CN220872366U - 一种用于电极帽的品检设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及检测设备技术领域，公开了用于电极帽的品检设备，包括：壳体、设置在壳体上第一定位块以及设置在壳体内部的第一相机、第一漫反射环、控制器，第一定位块具有贯穿自身的第一定位腔，第一定位腔用于定位电极帽，第一定位腔具有第一开口和第二开口，第一开口和第二开口分别位于第一定位块两侧侧面，第一开口用于完全显露电极帽的端面以及电极帽的部分外周面；第一相机用于拍摄第一开口露出的电极帽的端面，第一相机设置有第一光源，第一光源发射的光能够照射到第一开口，第一漫反射环设置在第一光源的光路上，第一相机与控制器电连接。本实用新型通过提供用于电极帽的品检设备，替代人工检测，提高检测质量，提升检测效率。

Description

一种用于电极帽的品检设备

技术领域

本实用新型涉及检测设备技术领域，特别是涉及一种用于电极帽的品检设备。

背景技术

在焊接设备中，电极帽因为高温致使自身表面氧化，通常会采用修磨电极帽的方式来提高电极帽的使用周期。在修磨电极帽时，可能会存在修磨不完整的缺陷。现有技术中，通常是由人工来检测判断修磨后的电极帽是否存在不完整的缺陷。然而，人工检测易出错，检测质量不高，检测效率也较低。

实用新型内容

本实用新型的目的是：提供一种用于电极帽的品检设备，能够替代人工检测，提高检测质量，提升检测效率。

为了实现上述目的，本实用新型提供了一种用于电极帽的品检设备，包括：壳体、设置在所述壳体上第一定位块以及设置在所述壳体内部的第一相机、第一漫反射环、控制器，所述第一定位块具有贯穿自身的第一定位腔，所述第一定位腔用于定位电极帽，所述第一定位腔具有第一开口和第二开口，所述第一开口和所述第二开口分别位于所述第一定位块两侧侧面上，所述第二开口倾斜设置，所述第一开口的几何面积小于所述第二开口的几何面积，且所述第一开口用于完全显露所述电极帽的端面以及所述电极帽的部分外周面；所述第一相机用于拍摄所述第一开口露出的所述电极帽的端面，所述第一相机设置有第一光源，所述第一光源发射的光能够照射到所述第一开口，所述第一漫反射环设置在所述第一光源的光路上，所述第一相机与所述控制器电连接。

在本申请的一些实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括设置在壳体上第二定位块以及设置在所述壳体内部的第二相机、第二漫反射环，所述第二定位块具有贯穿自身的第二定位腔，所述第二定位腔也用于定位电极帽，所述第二定位腔具有第三开口和第四开口，所述第三开口和所述第四开口分别位于所述第二定位块的两侧侧面上，所述第三开口的几何面积小于所述第四开口的几何面积，所述第四开口倾斜设置，且所述第三开口用于完全显露所述电极帽的端面以及所述电极帽的部分外周面；所述第二相机用于拍摄所述第三开口露出的所述电极帽的端面；所述第二相机用于拍摄所述第三开口露出的所述电极帽的端面，所述第二相机设置有第二光源，所述第二光源发射的光能够照射到所述第三开口，所述第二漫反射环设置在所述第二光源的光路上，所述第二相机与所述控制器电连接。

在本申请的一些实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括设置在所述壳体上的双面反射镜片，所述第一光源和所述第二光源分别位于所述双面反射镜片的两侧，且所述双面反射镜片同时位于所述第一光源和所述第二光源的光路上，所述第一漫反射环位于所述第一光源和所述双面反射镜片之间的光路上，所述第二漫反射环位于所述第二光源和所述双面反射镜片之间的光路上。

在本申请的一些实施例中：

所述第一光源发出的光射到所述双面反射镜片上的入射角为45°；

所述第二光源发出的光射到所述双面反射镜片上的入射角也为45°。

在本申请的一些实施例中：

所述第一定位块和所述第二定位块上下设置，且所述第一定位块和所述第二定位块分别位于所述壳体的上下表面。

在本申请的一些实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括设置在所述壳体内部的安装座，所述安装座上具有安装槽，所述双面反射镜片安装于所述安装槽中，且所述第一相机和所述第二相机也安装在所述安装座上。

