CN220368715U - 一种干扰测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种干扰测试系统，干扰测试系统包括：灵敏度测试设备，包括第一测试输入端和第一测试控制端；所述第一测试输入端分别与待测件的引脚连接和所述待测件的天线接口连接；所述待测件的引脚输出的干扰信号被配置为输出至所述待测件中；所述灵敏度测试设备被配置为测试所述待测件受干扰情况下的灵敏度；控制设备，被配置为与所述第一测试控制端连接；所述控制设备被配置为向所述灵敏度测试设备输出第一控制指令，以控制所述灵敏度测试设备测试所述灵敏度；所述灵敏度表征干扰测试结果。通过上述干扰测试系统，可以提高对待测件引脚进行干扰测试的准确性效率和提高多次测试的结果一致性。

Description

一种干扰测试系统

技术领域

本申请涉及通信技术领域，具体而言，涉及一种干扰测试系统。

背景技术

通信模组会给终端产品预留接口，以使通信模组与终端产品连接。而通信模组的引脚可能存在干扰，如引脚暴露于外界环境受环境影响，或模块内部产生干扰等，干扰通过引脚对所连接的终端产品造成影响。

对通信模组引脚的干扰进行排查时，会将测试设备的探针与引脚连接，并通过探针获取通信模组输出信号的进行测试，但该方式受测试条件(如温度、湿度、探针与引脚连接位置等)的影响较大，从而影响通信模组引脚的干扰测试结果，无法准确判断最终的干扰测试结果是引脚本身原因还是测试条件不当的原因。且当重复多次测试时，若测试条件发生变化，易使得多次测试结果发生变化，从而使得一致性较差。

实用新型内容

有鉴于此，本申请旨在提供一种干扰测试系统，以提高测试准确性和提高多次测试的结果一致性。

第一方面，本申请实施例提供一种干扰测试系统，包括：灵敏度测试设备，包括第一测试输入端和第一测试控制端；所述第一测试输入端分别与待测件的引脚连接和所述待测件的天线接口连接；所述待测件的引脚输出的干扰信号被配置为输出至所述待测件中；所述灵敏度测试设备被配置为测试所述待测件受干扰情况下的灵敏度；控制设备，被配置为与所述第一测试控制端连接；所述控制设备被配置为向所述灵敏度测试设备输出第一控制指令，以控制所述灵敏度测试设备测试所述灵敏度；所述灵敏度表征干扰测试结果。

通信模组的干扰信号会对连接设备或模组造成干扰，影响所连接设备或模组接收信号的灵敏度。本申请实施例中，将待测件的引脚输出的干扰信号被配置为输出至该待测件中，使干扰信号对待测件接收信号的灵敏度造成影响。此时，干扰信号是直接输出至待测件中，降低测试条件对干扰信号的影响，测试时，也是将灵敏度测试设备与待测件的引脚和天线端口连接，测试待测件的灵敏度，基于灵敏度确定干扰测试结果，不再测试干扰信号。由此，干扰信号不会因测试条件的变化而对干扰测试结果造成较大的改变，因此，可以降低环境的影响，提高测试准确性和提高多次测试的结果一致性。

一实施例中，所述灵敏度测试设备包括综测仪和耦合器；所述耦合器的一个直通端与所述待测件的引脚连接，所述耦合器的另一个直通端与所述待测件的天线端口连接；所述综测仪的测试端与所述耦合器的耦合端连接，所述综测仪的测试控制端与所述控制设备连接。

本申请实施例中，综测仪具有TIS(Total Isotropic Sensitivity，辐射总全向灵敏度)测试功能，即综测仪具有灵敏度测试功能，可以进行灵敏度测试。耦合器包括三端，通过耦合器的两直通端使得待测件的干扰信号输出至待测件中，再通过耦合端与测试灵敏度的综测仪连接，实现灵敏度的测量。综测仪和耦合器构建灵敏度测试设备，可以使得灵敏度测试设备结构简单，无需设置复杂电路实现灵敏度的测试功能，降低干扰测试系统的复杂性，以及综测仪为现有设备，便于操作，可以提高测试效率。

