CN220511116U - 一种光有源器件检测实验装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光有源器件检测实验装置，设有壳体，电压表、电流表、光功率计、温控仪安装于壳体内侧，电压表/电流表/光功率计/温控仪的表盘位于顶面面板；测试模块包括LD插座、夹具、光有源器件、热传导底座、半导体制冷片、散热器和温度传感器；LD插座、夹具、位于壳体顶面外侧，LD插座与光有源器件插接；热传导底座与壳体顶面内侧相连，热传导底座侧面设容纳空间，温度传感器布设于容纳空间中；热传导底座底部设有散热器，在热传导底座与散热器间设有半导体制冷片；温度传感器输出端与温控仪输入端相连；温控仪输出端与测试模块输入端相连；测试模块输出端与电压表/电流表/光功率计/半导体制冷片输入端相连。
Description
技术领域
本实用新型公开了一种光有源器件检测实验装置。
背景技术
光有源器件是光通信系统中将电信号转换成光信号或将光信号转换成电信号的关键器件，是光传输系统的心脏。将电信号转换成光信号的器件称为光源，主要有半导体发光二极管(LED)和激光二极管(LD)。将光信号转换成电信号的器件称为光检测器，主要有光电二极管(PIN)和雪崩光电二极管(APD)。
但是目前对于光有源器件的检测的存在以下不足之处：即只能够在常温下对于光有源器件的性能进行检测。
实用新型内容
实用新型目的：本实用新型针对上述现有技术存在的问题做出改进，即本实用新型公开了一种光有源器件检测实验装置。
技术方案：一种光有源器件检测实验装置，设有壳体、电压表、电流表、光功率计、温控仪、测试模块，其中：
所述电压表、所述电流表、所述光功率计、所述温控仪安装于所述壳体内侧，所述电压表的表盘、所述电流表的表盘、所述光功率计的表盘、所述温控仪的表盘位于顶面的面板上；
所述测试模块设于所述壳体的顶面的内侧和外侧，所述测试模块包括LD插座、夹具、光有源器件、热传导底座、半导体制冷片、散热器和温度传感器；
所述LD插座、所述夹具、所述位于所述壳体的顶面外侧，所述LD插座通过引脚与所述光有源器件插接，所述光有源器件固定于所述夹具，所述夹具与所述壳体相连；
所述热传导底座与所述壳体的顶面内侧相连，所述热传导底座的侧面设有容纳空间，所述温度传感器布设于该容纳空间中；
所述热传导底座的底部固设有所述散热器，在所述热传导底座与所述散热器之间粘设有半导体制冷片；
所述温度传感器的输出端与所述温控仪的输入端相连；
所述温控仪的输出端与所述测试模块的输入端相连；
所述测试模块的输出端分别与所述电压表的输入端、所述电流表的输入端、所述光功率计的输入端、所述半导体制冷片的输入端相连。
进一步地，所述半导体制冷片为双层半导体制冷片。
进一步地，所述光有源器件由光有源器件晶圆部、光纤尾纤、FC输出接口组成，所述光纤尾纤的一端与所述光有源器件晶圆部相连，所述光纤尾纤的另一端与所述FC输出接口相连。
进一步地，还包括光功率输入接口，所述光功率输入接口的输出端通过导线与所述光功率计的输入端相连。
进一步地，还包括电流粗调旋钮、电流细调旋钮和1550光源控制主板，所述1550光源控制主板布设于所述壳体内，所述电流粗调旋钮的输出端、电流细调旋钮的输出端与所述1550光源控制主板的输入端相连，所述1550光源控制主板的输出端与所述LD插座的输入端相连。
进一步地，包括温控开关，所述温控开关的输出端与所述温控仪的输入端相连，用于控制温控仪的启停。
进一步地，还包括制冷制热切换开关，所述制冷制热切换开关的输出端与所述温控仪的输入端相连，用于控制温控仪的工作模式。
有益效果：本实用新型公开的一种光有源器件检测实验装置具有以下有益效果：
设置双层半导体制冷片结构，温控效果好，控制范围大(将一只半导体制冷片的制热面与另一只半导体制冷片制冷面叠加，中间涂抹导热硅脂，通过双层逐级热传导原理，增加制冷量或制热量)，同时集成加热和制冷一体设计，温控方便。
附图说明
图1为本实用新型公开的一种光有源器件检测实验装置的俯视图；
图2为测试模块的安装示意图。
图3为夹具的主视图。
图4为夹具的俯视图。
图5为夹具的侧视图。
其中：
具体实施方式：
下面对本实用新型的具体实施方式详细说明。
一种光有源器件检测实验装置，设有壳体、电压表1、电流表2、光功率计3、温控仪5、测试模块，其中：
所述电压表1、所述电流表2、所述光功率计3、所述温控仪5安装于所述壳体内侧，所述电压表1的表盘、所述电流表2的表盘、所述光功率计3的表盘、所述温控仪5的表盘位于顶面的面板上；
所述测试模块设于所述壳体的顶面的内侧和外侧，所述测试模块包括LD插座64、夹具65、光有源器件、热传导底座61、半导体制冷片62、散热器63和温度传感器69，
