CN220231953U - 一种插座测试器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种插座测试器，包括插头L插脚、插头N插脚和插头PE插脚；所述线序检测电包括从插头L插脚向插头N插脚单向导通的第一电流流动电路，从插头PE插脚向插头N插脚单向导通的第二电流流动电路，从插头PE插脚向插头L插脚单向导通的第三电流流动电路；检测电路，检测电路用于检测电流流动电路电压并输出控制信号；驱动电路，驱动电路响应控制信号向单片机的IO端发送使能信号；可检测插座三个插头的接线情况；不需单片机带AD口也能用于插座接线线序测量，可节约成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种插座测试器，属于电路技术领域。
背景技术
插座测试器是一种用于测量插座接线状况的便携测试仪表，方便于家庭线路的安装、检修工作。
相关技术中，在相关技术中通常使用三个光电耦合器用于测量插座接线次序，三个光电耦合器价格不菲。或者使用具有多个AD口的芯片作为主控芯片。
因此为了降低成本，使用新型测量电路用于替代其中两个光电耦合器，达到降低成本的目的。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种插座测试器，以解决上述背景技术中提出的问题。
本实用新型的技术方案如下：
一种插座测试器，包括：
三孔插脚，所述三孔插脚包括插头L插脚、插头N插脚和插头PE插脚；
单片机；
线序检测电路，所述线序检测电包括从插头L插脚向插头N插脚单向导通的第一电流流动电路，从插头PE插脚向插头N插脚单向导通的第二电流流动电路，从插头PE插脚向插头L插脚单向导通的第三电流流动电路；
第一检测电路，所述第一检测电路用于检测第一电流流动电路电压并输出控制信号；
第一驱动电路，所述第一驱动电路响应控制信号向单片机的P21 IO口发送使能信号；
第二检测电路，所述第二检测电路用于检测第二电流流动电路电压并输出控制信号；
第二驱动电路，所述第二驱动电路响应控制信号向单片机的P22 IO口发送使能信号；
第三检测电路，所述第三检测电路用于检测第三电流流动电路电压并输出控制信号；
第三驱动电路，所述第三驱动电路响应控制信号向单片机的P23 IO口发送使能信号。
优选的，所述第一电流流动电路包括从插头L插脚向插头N插脚依次首尾连接的二极管D1，电阻R1和电阻R14。
优选的，所述第一检测电路包括三极管Q1和电阻R11，所述三极管Q1的基极和发射极并联在电阻R14两端，且三极管Q1的发射极与插头N插脚连接，所述三极管Q1集电极与电阻R11一端连接。
优选的，所述第一驱动电路包括三极管Q12、电阻R12、电容C1和电阻R13，所述三极管Q12的基极与电阻R11另一端连接，所述三极管Q12的发射极连接电源，所述电阻R12、电容C1和电阻R13一端均与三极管Q12的集电极连接，所述电阻R12和电容C1另一端接地，所述电阻R13另一端与单片机的P21 IO口连接。
优选的，所述第二电流流动电路包括从插头PE插脚向插头N插脚依次首尾连接的二极管D2，电阻R2和电阻R24。
优选的，所述第二检测电路包括三极管Q2和电阻R21，所述三极管Q2的基极和发射极并联在电阻R24两端，且三极管Q2的发射极与插头N插脚连接，所述三极管Q2集电极与电阻R21一端连接。
优选的，所述第二驱动电路包括三极管Q21、电阻R22、电容C2和电阻R23，所述三极管Q21的基极与电阻R21另一端连接，所述三极管Q21的发射极连接电源，所述电阻R22、电容C2和电阻R23一端均与三极管Q21的集电极连接，所述电阻R22和电容C2另一端接地，所述电阻R23另一端与单片机的P22 IO口连接。
优选的，所述第三电流流动电路包括从插头PE插脚向插头L插脚依次首尾连接的二极管D3和电阻R3。
优选的，所述第三检测电路包括光耦U3，所述光耦U3的发射端正极、负极分别与二极管D3、电阻R3连接，所述。
