CN221303530U - 一种小阻值测试电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开并提供了一种有效降低因测点小和单根探针接触容易不稳定所带来的测试风险，保障测试稳定性，避免增加项目的难度和成本的小阻值测试电路。本实用新型包括第一供电探针P1、第二供电探针P2、采样探针P3、复用探针P4、电流源A、电压表V、继电器K；电流源A的一端与第一供电探针P1电连接，电流源A的另一端与采样探针P3电连接；电压表V的一端与第二供电探针P2电连接，电压表V的另一端与继电器K的常开触点引脚NO电连接，继电器K的共点引脚COM与复用探针P4电连接，IIC通讯测试电路与继电器K的常闭触点引脚NC电连接。本实用新型应用于电池管理单元测试的技术领域。
Description
技术领域
本实用新型涉及电池管理单元测试领域,特别涉及一种小阻值测试电路。
背景技术
在电池管理单元（BMU）测试应用中，一般使用探针进行小阻值测试和集成电路总线（IIC）通讯测试。对于小阻值的测试，行业上一般使用开尔文（Kelvin）四线法来测试，如图1所示，此可杜绝接触阻抗对测试值的影响，保障测试的准确性，使用开尔文四线法时，每个测点至少需要两根探针（供电和采样各一根探针）。对于IIC通讯测试，如图2所示，需确保IIC通讯回路的阻值稳定且数值小（一般在百欧以内），在BMU测试应用中，当1根探针容易造成接触不良，导致接IIC总线上的接触电阻偏大，对IIC通讯造成不良影响时，一般会使用多根探针（两根或以上）作用在IIC测点上，确保接触良好，满足通讯要求。
如图3所示，如果被测器件（DUT）某个测点需要同时测试小阻值和IIC通讯，往往需要使用3根或以上的探针作用在该测点上，其中2根或以上的探针用作供电针，给IIC通讯测试传递电平信号，以及给小电阻测试进行供电，保障电路回路阻抗的稳定；另外1根或以上的探针用作电压信号的采样针（sense），形成开尔文四线法进行小电阻测试，这样才能有效同时保障小电阻和IIC通讯的测试稳定。基于应用场景的特殊性，若测点的面积较小，只能使用2根探针，不能满足3根探针的下针要求时，则不能同时保障小电阻测试和IIC通讯测试的稳定性和准确性，存在误测风险。
如上所述，在BMU测试中，在同一个测点进行小电阻和IIC通讯测试时，若使用1根探针容易造成接触不稳定，且因为测点面积小，最多只能使用2根探针，所以不能同时满足开尔文四线法测小电阻和多根探针测IIC通讯的要求，不能同时保障两个测试的稳定性和准确性，存在误测风险。
针对上述问题，行业上一般的处理办法是更改针膜方案，放弃使用探针，改用接触性能更好的弹片针以克服上述的探针应用问题，但弹片针方案的设计难度较大，成本较高。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种有效降低因测点小和单根探针接触容易不稳定所带来的测试风险，保障测试稳定性，避免增加项目的难度和成本的小阻值测试电路。
本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括第一供电探针P1、第二供电探针P2、采样探针P3、复用探针P4、电流源A、电压表V、继电器K；所述继电器K包括常闭触点引脚NC、常开触点引脚NO、共点引脚COM及驱动控制端口C1,C2；所述电流源A的一端与所述第一供电探针P1电连接，所述电流源A的另一端与所述采样探针P3电连接；所述电压表V的一端与所述第二供电探针P2电连接，所述电压表V的另一端与所述继电器K的常开触点引脚NO电连接，所述继电器K的共点引脚COM与所述复用探针P4电连接，IIC通讯测试电路与所述继电器K的常闭触点引脚NC电连接。
进一步，所述一种小阻值测试电路还包括与所述继电器K的驱动控制端口C1,C2连接的继电器驱动电路。
进一步，所述继电器驱动电路包括MCU及与所述MCU电性连接的达林顿管。
进一步，在所述电流源A与所述第一供电探针P1连接的线路上还串联设置有开关K1。
进一步，当所述继电器K的常闭触点引脚NC和所述继电器K的共点引脚COM接通后，所述复用探针P4用作供电探针。
进一步，所述继电器K的常开触点引脚NO和所述继电器K的共点引脚COM接通后，所述复用探针P4用作采样探针。
附图说明
图1是开尔文四线法测量电阻示意图；
图2是多根探针测试IIC通讯示意图；
图3是相同测点进行开尔文四线法测小阻值和多根探针测试IIC通讯示意图；
