CN221056573U - 采集测试电路与检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及设备测试领域，具体涉及一种采集测试电路与检测设备。采集测试电路包括：采样模块、档位调节模块和主控芯片。采样模块与外部输入连接，档位调节模块与采样模块连接，主控芯片同时与档位调节模块以及采样模块连接；采样模块对外部输入信号进行初步电流采样，并将初步电流传输至主控芯片；主控芯片根据初步电流产生档位调节信号，并将档位调节信号传输至档位调节模块；档位调节模块在接收到档位调节信号时，设置采样模块的采样档位；采样模块根据采样档位，采集外部输入信号的电参数，并将电参数传输至主控芯片。实现不同大小的电流均可实时采集上传，测试档位可以根据电流大小自动适应调节。

Description

采集测试电路与检测设备

技术领域

本实用新型涉及设备测试领域，尤其涉及一种采集测试电路与检测设备。

背景技术

消费类电子产品需要不断降低待机时功耗，以满足消费者对续航时间越来越高的要求。为实现此目的，产品多采用锂电池保护芯片，将待机时的电流控制在纳安级别。

为保障出货时的产品均可实现纳安级别的低功耗待机，要求在生产制作过程中，对纳安级别电流进行精准测试。

常见的测试仪器是采用FPGA进行电流监控，成本高昂，软件开发难度大，且电流采集范围较窄。需要寻找低成本，高精度，采集范围更大的电流采集方式。

上述内容仅用于辅助理解本实用新型的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种采集测试电路与检测设备，旨在解决现有技术中对产品制作过程中对低功耗待机时的电流进行采集测试，常用FPGA进行电流监控，成本高且电流采集范围较窄的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种采集测试电路，所述采集测试电路包括：采样模块、档位调节模块和主控芯片；

所述采样模块与外部输入连接，所述档位调节模块与所述采样模块连接，所述主控芯片同时与所述档位调节模块以及所述采样模块连接；

所述采样模块，用于对外部输入信号进行初步电流采样，并将所述初步电流传输至所述主控芯片；

所述主控芯片，用于根据所述初步电流产生档位调节信号，并将所述档位调节信号传输至所述档位调节模块；

所述档位调节模块，用于在接收到所述档位调节信号时，设置所述采样模块的采样档位；

所述采样模块，用于根据所述采样档位，采集外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片。

可选地，所述采样模块包括：第一采样单元和第二采样单元；

所述第一采样单元一端与外部输入连接，另一端与所述第二采样单元连接，所述第二采样单元的另一端接地，所述档位调节模块与所述第二采样单元并联连接，所述第一采样单元和所述第二采样单元均与所述主控芯片连接；

所述档位调节模块，还用于根据所述档位调节信号，导通所述第一采样单元的第一采样回路或所述第二采样单元的第二采样回路；

所述第一采样单元，用于在所述第一采样回路导通时，采集所述外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片；

所述第二采样单元，用于在所述第二采样回路导通时，采集所述外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片。

可选地，所述第一采样单元包括：第一至第四电阻、第一电容和第一数字功率监控器；

第一电阻的一端同时与外部输入以及第二电阻的一端连接，所述第一电阻的另一端同时与所述第二采样单元以及第三电阻的一端连接，所述第二电阻的另一端同时与所述第一电容的一端以及所述第一数字功率监控器的第一端连接，所述第三电阻的另一端同时与所述第一电容的另一端以及所述第一数字功率监控器的第二端连接，所述第四电阻的一端连接外部输入，所述第四电阻的另一端与所述第一数字功率监控器的第三端连接。

可选地，所述第二采样单元包括：第五至第八电阻、第二电容和第二数字功率监控器；

第五电阻的一端同时与所述第一电阻、第六电阻的一端以及所述档位调节模块的第一端连接，所述第五电阻的另一端同时与所述档位调节模块的第二端以及第七电阻的一端连接并接地，所述第六电阻的另一端同时与所述第二电容的一端以及所述第二数字功率监控器的第一端连接，所述第七电阻的另一端同时与所述第二电容的另一端以及所述第二数字功率监控器的第二端连接，所述第八电阻的一端同时与所述第一电阻以及所述第五电阻连接，所述第八电阻的另一端与所述第二数字功率监控器的第三端连接。