一实施例中，所述干扰测试系统还包括频谱测试设备；所述频谱测试设备的测试端与所述待测件的引脚连接；所述频谱测试设备的测试控制端与所述控制设备连接；所述频谱测试设备被配置为测试干扰信号的频谱，所述控制设备还被配置基于所述频谱确定对所述待测件的干扰测试结果。

本申请实施例中，还设置频谱测试设备，可以对干扰信号进行测试，获得干扰信号的频谱，由此，可以基于频谱辅助灵敏度确定对待测件引脚的测试结果，提高干扰测试的准确性。

一实施例中，所述干扰测试系统还包括：模式选择开关，所述模式选择开关包括一个输入端、多个输出端和控制端；所述模式选择开关的输入端与所述待测件的引脚连接，所述模式选择开关的不同输出端分别与所述频谱测试设备和所述灵敏度测试设备连接；所述模式选择开关的控制端与所述控制设备连接，所述模式选择开关被配置为基于所述控制设备的控制，控制所述待测件的引脚与所述频谱测试设备和所述灵敏度测试设备二者中任意一者连通。

本申请实施例中，通过模式选择开关分别与频谱测试设备和灵敏度测试设备连接，以及将模式选择开关的控制端与控制设备连接，由此，控制设备可以直接对模块选择开关进行控制，以满足不同的测试需求，以及可以使得切换测试设备更简单，相较于将待测件的引脚与当前测试设备断开后与其他测试设备连接的方式，可以减少引脚的连接断开过程，从而减少测试条件变化对测试结果的影响，提高测试结果的一致性。

一实施例中，所述干扰测试系统还包括：多路选通开关，所述多路选通开关包括选通输出端、选通控制端和多个选通输入端，所述多路选通开关被配置为基于所述选通控制端接收到的第二控制指令控制任意一个所述选通输入端与所述选通输出端的连通；不同所述选通输入端用于分别与所述待测件的不同引脚连接；所述选通控制端被配置为与所述控制设备连接；所述选通输出端被配置为与所述第一测试输入端连接；所述控制设备还被配置为向所述多路选通开关输出第二控制指令，以控制所述待测件任意一个引脚与所述灵敏度测试设备的选通。

本申请实施例中，在需对待测件进行测试前，可以将待测件的不同引脚分别与多路选通开关的不同第一输入端连接，相较于测试时使用测试设备的探针与待测件引脚连接的方式，通过控制设备控制多路选通开关的切换，选择待测件的不同引脚进行测试的方式无需人工地在测试过程中将测试设备的探针切换至与待测件的下一引脚连接，从而可以提高测试效率。同时，由于无需人工地在测试过程中将测试设备的探针切换至与下一被测引脚连接，因此还可以减少因人工重新连接探针与被测件引脚导致的差异性，减少连接位置不一致，接触不良等情况的发生，从而使得测试时的测试条件(如环境、测试位置等)尽可能保持一致，提高测试结果的准确性与多个测试结果的一致性。

一实施例中，所述干扰测试系统，还包括：连接件，所述多路选通开关通过所述连接件分别与所述待测件的不同引脚连接；其中，所述连接件包括多个连接端口对，每一所述连接端口对包括一个输入端口和一个输出端口，且所述连接端口对中的所述输入端口与所述输出端口连接；不同所述输出端口分别与不同的所述选通输入端连接；不同所述输入端口用于分别与所述待测件的不同引脚连接。

本申请实施例中，将连接件与待测件的引脚连接，由此，可以使得连接件与待测件之间位置固定，由此，可以减少测试因连接导致的差异(如连接位置变化，接触不良等)，再将连接件与灵敏度或频谱测试设备连接，可以减少每次测试时因连接差异导致的测试差异，提高测试的结果一致性。

一实施例中，每一所述第二输出端与所述第一输入端之间通过射频线连接。

本申请实施例中，射频线可以使得干扰信号在连接件和测试设备之间信号传输更稳定，降低传输路径对干扰信号的影响，提高测试设备所接收到的干扰信号的准确性，进而提高测试结果的准确性。

