CN2572706Y

CN2572706Y - 小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置

Info

Publication number: CN2572706Y
Application number: CN 02248109
Authority: CN
Inventors: 盛盘大; 徐柏龄; 黄兴志
Original assignee: Shenzhen Meiou Electronics Co Ltd
Current assignee: Changzhou Meiou Electronics Co., Ltd.
Priority date: 2002-09-14
Filing date: 2002-09-14
Publication date: 2003-09-10
Anticipated expiration: 2012-09-14

Abstract

本实用新型涉及了一种测量电声器件振膜等效力学参数的方法和测量装置，特别适用于φ60mm以下小口径振膜的测量装置。本实用新型包括待测振膜、参考扬声器、专用夹具及数据测量处理仪等，其特征在于待测振膜与参考扬声器置于专用夹具内，数据测量处理仪输出扫描频率给参考扬声器，并接受参考扬声器的反馈信号及进行数据处理。本实用新型具有现有技术无法实现的对φ60mm以下小口径振膜等效力学参数测量的优势和方便、准确的优点。

Description

小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置

技术领域

本实用新型涉及了一种测量电声器件振膜的谐振频率、力顺等力学等效参数的方法和测量装置，特别适用于φ60mm以下小口径振膜的测量。

背景技术

现有技术在扬声器、受话器等发声器件组装之前，先得测量振膜的踏振频率、力顺等力学等效参数，这对设计和产品的质量控制都是十分必要的。传统的测量方法有两种，即声激励法测谐振频率f₀和激光法测振膜的位移。这两种方法对大口径振膜的测量是有效的，但不适用于φ60mm以下小口径振膜的测量。这是因为φ60mm以下小口径振膜的振动幅度很小，所以声激励观察其谐振频率f₀显得很粗糙，数据很不准确，甚至无法得到。又因为φ60mm以下小口径振膜一般厚度都很薄，不冲中心孔，所以激光法无法测量振膜的位移，数据误差也较大，且这两种方法都不能很好地同时得到振膜的众多等效力学参数，目前国内外尚无一种准确而有效的测量方法。

本实用新型的目的是要提供一种准确测量电声器件用振膜尤其是φ60mm以下小口径振膜等效力学参数的方法和测量装置，以弥补国内外该测量方法和装置的空白。

技术方案

本实用新型的目的是通过如下技术方案来实现的：本实用新型包括待测振膜、参考扬声器、专用夹具及数据测量处理仪等，其特征在于待测振膜与参考扬声器置于专用夹具内，数据测量处理仪输出扫描频率给参考扬声器，并接受参考扬声器的反馈信号进行数据处理，输出测量结果。

本实用新型的待测振膜由活动压圈夹于专用夹具的一侧，参考扬声器在专用夹具中固定于待测量振膜的另一侧，待测振膜与参考扬声器在专用夹具中形成一密封小空腔。待测振膜与参考扬声器之间的间距为待测振膜直径的1/10～1/5。

本实用新型的数据测量处理仪由PC计算机、ADSP21061及功放电路组成，计算机输出测量频率给ADSP21061，并经过功放电路连接参考扬声器。参考扬声器的输出数据由ADSP21061进行采集，并送回计算机进行计算，得出待测振膜的谐振频率和力顺等力学参数。