可选地，所述档位调节模块包括：第九电阻、第十电阻、第一开关管、第一二极管、第三电容和第一继电器；

所述第一开关管的控制端与所述第九电阻的一端连接，所述第九电阻的另一端与所述主控芯片连接，所述第一开关管的输出端接地，所述第一开关管的输入端同时与所述第一继电器的第一端、所述第三电容的一端以及所述第一二极管的正极连接，所述第三电容的另一端与所述第十电阻的一端连接，所述第十电阻的另一端同时与供电电源以及所述第一二极管的阴极连接，所述第一继电器的第二端与供电电源连接，所述第一继电器还与所述采样模块连接。

可选地，所述档位调节模块还包括：第十一电阻和第一LED灯；

所述第十一电阻的一端与供电电源连接，所述第十一电阻的另一端与所述第一LED灯的正极连接，所述第一LED灯的负极与所述第一开关管的输入端连接。

可选地，所述采集测试电路还包括：开关控制模块；

所述开关控制模块设置在所述外部输入与所述采样模块之间；

所述主控芯片，还用于产生启动信号，并将所述启动信号传输至所述开关控制模块；

所述开关控制模块，用于在接收到所述启动信号时，导通外部输入与所述采样模块之间的回路。

可选地，所述开关控制模块还包括：第十二电阻、第十三电阻、第二开关管、第二二极管、第四电容和第二继电器；

所述第二开关管的控制端与所述第十二电阻的一端连接，所述第十二电阻的另一端与所述主控芯片连接，所述第二开关管的输出端接地，所述第二开关管的输入端同时与所述第二继电器的第一端、所述第四电容的一端以及所述第二二极管的正极连接，所述第四电容的另一端与所述第十三电阻的一端连接，所述第十三电阻的另一端同时与供电电源以及所述第二二极管的阴极连接，所述第二继电器的第二端与供电电源连接，所述第二继电器还与所述采样模块以及所述外部输入连接。

可选地，所述开关控制模块还包括：第十四电阻和第二LED灯；

所述第十四电阻的一端与供电电源连接，所述第十四电阻的另一端与所述第二LED灯的正极连接，所述第二LED灯的负极与所述第二开关管的输入端连接。

此外，为实现上述目的，本实用新型还提供了一种检测设备，所述检测设备包括：上述的采集测试电路。

本实用新型技术方案通过提出一种采集测试电路与检测设备。所述采集测试电路包括：采样模块、档位调节模块和主控芯片。所述采样模块与外部输入连接，所述档位调节模块与所述采样模块连接，所述主控芯片同时与所述档位调节模块以及所述采样模块连接；所述采样模块对外部输入信号进行初步电流采样，并将初步电流传输至所述主控芯片；所述主控芯片根据初步电流产生档位调节信号，并将所述档位调节信号传输至所述档位调节模块；所述档位调节模块在接收到所述档位调节信号时，设置所述采样模块的采样档位；所述采样模块根据采样档位，采集外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片。实现不同大小的电流均可实时采集上传，测试档位可以根据电流大小自动适应调节。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型采集测试电路第一实施例的功能模块图；

图2为本实用新型采集测试电路第二实施例的电路结构图；

图3为本实用新型采集测试电路第二实施例中数字功率监控器的结构示意图；

图4为本实用新型采集测试电路第三实施例的电路结构图；

图5为本实用新型采集测试电路第四实施例的电路结构图；

图6为本实用新型提出的检测设备的功能模块图；

图7为本实用新型提出的检测设备的电路结构图。

附图标号说明：

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当人认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

