CN221200293U - 一种数字量输入通道测试电路及数字量输入模块测试装置 - Google Patents

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CN221200293U CN202323336153.7U CN202323336153U CN221200293U CN 221200293 U CN221200293 U CN 221200293U CN 202323336153 U CN202323336153 U CN 202323336153U CN 221200293 U CN221200293 U CN 221200293U
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曹宗生
张旭
崔吉叶
董翠霞
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Abstract

本申请公开了一种数字量输入通道测试电路及数字量输入模块测试装置,其中包含有用于连接待测试DI通道的第一输出端和第二输出端,以及,连接两个输出端的并联的第一支路和第二支路;第一支路包括串联的第一可控开关模块、第一输出电阻和第二输出电阻,以及并联在第二输出电阻两端的第二可控开关模块;第二支路包括第三可控开关模块。由于测试电路中的三个可控开关模块的第一端和第二端可以连接或断开,基于此结构,该电路的第一输出端和第二输出端能够对外输出第一输出电阻、串联的第一输出电阻和第二输出电阻、断路状态、短路状态共计四种状态,可以提供四种不同的测试工况,为利用该电路实现对DI通道的测试任务提供了基础。

Description

一种数字量输入通道测试电路及数字量输入模块测试装置
技术领域
本申请涉及测试技术领域,更具体的说,是涉及一种数字量输入通道测试电路及数字量输入模块测试装置。
背景技术
在控制系统,示例如分布式控制系统(Distributed Control System,DCS)中,通常依赖数字量输入模块DI的数字量输入通道,将现场采集的数字量信号转化为控制系统能够识别的采集数据,以供控制系统进行逻辑判断或数据处理。
也就是说,数字量输入模块DI采集到的数字量信号是否与其连接的工控现场的执行器动作一致,也即数字量输入模块DI的信号采集结果正确与否,将直接影响控制系统的控制过程。
因此,如何测试数字量输入模块DI,特别是如何快速测试大规模的具有断线、短路功能的数字量输入模块DI,成为本领域技术人员亟需解决的问题。
实用新型内容
鉴于上述问题,提出了本申请以便提供一种数字量输入通道测试电路及数字量输入模块测试装置,以实现对数字量输入模块的数字量输入的测试任务。
具体方案如下:
第一方面,提供了一种数字量输入通道测试电路,包括:
用于连接待测试的数字量输入通道两端的第一输出端和第二输出端,以及,连接所述第一输出端和所述第二输出端的,并联的第一支路和第二支路;
所述第一支路包括:第一可控开关模块,第二可控开关模块,以及,串联的第一输出电阻和第二输出电阻;
所述第一可控开关模块的第一端连接所述第一输出端,所述第一可控开关模块的第二端连接所述串联的第一输出电阻和第二输出电阻的一端;所述串联的第一输出电阻和第二输出电阻的另一端连接所述第二输出端;所述第二可控开关模块的第一端和第二端分别连接所述第二输出电阻的两端;
所述第二支路包括第三可控开关模块;
所述第三可控开关模块的第一端连接所述第一输出端,所述第三可控开关模块的第二端连接所述第二输出端;
其中,所述第一可控开关模块、所述第二可控开关模块和所述第三可控开关模块中的每一个可控开关模块,所述可控开关模块在控制信号的作用下,连接或断开所述可控开关模块的第一端和第二端。
第二方面,提供了一种数字量输入模块测试装置,包括:
提供输入接口的输入模块、测试电路模块和提供输出端口的输出模块;
所述测试电路模块包括:若干个数字量输入通道测试电路;
