CN2288424Y - 物料的红外线检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种测量装置,应用红外线检测物料位置。包括箱体、电路板、红外线光发射二极管排、红外线光接收二极管排、用于聚焦和光发射的透明圆棒、固定透明圆棒的定位板和滤光片。发光二极管发射的红外光经透明圆棒、滤光片后形成物料的光扫描区、当物料进入扫描区时阻挡部分分光信号,而使光接收管处的电压发生变化,控制产生相应动作。有成本低、使用寿命长、省电、抗干扰性好等特点。

Description

物料的红外线检测装置

本实用新型涉及一种测量装置，更确切地说是涉及一种应用红外线检测物料的装置。

现有的物料检测装置，是在物料通过时由传感器检测出反射光而控制产生相应动作。传统使用的物料检测装置大都以照明灯为光源，并配合透镜作用使物料反射光至传感器接收。图1所示的物料检测装置，包括灯泡式光源10、斜置于光源10前的半透镜11，设于该半透镜11下方的传感器12和位于半透镜11及传感器12前方的一特定的照射区域15，当有物料16通过该照射区域时，产生反射光并作用于传感器12，产生相应动作。上述结构的物料检测装置广泛应用于各种机械加工程序中。

由于透镜组13、14的成本极高且属精密的镜片加工品，因此许多物料检测装置不得不使用进口品，价格昂贵使成本增加；采用灯泡作光源不仅寿命短耗电多，且灯泡光线易受干扰使检测效果受到影响；整个检测装置在组装时要作精密的调整工作，耗时耗力工作效率难以提高。

本实用新型的目的是设计一种物料的红外线检测装置，以较低成本的红外线光源取代灯泡光源，且易于组装调整、增加使用寿命和降低成本。

本实用新型物料的红外线检测装置，包括箱体、设置于箱体内的电路板、光源和光接收器，其特征在于：

所述的光源是红外光发射二极管排，还包括一立于所述光源前方并固定在电路板上的透明圆棒和一位于透明圆棒侧的滤光片；所述的光接收器是红外光接收二极管排，且固定在所述透明圆棒下方的电路板上。

还包括一固定在所述电路板上的定位板，所述透明圆棒两端各有一削平面，削平面上设有与定位扳锁固的固定孔。

发光二极管排经由透明圆棒的聚焦发射作用并配合滤光片而产生物料的扫描区，由光接收二极管排接收，当物料进入扫描区时阻挡部分光源信号，使光接收二极管产生电压变化来控制作出相应动作。

下面结合实施例附图进一步说明本实用新型的技术。

图1、传统的物料检测装置结构示意图。

图2、物料的红外线检测装置分解结构示意图。

图3、图2所示红外线检测装置的组合剖视示意图。

图4、红外线检测装置作用示意图。

图5、图4所示检测作用侧视示意图。

图6、红外线检测装置检测实施电路图。

图1说明前已述及不再赘述。

参见图2，实施时本装置最好装设于箱体20中，并以箱盖21闭合，电路板22配设于箱体20中。

参见图2、图3，红外线发光二极管排30设于电路板22端缘的略后方处，一个以透明材料制成的透明圆棒40则设于该排发光二极管30的略前方。透明圆棒40两端削平端41、42预设有孔，可与定位板50的上折片51、52锁固，该定位板50的下折片53、54则可将定位板50锁固在电路板22上。

于定位的透明圆棒40下方，在接近电路板22端缘底部处设有另一排红外线接收二极管60，该排二极管也以一支片70定位于电路板22上。

参见图4，当发光二极管排30经由透明圆棒40扫描发射时，可由接收二极管排60接收，并在滤光片80的配合作用下产生光扫描区90，参见图5，当物料160进入该扫描区90时，将因阻挡部分光源信号而使接收二极管排60产生触发电压信号而作出相应控制。

图6示出一种实施控制电路，LED1为红外线光发射二极管，可将光源经由透明圆棒40向外扫描发射，并由红外线光接收二极管LED2接收。当物料进入光扫描区时阻挡部分光源信号，使LED2产生一触发电压，经电容C耦合输入集成片IC1(如反相器)，再经由集成片IC2(如反相器)，R2对输入电压波形作整形处理，再经三极管Q放大后送控制电路，产生相应动作。

本实用新型以低成本的红外线光发射、接收二极管取代昂贵的透镜可降低成本且增加使用寿命并节电，红外光源还有抗干扰性好的特点。

Claims (2)

1、一种物料的红外线检测装置，包括箱体、设置于箱体内的电路板、光源和光接收器，其特征在于：

所述的光源是红外光发射二极管排，还包括一位于所述光源前方并固定在电路板上的透明圆棒和一位于透明圆棒侧的滤光片；所述的光接收器是红外光接收二极管排，且固定在所述透明圆棒下方的电路板上。

2、根据权利要求1所述的物料的红外线检测装置，其特征在于：还包括一固定在所述电路板上的定位板，所述透明圆棒两端各有一削平面，削平面上设有与定位扳锁固的固定孔。

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