参照图1，图1为本实用新型采集测试电路第一实施例的功能模块图。本实用新型提出采集测试电路的第一实施例。

在本实施例中，所述采集测试电路包括：采样模块10、档位调节模块20和主控芯片30。所述采样模块10与外部输入连接，所述档位调节模块20与所述采样模块10连接，所述主控芯片30同时与所述档位调节模块20以及所述采样模块10连接。

需要说明的是，所述采样模块10可以对外部输入信号进行初步电流采样，并将所述初步电流传输至所述主控芯片30；所述主控芯片30可以根据所述初步电流产生档位调节信号，并将所述档位调节信号传输至所述档位调节模块20；所述档位调节模块20可以在接收到所述档位调节信号时，设置所述采样模块10的采样档位；所述采样模块10可以根据所述采样档位，采集外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片30。

其中，所述主控芯片30可以是一种具备中央处理器(Central Processing Unit，CPU)和存储器的电子器件。可以通过编程实现各种智能化操作，具备数据处理和存储的功能。例如：微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)或是单片机。在本实施例中，可以采用STM32F105作为主控芯片。

应当理解的是，所述外部输入可以是需要进行电参数精确测试的产品。例如：低功耗待机电流测试的电子产品。所述电参数可以包括电流、电压和功率等性能测试参数。

需要说明的是，所述采样模块10可以对外部输入信号的电参数进行采集，例如：可以通过数字功率采样芯片进行直接采集，或是通过测量总线电压和差分分流电压的方式计算获得。所述采样模块10包括至少一个采样档位对纳安、微安、毫安和安培不同大小的外部输入信号进行电流采样。

进一步地，所述采样模块10可以对外部输入信号进行初步电流采样，并将所初步电流传输至所述主控芯片，所述主控芯片30可以根据所述初步电流，确定所述外部输入信号的电流级别(例如纳安、微安、毫安或安培)，根据电流级别确定所述采样模块对应电流级别的测试档位，并产生所述档位调节信号。

应当理解的是，所述档位测试模块20可以接收所述主控芯片30产生的所述档位调节信号，并根据所述档位调节信号控制所述采样模块10选择对应的采样档位，所述采样模块10通过对应的采样档位对所述外部输入信号的电参数进行精确采样，并将精确的所述电参数传输至所述主控芯片30。

需要说明的是，可以通过软件读取或OLED屏展示的方式对所述主控芯片30接收到的所述电参数进行实时显示。

本实施例通过提出一种采集测试电路与检测设备。所述采集测试电路包括：采样模块10、档位调节模块20和主控芯片30。所述采样模块10与外部输入连接，所述档位调节模块20与所述采样模块10连接，所述主控芯片30同时与所述档位调节模块20以及所述采样模块10连接；所述采样模块10对外部输入信号进行初步电流采样，并将初步电流传输至所述主控芯片30；所述主控芯片30根据初步电流产生档位调节信号，并将所述档位调节信号传输至所述档位调节模块20；所述档位调节模块20在接收到所述档位调节信号时，设置所述采样模块10的采样档位；所述采样模块10根据采样档位，采集外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片30。实现不同大小的电流均可实时采集上传，测试档位可以根据电流大小自动适应调节。

参照图2和图3，图2为本实用新型采集测试电路第二实施例的电路结构图；图3为本实用新型采集测试电路第二实施例中数字功率监控器的结构示意图。基于上述采集测试电路的第一实施例提出本实用新型采集测试电路的第二实施例。

在本实施例中，所述采样模块10包括：第一采样单元101和第二采样单元102。

其中，所述第一采样单元101一端与外部输入连接，另一端与所述第二采样单元102连接，所述第二采样单元102的另一端接地，所述档位调节模块20与所述第二采样单元102并联连接，所述第一采样单元101和所述第二采样单元102均与所述主控芯片30连接。

需要说明的是，所述档位调节模块20还可以根据所述档位调节信号，导通所述第一采样单元101的第一采样回路或所述第二采样单元102的第二采样回路；所述第一采样单元101可以在所述第一采样回路导通时，采集所述外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片30；所述第二采样单元102可以在所述第二采样回路导通时，采集所述外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片30。