一实施例中，所述多路选通开关包括多个具有选通功能的射频开关；多个所述射频开关级联组成级联电路；所述级联电路的第一级包括多个所述射频开关，第二级为单个所述射频开关；所述第一级中各所述射频开关的输入端分别与所述第二输出端连接，所述第一级中各所述射频开关的输出端与所述第二级中所述射频开关的输入端连接，所述第二级中所述射频开关的输出端与所述测试端连接。

本申请实施例中，射频开关可以用于高频信号的传输，可以使得干扰信号能够更好地传输至灵敏度测试设备，提高测试的准确性。通过将多个射频开关组成级联电路，以使多路选通开关能够满足多引脚的通信模组的测试，以使待测件在测试时无需更换引脚与测试设备的连接，减少测试条件的差异性，提高测试结果的一致性。

一实施例中，所述干扰测试系统还包括：控制器；每一所述射频开关的控制端分别与所述控制器连接，所述控制器与所述控制设备连接；所述控制器被配置为接收所述第一控制指令控制任意所述射频开关的选通。

本申请实施例中，将控制器分别与控制设备和射频开关连接，由此，无需单独对射频开关进行控制，可以通过控制设备实现对射频开关的控制，提高控制效率，进而提高测试效率。

一实施例中，所述控制器包括PLC控制器和/或MIPI控制器。

PLC控制器和/或MIPI控制器可以接收控制指令对其他设备或电路进行控制，本申请实施例中，使用PLC控制器和/或MIPI控制器可以实现控制器的功能。而由于PLC控制器和/或MIPI控制器较为成熟，易于实现本申请实施例中控制器的功能，可以有效降低干扰测试系统的实现难度与成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请一实施例提供的干扰测试系统的结构图；

图2为本申请一实施例提供的干扰测试系统的扩展结构图；

图3为本申请一实施例提供的干扰测试系统的连接示意图。

图标：灵敏度测试设备110；耦合器111；综测仪112；控制设备120；频谱测试设备130；模式选择开关140；多路选通开关150；连接件160；射频线170。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

请参阅图1，图1为本申请实施例提供的干扰测试系统的结构图，ANT表示待测件的天线，PIN表示待测件的引脚。干扰测试系统包括：灵敏度测试设备110和控制设备120。

灵敏度测试设备110，具有测试TIS(辐射总全向灵敏度，在本申请中简称“灵敏度”)的功能。辐射总全向灵敏度可以表征通信设备的信号接收能力，也可以表征待测件受干扰的情况。

本实施例中，灵敏度测试设备110包括第一测试输入端及第一测试控制端；第一测试输入端用于与待测件的引脚连接，第一测试输入端还可以用于与待测件的天线接口连接。控制设备120通过与第一测试控制端连接向灵敏度测试设备110发出控制指令，以控制灵敏度测试设备110对待测件进行测试。

在本申请的实施例中，灵敏度测试设备被配置为测试待测件受干扰情况下的灵敏度。在测试待测件的灵敏度时，待测件处于工作状态，由此，待测件可以通过天线接口发出信号。同时，待测件的引脚输出的干扰信号被配置为输出至该待测件中，由此，待测件天线接口输出的信号为受干扰信号影响而输出的信号。

本实施例中，第一测试输入端可以是包括多个测试输入端，不同测试输入端分别与天线接口和引脚连接。在一些实施例中，第一测试输入端可以是单个端口，天线接口和引脚可以同时与第一测试输入端连接，并通过分时复用等方式分别接收引脚和天线输出的信号。

请结合参阅图2和图3，图2为本申请一实施例提供的干扰测试系统的扩展结构图，图3为本申请一实施例提供的干扰测试系统的连接示意图。

在本申请的一些实施例中，可以是通过电路或器件等将第一测试输入端分别与引脚和天线端口连接。例如，灵敏度测试设备110可以包括综测仪112和耦合器111。

请参阅图3，图3为本申请实施例提供的干扰测试系统的连接示意图，其中，port1和port2分别表示耦合器111的不同直通端。耦合器111包括三端，分别为两个直通端和一个耦合端，在本申请的实施例中，耦合器111的一个直通端与待测件的引脚连接，耦合器111的另一个直通端与待测件的天线端口连接。由此，可以将待测件的引脚输出的干扰信号配置为输出至该待测件中。耦合器111可以采用现有的耦合器111，在此不再展开。