本实用新型的PC计算机决定扫描的起始频率、终止频率及频率间隔。

本实用新型具有现有技术无法实现的对φ60mm以下小口径振膜谐振频率和力顺等力学参数进行测量的优势和方便准确的优点。

附图说明

图1是本实用新型的测量装置示意图。

图2是本实用新型的数据测量处理仪的框图。

图3是本实用新型的测量装置的力学等效线路图。

具体实施例

下面结合附图说明对本实用新型作进一步详细的描述：如图1所示，本实用新型包括待测振膜1、参考扬声器3及数据测量处理仪4等，待测振膜1与参考扬声器3置于专用夹具5内，数据测量处理仪4输出扫描频率给参考扬声器3，并接受参考扬声器3的反馈信号。本实用新型的待测振膜1由活动压圈6夹于专用夹具5的一侧，参考扬声器3固定于待测量振膜1的另一侧，待测量振膜1与参考扬声器3及专用夹具5两侧之间形成一密封空腔2。待测振膜1与专用夹具5的顶部有一间隔空间，参考扬声器3与专用夹具5的底部有一间隔空间。如图2所示，本实用新型的数据测量处理仪4由PC计算机、ADSP21061及功放电路组成，计算机输出测量频率给ADSP21061，并经过功放电路连接参考扬声器3。参考扬声器3的数据由ADSP21061进行采集，并送回计算机进行分析计算，得出待测振膜1的谐振频率和力顺。本实用新型的计算机决定扫描的起始频率、终止频率及频率间隔。如图3所示，图中R_MS是主动扬声器3支撑系统的力阻，M_MD是扬声器3振动系统的等效质量，C_MS1是支撑系统的等效力顺，C_MS2是被测振膜1的等效力顺，C_MB是被测振膜1与扬声器3振膜间小腔体的等效力顺。根据图3的等效线路图，可以求得振膜力顺。

C_{MS 2} = \frac{(C_{MB} + C_{MS 1}) {f^{2}}_{S 1} - C_{MB} {f^{2}}_{S 2}}{{f^{2}}_{S 2} - {f^{2}}_{S 1}}

其中f_S2与f_S1是加待测量振膜后与加待测量前分别得到的参考扬声器的共振频率。DSP发送扫频信号与采集数据的流程为：

1、首先在DSP开发模块-EZ-KTT板上开辟一段内存，以便于计算机和DSP通讯用。

2、设置采样频率，在这里取可允许的最大值48KHZ。

3、产生一定频率的正弦波信号，经过串口输出到功放，然后驱动扬声器。

4、从串口采样扬声器的反馈信号，并进行分析计算，取出它的阻值。

本实用新型测量参考用扬声器3的等效力学参数。加上待测振膜1后，待测振膜1与空腔2对参考用扬声器将产生影响，改变了其等效力学参数。利用参考扬声器低频小信号参数的变化，即可以算出待测振膜的等效参数，尤其适用于φ60mm以下小口径振膜的测量。

具体测量的过程：

1、不加待测振膜1，使参考扬声器3处于自由状态，通过数据测量处理仪4测出其等效力学参数。

2、加上待测振膜1，使空腔2密闭，测出此时参考用扬声器3的等效力学参数。

3、经数据测量处理仪4的比较计算后直接显示出待测量发声器件振膜的等效力学参数。

Claims

1、一种小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置，包括待测振膜、参考扬声器、专用夹具及数据测量处理仪等，其特征在于待测振膜与参考扬声器置于专用夹具内，数据测量处理仪输出扫描频率给参考扬声器，并接受参考扬声器的反馈信号及进行数据处理。

2、根据权利要求1所述的小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置，其特征在于待测振膜由活动压圈夹于专用夹具的一侧，参考扬声器固定于专用夹具的另一侧，待测振膜与参考扬声器在专用夹具中形成一密封小空腔。

3、根据权利要求2所述的小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置，其特征在于待测振膜与参考扬声器在专用夹具中形成一密封小空腔，待测振膜与参考扬声器之间的间距为待测振膜直径的1/10～1/5。

4、根据权利要求1所述的小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置，其特征在于数据测量处理仪由PC计算机、ADSP21061及功放电路组成，计算机控制ADSP21061，并经过功放电路连接参考扬声器。

5、根据权利要求4所述的小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置，其特征在于参考扬声器的数据由ADSP21061进行采集，并送回计算机进行分析计算，得出待测振膜的谐振频率和力顺等力学参数。

6、根据权利要求4所述的小口径电声器件振膜的谐振频率与力顺测量装置，其特征在于计算机决定扫描的起始频率、终止频率及频率间隔。