应当理解的是，所述第一采样单元101可以用于采集微安级别电流，所述第二采样单元102可以用于采集纳安级别电流。在所述主控芯片30根据所述初步电流确定所述外部输入信号的电流级别为微安级别时，所述档位调节模块20控制所述第一采样回路导通，所述第一采样单元101采集所述外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片30；在所述主控芯片30根据所述初步电流确定所述外部输入信号的电流级别为纳安级别时，所述档位调节模块20控制所述第二采样回路导通，所述第二采样单元102采集所述外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片30。

进一步地，所述第一采样单元101包括：第一至第四电阻、第一电容C1和第一数字功率监控器U1。

其中，第一电阻R1的一端同时与外部输入以及第二电阻R2的一端连接，所述第一电阻R1的另一端同时与所述第二采样单元102以及第三电阻R3的一端连接，所述第二电阻R2的另一端同时与所述第一电容C1的一端以及所述第一数字功率监控器U1的第一端连接，所述第三电阻R3的另一端同时与所述第一电容C1的另一端以及所述第一数字功率监控器U1的第二端连接，所述第四电阻R4的一端连接外部输入，所述第四电阻R4的另一端与所述第一数字功率监控器U1的第三端连接。

需要说明的是，所述第一数字功率监控器U1可以选用INA229超精密数字功率监控器。包括电流差分检测引脚(IN+和IN-)，总线电压输入引脚(VBUS)，与所述主控芯片30进行全双工串行通信(Serial Peripheral interface，SPI)的输入引脚(MOSI)和SPI通信的输出引脚(MISO)以及芯片选择引脚(CS)。

应当理解的是，所述第一数字功率监控器U1的IN+引脚同时与所述第二电阻R2以及所述第一电容C1连接，IN-引脚同时与所述第三电阻R3以及所述第一电容C1连接，采集所述第一电阻R1两端的差分分流电压。所述VBUS引脚与外部输入连接，采集所述外部输入信号的电压值，进而获取所述外部输入信号的电参数。

进一步地，所述第二采样单元102包括：第五至第八电阻、第二电容C2和第二数字功率监控器U2。

其中，第五电阻R5的一端同时与所述第一电阻R1、第六电阻R6的一端以及所述档位调节模块20的第一端连接，所述第五电阻R5的另一端同时与所述档位调节模块20的第二端以及第七电阻R7的一端连接并接地，所述第六电阻R6的另一端同时与所述第二电容C2的一端以及所述第二数字功率监控器U2的第一端连接，所述第七电阻R7的另一端同时与所述第二电容C2的另一端以及所述第二数字功率监控器U2的第二端连接，所述第八电阻R8的一端同时与所述第一电阻R1以及所述第五电阻R5连接，所述第八电阻R8的另一端与所述第二数字功率监控器U2的第三端连接。

需要说明的是，所述第二数字功率监控器U2可以选用与所述第一数字功率监控器U1相同的INA229超精密数字功率监控器。

应当理解的是，所述第二数字功率监控器U1的IN+引脚同时与所述第六电阻R6以及所述第二电容C2连接，IN-引脚同时与所述第七电阻R7以及所述第二电容C2连接，采集所述第五电阻R5两端的差分分流电压。所述VBUS引脚与外部输入连接，采集所述外部输入信号的电压值，进而获取所述外部输入信号的电参数。

由于所述主控芯片30与所述第一数字功率监控器U1以及所述第二数字功率监控器U2进行SPI通信时共用收发端口，因此通过所述第一数字功率监控器U1以及所述第二数字功率监控器U2的芯片选择引脚(CS)选择接收所述电参数的监控器地址。