所述数字量输入通道测试电路包括:第一输出端,第二输出端,以及,连接所述第一输出端和所述第二输出端的,并联的第一支路和第二支路;所述第一支路包括:第一可控开关模块,第二可控开关模块,以及,串联的第一输出电阻和第二输出电阻;所述第一可控开关模块的第一端连接所述第一输出端,所述第一可控开关模块的第二端连接所述串联的第一输出电阻和第二输出电阻的一端;所述串联的第一输出电阻和第二输出电阻的另一端连接所述第二输出端;所述第二可控开关模块的第一端和第二端分别连接所述第二输出电阻的两端;所述第二支路包括第三可控开关模块;所述第三可控开关模块的第一端连接所述第一输出端,所述第三可控开关模块的第二端连接所述第二输出端;对于所述第一可控开关模块、所述第二可控开关模块和所述第三可控开关模块中的每一个可控开关模块,所述可控开关模块的控制信号输入端连接所述输入模块中的输入接口,所述可控开关模块在由其所接的输入接口输入的控制信号的作用下,连接或断开所述可控开关模块的第一端和第二端;
所述数字量输入通道测试电路中的所述第一输出端和所述第二输出端分别连接所述输出模块中的两个输出端口;所述输出模块中的两个输出端口用于连接数字量输入模块中的一个待测试的数字量输入通道的两端。
借由上述技术方案,本申请提供了一种数字量输入通道测试电路,可以包含有:用于连接待测试的数字量输入通道的两端的第一输出端和第二输出端,以及,连接第一输出端和第二输出端的并联的第一支路和第二支路;其中,第一支路可以包括:串联的第一可控开关模块、第一输出电阻和第二输出电阻,以及,与第二输出电阻并联的第二可控开关模块;第二支路可以包括第三可控开关模块;由于测试电路中的三个可控开关模块的第一端和第二端可以连接或断开,基于此结构,该电路的第一输出端和第二输出端能够对外输出四种状态,分别是:第一输出电阻,串联的第一输出电阻和第二输出电阻,断路状态和短路状态。在将第一输出端和第二输出端连接待测试的数字量输入通道的两端,可以模拟出高电平信号、低电平信号、信号线断路和信号线短路四种不同的测试工况,为利用该电路实现对数字量输入模块DI中的数字量输入通道的测试任务提供了技术基础。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本申请的限制。而且在整个附图中,用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中:
图1示例了一种数字量输入模块DI的检测电路示意图;
图2为本申请实施例提供的一种数字量输入通道测试电路的结构示意图;
图3为本申请实施例提供的另一种数字量输入通道测试电路的结构示意图;
图4为本申请实施例提供的一种数字量输入通道测试装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
本案申请人经研究发现,当前的数字量输入模块DI往往需要通过较长的线缆连接工控现场的执行器,即需要通过较长的线缆才能将工控现场的数字量信号采集到数字量输入模块DI,并且只能采集到开和关两种的信号状态。在此基础上,连接线缆发生异常可能会导致数字量输入模块DI采集到错误的信号。示例性的,在连接线缆断路或执行器未动作的情况下,接入数字量输入模块DI的电阻无限大,数字量输入模块DI采集到的信号都是逻辑0;在连接线缆中的信号线异常短接或执行器动作的情况下,接入数字量输入模块DI的电阻为零,数字量输入模块DI采集到的信号都是逻辑1。也就是说,在数字量输入模块DI的输入端直接串接开关,以模拟执行器动作,对数字量输入模块DI进行测试的方案,存在着一些信号识别错误的问题。
为解决上述问题,本案申请人基于传统的数字量输入模块DI信号线路,在执行器的信号端直接通过线缆接入数字量输入模块DI的输入端的线路中,增加了串并联电阻,以表示不同的输入信号的状态类型,分别是:断线、短路、正常开和正常关,从而在一定程度上提高数字量输入模块DI输入信号识别状态的准确性。相应的,为实现对接入线路优化后的数字量输入模块DI(即具备断线短路检测功能的数字量输入模块)的测试任务,接入数字量输入模块DI的测试装置需要提供四种输出状态。
