CN221281073U - 一种测试接触电阻的探头结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种测试接触电阻的探头结构，包括金属探杆以及设置在金属探杆顶端的探头元件筒，且金属探杆与探头元件筒内部的电子元件电性连接，所述探头元件筒的顶端设置有探头外接电线，通过在该测试接触电阻探头的金属探杆上增加有一个新型的延长接触装置，延长接触装置主要是在金属探杆内部增加延长调节螺孔，且在延长调节螺孔中增加可调节长度的金属延长螺杆，且金属延长螺杆与金属探杆采用相同金属制成，这样能够使得两者之间形成稳定的导电通路，金属延长螺杆调节后向外延长则能够增加整个金属探杆的长度，这样能够使得金属探杆可根据检测需求调节不同的检测长度，避免在特殊情况下金属探杆长度较短而够不着被检测物的情况发生。
Description
技术领域
本实用新型属于电子工程相关技术领域，具体涉及一种测试接触电阻的探头结构。
背景技术
测试接触电阻的探头是用于测量电路中接触电阻的仪器或工具。它通常由两个金属电极组成，用于建立电路连接，并测量通过这些接触电极的电流和电压来计算接触电阻。
但是测试接触电阻探头是用于测量电路中接触电阻的仪器或工具，所以探头需要接触被检测物才能够起到测量的作用，而当探头需要插入到预留孔洞中才能够与被检测物接触时，若探头长度较短时，探头插入到预留孔洞中后会接触不到背检测物，还需要更换另外型号的探头，这样不仅会增加对探头的安装难度，同时也会使得探头安装使用时更为繁琐。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种测试接触电阻的探头结构，以解决上述背景技术中提出的当探头需要插入到预留孔洞中才能够与被检测物接触时，若探头长度较短时，探头插入到预留孔洞中后会接触不到背检测物，还需要更换另外型号的探头的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种测试接触电阻的探头结构，包括金属探杆以及设置在金属探杆顶端的探头元件筒，且金属探杆与探头元件筒内部的电子元件电性连接，所述探头元件筒的顶端设置有探头外接电线，且探头外接电线与探头元件筒内部电子元件电性连接，所述金属探杆内部以及底部连接有延长接触装置；
所述延长接触装置包括延长调节螺孔和金属延长螺杆，所述延长调节螺孔设置在金属探杆的内部，且延长调节螺孔开口方向朝下，同时延长调节螺孔的深度大于金属探杆的一半长度，所述延长调节螺孔中自下而上螺纹插接有金属延长螺杆。
优选的，所述延长接触装置还包括延长接触头和内螺纹锁定环，所述内螺纹锁定环螺纹套接在金属延长螺杆的圆形外部，所述金属延长螺杆的底端设置有延长接触头。
优选的，所述金属延长螺杆顺逆时针旋转可通过螺纹推动作用在延长调节螺孔中向上和向下活动，所述内螺纹锁定环顺逆时针旋转可通过螺纹推动作用在金属延长螺杆的外部向下和向上活动。
优选的，所述探头元件筒的底端还设置有螺母套，所述螺母套的底端设置有紧压密封垫，且紧压密封垫和螺母套均套接在金属探杆的顶端外部。
优选的，所述紧压密封垫底部还设置有外螺纹安装套，且外螺纹安装套套接在金属探杆的外部，同时外螺纹安装套与金属探杆之间通过密封胶进行防水密封。
优选的，所述探头元件筒的顶端还设置有电线保护套，且电线保护套通过粘接剂套接固定在探头外接电线的外部，通过电线保护套可在探头外接电线与探头元件筒连接处外部产生保护作用。
与现有技术相比，本实用新型提供了一种测试接触电阻的探头结构，具备以下有益效果：
本实用新型通过在该测试接触电阻探头的金属探杆上增加有一个新型的延长接触装置，延长接触装置主要是在金属探杆内部增加延长调节螺孔，且在延长调节螺孔中增加可调节长度的金属延长螺杆，且金属延长螺杆与金属探杆采用相同金属制成，这样能够使得两者之间形成稳定的导电通路，金属延长螺杆调节后向外延长则能够增加整个金属探杆的长度，这样能够使得金属探杆可根据检测需求调节不同的检测长度，避免在特殊情况下金属探杆长度较短而够不着被检测物的情况发生，这样也能够省去需要频繁更换多种不同型号金属探杆的繁琐操作。
附图说明
图1为本实用新型的一种测试接触电阻的探头结构立体结构示意图。
图2为本实用新型的一种测试接触电阻的探头结构平面结构示意图。
图3为本实用新型的延长接触装置截面结构示意图。