需要说明的是，所述第一电阻R1可以选用电阻值为0.01Ω，误差精度1％以内的电阻，所述第五电阻R5可以选用电阻值为1.5kΩ，误差精度1％以内的电阻。所述第一电阻R1可以作为安培和毫安电流级别的差分采样电阻，所述第五电阻R5可以作为微安和纳安电流级别的差分采样电阻。实现所述第一采样单元101采集安培和微安级别电流，所述第二采样单元102采集微安和纳安级别电流。

本实施例通过设置所述第一数字功率监控器U1和所述第二数字功率监控器U2分别对不同电流级别的外部输入信号进行采样。通过所述档位调节模块20接收所述档位调节信号，控制所述第一采样回路和所述第二采样回路的导通状况，实现采样的外部输入信号不同电流级别均能够进行实时电参数的精确采集和传输。

参照图4，图4为本实用新型采集测试电路第三实施例的电路结构图。基于上述采集测试电路的实施例提出本实用新型采集测试电路的第三实施例。

在本实施例中，所述档位调节模块20包括：第九电阻R9、第十电阻R10、第一开关管Q1、第一二极管D1、第三电容C3和第一继电器RL1。

其中，所述第一开关管Q1的控制端与所述第九电阻R9的一端连接，所述第九电阻R9的另一端与所述主控芯片30连接，所述第一开关管Q1的输出端接地，所述第一开关管Q1的输入端同时与所述第一继电器RL1的第一端、所述第三电容C3的一端以及所述第一二极管D1的正极连接，所述第三电容C3的另一端与所述第十电阻R10的一端连接，所述第十电阻R10的另一端同时与供电电源VCC以及所述第一二极管D1的阴极连接，所述第一继电器RL1的第二端与供电电源VCC连接，所述第一继电器RL1还与所述采样模块10连接。

需要说明的是，所述第一开关管Q1的控制端接收到所述主控芯片的电压值超出导通阈值时，所述第一开关管Q1的输入端与输出端可以导通，进而控制所述第一继电器的第一端和第二端之间的电压。

应当理解的是，所述第一继电器RL1与所述第五电阻R5并联连接，所述第一开关管Q1截止时，所述第一继电器RL1的第一端和第二端不存在压差，进而控制所述第五电阻R5短路，此时，所述第二采样单元102不能对外部输入信号进行采样，所述第一采样单元101进行安培和毫安级别电流采样，所述第一开关管Q1导通时，所述第一继电器RL1的第一端和第二端存在压差，进而控制所述第五电阻R5接入采样回路，此时，所述第二采样单元102对外部输入信号进行微安和纳安级别电流采样。由于所述第一电阻R1的阻值远小于所述第五电阻R5的阻值，因此，在所述第二采样单元102进行电流采样时，不需要将所述第一电阻R1进行短路处理。

进一步地，所述档位调节模块20还包括：第十一电阻R11和第一LED灯LED1，所述第十一电阻R11的一端与供电电源VCC连接，所述第十一电阻R11的另一端与所述第一LED灯LED1的正极连接，所述第一LED灯LED1的负极与所述第一开关管Q1的输入端连接。

需要说明的是，在所述第一开关管Q1截止时，所述第一LED灯LED1熄灭，在所述第一开关管Q1导通时，所述第一LED灯LED1点亮，进而提示所述第二采样单元102正在进行采样工作。

在本实施例中，通过与所述第二采样单元102并联设置的第一继电器RL1以及控制所述继电器RL1的所述第一开关管Q1，对所述第二采样单元102的导通接入采样回路的状况进行控制，所述主控芯片30可以通过将所述档位调节信号传输至所述第一开关管Q1的控制端，进而控制所述第二采样单元102的接入状况，利用较为简便的结构实现测试档位的自动控制功能。

参照图5，图5为本实用新型采集测试电路第四实施例的电路结构图。基于上述采集测试电路的实施例提出本实用新型采集测试电路的第四实施例。

在本实施例中，所述采集测试电路还包括：开关控制模块40；所述开关控制模块40设置在所述外部输入与所述采样模块10之间；

需要说明的是，所述主控芯片30还可以产生启动信号，并将所述启动信号传输至所述开关控制模块40；所述开关控制模块40可以在接收到所述启动信号时，导通外部输入与所述采样模块10之间的回路。

