CN2724260Y - 一种pcb板测试转换器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种PCB板测试用转换器,其主要包括端子、套板及主体,套板与主体套设,端子中部插设于套板与主体中,端子两端的中心立体错位,套板上设有两组定位槽及凸台;使用时,上端已形成标准通用的测试网格点,另一端引脚与测试电路PCB板焊点连接,端子与套板、主体及PCB形成一模块,当多个模块组合起来就形成不同面积的测试网格点,因此可根据所需要的面积大小来扩展模块组合;同时,套板通过各自的两组定位槽与凸台相互之间进行定位;与习用相比,本实用新型可满足针对不同测试范围的要求,且模块维修起来比较简单。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种PCB板连接器件,尤指一种PCB板测试机上用,由四排排列方式转换为两排排列的转换器。
背景技术
在PCB测试行业里,有一种标准通用的测试点规范——四密度(即在1平方英寸均匀地排列400个测试接触点),而此测试点必须要与测试电路连接。
现有的PCB板测试用器械,其大都是通过连线将测试电路引脚直接焊接到测试接触点,这种结构的测试器械,当焊点越来越小,密度越密时,其焊接的难度就会越大,即焊线会越麻烦,1平方英寸内400个焊点的焊线难度已很麻烦;再者,当坏了需维修时也很不方便,而且,其扩展也不方便。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种可满足不同测试范围的要求且维修简单的可直接与PCB板连接的转换器。
为实现上述目的,本实用新型的解决方案为:一种PCB板测试用转换器,其主要包括端子、套板及主体,套板与主体套设,端子中部插设于套板与主体中。
所述的一种PCB板测试用转换器,其端子两端的中心立体错位。
所述的一种PCB板测试用转换器,其套板的两侧分别设有一组定位槽及凸台。
采用上述结构后,使用时,上端已形成标准通用的测试网格点,另一端引脚与测试电路PCB板焊点连接,端子与套板、主体及PCB形成一模块,当多个模块组合起来就形成不同面积的测试网格点,因此可根据所需要的面积大小来扩展模块组合;同时,套板2通过各自的两组定位槽21与凸台相互之间进行定位;与习用相比,本实用新型可满足针对不同测试范围的要求,且模块维修起来比较简单。
说明书附图
图1为本实用新型的立体分解图;
图2为本实用新型的组合状态图。
具体实施方式
如图1、2所示,本实用新型公开了一种PCB板测试用转换器,其主要包括端子1、套板2及主体3,其中:
套板2与主体3套设,端子1中部插设于套板2与主体3中,端子1的两端露于套板2与主体3外;套板2上的槽孔23可对端子1起到限位作用。
所述端子1两端的中心立体错位,实现转换目的。
所述的套板2的两侧分别设有一组定位槽21及凸台22,当两个转换器并排安装时可以互相定位。
使用时,通过端子1两端中心的主体错位实现转换,上端为按标准排列的测试接触点,即端子1的引脚12与所要测试的PCB板测试点接触,下端为两排引脚,即端子1的一端双排引脚11连接于测试电路PCB板,端子1与套板2及主体3形成一模块,并且可根据不同的所测PCB板大小的不同而扩展模块组合;同时,套板2通过各自的两组定位槽21与凸台22相互之间进行定位;与习用相比,本实用新型可满足针对不同测试范围的要求,且维修起来比较简单。
Claims (3)
1、一种PCB板测试用转换器,其特征在于:其主要包括端子、套板及主体,套板与主体套设,端子中部插设于套板与主体中。
2、如权利要求1所述的一种PCB板测试用转换器,其特征在于:所述端子两端的中心立体错位。
3、如权利要求1或2所述的一种PCB板测试用转换器,其特征在于:套板两侧分别设有一组定位槽及凸台。
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CN 200420066297 CN2724260Y (zh) | 2004-06-28 | 2004-06-28 | 一种pcb板测试转换器 |
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CN 200420066297 CN2724260Y (zh) | 2004-06-28 | 2004-06-28 | 一种pcb板测试转换器 |
Publications (1)
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CN2724260Y true CN2724260Y (zh) | 2005-09-07 |
Family
ID=35037879
Family Applications (1)
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CN 200420066297 Expired - Lifetime CN2724260Y (zh) | 2004-06-28 | 2004-06-28 | 一种pcb板测试转换器 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN2724260Y (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104090135A (zh) * | 2014-06-26 | 2014-10-08 | 中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所 | 一种适用于多种引脚微小间距的芯片测试探针 |
CN104515874A (zh) * | 2013-09-26 | 2015-04-15 | 北大方正集团有限公司 | 用于电路板测试的转接板及测试方法、测试装置 |
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2004
- 2004-06-28 CN CN 200420066297 patent/CN2724260Y/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN104515874B (zh) * | 2013-09-26 | 2017-07-04 | 北大方正集团有限公司 | 用于电路板测试的转接板及测试方法、测试装置 |
CN104090135A (zh) * | 2014-06-26 | 2014-10-08 | 中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所 | 一种适用于多种引脚微小间距的芯片测试探针 |
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GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
CX01 | Expiry of patent term |
Expiration termination date: 20140628 Granted publication date: 20050907 |