CN220063810U - 一种用于测量荧光绝对量子产率的样品池 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种用于测量荧光绝对量子产率的样品池,包括:透明的样品池本体,所述样品池本体内一体成型设置有透明隔板,所述透明隔板将样品池本体分隔成样品槽和参考板放置槽,参考板放置在参考板放置槽内,所述样品池本体的底部设置有可拆卸底盖,参考板通过可拆卸底盖封闭在所述参考板放置槽内。本用于测量荧光绝对量子产率的样品池结构简单,设计巧妙,使用方便,可以有效避免测量绝对荧光量子产率时因样品台污染导致的数据不准确。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种样品池,具体涉及一种用于测量荧光绝对量子产率的样品池。
背景技术
目前测量荧光材料的绝对量子产量时遇到一个很大的问题是样品台污染,一旦样品台被污染,在测量激发光子数时,由于污染导致的激发光子数相对于真实值偏小,或者测量结果相对于真实值偏大,甚至出现产率超过100%的不合理情况,从而导致荧光绝对量子产率的测量结果误差很大,而样品台由于污染导致的反射率降低是很难通过清洁或者打磨来恢复原状的。因此,如何克服因为样品台污染而导致的反射率降低问题,是本领域急需解决的技术问题。
实用新型内容
针对现有技术的不足,本实用新型提出了一种用于测量荧光绝对量子产率的样品池,避免了测量绝对荧光量子产率时因样品台污染导致的数据不准确。
本实用新型提供了一种用于测量荧光绝对量子产率的样品池,包括透明的样品池本体,所述样品池本体内一体成型设置有透明隔板,所述透明隔板将样品池本体分隔成样品槽和参考板放置槽,参考板放置在参考板放置槽内,所述样品池本体的底部设置有可拆卸底盖,参考板通过可拆卸底盖封闭在所述参考板放置槽内。
在上述技术方案中,实际操作时,只需将需要进行测量的样品放入至样品池本体的样品槽内,实际测量时,即便样品台出现了污染,在测量激发光光子数时,激发光穿过样品槽内的样品照射在没有污染的样品池的参考板上(参考板不透光,会使得激发光无法直接照射在被污染的样品台上),从而保证测量得到的激发光子数准确。由于参考板是被封装在样品池本体底部的参考板放置槽内密封的,参考板不会与外界接触,从而避免被污染,从而可以有效解决样品台被污染导致的测量误差。通过在样品池本体的底部设置可拆卸底盖,既方便了参考板的安装也方便了参考板的更换。
优选的,所述样品池本体为圆形的透明石英筒或者玻璃筒,圆形样品池本体的壁厚为0.1mm至3mm,圆形样品槽的内径为5mm至30mm,圆形样品槽的深度是5mm至50mm,圆形参考板放置槽的深度为1mm至20mm。
优选的,所述参考板为圆柱形的白色塑料板。参考板的材料包括特氟龙,改性特氟龙,和硫酸钡粉末,材料表面具有朗伯分布特性。
优选的,圆柱形白色塑料板的直径为5mm至30mm,高度为0.5mm至20mm。
优选的,所述样品池本体为方形的透明石英筒或者玻璃筒,方形样品池本体的壁厚为0.1mm至3mm,方形样品槽的边长为5mm至30mm,方形样品槽的深度是5mm至50mm,方形参考板放置槽的深度为1mm至20mm。
优选的,所述参考板为四棱柱形的白色塑料板。
优选的,四棱柱形的白色塑料板的边长为5mm至30mm,高度为0.5mm至20mm。
本实用新型提供的一种用于测量荧光绝对量子产率的样品池的有益效果在于:本用于测量荧光绝对量子产率的样品池结构简单,设计巧妙,使用方便,可以有效避免测量绝对荧光量子产率时因样品台污染导致的数据不准确。实际测量时,即便样品台出现了污染,在测量激发光光子数时,激发光穿过样品槽内的样品照射在没有污染的样品池的参考板上(参考板不透光,会使得激发光无法直接照射在被污染的样品台上),从而保证测量得到的激发光子数准确。由于参考板是被封装在样品池本体底部的参考板放置槽内密封的,参考板不会与外界接触,从而避免被污染,从而可以有效解决样品台被污染导致的测量误差。通过在样品池本体的底部设置可拆卸底盖,既方便了参考板的安装也方便了参考板的更换。
附图说明
图1是本实用新型中实施例1的立体结构示意图。
图2是本实用新型中实施例1的立体结构爆炸示意图。
图3是本实用新型中实施例2的立体结构示意图。
图4是本实用新型中实施例2的立体结构爆炸示意图。
图中:1、样品池本体;11、样品槽;12、参考板放置槽;2、透明隔板;3、参考板;4、可拆卸底盖。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。本领域普通人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,均属于本实用新型的保护范围。
实施例1:一种用于测量荧光绝对量子产率的样品池。