进一步地，所述开关控制模块40还包括：第十二电阻R12、第十三电阻R13、第二开关管Q2、第二二极管D2、第四电容C4和第二继电器RL2。

其中，所述第二开关管Q2的控制端与所述第十二电阻R12的一端连接，所述第十二电阻R12的另一端与所述主控芯片30连接，所述第二开关管Q2的输出端接地，所述第二开关管Q2的输入端同时与所述第二继电器RL2的第一端、所述第四电容C4的一端以及所述第二二极管D2的正极连接，所述第四电容C4的另一端与所述第十三电阻R13的一端连接，所述第十三电阻R13的另一端同时与供电电源VCC以及所述第二二极管D2的阴极连接，所述第二继电器RL2的第二端与供电电源连接，所述第二继电器RL2还与所述采样模块10以及所述外部输入连接。

应当理解的是，所述第二开关管Q2截止时，所述第二继电器RL2的第一端和第二端不存在压差，进而断开外部输入与所述采样模块10的连接，所述第二开关管Q1导通时，所述第一继电器RL1的第一端和第二端存在压差，进而导通外部输入与所述采样模块10的连接，此时，所述采样模块10对外部输入信号进行微安和纳安级别电流采样。

进一步地，所述开关控制模块40还包括：第十四电阻R14和第二LED灯LED2；所述第十四电阻R14的一端与供电电源VCC连接，所述第十四电阻R14的另一端与所述第二LED灯LED2的正极连接，所述第二LED灯LED2的负极与所述第二开关管Q2的输入端连接。

需要说明的是，在所述第二开关管Q2截止时，所述第二LED灯LED2熄灭，在所述第二开关管Q2导通时，所述第二LED灯LED2点亮，进而提示所述采样模块10正在进行采样工作。

在本实施例中，通过在外部输入与所述采样模块之间设置所述开关控制模块40，所述主控芯片30可以根据采样需求以及是否发生过流过压状况，传输启动信号至所述开关控制模块40实现外部接入与所述开关控制模块40之间的连接控制。实现过压过流关断保护，防止供电异常时损坏产品。

此外，本实用新型实施例还提出一种检测设备，所述检测设备包括了上述的采集测试电路。参照图6和图7，图6为本实用新型提出的检测设备的功能模块图；图7为本实用新型提出的检测设备的电路结构图。

由于所述检测设备采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的实用新型构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种采集测试电路，其特征在于，所述采集测试电路包括：采样模块、档位调节模块和主控芯片；

所述采样模块与外部输入连接，所述档位调节模块与所述采样模块连接，所述主控芯片同时与所述档位调节模块以及所述采样模块连接；

所述采样模块，用于对外部输入信号进行初步电流采样，并将所述初步电流传输至所述主控芯片；

所述主控芯片，用于根据所述初步电流产生档位调节信号，并将所述档位调节信号传输至所述档位调节模块；

所述档位调节模块，用于在接收到所述档位调节信号时，设置所述采样模块的采样档位；

所述采样模块，用于根据所述采样档位，采集外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片。

2.如权利要求1所述的采集测试电路，其特征在于，所述采样模块包括：第一采样单元和第二采样单元；

所述第一采样单元一端与外部输入连接，另一端与所述第二采样单元连接，所述第二采样单元的另一端接地，所述档位调节模块与所述第二采样单元并联连接，所述第一采样单元和所述第二采样单元均与所述主控芯片连接；

所述档位调节模块，还用于根据所述档位调节信号，导通所述第一采样单元的第一采样回路或所述第二采样单元的第二采样回路；

所述第一采样单元，用于在所述第一采样回路导通时，采集所述外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片；