综测仪112通常具有TIS测量功能，在本申请实施例中，可以使用综测仪112测量待测件的灵敏度。其中，综测仪112的测试端与所述耦合器111的耦合端连接，所述综测仪112的测试控制端与所述控制设备120连接。综测仪112的类型有多种，例如，如图3所示，可以选用CMW500综测仪，现有较多类型的综测仪，在此不再一一说明。

控制设备120，被配置为与第一测试控制端连接；控制设备120被配置为向灵敏度测试设备110输出第一控制指令，以控制灵敏度测试设备110测试待测件灵敏度；灵敏度可以表征干扰测试结果。

本实施例中，控制设备120可以为具有处理器、存储器和通信模组的设备。例如，控制设备120可以是单片机、计算机和服务器等。控制设备120可以参考现有技术，在此不再展开。

在一些实施例中，用户在获取灵敏度后，可以根据灵敏度判断该待测件的引脚是否存在干扰。在另一些实施例中，控制设备120被配置为获取灵敏度，并将灵敏度与预设灵敏度阈值进行对比，确定待测件的引脚是否存在干扰。例如，灵敏度大于等于预设灵敏阈值，则确定待测件引脚存在干扰，反之，灵敏度小于预设灵敏度阈值，则待测件引脚不存在干扰。

进一步地，控制设备120还可以配置待测件引脚干扰严重程度与灵敏度之间的对应关系，以在获得灵敏度之后，可以根据对应关系确定该待测件引脚的干扰严重程度。

在一些实施例中，干扰测试系统可以包括不同类型的测试设备，例如，除灵敏度测试设备110之外，干扰测试系统还可以包括频谱测试设备130。

频谱测试设备130的第二测试输入端与待测件的引脚连接，频谱测试设备130的第二测试控制端与控制设备120连接；频谱测试设备130被配置为测试干扰信号的频谱，控制设备120还被配置基于频谱确定对待测件的干扰测试结果。通过频谱测试设备130，可以对干扰信号进行测试，以根据干扰信号的频谱测试结果辅助灵敏度测试设备110的灵敏度共同判断待测件引脚是否存在干扰，提高测试的准确性。

本实施例中，频谱测试设备130可以测试待测件引脚输出的信号的频谱，频谱可以用于判断该待测件的引脚是否存在干扰。

在一些实施例中，控制设备120可以被配置为计算频谱中在预设带宽范围内信号的峰值，若该信号峰值大于等于预设峰值，则确定该引脚存在干扰，反之，若该信号峰值小于等于预设峰值，则确定该引脚不存在干扰。

一实施例中，干扰测试系统还包括：模式选择开关140，模式选择开关140包括一个输入端、多个输出端和控制端；模式选择开关140的输入端与待测件的引脚连接，模式选择开关140的不同输出端分别与频谱测试设备130和灵敏度测试设备110连接，即分别与第一测试输入端和第二测试输入端连接；模式选择开关140的控制端与控制设备120连接，模式选择开关140被配置为基于控制设备120的控制，控制待测件的引脚与所述频谱测试设备130和所述灵敏度测试设备110二者中任意一者连通。

在测试时，可能仅需对灵敏度或频谱其中一者进行测试，因此，在申请实施例中，可以设置模式选择开关140。模式选择开关140为一种可以实现二选一的选通开关，模式选择开关140的类型可以参考现有技术，在此不再展开。如图2和图3所示，模式选择开关140的控制端与控制设备120连接，由此，控制设备120可以控制模式选择开关140的选通，从而实现待测件与不同测试设备之间的连接，从而实现不同测试模式的选择。由此，在切换测试设备时，无需重新将待测件与新的测试设备连接，提高测试效率，同时减少因待测件重新连接导致测试条件的变化，提高测试结果的一致性。其中，不同测试设备包括灵敏度测试设备和频谱测试设备，测试设备可以指灵敏度测试设备和频谱测试设备中的任意一个。切换测试设备是指将当前测试设备切换至与其他测试设备连接，例如，原本与灵敏度测试设备连接，现切换至频谱测试设备，后续将不再重复说明。

