CN220083938U - 一种用于电芯片尺寸测量的装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于电芯片尺寸测量的装置。通过本实用新型方案提供的用于电芯片尺寸测量的装置，相比于传统的测量来说，本方案的所述装置操作更加简便、而且测量过程调整也简单，通过所述装置设置的测量装置机架，以及所述测量装置机架顶端滑动设置的两个对称用于压紧检测平台的压紧结构；所述检测平台设置于所述压紧结构之间；所述测量装置机架的后侧还固定的设置有用于测量电芯片尺寸的CCD组件，可以实现智能化测量，以及测量误差小，而且还提高了测量结果的精准性。

Description

一种用于电芯片尺寸测量的装置

技术领域

本实用新型属于电芯片检测测量设备技术领域，具体涉及一种用于电芯片尺寸测量的装置。

背景技术

现目前，在电池芯片生产过程中，需要对电芯片的缺陷以及与电芯片相应的尺寸进行检测和测量，现目前，在对电芯片的尺寸测量时，通常是手动测量模式，而且测量电芯尺寸具有一定的局限性，无法满足不同宽度和厚度尺寸电芯的快速测量，而且传统的测量操作复杂、测量过程调整复杂，无法实现智能化测量，以及测量的误差较大，导致测量结果不精准。

专利2020218496341公开了一种智能芯片尺寸检测设备，虽然公开针对尺寸的一种检测，但是由于电芯片尺寸的检测不仅需要对芯片自身的长度或宽度进行测量，还需要对芯片表面的极片绿胶尺寸进行测量，传统的测量通常会出现测量不够精准。

因此，针对上述所存在的技术问题缺陷，急需设计和开发一种用于电芯片尺寸测量的装置。

实用新型内容

为克服上述现有技术存在的不足及困难，提供一种用于电芯片尺寸测量的装置；

也就是说，本实用新型目的在于提供一种用于电芯片尺寸测量的装置；

本实用新型的目的是这样实现的：所述装置包括：测量装置机架，以及所述测量装置机架顶端滑动设置的两个对称用于压紧检测平台的压紧结构；所述检测平台设置于所述压紧结构之间；所述测量装置机架的后侧还固定设置有用于测量电芯片的CCD组件，其中测量电芯片包括尺寸测量和极片绿胶尺寸测量。

进一步地，所述CCD组件包括：竖向支撑柱，以及所述竖向支撑柱顶端固定连接用于测量的横向测量箱；

所述检测平台顶端开设有工件放置槽。

进一步地，所述横向测量箱的内部固定设置有CCD拍照结构，所述横向测量箱的底端还开设有拍照通孔；

所述工件放置槽的内部固定设置有背光源板，所述拍照通孔的外侧固定设置有面光板。

进一步地，所述CCD拍照结构包括：横向杆，以及所述横向杆的一端固定连接的工业相机；

所述横向杆的另一端穿过横向测量箱与竖向支撑柱的一侧固定连接，所述横向杆位于横向测量箱的内部。

进一步地，所述竖向支撑柱的一侧还设置有压紧平台，所述压紧平台的内部开设有方形通槽，所述方形通槽位于拍照通孔的正下方。

进一步地，所述竖向支撑柱的一侧还固定设置有调节限位结构，所述调节限位结构位于所述压紧平台的下方。

进一步地，所述压紧结构的顶端固定连接有显示组件，所述显示组件包括：底座，以及和所述底座上端固定设置的显示器。

进一步地，所述测量装置机架的一侧还转动设置有至少两个机架箱门，所述机架箱门的一侧固定连接有把手。

进一步地，所述测量装置机架的底端固定设置有四个移动组件，所述移动组件包括：安装盘，以及和所述安装盘底端固定连接的支撑柱、滚轮。

本实用新型方案提供的用于电芯片尺寸测量的装置，相比于传统的测量来说，操作简便、而且测量过程调整也简单，通过所述装置设置的测量装置机架，以及所述测量装置机架顶端滑动设置的两个对称用于压紧检测平台的压紧结构；所述检测平台设置于所述压紧结构之间；所述测量装置机架的后侧还固定设置有用于测量电芯片尺寸的CCD组件，可以实现智能化测量，以及测量误差小，而且提高了测量结果的精准性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一种用于电芯片尺寸测量的装置的结构示意图；

图2为本实用新型一种用于电芯片尺寸测量的装置之图1中A处的放大结构示意图；

图3为本实用新型一种用于电芯片尺寸测量的装置之部分结构示意图；

图4为本实用新型一种用于电芯片尺寸测量的装置之图3中C处的放大结构示意图；

图5为本实用新型一种用于电芯片尺寸测量的装置之仰视结构示意图；

图6为本实用新型一种用于电芯片尺寸测量的装置之图5中B处的放大结构示意图；

图7为本实用新型一种用于电芯片尺寸测量的装置之侧视结构示意图；

图中：100-测量装置机架；101-机架箱门；102-移动组件；200-CCD测量组件；201-竖向支撑柱；201a-压紧平台；201b-调节限位结构；201c-CCD拍照结构；201c-1-横向杆；201c-2-工业相机；202-横向测量箱；202a-面光板；202b-拍照通孔；300-检测平台；301-工件放置槽；302-背光源板；400-压紧结构；500-显示组件；

