CN220509082U - 一种半导体激光器老化测试工装 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种半导体激光器老化测试工装，涉及半导体激光器老化测试技术领域。该一种半导体激光器老化测试工装，包括老化测试工装主体，所述老化测试工装主体的顶部设置有测试平台，所述测试平台的顶部设置有定位机构，所述老化测试工装主体的一侧设置有调节机构。该一种半导体激光器老化测试工装，通过设置激光测试仪，当需要对激光测试仪的位置进行调节时，首先，向上拉动固定条，使得固定条带动阻尼套杆在阻尼套筒的内部升起，然后拨动激光测试仪，使得夹块滑动在固定条的外表面，以便于带动激光测试仪调节，该装置便于对激光测试仪的位置进行调节。
Description
技术领域
本实用新型属于半导体激光器老化测试技术领域，具体涉及一种半导体激光器老化测试工装。
背景技术
半导体激光器又称激光二极管，是用半导体材料作为工作物质的激光器，半导体二极管激光器是最实用最重要的一类激光器。它体积小、寿命长，并可采用简单的注入电流的方式来泵浦，其工作电压和电流与集成电路兼容，因而可与之单片集成。
现有半导体激光器在进行老化测试时缺少调节测试设备位置与对半导体激光器进行夹持固定的结构，使得半导体激光器在进行测试过程中，若不同尺寸或不同发射位置的半导体激光器在利用同一个测试器进行测试时，测试器无法完全接收半导体激光器所发射的光束，影响检测结果，同时该在测试过程中大多放置在检测台上利用限位板进行辅助定位，固定效果较差且易掉落磕碰导致激光器的损坏，不便于使用，基于现有的技术不足，本实用新型设计了一种半导体激光器老化测试工装。
实用新型内容
为解决现有技术中存在的上述问题，本实用新型提供了一种半导体激光器老化测试工装，具有调节测试设备位置与对半导体激光器进行夹持固定的特点。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体激光器老化测试工装，包括老化测试工装主体，所述老化测试工装主体的顶部设置有测试平台，所述测试平台的顶部设置有定位机构，所述老化测试工装主体的一侧设置有调节机构；
调节机构，所述调节机构包括激光测试仪和夹块，所述激光测试仪设置在老化测试工装主体的一侧，所述激光测试仪的下表面固定连接有夹块。
作为本实用新型的一种半导体激光器老化测试工装优选技术方案，所述调节机构还包括固定条、限位槽和阻尼套杆，所述固定条滑动连接在老化测试工装主体的一侧，所述固定条的一侧开设有限位槽，所述固定条的下表面固定连接有阻尼套杆。
作为本实用新型的一种半导体激光器老化测试工装优选技术方案，所述老化测试工装主体的上表面开设有滑槽，所述老化测试工装主体的一侧固定连接有弧形块，所述弧形块的上表面固定连接有阻尼套筒。
作为本实用新型的一种半导体激光器老化测试工装优选技术方案，所述测试平台的下表面固定连接有滑块，所述测试平台的上表面开设有安装孔。
作为本实用新型的一种半导体激光器老化测试工装优选技术方案，所述定位机构包括定位板、丝杆、转钮、固定块和螺纹杆，所述定位板滑动连接在测试平台的上表面，所述定位板的一侧转动连接有丝杆，所述丝杆的一侧固定连接有转钮，所述固定块设置在测试平台的顶部，所述固定块的一侧螺纹连接有螺纹杆。
作为本实用新型的一种半导体激光器老化测试工装优选技术方案，所述阻尼套杆滑动连接在阻尼套筒的内部，所述固定条设置在夹块的内部。
作为本实用新型的一种半导体激光器老化测试工装优选技术方案，所述丝杆螺纹连接在固定块的内部，所述螺纹杆螺纹连接在安装孔的内部。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、本实用新型在使用时，通过设置激光测试仪，当需要对激光测试仪的位置进行调节时，首先，向上拉动固定条，使得固定条带动阻尼套杆在阻尼套筒的内部升起，然后拨动激光测试仪，使得夹块滑动在固定条的外表面，以便于带动激光测试仪调节，该装置便于对激光测试仪的位置进行调节；
2、本实用新型在使用时，当需要对半导体激光器进行夹持定位时，首先转动转钮，使得转钮带动丝杆转动，此时丝杆螺纹连接在固定块的内部，通过丝杆使得定位板在测试平台的内部滑动，对半导体激光器进行夹持定位，该装置便于对半导体激光器进行夹持定位。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：
图1为本实用新型的老化测试工装主体结构示意图；
图2为本实用新型的测试平台结构示意图；
图3为本实用新型的定位机构结构示意图；
图4为本实用新型的调节机构结构示意图。
图中：1、老化测试工装主体；101、滑槽；102、弧形块；103、阻尼套筒；2、测试平台；201、滑块；202、安装孔；3、定位机构；301、定位板；302、丝杆；303、转钮；304、固定块；305、螺纹杆；4、调节机构；401、激光测试仪；402、夹块；403、固定条；404、限位槽；405、阻尼套杆。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
实施例
请参阅图1-4，本实用新型提供以下技术方案：一种半导体激光器老化测试工装，包括老化测试工装主体1，老化测试工装主体1的顶部设置有测试平台2，测试平台2的顶部设置有定位机构3，老化测试工装主体1的一侧设置有调节机构4；
老化测试工装主体1的上表面开设有滑槽101，老化测试工装主体1的一侧固定连接有弧形块102，弧形块102的上表面固定连接有阻尼套筒103。
测试平台2的下表面固定连接有滑块201，测试平台2的上表面开设有安装孔202。
