CN219915830U - 一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪，涉及测量仪器技术领域，包括：波形检测单元和晶体管测试仪本体；波形检测单元包括:耦合电路、一次衰减电路、二次衰减电路和偏置放大电路；耦合电路与一次衰减电路连接，用于对输入信号进行耦合，得到耦合信号；一次衰减电路与二次衰减电路连接，用于缩小耦合信号的幅值，得到一次衰减信号；二次衰减电路与偏置放大电路连接，用于缩小耦合信号的幅值，得到二次衰减信号；偏置放大电路与晶体管检测仪本体连接，用于对二次衰减信号进行偏置放大，得到输出信号；晶体管测试仪本体用于接收并显示输出信号。本实用新型的晶体管测试仪具有示波器功能，功能齐全。

Description

一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪

技术领域

本实用新型涉及测量仪器技术领域，特别是涉及一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪。

背景技术

随着时代的发展变化，电子设备成了家家户户必不可少的产品，与此同时，晶体管的种类也变得多种多样，不同元器件的封装甚至毫无二致，很难直接分辨。晶体管测试仪作用是检测常用晶体管类型和参数，人们可以利用晶体管测试仪轻松分辨不同的元器件和其相关参数。

示波器是一种用途十分广泛的电子测量仪器，它能把肉眼看不见的电信号变换成看得见的图像，便于人们研究各种电现象的变化过程，利用示波器能观察各种不同信号幅度随时间变化的波形曲线，还可以用它测试各种不同的电量，如电压、电流、频率、相位差和调幅度等等。现有的示波器体积较大，携带不方便，应用范围小。

现有的晶体管测量仪功能较为单一，仅能对晶体管进行检测和测量，不具备示波功能。例如皮小虾T7X晶体管测试仪，可以实现对晶体管进行检测和参数确定，但其不具有示波功能，无法实现对外部波形信号的显示。

因此，市场上亟需一种功能全面，可接入并显示外部波形信号同时具备晶体管检测功能且结构小巧的多功能晶体管测试仪。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪，可检测并显示外部波形信号同时具备晶体管检测功能。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下方案：

一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪，包括：

波形检测单元和晶体管测试仪本体；

所述波形检测单元，包括:耦合电路、一次衰减电路、二次衰减电路和偏置放大电路；

所述耦合电路与所述一次衰减电路连接，所述耦合电路用于对输入信号进行耦合，得到耦合信号；

所述一次衰减电路与所述二次衰减电路连接，所述一次衰减电路用于缩小所述耦合信号的幅值，得到一次衰减信号；

所述二次衰减电路与所述偏置放大电路连接，所述二次衰减电路用于缩小所述耦合信号的幅值，得到二次衰减信号；

所述偏置放大电路与所述晶体管检测仪本体连接，所述偏置放大电路用于对所述二次衰减信号进行偏置放大，得到输出信号；

所述晶体管测试仪本体用于接收并显示所述输出信号。

可选的，所述耦合电路具体包括：

固态继电器光耦、电容C4和电阻R25；

所述固态继电器光耦的第一输入端与所述电阻R25一端连接，所述电阻R25另一端用于输入第一控制信号，所述固态继电器光耦的第二输入端接地，所述固态继电器光耦的第一输出端与所述电容C4一端均与信号输入端口连接，所述固态继电器光耦的第二输出端和所述电容C4另一端均与所述一次衰减电路连接。

可选的，所述一次衰减电路具体包括：电阻R5、电阻R8、电阻R10、电阻R17、电阻R26、电容C2、电容C5、电容C9、电容CT1、信号继电器和三极管；

所述电容C5的一端与所述耦合电路连接，所述电容C5的另一端与所述电容CT1的一端连接，所述电容CT1的另一端与所述电容C9的一端连接，所述电容C9的另一端接地；

所述电阻R10的一端与所述耦合电路连接，所述电阻R10的另一端与所述电阻R17的一端连接，所述电阻R17的另一端和所述电阻R26的一端均与信号继电器的第一输入端连接，所述电阻R26的另一端接地；