所述LD插座64、所述夹具65、所述位于所述壳体的顶面外侧，所述LD插座64通过引脚与所述光有源器件插接，所述光有源器件固定于所述夹具65，所述夹具65与所述壳体相连；
所述热传导底座61与所述壳体的顶面内侧相连，所述热传导底座61的侧面设有容纳空间，所述温度传感器69布设于该容纳空间中；
所述热传导底座61的底部固设有所述散热器63，在所述热传导底座61与所述散热器63之间粘设有半导体制冷片62；
所述温度传感器69的输出端与所述温控仪5的输入端相连；
所述温控仪5的输出端与所述测试模块的输入端相连；
所述测试模块的输出端分别与所述电压表1的输入端、所述电流表2的输入端、所述光功率计3的输入端、所述半导体制冷片62的输入端相连。
进一步地，所述半导体制冷片62为双层半导体制冷片。
进一步地，所述光有源器件由光有源器件晶圆部66、光纤尾纤67、FC输出接口68组成，所述光纤尾纤67的一端与所述光有源器件晶圆部66相连，所述光纤尾纤67的另一端与所述FC输出接口68相连。
进一步地，还包括光功率输入接口31，所述光功率输入接口31的输出端通过导线与所述光功率计3的输入端相连。
进一步地，还包括电流粗调旋钮41、电流细调旋钮42和1550光源控制主板，所述1550光源控制主板布设于所述壳体内，所述电流粗调旋钮41的输出端、电流细调旋钮42的输出端与所述1550光源控制主板的输入端相连，所述1550光源控制主板的输出端与所述LD插座64的输入端相连。
进一步地，包括温控开关51，所述温控开关51的输出端与所述温控仪5的输入端相连，用于控制温控仪5的启停。
进一步地，还包括制冷制热切换开关52，所述制冷制热切换开关52的输出端与所述温控仪5的输入端相连，用于控制温控仪5的工作模式。
上面对本实用新型的实施方式做了详细说明。但是本实用新型并不限于上述实施方式，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下做出各种变化。
Claims (7)
1.一种光有源器件检测实验装置，其特征在于，设有壳体、电压表、电流表、光功率计、温控仪、测试模块，其中：
所述电压表、所述电流表、所述光功率计、所述温控仪安装于所述壳体内侧，所述电压表的表盘、所述电流表的表盘、所述光功率计的表盘、所述温控仪的表盘位于顶面的面板上；
所述测试模块设于所述壳体的顶面的内侧和外侧，所述测试模块包括LD插座、夹具、光有源器件、热传导底座、半导体制冷片、散热器和温度传感器；
所述LD插座、所述夹具、所述位于所述壳体的顶面外侧，所述LD插座通过引脚与所述光有源器件插接，所述光有源器件固定于所述夹具，所述夹具与所述壳体相连；
所述热传导底座与所述壳体的顶面内侧相连，所述热传导底座的侧面设有容纳空间，所述温度传感器布设于该容纳空间中；
所述热传导底座的底部固设有所述散热器，在所述热传导底座与所述散热器之间粘设有半导体制冷片；
所述温度传感器的输出端与所述温控仪的输入端相连；
所述温控仪的输出端与所述测试模块的输入端相连；
所述测试模块的输出端分别与所述电压表的输入端、所述电流表的输入端、所述光功率计的输入端、所述半导体制冷片的输入端相连。
2.如权利要求1所述的一种光有源器件检测实验装置，其特征在于，所述半导体制冷片为双层半导体制冷片。
3.如权利要求1所述的一种光有源器件检测实验装置，其特征在于，所述光有源器件由光有源器件晶圆部、光纤尾纤、FC输出接口组成，所述光纤尾纤的一端与所述光有源器件晶圆部相连，所述光纤尾纤的另一端与所述FC输出接口相连。
4.如权利要求1所述的一种光有源器件检测实验装置，其特征在于，还包括光功率输入接口，所述光功率输入接口的输出端通过导线与所述光功率计的输入端相连。
5.如权利要求1所述的一种光有源器件检测实验装置，其特征在于，还包括电流粗调旋钮、电流细调旋钮和1550光源控制主板，所述1550光源控制主板布设于所述壳体内，所述电流粗调旋钮的输出端、电流细调旋钮的输出端与所述1550光源控制主板的输入端相连，所述1550光源控制主板的输出端与所述LD插座的输入端相连。
6.如权利要求1所述的一种光有源器件检测实验装置，其特征在于，还包括温控开关，所述温控开关的输出端与所述温控仪的输入端相连，用于控制温控仪的启停。
7.如权利要求1所述的一种光有源器件检测实验装置，其特征在于，还包括制冷制热切换开关，所述制冷制热切换开关的输出端与所述温控仪的输入端相连，用于控制温控仪的工作模式。
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