所述第二采样单元，用于在所述第二采样回路导通时，采集所述外部输入信号的电参数，并将所述电参数传输至所述主控芯片。

3.如权利要求2所述的采集测试电路，其特征在于，所述第一采样单元包括：第一至第四电阻、第一电容和第一数字功率监控器；

第一电阻的一端同时与外部输入以及第二电阻的一端连接，所述第一电阻的另一端同时与所述第二采样单元以及第三电阻的一端连接，所述第二电阻的另一端同时与所述第一电容的一端以及所述第一数字功率监控器的第一端连接，所述第三电阻的另一端同时与所述第一电容的另一端以及所述第一数字功率监控器的第二端连接，所述第四电阻的一端连接外部输入，所述第四电阻的另一端与所述第一数字功率监控器的第三端连接。

4.如权利要求3所述的采集测试电路，其特征在于，所述第二采样单元包括：第五至第八电阻、第二电容和第二数字功率监控器；

第五电阻的一端同时与所述第一电阻、第六电阻的一端以及所述档位调节模块的第一端连接，所述第五电阻的另一端同时与所述档位调节模块的第二端以及第七电阻的一端连接并接地，所述第六电阻的另一端同时与所述第二电容的一端以及所述第二数字功率监控器的第一端连接，所述第七电阻的另一端同时与所述第二电容的另一端以及所述第二数字功率监控器的第二端连接，所述第八电阻的一端同时与所述第一电阻以及所述第五电阻连接，所述第八电阻的另一端与所述第二数字功率监控器的第三端连接。

5.如权利要求1所述的采集测试电路，其特征在于，所述档位调节模块包括：第九电阻、第十电阻、第一开关管、第一二极管、第三电容和第一继电器；

所述第一开关管的控制端与所述第九电阻的一端连接，所述第九电阻的另一端与所述主控芯片连接，所述第一开关管的输出端接地，所述第一开关管的输入端同时与所述第一继电器的第一端、所述第三电容的一端以及所述第一二极管的正极连接，所述第三电容的另一端与所述第十电阻的一端连接，所述第十电阻的另一端同时与供电电源以及所述第一二极管的阴极连接，所述第一继电器的第二端与供电电源连接，所述第一继电器还与所述采样模块连接。

6.如权利要求5所述的采集测试电路，其特征在于，所述档位调节模块还包括：第十一电阻和第一LED灯；

所述第十一电阻的一端与供电电源连接，所述第十一电阻的另一端与所述第一LED灯的正极连接，所述第一LED灯的负极与所述第一开关管的输入端连接。

7.如权利要求1所述的采集测试电路，其特征在于，所述采集测试电路还包括：开关控制模块；

所述开关控制模块设置在所述外部输入与所述采样模块之间；

所述主控芯片，还用于产生启动信号，并将所述启动信号传输至所述开关控制模块；

所述开关控制模块，用于在接收到所述启动信号时，导通外部输入与所述采样模块之间的回路。

8.如权利要求7所述的采集测试电路，其特征在于，所述开关控制模块还包括：第十二电阻、第十三电阻、第二开关管、第二二极管、第四电容和第二继电器；

所述第二开关管的控制端与所述第十二电阻的一端连接，所述第十二电阻的另一端与所述主控芯片连接，所述第二开关管的输出端接地，所述第二开关管的输入端同时与所述第二继电器的第一端、所述第四电容的一端以及所述第二二极管的正极连接，所述第四电容的另一端与所述第十三电阻的一端连接，所述第十三电阻的另一端同时与供电电源以及所述第二二极管的阴极连接，所述第二继电器的第二端与供电电源连接，所述第二继电器还与所述采样模块以及所述外部输入连接。

9.如权利要求8所述的采集测试电路，其特征在于，所述开关控制模块还包括：第十四电阻和第二LED灯；

所述第十四电阻的一端与供电电源连接，所述第十四电阻的另一端与所述第二LED灯的正极连接，所述第二LED灯的负极与所述第二开关管的输入端连接。

10.一种检测设备，其特征在于，所述检测设备包括：如权利要求1至9任一项所述的采集测试电路。