优选的，所述第三驱动电路包括电容C3，所述光耦U3的接收端集电极、发射极连接在电容C3两端，所述光耦U3的接收端集电极与单片机的P23 IO口连接，所述光耦U3的接收端发射极接地。
优选的，所述插头L插脚与单片机的A1端口之间串联电阻R28，所述插头PE插脚与单片机的A2端口之间串联电阻R30，所述插头N插脚直接连接单片机COM端口，所述单片机的A1端口用于测量插头L插脚与插头N插脚之间的电压，所述单片机的A2端口用于测量插头PE插脚与插头N插脚之间的电压。
本实用新型具有如下有益效果：
本实用新型可检测插座三个插头的接线情况；不需单片机带AD口也能用于插座接线线序测量，可节约成本。
附图说明
图1为本实用新型电路示意图；
图2为本实用新型显示模组接线图；
图3为本实用新型模组显示界面的示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例来对本实用新型进行详细的说明。
实施例：如图1-3所示：
单片机的P21 IO端口、P22 IO端口、P23 IO端口用于检测插座接线，插头L插脚与插头N插脚之间连有二极管D1、电阻R1和电阻R14，三极管Q1的基极和发射极并联在电阻R14两端，三极管Q1的发射极连接插头N插脚，三极管Q1的集电极连接电阻R11，电阻R11另一端连接三极管Q12的基极，三极管Q12的发射极连接电源VDD，三极管Q12的集电极连接电阻R12、电阻R13和电容C1，电容C1和电阻R12另一端连接GND，电阻R13另一端连接单片机P21IO端口。
插头PE插脚与插头N插脚之间连有二极管D2、电阻R2和电阻R24，三极管Q2的基极和发射极并联在电阻R24两端，三极管Q2的集电极连接电阻R21，电阻R21另一端连接三极管Q21的基极，三极管Q21的发射极连接电源VDD，三极管Q21的集电极连接电阻R22、电阻R23和电容C2，电容C2和电阻R22另一端连接GND，电阻R23另一端连接单片机P22 IO端口。
插头PE插脚与插头L插脚之间连有二极管D3和电阻R3。二极管D3与光耦U3的发射端正极连接，电阻R3与光耦U3的发射端负极连接，单片机的P23IO端口与光耦U3的接收端集电极连接，光耦U3的接收端发射极接地。插头L插脚与单片机A1端口之间串联电阻R28，插头PE插脚与单片机A2端口之间串联电阻R30，插头N插脚直接连接单片机的电容COM端口，单片机A1端口用于测量插头L插脚与插头N插脚之间的电压，单片机A2端口用于测量插头PE插脚与插头N插脚之间的电压。
插座测试器连接到插座后，电流从火线进入，经过上述各个器件后，从零线流出，形成完整回路，当电阻R14两端电压高于0.7V时，三极管Q1就会导通，从而导致三极管Q2也导通，由于二极管D1作用三极管Q5、三极管Q6只能导通半周期，所以在电阻R12两端并联一个电容，用于电平保持，从而让P21端口得到一个稳定的高电平信号。
电流从火线进入，经过上述各个器件后，从地线流出，形成完整回路，当插头PE插脚与插头L插脚有交流电压差时，光耦U3就会导通，由于二极管D3作用光耦U3只能导通半周期，所以在光耦U3接收端集电极和发射极之间并联一个电容C3，用于电平保持，从而让P23端口得到一个稳定的低电平信号。
电流从地线进入，经过上述各个器件后，从零线流出，形成完整回路，由于零线与地线电压低，电阻R38两端电压是于0.7V时，三极管Q5就会不导通，从而导致三极管Q6也不导通，从而P23端口得到一个的低电平信号。
本发明还提供上述的一款自动检测插座接线的插座测试器，包括如下步骤：
S1：在正常的供电系统中，由于零线与地线的电压很小，而火线相对零线/地线电压为220V。
S2：如果插头L插脚接火线，插头N插脚接零线，插头PE插脚接地线，则单片机的P21，P22，P23状态为，高电平，低电平，低电平。
S3：如果插头L插脚接零线，插头N插脚接火线，插头PE插脚接地线，则单片机的P21，P22，P23状态为，高电平，高电平，高电平。
S4：如果插头L插脚接地线，插头N插脚接零线，插头PE插脚接火线，则单片机的P21，P22，P23状态为，低电平，高电平，低电平。