本实用新型目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

为便于更好的理解本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图和具体的实施方式对本实用新型作进一步说明，本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本实用新型的其它优点与功效。

本实用新型亦可通过其它不同的具体实例加以施行或应用，本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不背离本实用新型的精神下进行各种修饰与变更。

需要说明，若本实用新型实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。其次，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时，应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

以下结合附图对本实用新型作进一步阐述。

如图1-图7所示，本实用新型提供一种用于电芯片尺寸测量的装置，所述装置包括：测量装置机架100，以及所述测量装置机架100顶端滑动设置的两个对称用于压紧检测平台300的压紧结构400；所述检测平台300设置于所述压紧结构400之间；所述测量装置机架100的后侧还固定设置有用于测量电芯片的CCD组件200，其中测量电芯片包括尺寸测量和极片绿胶测量。在本实用新型方案中，是基于CCD测量原理以及结合特定的结构实现电芯片包括尺寸测量和极片绿胶尺寸测量；其中，CCD的测量原理是：CCD的输出信号包含了CCD各个像元所接收光强度的分布和像元位置的信息，使其在物体尺寸和位置检测中显示出十分重要的应用价值，也就是CCD时通过接收物体吸收的光强度的强弱来确定物体的尺寸大小和位置信息，具体的，CCD原理也可参见现有技术以及专利CN103063159A一种基于CCD的零件尺寸测量方法，或CN104457560A基于线阵CCD的尺寸测量装置，在此处就不再赘述。

所述CCD组件200包括：竖向支撑柱201，以及所述竖向支撑柱201顶端固定连接用于测量的横向测量箱202；

所述检测平台300顶端开设有工件放置槽301。

所述横向测量箱202的内部固定设置有CCD拍照结构201c，所述横向测量箱202的底端还开设有拍照通孔202b；

所述工件放置槽301的内部固定设置有背光源板302，所述拍照通孔202b的外侧固定设置有面光板202a。

所述CCD拍照结构201c包括：横向杆201c-1，以及所述横向杆201c-1的一端固定连接的工业相机201c-2；

所述横向杆201c-1的另一端穿过横向测量箱202与竖向支撑柱201的一侧固定连接，所述横向杆201c-1位于横向测量箱202的内部。

所述竖向支撑柱201的一侧还设置有压紧平台201a，所述压紧平台201a的内部开设有方形通槽，所述方形通槽位于拍照通孔202b的正下方。

所述竖向支撑柱201的一侧还固定设置有调节限位结构201b，所述调节限位结构201b位于所述压紧平台201a的下方。

所述压紧结构400的顶端固定连接有显示组件500，所述显示组件500包括：底座，以及和所述底座上端固定设置的显示器。

所述测量装置机架100的一侧还转动设置有至少两个机架箱门101，所述机架箱门101的一侧固定连接有把手。

所述测量装置机架100的底端固定设置有四个移动组件102，所述移动组件102包括：安装盘，以及和所述安装盘底端固定连接的支撑柱、滚轮。

具体地，在本实用新型实施例中，提供一种用于对电池芯片尺寸测量的装置，所述装置包括测量装置机架100，所述测量装置机架100主要是用于支撑整个测量装置的支撑架构；具体结合附图可知，其主要是由支撑支柱固定构成。

测量装置机架100的顶端滑动设置有两个对称的压紧结构400，通过两个压紧结构400用于压紧压紧结构400之间设置的检测平台300，以免检测平台300发生平移，在所述测量装置机架100的后侧固定设置有CCD组件200，及CCD检测设备，通过CCD组件200包括有竖向支撑柱201和横向测量箱202，竖向支撑柱201的顶端固定连接有横向测量箱202，检测平台300的顶端开设有工件放置槽301，横向测量箱202的内部固定设置有CCD拍照结构201c，横向测量箱202的底端开设有拍照通孔202b，CCD拍照结构201c穿过拍照通孔202b对工件放置槽301内部的工件进行拍照。

所述CCD拍照结构201c包括有横向杆201c-1和工业相机201c-2，横向杆201c-1的一端固定设置有工业相机201c-2，横向杆201c-1的另一端穿过横向测量箱202与竖向支撑柱201的一侧固定连接，横向杆201c-1位于横向测量箱202的内部。

所述竖向支撑柱201的一侧设置有压紧平台201a，压紧平台201a的内部开设有方形通槽，方形通槽位于拍照通孔202b的正下方。所述竖向支撑柱201的一侧还固定设置有调节限位结构201b，调节限位结构201b位于压紧平台201a的下方。

