CN220340297U - 一种反激输入电压检测电路 - Google Patents

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丘李旺
郑满鹏
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Mornsun Guangzhou Science and Technology Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种反激输入电压检测电路,包括原边回路、副边供电回路、输入电压映射保持电路和偏置分流电路,原边回路与副边供电回路连接,输入电压映射保持电路分别与副边供电回路和偏置分流电路相连接,偏置分流电路接入参考电压。本实用新型通过输入电压映射保持电路和偏置分流电路可以采集反激副边绕组,并且在原边的开关管开通期间的对电压信号进行量化,从而实现检测输入电压的效果,不需要额外增加间接检测器件,大大降低电路的复杂度,有效降低电路成本。

Description

一种反激输入电压检测电路
技术领域
本申请涉及电子电路技术领域,尤其涉及一种反激输入电压检测电路。
背景技术
在开关电源转换的拓扑当中,反激拓扑以其结构简单和成本低的优势被广泛应用在我们的电子设备当中。在反激作为辅源应用时,由于MCU在副边,而且反激拓扑在原边开关管开通的时候会映射输入电压到副边绕组;并且作为辅助电源的反激,通常原边占空比会比较小,因此辅助绕组映射输入电压到副边的时间较短,系统需要检测输入电压范围,并进行欠压或者过压保护。现在一般通过检测器件或装置进行检测,但是这样会造成电路复杂度较高,使得电路成本也较高。
实用新型内容
鉴于上述背景,本实用新型的目的是提供一种反激输入电压检测电路,不需要额外增加检测器件,实现给MCU提供原边输入电压的量化信号的效果。
为实现上述目的,本实用新型提出了以下技术方案:
本实用新型实施例提供了一种反激输入电压检测电路,包括原边回路、副边供电回路、输入电压映射保持电路和偏置分流电路,所述原边回路与所述副边供电回路连接,所述输入电压映射保持电路分别与所述副边供电回路和所述偏置分流电路相连接,所述偏置分流电路接入参考电压。
进一步地,所述原边回路包括原边绕组和开关管,所述原边绕组的第一端连接至输入电压,所述原边绕组的第二端与所述开关管的的漏极连接,所述开关管的源极与电源地连接。
进一步地,所述副边供电回路包括副边绕组、第二二极管和第三电容,所述副边绕组的第一端与所述第二二极管的阳极连接,所述第二二极管的阴极通过所述第三电容与所述副边绕组的第二端连接,所述副边绕组的第一端和所述副边绕组的第二端均与所述输入电压映射保持电路连接,所述副边绕组的第二端连接至输出地。
进一步地,所述输入电压映射保持电路包括第一二极管和第一电容,所述第一电容的第一端与所述副边供电回路连接,所述第一电容的第二端与所述第一二极管的阳极连接,所述第一二极管的阴极与所述副边供电回路连接,所述第一电容的第一端连接至输出地。
进一步地,所述偏置分流电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和第二电容,所述第三电阻的第一端连接至参考电压,所述第三电阻的第二端通过所述第二电阻连接至输出地,所述第二电容与所述第二电阻并联连接,所述第三电阻的第二端通过所述第一电阻与所述输入电压映射保持电路连接。
与现有技术相比,本实用新型具有以下有益效果:
本实用新型通过输入电压映射保持电路和偏置分流电路可以采集反激副边绕组,并且在原边的开关管开通期间的对电压信号进行量化,从而实现检测输入电压的效果,不需要额外增加间接检测器件,大大降低电路的复杂度,有效降低电路成本。
附图说明
图1为本实用新型实施例的电路原理图。
具体实施方式
下面结合给出本实用新型实施例中的附图,更清楚、完整地说明本实用新型的技术方案。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
本说明书(包括任何摘要和附图)中公开的任一特征,除非特别叙述,均可被其他等效或者具有类似目的的替代特征加以替换。即,除非特别叙述,每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。
需要说明的是,本申请的说明书和权利要求书中描述的术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列元器件或单元电路不必限于清楚地列出的那些元器件或单元电路,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些电路固有的元器件或单元电路。
