CN220872380U - 一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置 - Google Patents
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Abstract
本方案属于矿石元素分析检测辅助装置领域,具体涉及一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置,包括样品杯、转轴和刷耙,所述样品杯中心开设有第一螺纹孔,所述转轴包括上轴和下轴,所述上轴和下轴转动连接,所述下轴底部设置有与所述第一螺纹孔匹配的第一螺纹,所述下轴通过所述第一螺纹可拆卸安装于样品杯上,所述刷耙安装于上轴上,所述刷耙的长度与样品杯的半径一致并位于上轴的一侧,所述刷耙靠近样品杯一侧均匀设置有若干个锯齿。本方案解决了样品在样品杯中分布不均匀的问题。
Description
技术领域
本方案属于矿石元素分析检测辅助装置领域,具体涉及一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置。
背景技术
国内针对在各采矿山上稀有元素分布规律的研究,是近些年在各大院校和研究所兴起且比较热门的研究方向,且是近两年被各矿企逐渐认识并重视。但介于不少矿山钻孔存在保留期限或保存管理不当而损失的问题,故很多情况下需要采用检测副样的方式完成测试分析,但又由于送检检测机构进行测试分析多种稀有元素的价格相对昂贵,往往需要用手持荧光分析仪快速进行初步检测筛选样品。在手持荧光分析仪检测粉末状或固体颗粒状粗副样时,需要将样品放进特定样品杯中进行检测。
申请号为CN202123294392.1的一种手持式X射线荧光光谱分析仪测试样品杯,包括:压环、套管、底座、扣盖、检测薄膜,所述检测套管套于所述检测薄膜外,所述检测薄膜上开口端使用所述压环固定于所述压环内压边和所述套管内壁之间,所述检测薄膜封口端和所述套管插入所述底座小口端至环形承台,所述检测薄膜封闭端外延边夹设于所述套筒和所述底座小口端之间,所述扣盖盖于所述压环上。
该装置结构简单,易于操作,避免套管内壁受到污染,降低样品受污染的概率,提高了样品测试效率和精度,同时增加了测试样品杯的放置稳定性。但在实际检测过程中,样品在样品杯中分布不均匀,会影响检测精度,所以为了保证测量精度,通常需要将粗副样均匀地薄薄地铺开一层并仔细地覆盖上类似密封膜的膜层,才能进行检测;该方案并没有在检测前将粗副样均匀分布,容易导致检测精度不均匀的问题。
实用新型内容
本方案的目的是提供一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置,以解决样品在样品杯中分布不均匀的问题。
为了达到上述目的,本方案提供一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置,包括样品杯、转轴和刷耙,所述样品杯中心开设有第一螺纹孔,所述转轴包括上轴和下轴,所述上轴和下轴转动连接,所述下轴底部设置有与所述第一螺纹孔匹配的第一螺纹,所述下轴通过所述第一螺纹可拆卸安装于样品杯上,所述刷耙安装于上轴上,所述刷耙的长度与样品杯的半径一致并位于上轴的一侧,所述刷耙靠近样品杯一侧均匀设置有若干个锯齿。
本方案的原理在于:将样品放置于样品杯中,将下轴安装在样品杯上,由于上轴与下轴转动设置,所以上轴可相对于下轴转动,上轴转动带动刷耙绕转轴在样品杯里面转动,刷耙的锯齿与样品杯内的样品接触,由于刷耙上的锯齿之间存在缝隙,刷耙在转动时可将样品在锯齿缝隙下方均匀铺开。
本方案的技术效果在于:通过设置刷耙,可使刷耙在绕样品杯转动的同时,通过锯齿的缝隙将样品杯内的样品均匀铺开;同时下轴可拆卸安装在样品杯上,可根据需要对下轴、上轴以及刷耙进行安装和拆卸,使用更加方便。
进一步,还包括密封机构,所述密封机构包括滚轴、滚筒和密封膜,所述上轴一侧开设有第二螺纹孔,所述滚筒的一端设置有与第二螺纹孔匹配的第二螺纹,所述滚筒通过第二螺纹可拆卸安装于上轴上并位于刷耙上方,所述刷耙通过滚筒安装于上轴上,所述滚筒一侧开设有开口,所述滚筒上设有中心孔,所述中心孔内转动设置有滚轴,所述密封膜缠绕在滚轴上,所述密封膜的一端穿过所述开口。样品在样品杯上均匀铺开后,若不加以固定,会容易被弄乱,通过设置密封机构,在样品铺设好后,拉动位于滚筒外的密封膜,密封膜通过滚轴转动从滚筒内被拉出,使密封膜位于样品表面,转动上轴,密封机构和刷耙一同围绕样品杯转动,可使密封膜贴合在样品表面,同时刷耙可将密封膜压实。
进一步,所述锯齿由内至外由大到小设置,且与样品杯底部的间距由内至外由大到小设置。由于同一批样品存在粒径不同的现象,混合检测可能会影响测量精度,所以在沿样品杯旋转过程中,样品可在离心力和不同大小的锯齿共同作用下被划分出不同粒径,并使相同粒径的在一个同心圆上均匀铺开,方便对不同粒径的样品进行检测。
进一步,所述滚筒上方设置有握把。通过设置握把,可使操作人员在旋转上轴时更加方便省力。
进一步,所述握把上设置有指痕握槽。指痕握槽可有效进行防滑。
进一步,所述开口上设置有单向出口夹。设置单向出口夹,可有效防止密封膜落入滚筒内部,进而导致的密封膜拉出困难。
进一步,所述滚筒上还设置有刀片,所述刀片位于开口下方。在样品密封完成后,可直接用刀片将密封膜切断,无需单独准备刀片,使装置使用更高效便捷。
附图说明
图1为本实用新型实施例的结构示意图。
图2为滚筒的放大结构示意图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式进一步详细的说明:
