CN2840187Y - 测试治具硬盘转接装置 - Google Patents

Abstract

一种测试治具硬盘转接装置，适用于转接一3.5”硬盘至一2.5”主机板，其中，该3.5”硬盘上设有一第一电连接器及一电源连接器，而该2.5”主机板上设有一第二电连接器；而该转接装置包括一转接板，其设有一第一转接连接器及第二转接连接器，且第一转接连接器耦合至第一电连接器，而第二转接连接器耦合至第二电连接器；且该转接板电性连接至一电源适配器，且电源适配器上设有与电源连接器耦合的电源接口；测试时，2.5”主机板会发出一侦测信号至转接板，在转接板接收到侦测信号后，会将其传输至电源适配器，在电源适配器接收到侦测信号后，会将电力传输至电源接口，并供给3.5”硬盘，令3.5”硬盘与2.5”主机板进行信号传输。由3.5”硬盘替代2.5”硬盘以对2.5”主机板测试，可降低测试成本。

Description

测试治具硬盘转接装置

【技术领域】

本实用新型是一种测试治具硬盘转接装置，特别是一种可降低测试成本的测试治具硬盘转接装置。

【背景技术】

一般笔记本电脑制造厂商，于主机板制作完成时，须先对主机板做功能性的测试，待主机板的功能完善后，才将其组装成成品，而测试时使用的一些外围装置如硬盘、中央处理器(CPU)、动态随机存取存储器模块(DRAM)、键盘(Keyboard)、液晶显示器面板(LCD Panel)等，皆因为测试大量的主机板而产生相当数量的耗损。

请参阅图1所示，在测试一2.5”主机板200’(例如笔记本电脑的主机板)时，会将一2.5”硬盘100’耦合至该2.5”主机板200’上，通常情况下，2.5”主机板200’与2.5”硬盘100’上设置的接口相一致，接口中均包括44个端子(图未示，其中40个端子为信号端子，其余4个端子为电源端子)，将2.5”主机板200’与2.5”硬盘100’上设置的接口对接以后，电力可由2.5”主机板200’经由电源端子再传输至2.5”硬盘100’，然后，实现相应的测试。

然而，在测试过程中，需不断地拆装2.5”硬盘100’的接口，而频繁的拆装晃动会使2.5”硬盘100’的电气特性受到影响，从而导致2.5”硬盘100’的损坏，由于2.5”硬盘100’具有较小的体积、较低的可靠度及较高的价格，在相同测试条件下，2.5”硬盘100’损坏的频率较高，厂商因此而付出相当高的测试设备成本。

【发明内容】

本实用新型的主要目的在于提供一种可降低测试成本的测试治具硬盘转接装置。

为了达到上述的目的，本实用新型提供一种测试治具硬盘转接装置，适用于转接一3.5”硬盘至一2.5”主机板，其中，该3.5”硬盘上设有一第一电连接器及一电源连接器，而该2.5”主机板上设有一第二电连接器，而该转接装置包括一转接板，该转接板上设有一第一转接连接器及第二转接连接器，其中，该第一转接连接器耦合至该第一电连接器，而该第二转接连接器耦合至该第二电连接器；该转接板电性连接至一电源适配器，且该电源适配器上设有一电源接口，且该电源接口耦合至该电源连接器；测试时，2.5”主机板会发出一侦测信号至转接板，在该转接板接收到该侦测信号后，会将其传输至电源适配器，在该电源适配器接收到侦测信号后，会将电力传输至电源接口，并供给3.5”硬盘，令3.5”硬盘与2.5”主机板进行信号传输。

相较于现有技术，本实用新型用3.5”硬盘替代2.5”硬盘，也可实现对2.5”主机板的测试，因3.5”硬盘具有较大的体积、较好的可靠度及较低的价格，在频繁的测试中，较不易损坏，从而可降低厂商的测试成本。

【附图说明】

图1是现有2.5”硬盘应用于测试2.5”主机板的方块示意图。

图2是本实用新型测试治具硬盘转接装置应用于测试2.5”主机板的方块示意图。

图3是本实用新型测试治具硬盘转接装置应用于测试2.5”主机板的结构示意图。

图4是本实用新型测试治具硬盘转接装置中自动侦测电路的电路图。

【具体实施方式】

请参阅图2及图3所示，一现有3.5”硬盘100上设有一第一电连接器101及一电源连接器103，且该第一电连接器101内共设有40个信号端子；而一现有2.5”主机板200上设有一第二电连接器201，且该第二电连接器201内共设有44个端子(图未示，其中40个信号端子与4个电源端子)。由于该第一电连接器101与该第二电连接器201不匹配，不能直接耦合，因而不能直接通过现有3.5”硬盘100测试现有2.5”主机板200。为使现有的3.5”硬盘100测试现有的2.5”主机板200，则需在3.5”硬盘100与2.5”主机板200之间加入一测试治具硬盘转接装置300。

其中，该测试治具硬盘转接装置300包括一转接板31，该转接板31上设有一第一转接连接器311及一第二转接连接器312，其中，该第一转接连接器311可通过一第一线缆连接器50耦合至该第一电连接器101，且该第一线缆连接器50的一端连接至第一电接器101，而该第一线缆连接器50的另一端连接至第一转接连接器311。而该第二转接连接器312可通过一第二线缆连接器60耦合至该第二电连接器201，且该第二线缆连接器60的一端连接至第二电接器201，而该第二线缆连接器60的另一端连接至第二转接连接器312。该转接板31电性连接一电源适配器32，于本实施例中，该电源适配器32与该转接板31成分离设置，此外，也可将该电源适配器32与该转接板31整合成一体式，且该电源适配器32上设有一电源接口321，且该电源接口321可通过一第三线缆连接器70耦合至该电源连接器103，且该第三线缆连接器70的一端连接至该电源接口321，而该第三线缆连接器70的另一端连接至电源连接器103。