参考图1,本实用新型实施例提供了一种反激输入电压检测电路,包括原边回路101、副边供电回路102、输入电压映射保持电路103和偏置分流电路104,原边回路101与副边供电回路102连接,输入电压映射保持电路103分别与副边供电回路102和偏置分流电路104相连接,偏置分流电路104接入参考电压。
在一实施例中,原边回路101包括原边绕组和开关管,原边绕组的第一端连接至输入电压,原边绕组的第二端与开关管的的漏极连接,开关管的源极与电源地连接。
在一实施例中,副边供电回路102包括副边绕组NP、第二二极管D2和第三电容C3,副边绕组NP的第一端与第二二极管D2的阳极连接,第二二极管D2的阴极通过第三电容C3与副边绕组NP的第二端连接,副边绕组NP的第一端和副边绕组NP的第二端均与输入电压映射保持电路103连接,副边绕组NP的第二端连接至输出地。
在一实施例中,输入电压映射保持电路103包括第一二极管D1和第一电容C1,第一电容C1的第一端与副边供电回路102连接,第一电容C1的第二端与第一二极管D1的阳极连接,第一二极管D1的阴极与副边供电回路102连接,第一电容C1的第一端连接至输出地。
其中,当原边回路101的开关管M1开通时,第二二极管D2的阳极为负电压,第二二极管D2反偏,且该电压的绝对值与输入电压和匝比成比例关系。该负电压经过第一二极管D1,第一电容C1形成回路,快速把输入电压等比例映射储存到第一电容C1,构成输入电压映射充电回路,第一二极管D1的阳极电位相对输出地G2为负电压。
在一实施例中,偏置分流电路104包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3和第二电容C2,第三电阻R3的第一端连接至参考电压VREF,第三电阻R3的第二端通过第二电阻R2连接至输出地G2,第二电容C2与第二电阻R2并联连接,第三电阻R3的第二端通过第一电阻R1与输入电压映射保持电路103连接。
其中,第一电阻R1的第二端为MCU的采样点VM,第二电阻R2和第二电容C2并联构成RC滤波,可以进一步滤波,使得采样点VM的信号更加平稳,利于MCU采样。
第一电阻R1的一端连接至第一二极管D1的阳极和第一电容C1的一端,在工作时第一二极管D1的阳极电位相对输出地G2为负电压。
参考电压VREF连接到第三电阻R3的一端,给第三电阻R3提供了偏置电流i3;第二电阻R2流过电流i2;第一电阻R1流过电流i1,电流i1、i2和i3满足关系i3=i1+i2,且i1>0A,以确保MCU采样点VM的电压VM>0V,否则MCU无法识别负电压,甚至导致MCU损坏。
当原边回路101的开关管M1关闭时,第二二极管D2的阳极电压为正,此时第一二极管D1反偏,此时第一电容C1继续通过第一电阻R1、第三电阻R3、参考基准源和第三电容C3形成电流释放回路。
以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的实用新型构思,并不用以限制本实用新型,对于本技术领域的普通技术人员来说,凡在不脱离本实用新型原理和思路的前提下,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种反激输入电压检测电路,其特征在于,包括原边回路、副边供电回路、输入电压映射保持电路和偏置分流电路,所述原边回路与所述副边供电回路连接,所述输入电压映射保持电路分别与所述副边供电回路和所述偏置分流电路相连接,所述偏置分流电路接入参考电压。
2.根据权利要求1所述的反激输入电压检测电路,其特征在于,所述原边回路包括原边绕组和开关管,所述原边绕组的第一端连接至输入电压,所述原边绕组的第二端与所述开关管的漏极连接,所述开关管的源极与电源地连接。
3.根据权利要求1所述的反激输入电压检测电路,其特征在于,所述副边供电回路包括副边绕组、第二二极管和第三电容,所述副边绕组的第一端与所述第二二极管的阳极连接,所述第二二极管的阴极通过所述第三电容与所述副边绕组的第二端连接,所述副边绕组的第一端和所述副边绕组的第二端均与所述输入电压映射保持电路连接,所述副边绕组的第二端连接至输出地。
4.根据权利要求1所述的反激输入电压检测电路,其特征在于,所述输入电压映射保持电路包括第一二极管和第一电容,所述第一电容的第一端与所述副边供电回路连接,所述第一电容的第二端与所述第一二极管的阳极连接,所述第一二极管的阴极与所述副边供电回路连接,所述第一电容的第一端连接至输出地。
5.根据权利要求1所述的反激输入电压检测电路,其特征在于,所述偏置分流电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和第二电容,所述第三电阻的第一端连接至参考电压,所述第三电阻的第二端通过所述第二电阻连接至输出地,所述第二电容与所述第二电阻并联连接,所述第三电阻的第二端通过所述第一电阻与所述输入电压映射保持电路连接。
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