参照图1至图2所示,一种用于测量荧光绝对量子产率的样品池,包括:透明的样品池本体1,所述样品池本体1内一体成型设置有透明隔板2,所述透明隔板2将样品池本体1分隔成样品槽11和参考板放置槽12,所述样品池本体1为圆形的透明石英筒,圆形样品池本体1的壁厚为2mm,圆形样品槽11的内径为10mm,圆形样品槽的深度是30mm,圆形参考板放置槽12的深度为5mm。参考板3放置在参考板放置槽12内,所述参考板3为圆柱形的白色特氟龙塑料板,材料表面具有朗伯分布特性,圆柱形的白色特氟龙塑料板的直径为9.5mm,高度为4.5mm,方便参考板3放置在参考板放置槽12内,参考板3的作用是增强激发光的反射效果,防止激发光因为贯穿样品池本体1后照射到受污染的样品台后,导致激发光的反射效果出现偏差,进而影响测量绝对荧光量子产率时数据的准确性。所述样品池本体1的底部设置有可拆卸底盖4,参考板3通过可拆卸底盖4封闭在所述参考板放置槽12内。通过在样品池本体1的底部设置可拆卸底盖4,既方便了参考板3的安装也方便了参考板3的更换。
本用于测量荧光绝对量子产率的样品池结构简单,设计巧妙,使用方便,可以有效避免测量绝对荧光量子产率时因样品台污染导致的数据不准确。实际测量时,即便样品台出现了污染,在测量激发光光子数时,激发光穿过样品槽11内的样品照射在没有污染的样品池的参考板3上(由于参考板3不透光,会使得激发光无法直接照射在被污染的样品台上),通过没有污染的参考板3的反射,可以保证测量得到的激发光子数准确。由于参考板是被封装在样品池本体1底部的参考板放置槽12内密封的,参考板3不会与外界接触,从而避免被污染,从而可以有效解决样品台被污染导致的测量误差,避免了测量绝对荧光量子产率时因样品台污染导致的数据不准确。
实施例2:一种用于测量荧光绝对量子产率的样品池。
参照图3至图4所示,一种用于测量荧光绝对量子产率的样品池,包括:透明的样品池本体1,所述样品池本体1内一体成型设置有透明隔板2,所述透明隔板2将样品池本体1分隔成样品槽11和参考板放置槽12,所述样品池本体1为方形的透明玻璃筒,方形样品池本体1的壁厚为1mm,方形样品槽的边长为15mm,方形样品槽11的深度是40mm,方形参考板放置槽12的深度为6mm。参考板3放置在参考板放置槽12内,所述参考板3为四棱柱形的白色改性特氟龙塑料板,四棱柱形的白色改性特氟龙塑料板的边长为14mm,高度为5mm,方便参考板3放置在参考板放置槽12内,参考板3的作用是增强激发光的反射效果,防止激发光因为贯穿样品池本体1后照射到受污染的样品台后,导致激发光的反射效果出现偏差,进而影响测量绝对荧光量子产率时数据的准确性。所述样品池本体1的底部设置有可拆卸底盖4,参考板3通过可拆卸底盖4封闭在所述参考板放置槽12内。通过在样品池本体1的底部设置可拆卸底盖4,既方便了参考板3的安装也方便了参考板3的更换。
本用于测量荧光绝对量子产率的样品池结构简单,设计巧妙,使用方便,可以有效避免测量绝对荧光量子产率时因样品台污染导致的数据不准确。实际测量时,即便样品台出现了污染,在测量激发光光子数时,激发光穿过样品槽11内的样品照射在没有污染的样品池的参考板3上(由于参考板3不透光,会使得激发光无法直接照射在被污染的样品台上),通过没有污染的参考板3的反射,可以保证测量得到的激发光子数准确。由于参考板是被封装在样品池本体1底部的参考板放置槽12内密封的,参考板3不会与外界接触,从而避免被污染,从而可以有效解决样品台被污染导致的测量误差,避免了测量绝对荧光量子产率时因样品台污染导致的数据不准确。
以上所述为本实用新型的较佳实施例而已,但本实用新型不应局限于该实施例和附图所公开的内容,所以凡是不脱离本实用新型所公开的精神下完成的等效或修改,都落入本实用新型保护的范围。
Claims (7)
1.一种用于测量荧光绝对量子产率的样品池,包括透明的样品池本体,其特征在于:所述样品池本体内一体成型设置有透明隔板,所述透明隔板将样品池本体分隔成样品槽和参考板放置槽,参考板放置在参考板放置槽内,所述样品池本体的底部设置有可拆卸底盖,参考板通过可拆卸底盖封闭在所述参考板放置槽内。
2.如权利要求1所述的用于测量荧光绝对量子产率的样品池,其特征在于:所述样品池本体为圆形的透明石英筒或者玻璃筒,圆形样品池本体的壁厚为0.1mm至3mm,圆形样品槽的内径为5mm至30mm,圆形样品槽的深度是5mm至50mm,圆形参考板放置槽的深度为1mm至20mm。
3.如权利要求2所述的用于测量荧光绝对量子产率的样品池,其特征在于:所述参考板为圆柱形的白色塑料板。
4.如权利要求3所述的用于测量荧光绝对量子产率的样品池,其特征在于:圆柱形白色塑料板的直径为5mm至30mm,高度为0.5mm至20mm。
5.如权利要求1所述的用于测量荧光绝对量子产率的样品池,其特征在于:所述样品池本体为方形的透明石英筒或者玻璃筒,方形样品池本体的壁厚为0.1mm至3mm,方形样品槽的边长为5mm至30mm,方形样品槽的深度是5mm至50mm,方形参考板放置槽的深度为1mm至20mm。
6.如权利要求5所述的用于测量荧光绝对量子产率的样品池,其特征在于:所述参考板为四棱柱形的白色塑料板。
7.如权利要求6所述的用于测量荧光绝对量子产率的样品池,其特征在于:四棱柱形的白色塑料板的边长为5mm至30mm,高度为0.5mm至20mm。
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