S5：如果插头L插脚接火线，插头N插脚接零线，插头PE插脚悬空，则单片机的P21，P22，P23状态为，高电平，低电平，高电平。
S6：如果插头L插脚接火线，插头N插脚悬空，插头PE插脚接地线，则单片机的P21，P22，P23状态为，低电平，低电平，低电平。
S7：如果插头L插脚悬空，插头N插脚接零线，插头PE插脚接火线，则单片机的P21，P22，P23状态为，高电平，高电平，低电平。
S8:单片机通过检测P21，P22，P23这3个IO端口电平状态来测量插座接线线序。
以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种插座测试器，其特征在于，包括：
三孔插脚，所述三孔插脚包括插头L插脚、插头N插脚和插头PE插脚；
单片机；
线序检测电路，所述线序检测电包括从插头L插脚向插头N插脚单向导通的第一电流流动电路，从插头PE插脚向插头N插脚单向导通的第二电流流动电路，从插头PE插脚向插头L插脚单向导通的第三电流流动电路；
第一检测电路，所述第一检测电路用于检测第一电流流动电路电压并输出控制信号；
第一驱动电路，所述第一驱动电路响应控制信号向单片机的P21 IO端口发送使能信号；
第二检测电路，所述第二检测电路用于检测第二电流流动电路电压并输出控制信号；
第二驱动电路，所述第二驱动电路响应控制信号向单片机的P22 IO端口发送使能信号；
第三检测电路，所述第三检测电路用于检测第三电流流动电路电压并输出控制信号；
第三驱动电路，所述第三驱动电路响应控制信号向单片机的P23 IO端口发送使能信号。
2.如权利要求1所述的一种插座测试器，其特征在于：所述第一电流流动电路包括从插头L插脚向插头N插脚依次首尾连接的二极管D1，电阻R1和电阻R14。
3.如权利要求2所述的一种插座测试器，其特征在于：所述第一检测电路包括三极管Q1和电阻R11，所述三极管Q1的基极和发射极并联在电阻R14两端，且三极管Q1的发射极与插头N插脚连接，所述三极管Q1集电极与电阻R11一端连接。
4.如权利要求3所述的一种插座测试器，其特征在于：所述第一驱动电路包括三极管Q12、电阻R12、电容C1和电阻R13，所述三极管Q12的基极与电阻R11另一端连接，所述三极管Q12的发射极连接电源，所述电阻R12、电容C1和电阻R13一端均与三极管Q12的集电极连接，所述电阻R12和电容C1另一端接地，所述电阻R13另一端与单片机的P21 IO口连接。
5.如权利要求1所述的一种插座测试器，其特征在于：所述第二电流流动电路包括从插头PE插脚向插头N插脚依次首尾连接的二极管D2，电阻R2和电阻R24。
6.如权利要求5所述的一种插座测试器，其特征在于：所述第二检测电路包括三极管Q2和电阻R21，所述三极管Q2的基极和发射极并联在电阻R24两端，且三极管Q2的发射极与插头N插脚连接，所述三极管Q2集电极与电阻R21一端连接。
7.如权利要求6所述的一种插座测试器，其特征在于：所述第二驱动电路包括三极管Q21、电阻R22、电容C2和电阻R23，所述三极管Q21的基极与电阻R21另一端连接，所述三极管Q21的发射极连接电源，所述电阻R22、电容C2和电阻R23一端均与三极管Q21的集电极连接，所述电阻R22和电容C2另一端接地，所述电阻R23另一端与单片机的P22 IO口连接。
8.如权利要求1所述的一种插座测试器，其特征在于：所述第三电流流动电路包括从插头PE插脚向插头L插脚依次首尾连接的二极管D3和电阻R3。
9.如权利要求8所述的一种插座测试器，其特征在于：所述第三检测电路包括光耦U3，所述光耦U3的发射端正极、负极分别与二极管D3、电阻R3连接，所述。
10.如权利要求9所述的一种插座测试器，其特征在于：所述第三驱动电路包括电容C3，所述光耦U3的接收端集电极、发射极连接在电容C3两端，所述光耦U3的接收端集电极与单片机的P23 IO口连接，所述光耦U3的接收端发射极接地。
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