基于此,本案申请人提出了图1所示的数字量输入模块DI的检测电路。如图1所示,检测电路可以包括:串联的电阻R1和开关K1,以及与开关K1并联的电阻R2。其中,串联的电阻R1和开关K1的两端(即检测电路的两端)可以连接数字量输入模块DI的输入端。
此外,图1还示出了数字量输入模块通道内部电路,可以包括并联的二极管D1和二极管D2,其正极接地GND,其负极接电源VCC。
结合图1所示的电路,测试人员可以手动连接检测电路的两端和数字量输入模块DI的输入端,而后通过断开或闭合开关K1,以使检测电路输出电阻R1+R2或R1,实现对执行器的开关动作的模拟;测试人员可以手动断开数字量输入模块DI的输入端和外部电路的连接,以模拟信号线路断线故障的情况,可以短接数字量输入模块DI的输入端,以模拟信号线路短接故障的情况。也就是说,测试人员可以基于图1所示的检测电路进行手动操作,模拟出执行器动作、执行器未动作、连接线缆断线和连接线缆短接共计四种情况,而后借由数字量输入模块DI内部的分压电路识别出四种电路状态,最终实现了对数字量输入模块DI的输入信号状态的测试识别任务。
但是由测试人员手动接线、操作实现的测试方案,测试效率较低,难以复现出DI信号快速变化的场景,也难以满足对大规模的数字量输入模块DI的快速测试需求。基于此,本申请实施例提供了一种数字量输入通道测试电路及数字量输入模块测试装置,为实现数字量输入模块的输入通道自动测试任务提供了技术基础。
图2是根据本申请实施例示出的一种数字量输入通道测试电路的结构示意图,所述数字量输入通道测试电路可以包括:
第一输出端,第二输出端,以及,连接所述第一输出端和所述第二输出端的并联的第一支路和第二支路。
其中,所述第一输出端和所述第二输出端用于对外连接待测试的数字量输入通道(即数字量输入模块DI中的一个输入通道)两端,对外提供所述数字量输入通道测试电路的多种输出状态;所述第一支路可以包括:第一可控开关模块,第二可控开关模块,以及,串联的第一输出电阻R1和第二输出电阻R2;所述第二支路可以包括第三可控开关模块。
需要说明的是,对于所述第一可控开关模块、所述第二可控开关模块和所述第三可控开关模块中的每一个可控开关模块,所述可控开关模块在控制信号的作用下,连接或断开所述可控开关模块的第一端和第二端。也就是说,所述可控开关模块的第一端和第二端可以具备分别对应于不同的控制信号的两种连接状态:导通或断开。
在一种可能的实现方式中,所述可控开关模块可以包含有控制信号输入端,借由该端口可以接收所述控制信号,以便所述可控开关模块依此建立或断开所述可控开关模块的第一端和第二端之间的连接关系。需要说明的是,在所述可控开关模块的第一端和第二端连接,即导通的情况下,两个端点之间的导通阻抗可以小于预设值,可以满足待测试的数字量输入模块的接触电阻要求,示例性的,导通阻抗可以是1欧姆,以减少导通阻抗对数字量输入通道测试模块的输出电阻的影响,甚至能够忽略可控开关模块的导通阻抗。此外,所述可控开关模块的开关时间,即所述可控开关模块从接收到控制信号到动作完成的时间,可以满足待测试的数字量输入模块的响应速度条件,示例性的,所述可控开关模块的开关时间可以小于1毫秒。
具体的,结合图2所示,所述数字量输入通道测试电路中的各组件的连接关系如下:所述第一可控开关模块的第一端1连接所述第一输出端;所述第一可控开关模块的第二端2,连接,所述串联的第一输出电阻R1和第二输出电阻R2的一端;所述串联的第一输出电阻R1和第二输出电阻R2的另一端,连接,所述第二输出端;所述第二可控开关模块的第一端1和第二端2分别连接所述第二输出电阻R2的两端;所述第三可控开关模块的第一端1连接所述第一输出端,所述第三可控开关模块的第二端2连接所述第二输出端。
基于图2所示的数字量输入通道测试电路,在实际测试时,第一输出端和第二输出端分别连接待测试的数字量输入通道的两端,而后技术人员可以配置多组控制信号,以使数字量输入通道测试电路呈不同的测试工况,测试待测试的数字量输入通道在不同测试工况下的采集结果。
