CN220084495U - 供辅助玉米子粒穿刺强度测定的试验用具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了供辅助玉米子粒穿刺强度测定的试验用具,包括固定底座,固定底座顶端的一侧固定安装有支撑杆,固定底座顶端的另一侧固定安装有若干个承载机构,支撑杆的中部固定安装有固定板,固定板的表面开设有探针孔,若干个承载机构包括伸缩升降杆和子粒托本体,伸缩升降杆的顶端固定安装有子粒托连接弹簧杆,本实用新型可以有效固定待测玉米子粒,防止在测试期间子粒因受力而蹦离;不用本装置时,由于硬质材料台的表面光滑,玉米表面也比较光滑,二者接触面的摩擦力较小,在测试时,来自探头的力作用于子粒,由于子粒没有得到良好的固定,所以经常发生子粒从待测位置滑走的现象发生。
Description
技术领域
本实用新型涉及玉米子粒穿刺强度测定领域,具体为供辅助玉米子粒穿刺强度测定的试验用具。
背景技术
玉米是我国三大粮食作物之一,机械化粒收是玉米生产的必然趋势,目前,子粒破碎率高是限制玉米机械粒收技术推广和发展的主要障碍,除与子粒含水率有关外,子粒破碎率与子粒自身力学指标有关,研究者关注了玉米子粒的胚穿刺强度和胚乳的穿刺强度,认为玉米子粒机械直接收获的破碎率与胚的穿刺强度和胚乳的穿刺强度均呈二次函数关系,这说明,玉米子粒的胚穿刺强度和胚乳穿刺强度与玉米子粒机械直接收获的破碎率相关,也就是说,玉米子粒胚的穿刺强度和胚乳的穿刺强度是表征直接机械收获玉米子粒破碎率的重要指标。
玉米子粒形状不一,呈楔形、卵型和U型。分为硬粒型、马齿型、半马齿型、糯质型、爆裂型、粉质型和甜质型,硬粒型的子粒坚硬饱满,平滑,有光泽,马齿型子粒扁平呈方形或长方形,半马齿型子粒顶端凹陷不明显或呈乳白色的圆顶,种皮较厚,边缘较圆。糯质型子粒不透明,坚硬平滑,暗淡无光泽如蜡状;爆裂型子粒小而坚硬,粒型圆或子粒顶端突出;粉质型子粒外形与硬粒种相似,但子粒无光泽;甜质型子粒表面凹陷,种子皱缩,坚硬呈半透明状。上述玉米子粒特征可见,玉米子粒形状不规则,且不同类型的子粒差别很大。
通常,测试胚的穿刺强度和胚乳的穿刺强度时,选择茎秆强度测定仪,仪器配有横截面积为1mm2的探头对准玉米子粒的胚或胚乳部分,原则上应保证探头横截面与测试部位的测试面互相平行,即探针与子粒测试面垂直,而后将探针缓慢下落,使探头匀速穿透供试材料,读取仪器的数值,完成胚或胚乳穿刺强度的测定。
但在实际操作过程中,由于玉米子粒形状不规则,测定玉米胚或胚乳穿刺强度时,很难将供试玉米子粒进行固定,导致探头表面很难与玉米子粒测试部位的平面保持平行状态,导致测试结果不准确,或是测试中途因为子粒固定效果不佳,而使子粒滑走的现象发生。
实用新型内容
本实用新型的目的在于供辅助玉米子粒穿刺强度测定的试验用具,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:供辅助玉米子粒穿刺强度测定的试验用具,包括固定底座,所述固定底座顶端的一侧固定安装有支撑杆,所述固定底座顶端的另一侧固定安装有若干个承载机构,所述支撑杆的中部固定安装有固定板,所述固定板的表面开设有探针孔,若干个所述承载机构包括伸缩升降杆和子粒托本体,所述伸缩升降杆的顶端固定安装有子粒托连接弹簧杆,所述子粒托连接弹簧杆的顶端与子粒托本体的底端固定连接,所述伸缩升降杆包括固定壳和从动伞状斜齿,所述固定壳的内部固定安装有定位板,所述定位板顶端的中部与从动伞状斜齿的底端转动连接,子粒托本体可以紧压贴合在固定板上。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述从动伞状斜齿的内部螺纹连接有与定位板滑动连接的长度杆,所述长度杆的底端固定安装有限位板,所述固定壳内壁的一侧转动连接有主动伞状斜齿,从动伞状斜齿内壁的螺纹与长度杆内壁的螺纹相互匹配,长度杆受到定位板限位,使得长度杆沿着固定壳发生滑动,以此对伸缩升降杆的长度进行调整。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述长度杆的顶端与子粒托连接弹簧杆固定连接,所述主动伞状斜齿的中部固定安装有延伸至外界的升降旋钮,所述主动伞状斜齿的外侧与从动伞状斜齿的外侧啮合连接,玉米子粒穿刺人员使用手部转动升降旋钮,升降旋钮带动主动伞状斜齿转动,主动伞状斜齿带动从动伞状斜齿转动。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述子粒托本体为软质的毡布。