待测件包括多个引脚，不同引脚用于引出通信模组的不同功能。通信模组的不同引脚均可能存在干扰，在测试时，通过需要将各引脚逐个测试，分别确定各引脚是否存在干扰。在从当前引脚切换至测试其他引脚时，通常需要将引脚与测试设备重新连接，而切换连接引脚需要耗费较多时间，影响测试效率。

在本申请的一些实施例中，干扰测试系统还可以包括多路选通开关150，将待测件的不同引脚分别与多路选通开关150连接，以利用多路选通开关150的选通功能选择不同的引脚进行测试。

如图2所示，所述多路选通开关150包括选通输出端、选通控制端和多个选通输入端，多路选通开关150被配置为基于选通控制端接收到的第二控制指令控制任意一个选通输入端与选通输出端的连通；不同选通输入端用于分别与待测件的不同引脚连接；选通控制端被配置为与控制设备120连接；选通输出端被配置为与第一测试输入端连接。

其中，多路选通开关150可以采用多路选通芯片、射频开关、单刀多掷开关等实现，但不作为限制。可以理解，多路选通开关150的实现方式可以参考现有技术，在此不再赘述。

在一些实施例中，控制设备120还被配置为基于预设的控制程序向多路选通开关150发送控制不同选通输入端与选通输出端连接，从而用户可以基于控制设备120切换不同引脚进行测试。

本申请实施例中在需对待测件进行测试前，可以将待测件的不同引脚分别与多路选通开关150的不同选通输入端连接，相较于人为将测试设备的探针与引脚连接，通过多路选通开关150无需在切换时重新将探针与引脚连接，可以避免重新连接时导致的连接不当或异常，例如，连接位置发生变化、接触不良等，从而减少测试时测试条件发生变化的可能性，从而使得测试时的测试条件(如环境、测试位置等)尽可能保持一致，提高测试结果的准确性与多个测试结果的一致性。同时，相较于人为将探针与引脚连接，在切换时无需重新将探针与引脚连接，可以提高测试效率。

此外，在同一引脚进行多次测试时，若每次测试将引脚与测试设备连接，则可能存在因连接不当导致的测试结果异常，从而影响测试结果，需要说明的是，引脚与测试设备之间的连接不当可能会对引脚输入的信号产生干扰，该干扰是在待测引脚自身干扰基础上的额外干扰，即总干扰＝待测引脚自身干扰+连接不当的额外干扰，该额外的干扰会影响测试结果。

一实施例中，干扰测试系统还可以包括：连接件160。

多路选通开关150通过连接件160分别与待测件的不同引脚连接；其中，连接件160包括多个连接端口对，每一连接端口对包括一个输入端口和一个输出端口，且连接端口对中的输入端口与输出端口连接；不同输出端口分别与不同的选通输入端连接；不同输入端口用于分别与待测件的不同引脚连接。

这样，通过连接件160实现多路选通开关150与待测件的不同引脚连接，可以使得连接件160与待测件之间的位置固定，连接关系固定，切换至不同引脚再切换回来时，如接触位置等连接条件不会变化，从而相较于使用探针与待测件的引脚连接，使用连接件160可以降低待测件与测试设备连接时的差异性，从而提高测试结果的一致性。

本实施例中，连接件160可以是测试板、测试座等可以用于连接通信模组的器件，如图2所示，连接件160包括多个输入端口和多个输出端口，一个输入端口和一个输出端口组合成连接端口对，连接端口对通过测试板、测试座的内部走线连接。由此，连接件160的输出端口可以与选通输入端连接，待测件的引脚可以通过连接件160的输入端口实现与第一测试输入端连接。