下面依次对四种测试工况进行说明。
第一测试工况:所述第三可控开关模块在相应的控制信号的作用下,导通其第一端和第二端,此时的数字量输入通道测试电路,可以相当于第一输出端和第二输出端直接通过导线相连,即待测试的数字量输入通道的两端短接;
第二测试工况:所述第三可控开关模块在相应的控制信号的作用下,断开其第一端和第二端之间的连接关系,且所述第一可控开关模块在相应的控制信号的作用下,断开其第一端和第二端之间的连接关系,此时的数字量输入通道测试电路为:第一输出端和第二输出端之间断路,即待测试的数字量输入通道的两端断路;
第三测试工况:所述第三可控开关模块在相应的控制信号的作用下,断开其第一端和第二端之间的连接关系,所述第一可控开关模块在相应的控制信号的作用下,导通其第一端和第二端,且所述第二可控开关模块在相应的控制信号的作用下,断开其第一端和第二端之间的连接关系,此时的数字量输入通道测试电路可以相当于第一输出端和第二输出端通过串联的第一输出电阻R1和第二输出电阻R2连接,即串联的第一输出电阻R1和第二输出电阻R2被接入待测试的数字量输入通道的两端;
第四测试工况:所述第三可控开关模块在相应的控制信号的作用下,断开其第一端和第二端之间的连接关系,所述第一可控开关模块在相应的控制信号的作用下,导通其第一端和第二端,且所述第二可控开关模块在相应的控制信号的作用下,导通其第一端和第二端,此时,第二输出电阻可以相当于被短路,数字量输入通道测试电路可以相当于,第一输出端和第二输出端通过第一输出电阻R1连接,即第一输出电阻R1被接入待测试的数字量输入通道的两端,并且,数字量输入模块在第四测试工况下采集到的电平信号高于在第三测试工况下数字量输入模块在第三测试工况下采集到的电平信号。
需要说明的是,所述第一输出电阻和所述第二输出电阻的阻值可以满足待测试的数字量输入通道所属的数字量输入模块的电路设计要求。示例性的,测试电路的电阻精度可以优于被测试的数字量输入模块的电路指标,可以不低于1%。具体的,电阻精度可以是0.05%或0.02%,以满足大多数的数字量输入模块的测试需求。
基于上述内容,本申请提供了一种数字量输入通道测试电路,可以包含有:用于连接待测试的数字量输入通道的两端的第一输出端和第二输出端,以及,连接第一输出端和第二输出端的并联的第一支路和第二支路;其中,第一支路可以包括:串联的第一可控开关模块、第一输出电阻和第二输出电阻,以及,与第二输出电阻并联的第二可控开关模块;第二支路可以包括第三可控开关模块;由于测试电路中的三个可控开关模块的第一端和第二端可以连接或断开,基于此结构,该电路的第一输出端和第二输出端能够对外输出四种状态,分别是:第一输出电阻,串联的第一输出电阻和第二输出电阻,断路状态和短路状态。在将第一输出端和第二输出端连接待测试的数字量输入通道的两端,可以模拟出高电平信号、低电平信号、线缆断路和线缆短路四种不同的测试工况,为利用该电路实现对数字量输入模块DI中的数字量输入通道的测试任务,特别是对具备断线短路检测功能的数字量输入模块DI的测试任务,提供了技术基础。
接下来对本申请实施例提供的可控开关模块的可能实现方式进行示例性说明。
在本申请提供的一些实施例中,所述可控开关模块可以包括:继电器及所述继电器的驱动电路。
其中,所述继电器可以包括输出回路和输入回路,所述继电器可以在其驱动电路提供给输入回路的输入信号的作用下,改变其输出回路的通断状态。
具体的,所述可控开关模块的第一端和第二端可以分别是所述继电器的输出回路的第一端和第二端;所述继电器的输入回路可以连接所述继电器的驱动电路;所述继电器的驱动电路可以在控制信号的作用下,配置所述继电器的输入回路的输入信号,以连接或断开所述继电器的输出回路的第一端和第二端。
在本申请提供的一些实施例中,所述继电器可以是光耦继电器(即光电继电器)。
其中,所述光耦继电器的输入回路为发光元件,示例如小型白炽灯、磷化镓二极管等,所述光耦继电器的输出回路为光敏器件,即阻值随光照情况变化的元件。