图4是本实用新型复用探针，实现多根探针测试IIC通讯示意图；
图5是本实用新型复用探针，实现开尔文四线法测试小阻值示意图。
具体实施方式
如图4和图5所示，在本实施例中，本实用新型包括第一供电探针P1、第二供电探针P2、采样探针P3、复用探针P4、电流源A、电压表V、继电器K；所述继电器K包括常闭触点引脚NC、常开触点引脚NO、共点引脚COM及驱动控制端口C1,C2；所述电流源A的一端与所述第一供电探针P1电连接，所述电流源A的另一端与所述采样探针P3电连接；所述电压表V的一端与所述第二供电探针P2电连接，所述电压表V的另一端与所述继电器K的常开触点引脚NO电连接，所述继电器K的共点引脚COM与所述复用探针P4电连接，IIC通讯测试电路与所述继电器K的常闭触点引脚NC电连接。在本实施例中，在所述电流源A与所述第一供电探针P1连接的线路上还串联设置有开关K1。
在本实施例中，所述一种小阻值测试电路还包括与所述继电器K的驱动控制端口C1,C2连接的继电器驱动电路。在本实施例中，所述继电器驱动电路包括MCU及与所述MCU电性连接的达林顿管。
在本实施例中，如图4所示，当所述继电器K的常闭触点引脚NC和所述继电器K的共点引脚COM接通后，所述复用探针P4用作供电探针。以IIC通讯的时钟总线测点SCL探针为例，在BMU测试时，继电器电路默认将两根TP_SCL测试探针均用作供电，进行IIC通讯测试。IIC通讯测试完毕后，如图5所示，MCU控制驱动继电器切换触点，此时所述继电器K的常开触点引脚NO和所述继电器K的共点引脚COM接通后，所述复用探针P4用作采样探针，将TP_SCL其中一根探针进行切换，用作小阻值测试的采样针，形成开尔文四线法来测小电阻。因此，本实用新型将探针进行复用，让2根探针达到3根探针的应用效果，可同时满足开尔文四线法测小电阻和多根探针测IIC通讯的要求，有效降低因测点小和单根探针接触容易不稳定所带来的测试风险，保障测试稳定性，避免增加项目的难度和成本。
虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本实用新型含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。
Claims (6)
1.一种小阻值测试电路，其特征在于：所述一种小阻值测试电路包括第一供电探针（P1）、第二供电探针（P2）、采样探针（P3）、复用探针（P4）、电流源（A）、电压表（V）、继电器（K）；所述继电器（K）包括常闭触点引脚（NC）、常开触点引脚（NO）、共点引脚（COM）及驱动控制端口（C1,C2）；所述电流源（A）的一端与所述第一供电探针（P1）电连接，所述电流源（A）的另一端与所述采样探针（P3）电连接；所述电压表（V）的一端与所述第二供电探针（P2）电连接，所述电压表（V）的另一端与所述继电器（K）的常开触点引脚（NO）电连接，所述继电器（K）的共点引脚（COM）与所述复用探针（P4）电连接，IIC通讯测试电路与所述继电器（K）的常闭触点引脚（NC）电连接。
2.根据权利要求1所述的一种小阻值测试电路，其特征在于：所述一种小阻值测试电路还包括与所述继电器（K）的驱动控制端口（C1,C2）连接的继电器驱动电路。
3.根据权利要求1所述的一种小阻值测试电路，其特征在于：所述继电器驱动电路包括MCU及与所述MCU电性连接的达林顿管。
4.根据权利要求2所述的一种小阻值测试电路，其特征在于：在所述电流源（A）与所述第一供电探针（P1）连接的线路上还串联设置有开关（K1）。
5.根据权利要求1所述的一种小阻值测试电路，其特征在于：当所述继电器（K）的常闭触点引脚（NC）和所述继电器（K）的共点引脚（COM）接通后，所述复用探针（P4）用作供电探针。
6.根据权利要求1所述的一种小阻值测试电路，其特征在于：所述继电器（K）的常开触点引脚（NO）和所述继电器（K）的共点引脚（COM）接通后，所述复用探针（P4）用作采样探针。
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- 2023-11-23 CN CN202323164998.2U patent/CN221303530U/zh active Active
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