图中：1、探头外接电线；2、电线保护套；3、探头元件筒；4、螺母套；5、紧压密封垫；6、外螺纹安装套；7、金属探杆；8、延长接触装置；9、延长接触头；10、内螺纹锁定环；11、延长调节螺孔；12、金属延长螺杆。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型提供了如图1-3所示的一种测试接触电阻的探头结构，包括金属探杆7以及设置在金属探杆7顶端的探头元件筒3，且金属探杆7与探头元件筒3内部的电子元件电性连接，探头元件筒3的顶端设置有探头外接电线1，且探头外接电线1与探头元件筒3内部电子元件电性连接，金属探杆7内部以及底部连接有延长接触装置8，探头元件筒3的底端还设置有螺母套4，螺母套4的底端设置有紧压密封垫5，且紧压密封垫5和螺母套4均套接在金属探杆7的顶端外部，紧压密封垫5底部还设置有外螺纹安装套6，且外螺纹安装套6套接在金属探杆7的外部，同时外螺纹安装套6与金属探杆7之间通过密封胶进行防水密封，探头元件筒3的顶端还设置有电线保护套2，且电线保护套2通过粘接剂套接固定在探头外接电线1的外部，通过电线保护套2可在探头外接电线1与探头元件筒3连接处外部产生保护作用，使用该测试接触电阻的探头时，首先需要确定好该测试接触电阻的探头的安装使用位置，然后则需要把金属探杆7插入到预留孔位中，且通过外螺纹安装套6外壁上的螺纹固定到预留孔位中，安装好之后，金属探杆7接触到被检测位置，然后则需要把探头外接电线1与外部供接收部件电性连接，然后即可正常使用该测试接触电阻的探头。
如图1和图3所示，延长接触装置8包括延长调节螺孔11和金属延长螺杆12，延长调节螺孔11设置在金属探杆7的内部，且延长调节螺孔11开口方向朝下，同时延长调节螺孔11的深度大于金属探杆7的一半长度，延长调节螺孔11中自下而上螺纹插接有金属延长螺杆12，延长接触装置8还包括延长接触头9和内螺纹锁定环10，内螺纹锁定环10螺纹套接在金属延长螺杆12的圆形外部，金属延长螺杆12的底端设置有延长接触头9。
如图1和图3所示，金属延长螺杆12顺逆时针旋转可通过螺纹推动作用在延长调节螺孔11中向上和向下活动，内螺纹锁定环10顺逆时针旋转可通过螺纹推动作用在金属延长螺杆12的外部向下和向上活动，当金属探杆7长度相对较短且不能够接触到被检测物时，此时可不需要更换另外型号的测试接触电阻的探头，只需要通过延长接触装置8来延长整个金属探杆7即可，具体的，需要顺时针旋转内螺纹锁定环10，使其从紧紧抵触在金属探杆7底端外壁的状态向下活动而脱离，这样则会对金属延长探杆进行解锁，然后则需要抓住延长接触头9并带动金属延长螺杆12逆时针旋转，金属延长螺杆12通过螺纹推动作用则会从金属探杆7内部的延长调节螺孔11中向外活动，直到延长的长度达到要求为止，然后则需要逆时针旋转内螺纹锁定环10，内螺纹锁定环10向上活动，直到内螺纹锁定环10牢牢地抵触在金属探杆7的底端外壁上，这样则会对金属延长螺杆12产生锁定作用，避免在正常使用时金属延长螺杆12产生旋转，保证其处于延长状态使用。
最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种测试接触电阻的探头结构，包括金属探杆(7)以及设置在金属探杆(7)顶端的探头元件筒(3)，且金属探杆(7)与探头元件筒(3)内部的电子元件电性连接，所述探头元件筒(3)的顶端设置有探头外接电线(1)，且探头外接电线(1)与探头元件筒(3)内部电子元件电性连接，其特征在于：所述金属探杆(7)内部以及底部连接有延长接触装置(8)；
所述延长接触装置(8)包括延长调节螺孔(11)和金属延长螺杆(12)，所述延长调节螺孔(11)设置在金属探杆(7)的内部，且延长调节螺孔(11)开口方向朝下，同时延长调节螺孔(11)的深度大于金属探杆(7)的一半长度，所述延长调节螺孔(11)中自下而上螺纹插接有金属延长螺杆(12)。
2.根据权利要求1所述的一种测试接触电阻的探头结构，其特征在于：所述延长接触装置(8)还包括延长接触头(9)和内螺纹锁定环(10)，所述内螺纹锁定环(10)螺纹套接在金属延长螺杆(12)的圆形外部，所述金属延长螺杆(12)的底端设置有延长接触头(9)。
3.根据权利要求2所述的一种测试接触电阻的探头结构，其特征在于：所述金属延长螺杆(12)顺逆时针旋转可通过螺纹推动作用在延长调节螺孔(11)中向上和向下活动，所述内螺纹锁定环(10)顺逆时针旋转可通过螺纹推动作用在金属延长螺杆(12)的外部向下和向上活动。
4.根据权利要求1所述的一种测试接触电阻的探头结构，其特征在于：所述探头元件筒(3)的底端还设置有螺母套(4)，所述螺母套(4)的底端设置有紧压密封垫(5)，且紧压密封垫(5)和螺母套(4)均套接在金属探杆(7)的顶端外部。
5.根据权利要求4所述的一种测试接触电阻的探头结构，其特征在于：所述紧压密封垫(5)底部还设置有外螺纹安装套(6)，且外螺纹安装套(6)套接在金属探杆(7)的外部，同时外螺纹安装套(6)与金属探杆(7)之间通过密封胶进行防水密封。
6.根据权利要求1所述的一种测试接触电阻的探头结构，其特征在于：所述探头元件筒(3)的顶端还设置有电线保护套(2)，且电线保护套(2)通过粘接剂套接固定在探头外接电线(1)的外部，通过电线保护套(2)可在探头外接电线(1)与探头元件筒(3)连接处外部产生保护作用。
Publications (1)
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| CN221281073U true CN221281073U (zh) | 2024-07-05 |
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