具体的,所述继电器的输出回路的第一端和第二端可以分别是构成所述光耦继电器的输出回路的光敏器件的第一端和第二端;所述继电器的驱动电路可以包括:供电电源、保护电阻和用于接收高电平或低电平的所述控制信号的控制信号输入端,其中,所述供电电源连接所述保护电阻的一端,所述保护电阻的另一端连接构成所述光耦继电器的输入回路的发光元件的第一端;所述发光元件的第二端连接所述控制信号输入端。
借由上述的驱动电路,可以在发光元件上产生足以驱动该发光元件的输入信号,测试人员通过配置输入到控制信号输入端的控制信号,可以实现对输出回路两端的通断控制,从而为数字量输入通道测试电路提供不同的测试工况提供了基础。
可选的,所述发光元件可以是发光二极管,和/或,所述光敏器件可以是光敏三极管。
示例性的,图3示出了一种本申请实施例提供的另一种数字量输入通道测试电路的结构示意图,该电路可以包括:第一输出端、第一可控开关模块、第一输出电阻R1、第二输出电阻R2、第二可控开关模块、第三可控开关模块和第二输出端。
其中,第一可控开关模块可以包括:驱动电路、输入回路和输出回路;该驱动电路可以包括供电电源VCC、保护电阻R3和第一控制信号输入端;供电电源VCC连接保护电阻R3的一端,保护电阻R3的另一端连接构成输入回路的发光二极管LED1的正极(即第一端),发光二极管LED1的负极(即第二端)连接第一控制信号输入端;输出回路可以包括光敏三极管V1,输出回路的第一端和第二端可以分别是光敏三极管V1的集电极和发射极。第二可控开关模块可以包括:驱动电路、输入回路和输出回路;该驱动电路可以包括供电电源VCC、保护电阻R4和第二控制信号输入端;供电电源VCC连接保护电阻R4的一端,保护电阻R4的另一端连接构成输入回路的发光二极管LED2的正极(即第一端),发光二极管LED2的负极(即第二端)连接第二控制信号输入端;输出回路可以包括光敏三极管V2,输出回路的第一端和第二端可以分别是光敏三极管V2的集电极和发射极。第三可控开关模块可以包括:驱动电路、输入回路和输出回路;该驱动电路可以包括供电电源VCC、保护电阻R5和第三控制信号输入端;供电电源VCC连接保护电阻R5的一端,保护电阻R5的另一端连接构成输入回路的发光二极管LED3的正极(即第一端),发光二极管LED3的负极(即第二端)连接第三控制信号输入端;输出回路可以包括光敏三极管V3,输出回路的第一端和第二端可以分别是光敏三极管V3的集电极和发射极。
各组件的连接关系为:第一输出端连接光敏三极管V1的集电极,光敏三极管V1的发射极光敏连接第一输出电阻R1的一端,第一输出电阻R1的另一端连接第二输出电阻R2的第一端,第二输出电阻R2的第二端连接第二输出端;光敏三极管V2的集电极连接第二输出电阻R2的第一端,光敏三极管V2的发射极连接第二输出电阻R2的第二端;光敏三极管V3的集电极连接第一输出端,光敏三极管V3的发射极连接第二输出端。
在图3所示的数字量输入通道测试电路的基础上,测试人员可以将第一输出端连接至待测试的数字量输入通道的正输入端,将第二输出端连接至待测试的数字量输入通道的负输入端,并对分别输入至第一控制信号输入端、第二控制信号输入端和第三控制信号输入端的第一控制信号、第二控制信号和第三控制信号进行配置,以提供测试数字量输入通道断线、短路、正常开、正常关四种检测功能所需的电阻状态。示例性的,表1示出了一种可能的控制信号和测试电路输出状态的对应关系表,其中,X表示任意信号,0表示低电平信号,1表示高电平信号。
表1
其中,对于任一个控制信号输入端,在输入的控制信号为低电平的情况下,光敏三极管的集电极和发射极导通,并且导通电阻较小,示例如1欧姆;在输入的控制信号为高电平的情况下,光敏三极管的集电极和发射极不导通。