在本申请的一些实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括设置在所述壳体内部的第一补充光源板，所述第一补充光源板设置在所述双面反射镜片和所述第一开口之间的所述第一光源的光路上，所述第一补充光源板发射的光能够照射到所述第一开口。

在本申请的一些实施例中，所述第一补充光源板上设置有贯穿自身的通孔，所述通孔供所述第一光源发出的光穿过。

在本申请的一些实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括设置在所述壳体内部的第三漫反射环，所述第三漫反射环设置在所述第一补充光源板和所述第一开口之间。

在本申请的一些实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括第一盖体，所述第一盖体活动设置在所述壳体上，所述第一盖体能够盖设在所述第一定位块的外部。

本实用新型提供一种用于电极帽的品检设备，与现有技术相比，其有益效果在于：

本实用新型的用于电极帽的品检设备，包括壳体、第一定位块、第一相机、第一漫反射环和控制器，电极帽放入第一定位块中的第一定位腔中，且第一开口朝向内部显露电极帽的端面，第一相机的第一光源为第一开口处打光，第一漫反射环能够确保打光均匀，第一相机拍摄产品照片并发送给控制器，由控制器判断当前产品是否存在修磨不完整的缺陷，从而替代人工检测，提高检测质量，提升检测效率。

附图说明

图1是本实用新型实施例的品检设备的结构示意图。

图2是本实用新型实施例的品检设备的爆炸示意图。

图3是本实用新型实施例的部分结构示意图。

图4是图3中的品检设备的部分结构的爆炸示意图。

图5是本实用新型实施例的第一定位块的结构示意图。

图6是本实用新型实施例的第一补充光源板的结构示意图。

图中，1、壳体；2、第一定位块；3、第一相机；4、第一漫反射环；5、第二定位块；6、第二相机；7、第二漫反射环；8、安装座；9、安装槽；10、第一补充光源板；11、第二补充光源板；12、通孔；13、第三漫反射环；14、第四漫反射环；15、第一盖体；16、第二盖体；17、第一定位腔；18、第一开口；19、第二开口。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

此外，在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参照图1和图2，本实用新型实施例优选实施例的一种用于电极帽的品检设备，包括：壳体1、设置在壳体1上第一定位块2以及设置在壳体1内部的第一相机3、第一漫反射环4、控制器，第一定位块2具有贯穿自身的第一定位腔17，第一定位腔17用于定位电极帽，第一定位腔17具有第一开口18和第二开口19，第一开口18和第二开口19分别位于第一定位块2两侧侧面上。第一开口18的几何面积小于第二开口19的几何面积，第二开口19倾斜设置，且第一开口18用于完全显露电极帽的端面以及电极帽的部分外周面；第一相机3用于拍摄第一开口18露出的电极帽的端面，第一相机3设置有第一光源，第一光源发射的光能够照射到第一开口18，第一漫反射环4设置在第一光源的光路上，第一相机3与控制器电连接。

本实施例的用于电极帽的品检设备，包括壳体1、第一定位块2、第一相机3、第一漫反射环4和控制器，电极帽放入第一定位块2中的第一定位腔17中，第一定位腔17能够定位电极帽的位置，且第一开口18朝向内部显露电极帽的端面，第一相机3的第一光源为第一开口18处打光，照亮电极帽，第一漫反射环4能够确保打光均匀，第一相机3拍摄产品照片并发送给控制器，由控制器判断当前产品是否存在修磨不完整的缺陷，从而替代人工检测，提高检测质量，提升检测效率。

第一开口18和第二开口19的尺寸不同，能够让第一定位腔17的内壁倾斜设置，更易于放入电极帽。

控制器可以为PLC或者上位机。

在本实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括设置在壳体1上第二定位块5以及设置在壳体1内部的第二相机6、第二漫反射环7，第二定位块5具有贯穿自身的第二定位腔，第二定位腔也用于定位电极帽，第二定位腔具有第三开口和第四开口，第三开口和第四开口分别位于第二定位块5两侧侧面上，第三开口的几何面积小于第四开口的几何面积，第四开口倾斜设置，且第三开口用于完全显露电极帽的端面以及电极帽的部分外周面；第二相机6用于拍摄第三开口露出的电极帽的端面，第二相机6设置有第二光源，第二光源发射的光能够照射到第三开口，第二漫反射环7设置在第二光源的光路上，第二相机6与控制器电连接。