测试板、测试座等连接件160输入端设置有用于连接通信模组的结构，例如，可以包括夹持、抵接等方式的连接结构，待测件可以通过连接件160上的连接结构与连接件160固定连接，使得通信模组在测试时引脚位置不易发生变化，从而使得测试条件不容易发生变化，提高测试结果的一致性。

此外，连接件160还可以包括电源等使待测件工作的结构，以使待测件能够正常工作，从而使得干扰信号能够从引脚辐射出，并输出至灵敏度测试设备110。

如图2所示，在一些实施例中，连接件160的输出端口与多路选通开关150的选通输入端之间通过射频线170连接。

射频线170可以有效减少外界环境对信号的干扰，在连接件160输出端口和选通输入端之间通过射频线170连接，可以减少外界环境对干扰信号的影响，从而提高对干扰信号进行测试的稳定性，以及提高测试结果的一致性。

一实施例中，多路选通开关150可以包括多个具有选通功能的射频开关；多个射频开关级联组成级联电路；级联电路的第一级包括多个射频开关，第二级为单个射频开关；第一级中各射频开关的输入端分别与待测件的不同引脚连接，第一级中各射频开关的输出端与第二级中所述射频开关的输入端连接，所述第二级中射频开关的输出端与综测仪的测试端连接。

本实施例中，多路选通开关150可以选用射频开关，射频能够进行高频信号的传输，由此，射频开关可以用于干扰信号的传输。其中，射频开关具有选通功能，例如，可以为SP4T、SP5T、SP8T等射频开关，可以分别实现四选一、五选一、八选一等的功能。

通信模组通常具有较多的引脚，例如，32个引脚、64个引脚等，在本实施例中，可以将多个射频开关组合成级联电路，以对通信模组的所有引脚进行连接。

如图3所示，级联电路的第一级可以包括多个射频开关，每一射频开关分别与多个引脚(或与连接件160的不同输出端口)连接，每一射频开关所连接的引脚数可以根据射频开关的类型进行设置，例如，射频开关为四选一的开关时，所连接的引脚数为4，同理，射频开关为八选一的开关时，所连接的引脚数为8。第一级的各射频开关输出端与第二级中射频开关的输入端连接，第二级中射频开关的输出端与测试设备连接，由此，可以使得多路选通开关150能够与超出单个射频开关连接上限的引脚连接，且能够实现选通，从而满足不同通信模组的干扰测试需求。

在一些实施例中，级联电路还可以具有更多级，例如，三级、四级等，其中，第一级各射频开关输入端与待测件的引脚连接，输出端与第二级的输入端连接，至最后一级之前，级联电路中各射频开关的输出端与下一级射频开关的输入端连接，最后一级的射频开关输出端与测试设备或模式选择开关140连接。上述仅为示例，不应成为对本申请的限制。

一实施例中，干扰测试系统还可以包括：控制器；每一射频开关的控制端分别与控制器连接，控制器与所述控制设备120连接；控制器被配置为接收第二控制指令控制任意射频开关的选通。

如图3所示，控制器包括MIPI(Mobile Industry Processor Interface，移动行业处理器接口)控制器和/或PLC(Programmable Logic Controller，可编程逻辑控制器)控制器。MIPI控制器和PLC控制器可以单独使用或分开使用。MIPI控制器和PLC分别与控制设备120通信连接，MIPI控制器和PLC可以接收控制设备120发出的第二控制指令，控制各射频开关中各射频口的开关与导通，例如，当需要将1号引脚与测试设备连接时，MIPI控制器和PLC可以根据第二控制指令，控制级联电路中第一级的第一个射频开关的第一个射频口打开，并控制该射频口导通，同时，控制级联电路中第二级的第一个射频开关的第一个射频口打开，并控制该射频口导通。可以理解，MIPI控制器和PLC对射频开关的控制方式可以参考现有技术，在此不再赘述。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

Claims (10)

1.一种干扰测试系统，其特征在于，包括：

灵敏度测试设备，包括第一测试输入端和第一测试控制端；所述第一测试输入端分别与待测件的引脚连接和所述待测件的天线接口连接；所述待测件的引脚输出的干扰信号被配置为输出至所述待测件中；所述灵敏度测试设备被配置为测试所述待测件受干扰情况下的灵敏度；