需要说明的是,可控开关模块作为测试电路中的控制部件,需要满足一定的开关时间条件和导通阻抗条件,其中,可控开关模块的开关时间能够表征测试电路能够输出变位信号的快慢,导通阻抗(示例如继电器的输出触点电阻)将影响可控开关模块接入电路后对电路增加的电阻误差,以匹配待测试的数字量输入模块的电路特性,示例如响应速度指标和接触电阻指标,使得可控开关模块的开关时间和导通阻抗能够被待测试的数字量输入模块忽略,满足对待测试的数字量输入模块的测试需求。示例性的,若待测试的数字量输入模块DI具备高速采集、高精度识别线路电阻的能力,则需要在测试电路中配置高速开关速度(即低开关时间)、低触点电阻的可控开关模块,示例如MOS FET继电器继电器,反之也可以使用机械继电器。
下面对本申请实施例提供的数字量输入模块测试装置进行说明。下文描述的数字量输入模块测试装置可以与上文描述的数字量输入通道测试电路相互对应参照。
所述数字量输入模块测试装置可以包括:提供输入接口的输入模块、测试电路模块和提供输出端口的输出模块。
具体的,所述测试电路模块可以包括:若干个数字量输入通道测试电路。所述数字量输入通道测试电路包括:第一输出端,第二输出端,以及,连接所述第一输出端和所述第二输出端的,并联的第一支路和第二支路;所述第一支路包括:第一可控开关模块,第二可控开关模块,以及,串联的第一输出电阻和第二输出电阻;所述第一可控开关模块的第一端连接所述第一输出端,所述第一可控开关模块的第二端连接所述串联的第一输出电阻和第二输出电阻的一端;所述串联的第一输出电阻和第二输出电阻的另一端连接所述第二输出端;所述第二可控开关模块的第一端和第二端分别连接所述第二输出电阻的两端;所述第二支路包括第三可控开关模块;所述第三可控开关模块的第一端连接所述第一输出端,所述第三可控开关模块的第二端连接所述第二输出端;对于所述第一可控开关模块、所述第二可控开关模块和所述第三可控开关模块中的每一个可控开关模块,所述可控开关模块的控制信号输入端连接所述输入模块中的输入接口,所述可控开关模块在由其所接的输入接口输入的控制信号的作用下,连接或断开所述可控开关模块的第一端和第二端。
所述数字量输入通道测试电路中的所述第一输出端和所述第二输出端分别连接所述输出模块中的两个输出端口;所述输出模块中的两个输出端口用于连接数字量输入模块中的一个待测试的数字量输入通道的两端。
在本申请提供的一些实施例中,所述可控开关模块可以包括:继电器及所述继电器的驱动电路。
具体的,所述可控开关模块的第一端和第二端可以分别是所述继电器的输出回路的第一端和第二端;所述继电器的输入回路可以连接所述继电器的驱动电路;所述可控开关模块的控制信号输入端可以是所述继电器的驱动电路的控制信号输入端;所述继电器的驱动电路可以在由其所接的输入接口输入的控制信号的作用下,配置所述继电器的输入回路的输入信号,以连接或断开所述继电器的输出回路的第一端和第二端。
在本申请提供的一些实施例中,所述继电器为光耦继电器。
其中,所述继电器的输出回路的第一端和第二端可以分别是构成所述光耦继电器的输出回路的光敏器件的第一端和第二端;所述继电器的驱动电路可以包括:供电电源、保护电阻和用于接收高电平或低电平的所述控制信号的控制信号输入端;所述供电电源连接所述保护电阻的一端,所述保护电阻的另一端连接构成所述光耦继电器的输入回路的发光元件的第一端;所述发光元件的第二端连接所述控制信号输入端。
上述的数字量输入模块测试装置提供了测试电路模块,可以对外输出四种类型的电阻状态,以模拟正常开、正常关、线路断线、线路短接四种所需的测试工况。此外,还提供了用于接入控制信号的接口和用于连接数字量输入模块的输入端的端口,提高了数字量输入模块测试装置与待测试的数字量输入模块和其他测试工具(例如控制信号的配置装置)的对接能力。
需要说明的是,数字量输入模块测试装置中的测试电路数量、输入接口数量和输出端口数量,均可以根据测试需求自定义配置。为满足大规模、多通道的数字量输入模块测试任务,在一种可能的实现方式中,所述输入模块和所述输出模块可以是高密度连接器,其具体型号可以根据测试需求设置,示例如DSUB、欧式端子等高密度连接器。