第二定位块5、第二相机6和第二漫反射环7与所述第一定位块2、第一相机3和第一漫反射环4的结构相同，工作原理也相同，通过设置第二定位块5、第二相机6和第二漫反射环7，能够让用于电极帽的品检设备能够同时检测两个电极帽，提高检测效率。现有技术中，一些工位存在上下方向均设置有正负电极，仅设置一个相机的品检设备需要自身翻转以分别分成检测，但这些工位环境复杂，不具备供检测设备翻转的空间，因此同时检测两个电极帽的品检设备，也更适应目前检测环境。

其中，第一光源和第二光源均为白光光源，二者射出的光都为白光，以使能够获取清晰的照片。

在本实施例中，用于电极帽的品检设备，还包括设置在壳体1上的双面反射镜片，第一光源和第二光源分别位于双面反射镜片的两侧，且双面反射镜片同时位于第一光源和第二光源的光路上，第一漫反射环4位于第一光源和双面反射镜片之间的光路上，第二漫反射环7位于第二光源和双面反射镜片之间的光路上。

通过设置双面反射镜片，让第一光源和第二光源射出的光通过双面反射镜片反射，这样可以改变第一相机3和第二相机6的设置位置，整体结构上更为紧凑。现有技术中，设置在上方和下方的正负电极都是同轴设置的，设置双面反射镜片，也更符合品检设备的使用需求。

其中，第一光源发出的光射到双面反射镜片上的入射角为45°；第二光源发出的光射到双面反射镜片上的入射角也为45°。这样设置，能够让第一定位块2和第二定位块5相背设置。具体来说，本实施中第一定位块2和第二定位块5上下设置，且第一定位块2和第二定位块5分别位于壳体1的上下表面。这意味着，第一光源和第二光源出光时是沿水平方向出光，双面反射镜片倾斜设置且倾斜角45°，在反射后，第一光源的光路向上延伸，第二光源的光路向下延伸。这样设置，更为符合现今的设计使用需求。

用于电极帽的品检设备，还包括设置在壳体1内部的安装座8，安装座8上具有安装槽9，双面反射镜片安装于安装槽9中，且第一相机3和第二相机6也安装在安装座8上。双面反射镜片通过安装座8安装在壳体1内部，第一相机3和第二相机6也通过安装座8安装在壳体1内部。

用于电极帽的品检设备，还包括设置在壳体1内部的第一补充光源板10，第一补充光源板10设置在双面反射镜片和第一开口18之间的第一光源的光路上，第一补充光源板10发射的光能够照射到第一开口18。

第一补充光源板10为蓝光光源，发出的光是蓝光，用于为第一开口18显露的电极帽的部分外周面进行打光，蓝光能够让拍摄的图像中电极帽的轮廓更为清晰。第一补充光源板10辅助第一光源，为第一相机3的成像提供一个较好的采光环境，以获得较高的图像质量。

第一补充光源板10上设置有贯穿自身的通孔12，通孔12供第一光源发出的光穿过。第一补充光源板10出光的位置位于通孔12周围，通过这样的结构，第一补充光源板10更多照亮的是电极帽的侧面，让拍摄的图像中电极帽的轮廓更为清晰。

用于电极帽的品检设备，还包括设置在壳体1内部的第二补充光源板11，第二补充光源板11设置在双面反射镜片和第三开口之间的第二光源的光路上，第二补充光源板11发射的光能够照射到第三开口，用于为第三开口显露的电极帽的部分外周面进行打光。第二补充光源板11的结构与第一补充光源板10相同，工作原理也相同，相似地，第二补充光源板11上也设置有贯穿自身的孔，孔供第三光源发出的光穿过。

用于电极帽的品检设备，还包括设置在壳体1内部的第三漫反射环13，第三漫反射环13设置在第一补充光源板10和第一开口18之间。第三漫反射环13的设置，能够让第一补充光源板10射出的光更为均匀地打在第一开口18处。