工件放置槽301的内部固定设置有背光源板302，拍照通孔202b的外侧固定设置有面光板202a。较佳地，其中一个压紧结构400的顶端固定连接有显示组件500，显示组件500包括有底座和显示器，底座的上端固定设置有显示器。

测量装置机架100的一侧转动设置有两个机架箱门101，两个机架箱门101的一侧均固定连接有把手，也就是说，在测量装置机架100的支撑柱之间设置有机架箱门。

测量装置机架100的底端固定设置有四个移动组件102，移动组件102包括有支撑柱、安装盘和滚轮，安装盘的底端固定设置有支撑柱和滚轮。

本实施例中工作人员在对电池芯片进行尺寸测量或是检测时，通过上料设备，将电池芯片(包括控裸电芯和包装完成的电芯)放入到工件放置槽301内部，再通过横向测量箱202内部的工业相机201c-2，比如3D相机可以穿过下方的拍照通孔202b对电芯片进行拍照，将采集芯片锂电池极片图片数据，再通过CCD检测设备对采集后的图片数据可用于后续的处理，采用结合CCD检测设备检测，提高了对电芯片尺寸或是质量的检测准确度，较佳地，在压紧结构400上安装有显示器，通过显示器也可以显示芯片锂电池极片图片数据以及CCD检测设备的检测数据，便于工作人员随时进行查看。

此外，本实施例中压紧平台201a在竖向支撑柱201上能够通过调节结构201b进行高度的调节，同时调节限位结构201b也能限制压紧平台201a所能达到的调节高度，而背光源板302和面光板202a相配合可以为芯片进行打光，让工业相机201c-2拍摄的图片更加的清晰，这样有利于CCD检测设备后续对图片的处理，提高尺寸测量精准度，测量装置机架100底部的滚轮也可以使得测量装置电芯片尺寸测量装置移动更加的方便和快捷。

也就是说，本实用新型方案提供的用于电芯片尺寸测量的装置，相比于传统的测量来说，操作简便、而且测量过程调整也简单，通过所述装置设置的测量装置机架，以及所述测量装置机架顶端滑动设置的两个对称用于压紧检测平台的压紧结构；所述检测平台设置于所述压紧结构之间；所述测量装置机架的后侧还固定设置有用于测量电芯片尺寸的CCD组件，可以实现智能化测量，以及测量误差小，而且提高了测量结果的精准性。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (9)

1.一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述装置包括：测量装置机架(100)，以及所述测量装置机架(100)顶端滑动设置的两个对称用于压紧检测平台(300)的压紧结构(400)；所述检测平台(300)设置于所述压紧结构(400)之间；所述测量装置机架(100)的后侧还固定设置有用于测量电芯片尺寸的CCD组件(200)。

2.根据权利要求1所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述CCD组件(200)包括：竖向支撑柱(201)，以及所述竖向支撑柱(201)顶端固定连接用于测量的横向测量箱(202)；

所述检测平台(300)顶端开设有工件放置槽(301)。

3.根据权利要求2所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述横向测量箱(202)的内部固定设置有CCD拍照结构(201c)，所述横向测量箱(202)的底端还开设有拍照通孔(202b)；

所述工件放置槽(301)的内部固定设置有背光源板(302)，所述拍照通孔(202b)的外侧固定设置有面光板(202a)。

4.根据权利要求3所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述CCD拍照结构(201c)包括：横向杆(201c-1)，以及所述横向杆(201c-1)的一端固定连接的工业相机(201c-2)；

所述横向杆(201c-1)的另一端穿过横向测量箱(202)与竖向支撑柱(201)的一侧固定连接，所述横向杆(201c-1)位于横向测量箱(202)的内部。

5.根据权利要求2或4所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述竖向支撑柱(201)的一侧还设置有压紧平台(201a)，所述压紧平台(201a)的内部开设有方形通槽，所述方形通槽位于拍照通孔(202b)的正下方。

6.根据权利要求5所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述竖向支撑柱(201)的一侧还固定设置有调节限位结构(201b)，所述调节限位结构(201b)位于所述压紧平台(201a)的下方。

7.根据权利要求1所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述压紧结构(400)的顶端固定连接有显示组件(500)，所述显示组件(500)包括：底座，以及和所述底座上端固定设置的显示器。

8.根据权利要求1所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述测量装置机架(100)的一侧还转动设置有至少两个机架箱门(101)，所述机架箱门(101)的一侧固定连接有把手。

9.根据权利要求1或8所述的一种用于电芯片尺寸测量的装置，其特征在于，所述测量装置机架(100)的底端固定设置有四个移动组件(102)，所述移动组件(102)包括：安装盘，以及和所述安装盘底端固定连接的支撑柱、滚轮。