请参阅图3及图4所示，该电源适配器32内包括一自动侦测电路4，该自动侦测电路4设有一侦测端40，且该侦测端40电性连接至转接板31，以用以接收侦测信号。另，该侦测端40分别电性连接至一第一驱动电路41及一第二驱动电路42，并根据侦测信号以开启或关闭第一驱动电路41与第二驱动电路42。

其中，该第一驱动电路41设有一第一三极管411，且该第一三极管411的基极电性连接至侦测端40，该第一三极管411的发射极接地，而该第一三极管411的集电极电性连接至一第一开关晶体管412(于本实施例中，该第一开关晶体管412可为P沟道金属氧化物半导体晶体管)的栅极，而该第一开关晶体管412的源极电性连接一第一电压输入端410，于本实施例中，该第一电压输入端410的输入电压为12V，而该第一开关晶体管412的漏极电性连接至电源接口321内；此外，该第一三极管411的集电极与第一电压输入端410之间设有一第一电阻413，且该第一三极管411的集电极与第一开关晶体管412的漏极之间并设有二电容414、415。

该第二驱动电路42设有一第二三极管421，且该第二三极管421的基极电性连接至侦测端40，该第二三极管421的发射极接地，而该第二三极管421的集电极电性连接至一第二开关晶体管422(于本实施例中，该第二开关晶体管422可为P沟道金属氧化物半导体晶体管)的栅极，而该第二开关晶体管422的源极电性连接一第二电压输入端420，于本实施例中，该第二电压输入端420的输入电压为5V，而该第二开关晶体管422的漏极电性连接至电源接口321内；此外，该第二三极管421的集电极与第二电压输入端420之间设有一第二电阻423，且该第二三极管421的集电极与第二开关晶体管422的漏极之间并设有二电容424、425。

测试时，2.5”主机板200会发出一侦测信号(于本实施例中，该侦测信号为+5V电压信号)至转接板31，在该转接板31接收到该侦测信号后，会将其传输至电源适配器32，在该电源适配器32的侦测端40接收到侦测信号后，会使第一三极管411及第二三极管421同时导通，则第一开关晶体管412及第二开关晶体管422的栅极分别为低电压，而令第一开关晶体管412及第二开关晶体管422分别导通，从而令电源接口321接收到第一电压输入端410与第二电压输入端420的电压信号，并供给3.5”硬盘100，3.5”硬盘100在正常电力供应下，可令3.5”硬盘100将信号依序自第一电连接器101、第一转接连接器311、第二转接连接器312及第二电连接器201传输至2.5”主机板200，当然，也可令2.5”主机板200将信号依序自第二电连接器201、第二转接连接器312、第一转接连接器311及第一电连接器101传输至3.5”硬盘100。

Claims (9)

1.一种测试治具硬盘转接装置，适用于转接一3.5”硬盘至一2.5”主机板，其中，该3.5”硬盘上设有一第一电连接器及一电源连接器，而该2.5”主机板上设有一第二电连接器，而该转接装置包括：

一转接板，设有一第一转接连接器及第二转接连接器，其中，该第一转接连接器耦合至该第一电连接器，而该第二转接连接器耦合至该第二电连接器；

一电源适配器，电性连接至该转接板，且该电源适配器上设有一电源接口，且该电源接口耦合至该电源连接器；

测试时，2.5”主机板会发出一侦测信号至转接板，在该转接板接收到该侦测信号后，会将其传输至电源适配器，在该电源适配器接收到侦测信号后，会将电力传输至电源接口，并供给3.5”硬盘，令3.5”硬盘与2.5”主机板进行信号传输。

2.根据权利要求1所述的测试治具硬盘转接装置，其特征在于：该电源适配器与该转接板成分离设置。

3.根据权利要求1所述的测试治具硬盘转接装置，其特征在于：该电源适配器与该转接板整合成一体式。

4.根据权利要求1所述的测试治具硬盘转接装置，其特征在于：该电源适配器内包括一自动侦测电路，该自动侦测电路设有一侦测端，且该侦测端电性连接至转接板，以用以接收侦测信号。

5.根据权利要求4所述的测试治具硬盘转接装置，其特征在于：该侦测端分别电性连接至一第一驱动电路及一第二驱动电路，并根据侦测信号以开启或关闭第一驱动电路与第二驱动电路。

6.根据权利要求5所述的测试治具硬盘转接装置，其特征在于：该第一驱动电路设有一第一三极管，且该第一三极管的基极电性连接至该侦测端，该第一三极管的发射极接地，而该第一三极管的集电极电性连接至一第一开关晶体管的栅极，而该第一开关晶体管的源极电性连接一第一电压输入端，而该第一开关晶体管的漏极电性连接至电源接口内。

7.根据权利要求6所述的测试治具硬盘转接装置，其特征在于：该第一电压输入端的输入电压为12V。

8.根据权利要求5所述的测试治具硬盘转接装置，其特征在于：该第二驱动电路设有一第二三极管，且该第二三极管的基极电性连接至侦测端，该第二三极管的发射极接地，而该第二三极管的集电极电性连接至一第二开关晶体管的栅极，而该第二开关晶体管的源极电性连接一第二电压输入端，而该第二开关晶体管的漏极电性连接至电源接口内。

9.根据权利要求8所述的测试治具硬盘转接装置，其特征在于：该第二电压输入端的输入电压为5V。

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