody. Například je možné nahradit vyrovnávací paměť 2. a ukládací paměť 2» jakož i obvody pro zpracování dat 6 a logické obvody £, komplexně, nebo jednotlivě obvody samočinného počítače. Předmětné zapojení se tímto řešením může v závislosti na rozsahu náhrady popisovaných obvodů obvody samočinného počítače podstatně zjednodušit.The circuit for measuring the contact override time interval of the electrical switches fulfills the defined function in the described separate circuit arrangement. However, if an automatic computer is available, there is a possibility of its advantageous use, since it can replace some of the described circuits with its own circuits. For example, it is possible to replace the buffer 2 and the storage memory 2 as well as the data processing circuitry 6 and the logic circuitry 6, complexly or individually by the computer circuitry. Depending on the extent of replacement of the circuitry described, the circuitry of the present invention may substantially simplify the circuitry of the computer.
Claims (3)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS80280A CS213916B1 (en) | 1980-02-06 | 1980-02-06 | Circuitry for metering time interval of contact overtravel in electric change-over switches |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS80280A CS213916B1 (en) | 1980-02-06 | 1980-02-06 | Circuitry for metering time interval of contact overtravel in electric change-over switches |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS213916B1 true CS213916B1 (en) | 1982-04-09 |
Family
ID=5340829
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS80280A CS213916B1 (en) | 1980-02-06 | 1980-02-06 | Circuitry for metering time interval of contact overtravel in electric change-over switches |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS213916B1 (en) |
-
1980
- 1980-02-06 CS CS80280A patent/CS213916B1/en unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103698654A (en) | Open circuit short circuit test device and test method of chip base pin | |
| CN113341230A (en) | Automatic testing system and method for multi-port cable of spacecraft | |
| CN106772208B (en) | Single three-phase meter integrated reliability test board | |
| CS213916B1 (en) | Circuitry for metering time interval of contact overtravel in electric change-over switches | |
| JP2003532082A (en) | Electronic circuit device with short-circuit switch and method for testing the device | |
| CN2932394Y (en) | Metering device with a wide current measuring range | |
| CN212160061U (en) | Nonlinear load standard electric energy meter | |
| CN213843393U (en) | Relay contact resistance testing device based on multifunctional integrated testing instrument | |
| EP0214508A3 (en) | Integrated semiconducteur memory | |
| CN220490990U (en) | Test circuit for relay driving circuit | |
| CN102169146A (en) | Method for detecting function of frequency converter | |
| CN115290969B (en) | An intelligent power distribution multi-analog sampling device | |
| JPS6141974A (en) | Testing device of multiconductor cable | |
| CN209878896U (en) | Electric element reliability test system | |
| SU1551979A1 (en) | Simulator of discrete increment of resistance of strain gauge | |
| US3735252A (en) | Automatic tester for testing resistance and inductance of coil windings | |
| KR930000513B1 (en) | Semiconductor testing equipment | |
| CN223857628U (en) | Battery voltage simulation circuit | |
| US2810109A (en) | Electrical tester | |
| CN220064295U (en) | Test circuit and circuit board | |
| SU879516A1 (en) | Device for checking electrical mounting insulation value | |
| SU1504633A1 (en) | Device for measuring electric parameters of integrated microcircuits | |
| JP2659043B2 (en) | Channel control device for electrical component testing machine | |
| SU1763991A1 (en) | Device for pieces electric parameters measuring | |
| CN117310328A (en) | Power supply and signal line interruption short circuit simulation method and system |