作为本实用新型的一种优选技术方案,若干个所述承载机构呈方形或者圆形排列,其中探针孔正下方一个,其余的均匀分布在探针孔的下方外侧,呈方形或者圆形排列。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述固定底座、固定板和伸缩升降杆均由不锈钢材料或者硬质塑料制成。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、借助本装置,可以保证测试点平面与探针表面平行,也就是可以保证探针可以垂直穿过待测子粒的待测部位,这样可以保证数据的科学性和准确性,茎秆强度测定仪上的测力计的探针是与底座互相垂直的,在测试被测材料时,探针通常与待测材料垂直,探针探头表面与待测材料表面平行,在不借助本装置的测试情况下,通常操作为将待测玉米子粒放在一个硬质材料台上,由于硬质材料台的上表面为一个平面,与探针垂直,所以,当子粒待测部位的另一侧接触硬质材料台,由于玉米子粒形状不规则,通常为楔形,这就无法使子粒待测面与探针垂直,探头表面与子粒待测面无法平行,如果待测部位与探针不是垂直状态,而是呈一定角度,那么探针表面与子粒的接触面就不是平行的,呈一定角度的,从而导致测量结果不够精确;
2、可以有效固定待测玉米子粒,防止在测试期间子粒因受力而蹦离;不用本装置时,由于硬质材料台的表面光滑,玉米表面也比较光滑,二者接触面的摩擦力较小,在测试时,来自探头的力作用于子粒,由于子粒没有得到良好的固定,所以经常发生子粒从待测位置滑走的现象发生;
3、供试子粒的探针测试位点下方无支撑物,这样可以保证探针测试的穿刺强度为玉米子粒待测部位的穿刺强度,在不借助本装置的测试情况下,通常操作为将待测玉米子粒放在一个硬质材料台上,这样探针向下穿透子粒的过程中,硬质材料台在拖放子粒的时候,也会对子粒产生支撑,从而使测量结果不够精确;
4、本装置的子粒托为软质材料制成,且数个子粒托均匀分布在探针孔的四周,这样的设计充分考虑了子粒形状的不规则特点,在待测子粒的不同位置有效固定子粒,使待测子粒完好贴合在固定板的正下方。
附图说明
图1为本实用新型的立体图;
图2为本实用新型承载机构的侧视图;
图3为本实用新型伸缩升降杆的结构示意图;
图4为本实用新型的使用流程图。
图中:1、固定底座;2、固定板;3、支撑杆;4、探针孔;5、承载机构;51、子粒托本体;52、子粒托连接弹簧杆;53、伸缩升降杆;531、固定壳;532、限位板;533、定位板;534、主动伞状斜齿;535、长度杆;536、从动伞状斜齿;54、升降旋钮。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4,本实用新型提供了供辅助玉米子粒穿刺强度测定的试验用具,包括固定底座1,固定底座1顶端的一侧固定安装有支撑杆3,固定底座1顶端的另一侧固定安装有若干个承载机构5,支撑杆3的中部固定安装有固定板2,固定板2的表面开设有探针孔4,若干个承载机构5包括伸缩升降杆53和子粒托本体51,伸缩升降杆53的顶端固定安装有子粒托连接弹簧杆52,子粒托连接弹簧杆52的顶端与子粒托本体51的底端固定连接,伸缩升降杆53包括固定壳531和从动伞状斜齿536,固定壳531的内部固定安装有定位板533,定位板533顶端的中部与从动伞状斜齿536的底端转动连接,子粒托本体51可以紧压贴合在固定板2上。
从动伞状斜齿536的内部螺纹连接有与定位板533滑动连接的长度杆535,长度杆535的底端固定安装有限位板532,固定壳531内壁的一侧转动连接有主动伞状斜齿534,从动伞状斜齿536内壁的螺纹与长度杆535内壁的螺纹相互匹配,长度杆535受到定位板533限位,使得长度杆535沿着固定壳531发生滑动,以此对伸缩升降杆53的长度进行调整。
长度杆535的顶端与子粒托连接弹簧杆52固定连接,主动伞状斜齿534的中部固定安装有延伸至外界的升降旋钮54,主动伞状斜齿534的外侧与从动伞状斜齿536的外侧啮合连接,玉米子粒穿刺人员使用手部转动升降旋钮54,升降旋钮54带动主动伞状斜齿534转动,主动伞状斜齿534带动从动伞状斜齿536转动。
子粒托本体51为软质的毡布。
若干个承载机构5呈方形或者圆形排列,其中探针孔4正下方一个,其余的均匀分布在探针孔4的下方外侧,呈方形或者圆形排列。
固定底座1、固定板2和伸缩升降杆53均由不锈钢材料或者硬质塑料制成。
实施例1:
本实用新型在使用时:依照试验目的,从待测玉米子粒中选择子粒完好无损,有代表性的子粒作为供试子粒,将选定的供试子粒表面擦拭干净,使子粒表面清洁干净、无异物,根据实验目的,确定测试部位和测试位点,选好测试位点后,用带有颜色的记号笔在玉米子粒待测位点上做好标记,将供试玉米子粒放于固定板2下方,将带有标记点的位置置于探针孔4的正中央,而后,调节探针孔4正下方的一个伸缩升降杆53的长度,使其子粒托本体51可以将子粒托起,且与固定板2背面紧密贴合,而后,利用伸缩升降杆53的升降旋钮54,将调整好高度的伸缩升降杆53的长度固定,依次调整呈方形或者圆形排列伸缩升降杆53的长度,使这些伸缩升降杆53的子粒托本体51将供试子粒托起,且使子粒与固定板2背面贴合紧密,将中央伸缩升降杆53的固升降旋钮54旋开,降低中央伸缩升降杆53的高度,使得中央伸缩升降杆53的子粒托本体51与供试玉米子粒分离,将本装置放于茎秆强度测定仪下方,使标记点置于探针正下方,控制茎秆强度测定仪操作杆,使茎秆强度测定仪的探针缓慢匀速穿过待测子粒,并记录数值,固定底座1、固定板2和伸缩升降杆53均由不锈钢材料制成。
实施例2:
本实用新型在使用时:依照试验目的,从待测玉米子粒中选择子粒完好无损,有代表性的子粒作为供试子粒,将选定的供试子粒表面擦拭干净,使子粒表面清洁干净、无异物,根据实验目的,确定测试部位和测试位点,选好测试位点后,用带有颜色的记号笔在玉米子粒待测位点上做好标记,将供试玉米子粒放于固定板2下方,将带有标记点的位置置于探针孔4的正中央,而后,调节探针孔4正下方的一个伸缩升降杆53的长度,使其子粒托本体51可以将子粒托起,且与固定板2背面紧密贴合,而后,利用伸缩升降杆53的升降旋钮54,将调整好高度的伸缩升降杆53的长度固定,依次调整呈方形或者圆形排列伸缩升降杆53的长度,使这些伸缩升降杆53的子粒托本体51将供试子粒托起,且使子粒与固定板2背面贴合紧密,将中央伸缩升降杆53的固升降旋钮54旋开,降低中央伸缩升降杆53的高度,使得中央伸缩升降杆53的子粒托本体51与供试玉米子粒分离,将本装置放于茎秆强度测定仪下方,使标记点置于探针正下方,控制茎秆强度测定仪操作杆,使茎秆强度测定仪的探针缓慢匀速穿过待测子粒,并记录数值,固定底座1、固定板2和伸缩升降杆53均由硬质塑料材料制成。
尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.供辅助玉米子粒穿刺强度测定的试验用具,包括固定底座(1),其特征在于:所述固定底座(1)顶端的一侧固定安装有支撑杆(3),所述固定底座(1)顶端的另一侧固定安装有若干个承载机构(5),所述支撑杆(3)的中部固定安装有固定板(2),所述固定板(2)的表面开设有探针孔(4),若干个所述承载机构(5)包括伸缩升降杆(53)和子粒托本体(51),所述伸缩升降杆(53)的顶端固定安装有子粒托连接弹簧杆(52),所述子粒托连接弹簧杆(52)的顶端与子粒托本体(51)的底端固定连接,所述伸缩升降杆(53)包括固定壳(531)和从动伞状斜齿(536),所述固定壳(531)的内部固定安装有定位板(533),所述定位板(533)顶端的中部与从动伞状斜齿(536)的底端转动连接。
2.根据权利要求1所述的供辅助玉米子粒穿刺强度测定的试验用具,其特征在于:所述从动伞状斜齿(536)的内部螺纹连接有与定位板(533)滑动连接的长度杆(535),所述长度杆(535)的底端固定安装有限位板(532),所述固定壳(531)内壁的一侧转动连接有主动伞状斜齿(534)。
3.根据权利要求2所述的供辅助玉米子粒穿刺强度测定的试验用具,其特征在于:所述长度杆(535)的顶端与子粒托连接弹簧杆(52)固定连接,所述主动伞状斜齿(534)的中部固定安装有延伸至外界的升降旋钮(54),所述主动伞状斜齿(534)的外侧与从动伞状斜齿(536)的外侧啮合连接。
4.根据权利要求1所述的供辅助玉米子粒穿刺强度测定的试验用具,其特征在于:所述子粒托本体(51)为软质的毡布。
5.根据权利要求1所述的供辅助玉米子粒穿刺强度测定的试验用具,其特征在于:若干个所述承载机构(5)呈方形或者圆形排列。
6.根据权利要求1所述的供辅助玉米子粒穿刺强度测定的试验用具,其特征在于:所述固定底座(1)、固定板(2)和伸缩升降杆(53)均由不锈钢材料或者硬质塑料制成。
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