相似地，用于电极帽的品检设备，还包括设置在壳体1内部的第四漫反射环14，第四漫反射环14设置在第二补充光源板11和第三开口之间。第四漫反射环14的设置也是让第二补充光源板11射出的光更为均匀地打在第三开口处。

此外，用于电极帽的品检设备，还包括第一盖体15，第一盖体15活动设置在壳体1上，第一盖体15能够盖设在第一定位块2的外部。第一盖体15能够将第一定位块2处的电极帽封堵在第一定位腔17中，用于防尘，仅在需要检测时打开第一盖体15。

相似地，用于电极帽的品检设备，还包括第二盖体16，第二盖体16活动设置在壳体1上，第二盖体16能够盖设在第一定位块2的外部。第二盖体16与第一盖体15的结构相同，工作原理相似，即是将第二定位块5处的电极帽封堵在第二定位腔中，用于防尘，仅在需要检测时打开第二盖体16。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种用于电极帽的品检设备，其特征在于，包括：壳体、设置在所述壳体上第一定位块以及设置在所述壳体内部的第一相机、第一漫反射环、控制器，所述第一定位块具有贯穿自身的第一定位腔，所述第一定位腔用于定位电极帽，所述第一定位腔具有第一开口和第二开口，所述第一开口和所述第二开口分别位于所述第一定位块两侧侧面上，所述第二开口倾斜设置，所述第一开口的几何面积小于所述第二开口的几何面积，且所述第一开口用于完全显露所述电极帽的端面以及所述电极帽的部分外周面；所述第一相机用于拍摄所述第一开口露出的所述电极帽的端面，所述第一相机设置有第一光源，所述第一光源发射的光能够照射到所述第一开口，所述第一漫反射环设置在所述第一光源的光路上，所述第一相机与所述控制器电连接。

2.根据权利要求1所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括设置在壳体上第二定位块以及设置在所述壳体内部的第二相机、第二漫反射环，所述第二定位块具有贯穿自身的第二定位腔，所述第二定位腔也用于定位电极帽，所述第二定位腔具有第三开口和第四开口，所述第三开口和所述第四开口分别位于所述第二定位块的两侧侧面上，所述第三开口的几何面积小于所述第四开口的几何面积，所述第四开口倾斜设置，且所述第三开口用于完全显露所述电极帽的端面以及所述电极帽的部分外周面；所述第二相机用于拍摄所述第三开口露出的所述电极帽的端面，所述第二相机设置有第二光源，所述第二光源发射的光能够照射到所述第三开口，所述第二漫反射环设置在所述第二光源的光路上，所述第二相机与所述控制器电连接。

3.根据权利要求2所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括设置在所述壳体上的双面反射镜片，所述第一光源和所述第二光源分别位于所述双面反射镜片的两侧，且所述双面反射镜片同时位于所述第一光源和所述第二光源的光路上，所述第一漫反射环位于所述第一光源和所述双面反射镜片之间的光路上，所述第二漫反射环位于所述第二光源和所述双面反射镜片之间的光路上。

4.根据权利要求3所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于：

所述第一光源发出的光射到所述双面反射镜片上的入射角为45°；

所述第二光源发出的光射到所述双面反射镜片上的入射角也为45°。

5.根据权利要求3所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于：

所述第一定位块和所述第二定位块上下设置，且所述第一定位块和所述第二定位块分别位于所述壳体的上下表面。

6.根据权利要求3所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括设置在所述壳体内部的安装座，所述安装座上具有安装槽，所述双面反射镜片安装于所述安装槽中，且所述第一相机和所述第二相机也安装在所述安装座上。

7.根据权利要求3所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括设置在所述壳体内部的第一补充光源板，所述第一补充光源板设置在所述双面反射镜片和所述第一开口之间的所述第一光源的光路上，所述第一补充光源板发射的光能够照射到所述第一开口。

8.根据权利要求7所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，所述第一补充光源板上设置有贯穿自身的通孔，所述通孔供所述第一光源发出的光穿过。

9.根据权利要求7所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括设置在所述壳体内部的第三漫反射环，所述第三漫反射环设置在所述第一补充光源板和所述第一开口之间。

10.根据权利要求1所述的用于电极帽的品检设备，其特征在于，还包括第一盖体，所述第一盖体活动设置在所述壳体上，所述第一盖体能够盖设在所述第一定位块的外部。