实施例
请参阅图4，本实用新型提供以下技术方案：
调节机构4，调节机构4包括激光测试仪401和夹块402，激光测试仪401设置在老化测试工装主体1的一侧，激光测试仪401的下表面固定连接有夹块402。
调节机构4还包括固定条403、限位槽404和阻尼套杆405，固定条403滑动连接在老化测试工装主体1的一侧，固定条403的一侧开设有限位槽404，固定条403的下表面固定连接有阻尼套杆405。
阻尼套杆405滑动连接在阻尼套筒103的内部，固定条403设置在夹块402的内部。
需要进一步解释说明的是：向上拉动固定条403，使得固定条403带动阻尼套杆405在阻尼套筒103的内部升起，然后拨动激光测试仪401，使得夹块402滑动在固定条403的外表面，以便于带动激光测试仪401调节。
实施例
请参阅图3，本实用新型提供以下技术方案：
定位机构3包括定位板301、丝杆302、转钮303、固定块304和螺纹杆305，定位板301滑动连接在测试平台2的上表面，定位板301的一侧转动连接有丝杆302，丝杆302的一侧固定连接有转钮303，固定块304设置在测试平台2的顶部，固定块304的一侧螺纹连接有螺纹杆305。
丝杆302螺纹连接在固定块304的内部，螺纹杆305螺纹连接在安装孔202的内部。
需要进一步解释说明的是：转动转钮303，使得转钮303带动丝杆302转动，此时丝杆302螺纹连接在固定块304的内部，通过丝杆302使得定位板301在测试平台2的内部滑动，对半导体激光器进行夹持定位。
工作原理：当一种半导体激光器老化测试工装使用时，首先在老化测试工装主体1的顶部开设有滑槽101，在老化测试工装主体1顶部设置的测试平台2底部固定有滑块201，通过滑块201滑动在滑槽101的内部，可带动测试平台2在老化测试工装主体1的顶部移动，在测试平台2的顶部设置有定位机构3，通过设置定位机构3便于对半导体激光器进行夹持定位，在老化测试工装主体1的一侧设置有阻尼套筒103，通过阻尼套筒103连接有阻尼套杆405和固定条403，通过固定条403和阻尼套杆405便于对激光测试仪401的位置进行调节，便于校准，以便于对半导体激光器进行老化测试。
当需要对激光测试仪401的位置进行调节时，首先，向上拉动固定条403，使得固定条403带动阻尼套杆405在阻尼套筒103的内部升起，然后拨动激光测试仪401，使得夹块402滑动在固定条403的外表面，以便于带动激光测试仪401调节，该装置便于对激光测试仪401的位置进行调节。
当需要对半导体激光器进行夹持定位时，首先转动转钮303，使得转钮303带动丝杆302转动，此时丝杆302螺纹连接在固定块304的内部，通过丝杆302使得定位板301在测试平台2的内部滑动，对半导体激光器进行夹持定位，该装置便于对半导体激光器进行夹持定位。
最后应说明的是：以上仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种半导体激光器老化测试工装，包括老化测试工装主体（1），其特征在于：所述老化测试工装主体（1）的顶部设置有测试平台（2），所述测试平台（2）的顶部设置有定位机构（3），所述老化测试工装主体（1）的一侧设置有调节机构（4）；
调节机构（4），所述调节机构（4）包括激光测试仪（401）和夹块（402），所述激光测试仪（401）设置在老化测试工装主体（1）的一侧，所述激光测试仪（401）的下表面固定连接有夹块（402）。
2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器老化测试工装，其特征在于：所述调节机构（4）还包括固定条（403）、限位槽（404）和阻尼套杆（405），所述固定条（403）滑动连接在老化测试工装主体（1）的一侧，所述固定条（403）的一侧开设有限位槽（404），所述固定条（403）的下表面固定连接有阻尼套杆（405）。
3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器老化测试工装，其特征在于：所述老化测试工装主体（1）的上表面开设有滑槽（101），所述老化测试工装主体（1）的一侧固定连接有弧形块（102），所述弧形块（102）的上表面固定连接有阻尼套筒（103）。
4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器老化测试工装，其特征在于：所述测试平台（2）的下表面固定连接有滑块（201），所述测试平台（2）的上表面开设有安装孔（202）。
5.根据权利要求1所述的一种半导体激光器老化测试工装，其特征在于：所述定位机构（3）包括定位板（301）、丝杆（302）、转钮（303）、固定块（304）和螺纹杆（305），所述定位板（301）滑动连接在测试平台（2）的上表面，所述定位板（301）的一侧转动连接有丝杆（302），所述丝杆（302）的一侧固定连接有转钮（303），所述固定块（304）设置在测试平台（2）的顶部，所述固定块（304）的一侧螺纹连接有螺纹杆（305）。
6.根据权利要求2所述的一种半导体激光器老化测试工装，其特征在于：所述阻尼套杆（405）滑动连接在阻尼套筒（103）的内部，所述固定条（403）设置在夹块（402）的内部。
7.根据权利要求5所述的一种半导体激光器老化测试工装，其特征在于：所述丝杆（302）螺纹连接在固定块（304）的内部，所述螺纹杆（305）螺纹连接在安装孔（202）的内部。
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