控制设备，被配置为与所述第一测试控制端连接；所述控制设备被配置为向所述灵敏度测试设备输出第一控制指令，以控制所述灵敏度测试设备测试所述灵敏度；所述灵敏度表征干扰测试结果。

2.根据权利要求1所述的干扰测试系统，其特征在于，所述灵敏度测试设备包括综测仪和耦合器；

所述耦合器的一个直通端与所述待测件的引脚连接，所述耦合器的另一个直通端与所述待测件的天线端口连接；

所述综测仪的测试端与所述耦合器的耦合端连接，所述综测仪的测试控制端与所述控制设备连接。

3.根据权利要求2所述的干扰测试系统，其特征在于，所述干扰测试系统还包括频谱测试设备；

所述频谱测试设备的第二测试输入端与所述待测件的引脚连接；所述频谱测试设备的第二测试控制端与所述控制设备连接；所述频谱测试设备被配置为测试干扰信号的频谱，所述控制设备还被配置基于所述频谱确定对所述待测件的干扰测试结果。

4.根据权利要求3所述的干扰测试系统，其特征在于，所述干扰测试系统还包括：模式选择开关，所述模式选择开关包括一个输入端、多个输出端和控制端；

所述模式选择开关的输入端与所述待测件的引脚连接，所述模式选择开关的不同输出端分别与所述频谱测试设备和所述灵敏度测试设备连接；

所述模式选择开关的控制端与所述控制设备连接，所述模式选择开关被配置为基于所述控制设备的控制，控制所述待测件的引脚与所述频谱测试设备和所述灵敏度测试设备二者中任意一者连通。

5.根据权利要求1-4任一项所述干扰测试系统，其特征在于，所述干扰测试系统还包括：多路选通开关，所述多路选通开关包括选通输出端、选通控制端和多个选通输入端，所述多路选通开关被配置为基于所述选通控制端接收到的第二控制指令控制任意一个所述选通输入端与所述选通输出端的连通；不同所述选通输入端用于分别与所述待测件的不同引脚连接；所述选通控制端被配置为与所述控制设备连接；所述选通输出端被配置为与所述第一测试输入端连接；

所述控制设备还被配置为向所述多路选通开关输出第二控制指令，以控制所述待测件任意一个引脚与所述灵敏度测试设备的选通。

6.根据权利要求5所述的干扰测试系统，其特征在于，所述干扰测试系统，还包括：

连接件，所述多路选通开关通过所述连接件分别与所述待测件的不同引脚连接；

其中，所述连接件包括多个连接端口对，每一所述连接端口对包括一个输入端口和一个输出端口，且所述连接端口对中的所述输入端口与所述输出端口连接；不同所述输出端口分别与不同的所述选通输入端连接；不同所述输入端口用于分别与所述待测件的不同引脚连接。

7.根据权利要求6所述的干扰测试系统，其特征在于，每一所述输出端口与所述选通输入端之间通过射频线连接。

8.根据权利要求5所述的干扰测试系统，其特征在于，所述多路选通开关包括多个具有选通功能的射频开关；

多个所述射频开关级联组成级联电路；

所述级联电路的第一级包括多个所述射频开关，第二级为单个所述射频开关；所述第一级中各所述射频开关的输入端分别与所述待测件的不同引脚连接，所述第一级中各所述射频开关的输出端与所述第二级中所述射频开关的输入端连接，所述第二级中所述射频开关的输出端与所述第一测试输入端连接。

9.根据权利要求8所述的干扰测试系统，其特征在于，所述干扰测试系统还包括：控制器；

每一所述射频开关的控制端分别与所述控制器连接，所述控制器与所述控制设备连接；

所述控制器被配置为接收所述控制设备发出的所述第二控制指令控制任意所述射频开关的选通。

10.根据权利要求9所述的干扰测试系统，其特征在于，所述控制器包括PLC控制器和/或MIPI控制器。