说明书附图中的附图标记包括:1、样品杯;2、下轴;3、上轴;4、刷耙;5、密封机构;501、滚轴;502、滚筒;503、密封膜;504、开口;505、刀片;6、握把。
实施例基本如附图1-2所示:
一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置,如附图1,包括样品杯1,其中,样品杯1为圆柱形玻璃皿,样品杯1的圆心位置有第一螺纹孔,第一螺纹孔上螺纹连接有下轴2,下轴2与样品杯1螺纹连接,下轴2的上端转动连接有上轴3,具体的上轴3上设有凹槽,所述凹槽内设有轴承,所述轴承的外圈与上轴3凹槽处的侧壁固定连接,所述下轴2与轴承的内圈固定连接,上轴3可相对于下轴2转动;上轴3侧面开设有第二螺纹孔,第二螺纹孔上螺纹连接有密封机构5,该密封机构5与上轴3相垂直;具体的密封机构5包括滚筒502,滚筒502上设有中心孔,中心孔内转动设置有滚轴501,滚轴501上缠绕有密封膜503,密封膜503可通过滚轴501转动,滚筒502的其中一侧开设有开口504,密封膜503的一端穿过开口504位于滚筒502外部,其中,开口504的长度大于密封膜503的宽度,密封膜503可穿过开口504,开口504位置设置有单向出口夹,具体的单向出口夹位于滚筒502内部,开口504下方粘接有刀片505,刀片505长度与开口504长度一致。
滚筒502下方可拆卸连接有刷耙4,具体地,刷耙4上端有连接柱,连接柱卡接在滚筒502底部,刷耙4高度略高于样品杯1底部,刷耙4靠近样品杯1一侧均匀设置有若干个锯齿,具体数量根据需要设置,锯齿沿样品杯1内径至外径由大到小,且与样品杯1底部的间距由大到小。
滚筒502上方设置有握把6,具体的握把6设置于滚筒502远离上轴3一端,把手上会有指痕握槽,以防止使用时打滑。
实施时,将样品放入样品杯1中,握住握把6转动,使滚筒502绕上轴3转动,此时固定设置于滚筒502上的刷耙4一同绕上轴3转动,此时刷耙4上的锯齿将样品刮匀,由于锯齿大小不一致,样品可在转动时离心力及锯齿的共同作用下,将样品分为颗粒大小不同的若干个批次并按同一圆心在样品杯1上均匀铺开;再从开口504处将密封膜503拉出,密封膜503可通过滚轴501的转动从滚筒502内被拉出,使密封膜503位于样品表面,继续转动上轴3,使密封机构5和刷耙4一同围绕样品杯1转动,可使密封膜503贴合在样品表面,同时刷耙4可将密封膜503压实;再转动第一转轴将下轴2从样品杯1上拧下,最后将刷耙4从滚筒502上拆卸下来进行清洗擦干,避免样品交叉污染。
以上所述的仅是本实用新型的实施例,方案中公知的具体结构及特性等常识在此未作过多描述。应当指出,对于本领域的技术人员来说,在不脱离本实用新型结构的前提下,还可以作出若干变形和改进,这些也应该视为本实用新型的保护范围,这些都不会影响本实用新型实施的效果和专利的实用性。本申请要求的保护范围应当以其权利要求的内容为准,说明书中的具体实施方式等记载可以用于解释权利要求的内容。
Claims (7)
1.一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置,其特征在于:包括样品杯(1)、转轴和刷耙(4),所述样品杯(1)中心开设有第一螺纹孔,所述转轴包括上轴(3)和下轴(2),所述上轴(3)和下轴(2)转动连接,所述下轴(2)底部设置有与所述第一螺纹孔匹配的第一螺纹,所述下轴(2)通过所述第一螺纹可拆卸安装于样品杯(1)上,所述刷耙(4)安装于上轴(3)上,所述刷耙(4)的长度与样品杯(1)的半径一致并位于上轴(3)的一侧,所述刷耙(4)靠近样品杯(1)一侧均匀设置有若干个锯齿。
2.根据权利要求1所述的一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置,其特征在于:还包括密封机构(5),所述密封机构(5)包括滚轴(501)、滚筒(502)和密封膜(503),所述上轴(3)一侧开设有第二螺纹孔,所述滚筒(502)的一端设置有与第二螺纹孔匹配的第二螺纹,所述滚筒(502)通过第二螺纹可拆卸安装于上轴(3)上并位于刷耙(4)上方,所述刷耙(4)通过滚筒(502)安装于上轴(3)上,所述滚筒(502)一侧开设有开口(504),所述滚筒(502)上设有中心孔,所述中心孔内转动设置有滚轴(501),所述密封膜(503)缠绕在滚轴(501)上,所述密封膜(503)的一端穿过所述开口(504)。
3.根据权利要求1所述的一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置,其特征在于:所述锯齿的形状由内至外由大到小设置,且与样品杯(1)底部的间距由内至外由大到小设置。
4.根据权利要求2所述的一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置,其特征在于:所述滚筒(502)上方设置有握把(6)。
5.根据权利要求4所述的一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置,其特征在于:所述握把(6)上设置有指痕握槽。
6.根据权利要求2所述的一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置,其特征在于:所述开口(504)上设置有单向出口夹。
7.根据权利要求2所述的一种适用于手持荧光分析仪下检测分析副样的辅助装置,其特征在于:所述滚筒(502)上还设置有刀片(505),所述刀片(505)位于开口(504)下方。
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