可选的,可以利用监视模块(National Instruments,NI)配置并提供控制信号,即所述输入模块的各输入接口可以与监视模块NI的多通道数字量输出板卡对接,以接收监视模块NI配置的控制信号,从而实现对数字量输入模块DI模块的断线短路检测功能的快速自动化测试任务。
在一种可能的实现方式中,用于提供控制信号的装置可以集成在所述数字量输入模块测试装置中。可选的,所述数字量输入模块测试装置还可以包括:控制信号配置模块;所述控制信号配置模块的各输出通道分别与所述输入模块中的输入接口相连,分别输出所述控制信号。
在本申请提供的一些实施例中,所述输入模块可以是:提供小型计算机系统接口SCSI(Small Computer System Interface)的SCSI连接器;和/或,所述输出模块可以是欧式连接器,示例如快速压接欧式连接器。
基于上述内容,图4示出了本申请实施例提供的一种数字量输入模块测试装置的结构示意图,结合图4所示,该装置可以包括:
SCSI连接器,提供了若干个输入接口;
端子连接器,提供了若干个输出端口;
测试电路模块,包括若干个数字量输入通道测试电路,分别是:数字量输入通道测试电路1、数字量输入通道测试电路2、……、数字量输入通道测试电路n,其中,数字量输入通道测试电路1可以包含有:第一可控开关模块的控制信号输入端111、第二可控开关模块的控制信号输入端112和第三可控开关模块的控制信号输入端113,以及,第一输出端121和第二输出端122;数字量输入通道测试电路2可以包含有:第一可控开关模块的控制信号输入端211、第二可控开关模块的控制信号输入端212和第三可控开关模块的控制信号输入端213,以及,第一输出端221和第二输出端222;数字量输入通道测试电路n可以包含有:第一可控开关模块的控制信号输入端n11、第二可控开关模块的控制信号输入端n12和第三可控开关模块的控制信号输入端n13,以及,第一输出端n21和第二输出端n22;各测试电路的电路结构可以参照上文描述,各测试电路的三个控制信号输入端分别连接SCSI连接器中的输入接口,各测试电路的两个输出端分别连接端子连接器中的输出端口。
示例性的,图4所示的数字量输入模块测试装置可以通过SCSI连接器(例如SCSI-100接口、快速压接连接器)与监控模块NI对接,可以兼容通用测试工具的接口,从而为实现便捷、高效、自动化的大规模DI通道测试任务提供了基础。
此外,本申请实施例提供的数字量输入通道测试电路及数字量输入模块测试装置具备较强的典型性,其中的元件及元件参数均可以根据测试需求自定义设置。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间可以根据需要进行组合,且相同相似部分互相参见即可。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种数字量输入通道测试电路,其特征在于,包括:
用于连接待测试的数字量输入通道两端的第一输出端和第二输出端,以及,连接所述第一输出端和所述第二输出端的,并联的第一支路和第二支路;
所述第一支路包括:第一可控开关模块,第二可控开关模块,以及,串联的第一输出电阻和第二输出电阻;
所述第一可控开关模块的第一端连接所述第一输出端,所述第一可控开关模块的第二端连接所述串联的第一输出电阻和第二输出电阻的一端;所述串联的第一输出电阻和第二输出电阻的另一端连接所述第二输出端;所述第二可控开关模块的第一端和第二端分别连接所述第二输出电阻的两端;
所述第二支路包括第三可控开关模块;
所述第三可控开关模块的第一端连接所述第一输出端,所述第三可控开关模块的第二端连接所述第二输出端;
其中,所述第一可控开关模块、所述第二可控开关模块和所述第三可控开关模块中的每一个可控开关模块,所述可控开关模块在控制信号的作用下,连接或断开所述可控开关模块的第一端和第二端。
2.根据权利要求1所述的数字量输入通道测试电路,其特征在于,所述可控开关模块包括:继电器及所述继电器的驱动电路;
所述可控开关模块的第一端和第二端分别是所述继电器的输出回路的第一端和第二端;所述继电器的输入回路连接所述继电器的驱动电路;
所述继电器的驱动电路在控制信号的作用下,配置所述继电器的输入回路的输入信号,以连接或断开所述继电器的输出回路的第一端和第二端。
3.根据权利要求2所述的数字量输入通道测试电路,其特征在于,所述继电器为光耦继电器;
所述继电器的输出回路的第一端和第二端分别是构成所述光耦继电器的输出回路的光敏器件的第一端和第二端;
所述继电器的驱动电路包括:供电电源、保护电阻和用于接收高电平或低电平的所述控制信号的控制信号输入端;
所述供电电源连接所述保护电阻的一端,所述保护电阻的另一端连接构成所述光耦继电器的输入回路的发光元件的第一端;所述发光元件的第二端连接所述控制信号输入端。
4.根据权利要求3所述的数字量输入通道测试电路,其特征在于,所述发光元件为发光二极管;
和/或,
所述光敏器件为光敏三极管。
5.一种数字量输入模块测试装置,其特征在于,包括:
提供输入接口的输入模块、测试电路模块和提供输出端口的输出模块;
所述测试电路模块包括:若干个数字量输入通道测试电路;
所述数字量输入通道测试电路包括:第一输出端,第二输出端,以及,连接所述第一输出端和所述第二输出端的,并联的第一支路和第二支路;所述第一支路包括:第一可控开关模块,第二可控开关模块,以及,串联的第一输出电阻和第二输出电阻;所述第一可控开关模块的第一端连接所述第一输出端,所述第一可控开关模块的第二端连接所述串联的第一输出电阻和第二输出电阻的一端;所述串联的第一输出电阻和第二输出电阻的另一端连接所述第二输出端;所述第二可控开关模块的第一端和第二端分别连接所述第二输出电阻的两端;所述第二支路包括第三可控开关模块;所述第三可控开关模块的第一端连接所述第一输出端,所述第三可控开关模块的第二端连接所述第二输出端;对于所述第一可控开关模块、所述第二可控开关模块和所述第三可控开关模块中的每一个可控开关模块,所述可控开关模块的控制信号输入端连接所述输入模块中的输入接口,所述可控开关模块在由其所接的输入接口输入的控制信号的作用下,连接或断开所述可控开关模块的第一端和第二端;
所述数字量输入通道测试电路中的所述第一输出端和所述第二输出端分别连接所述输出模块中的两个输出端口;所述输出模块中的两个输出端口用于连接数字量输入模块中的一个待测试的数字量输入通道的两端。
6.根据权利要求5所述的数字量输入模块测试装置,其特征在于,所述可控开关模块包括:继电器及所述继电器的驱动电路;
所述可控开关模块的第一端和第二端分别是所述继电器的输出回路的第一端和第二端;所述继电器的输入回路连接所述继电器的驱动电路;
所述可控开关模块的控制信号输入端为所述继电器的驱动电路的控制信号输入端;所述继电器的驱动电路在由其所接的输入接口输入的控制信号的作用下,配置所述继电器的输入回路的输入信号,以连接或断开所述继电器的输出回路的第一端和第二端。
7.根据权利要求6所述的数字量输入模块测试装置,其特征在于,所述继电器为光耦继电器;
所述继电器的输出回路的第一端和第二端分别是构成所述光耦继电器的输出回路的光敏器件的第一端和第二端;
所述继电器的驱动电路包括:供电电源、保护电阻和用于接收高电平或低电平的所述控制信号的控制信号输入端;
所述供电电源连接所述保护电阻的一端,所述保护电阻的另一端连接构成所述光耦继电器的输入回路的发光元件的第一端;所述发光元件的第二端连接所述控制信号输入端。
8.根据权利要求5-7中任一项所述的数字量输入模块测试装置,其特征在于,还包括:控制信号配置模块;
所述控制信号配置模块的各输出通道分别与所述输入模块中的输入接口相连,分别输出所述控制信号。
9.根据权利要求8所述的数字量输入模块测试装置,其特征在于,所述输入模块和所述输出模块为高密度连接器。
10.根据权利要求9所述的数字量输入模块测试装置,其特征在于,所述输入模块为:提供小型计算机系统接口SCSI的SCSI连接器;
和/或,
所述输出模块为欧式连接器。
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