所述电容C2的一端和所述电阻R5的一端均与所述耦合电路连接，所述电容C2的另一端和所述电阻R5的另一端均与所述信号继电器的第二输入端连接；

所述信号继电器的第三输入端与5V_MM电源连接，所述信号继电器的第四输入端与所述三极管的集电极连接，所述信号继电器的输出端与所述二次衰减电路连接，所述三极管的基极与所述电阻R8的一端连接，所述三极管的发射极接地，所述电阻R8的另一端用于连接第二控制信号。

可选的，所述耦合电路还包括：双串联开关二极管；

所述双串联开关二极管的第三端口、信号继电器的第五输入端均与所述二次衰减电路的放大器U1B的正向输入端连接，所述双串联开关二极管的第一端口与-5V电源连接，所述双串联开关二极管的第二端口与5V_CH电源连接。

可选的，所述二次衰减电路具体包括：

放大器U1B、电阻R32、电阻R30、电阻R9、电阻R12、电阻R18、电阻R23、电阻R19、电阻R27、电阻R29和模拟开关；

所述放大器U1B的正向输入端与所述一次衰减电路连接；

所述放大器U1B的负向输入端和所述电阻R32的一端均与所述电阻R30的一端连接；

所述放大器U1B的输出端、所述电阻R30的另一端和所述电阻R9的一端均与所述模拟开关的第一输入端连接；

所述电阻R32的另一端接地；

所述模拟开关的第二输入端和所述电阻R9的另一端均与所述电阻R12的一端连接；

所述模拟开关的第三输入端和电阻R12的另一端均与所述电阻R18的一端连接；

所述模拟开关的第四输入端和电阻R18的另一端均与所述电阻R23的一端连接；

所述电阻R23的另一端与所述电阻R19的一端连接；

所述模拟开关的第五输入端和电阻R19的另一端均与所述电阻R27的一端连接；

所述模拟开关的第六输入端和电阻R27的另一端均与所述电阻R29的一端连接；

所述电阻R29的另一端接地；

所述模拟开关的第七输入端接地；

所述模拟开关的输出端与偏置放大电路连接；

所述模拟开关的第一控制信号输入端用于连接第三控制信号；

所述模拟开关的第一控制信号输入端用于连接第四控制信号；

所述模拟开关的第一控制信号输入端用于连接第五控制信号；

所述模拟开关的第一电源输入端与5V_CH电源连接；

所述模拟开关的第一接地端接地；

所述模拟开关的第二电源输入端与-5V电源连接；

所述模拟开关的第二接地端接地。

可选的，所述偏置放大电路具体包括：

放大器U1C、放大器U1D、电阻R7、电阻R11、电阻R13、电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R20、电阻R21、电阻R22、电阻R24、电容C6、电容C8、电容C10、电容C11和电容C12；

所述放大器U1C的正向输入端与二次衰减电路连接，所述放大器U1C的负向输入端、所述电阻R15的一端和所述电阻R16的一端均与所述电阻R21的一端连接，所述放大器U1C的输出端和所述电阻R16的另一端均与电阻R7的一端连接；所述电阻R21的另一端接地；所述电阻R7的另一端、所述电阻R11的一端和所述电容C6的一端均与所述输出信号连接，所述电阻R11的另一端接地，所述电容C6的另一端接地；

所述电阻R15的另一端、所述电容C10的一端、所述电容C11的一端、所述电容C12的一端和所述电阻R24的一端均与所述放大器U1D的输出端连接，所述电容C10的另一端接地，所述电容C11的另一端接地，所述电容C12的另一端接地；所述电阻R24的另一端和所述电阻R20的一端均与所述放大器的负向输入端连接，所述电阻R20的另一端、所述电容C8的一端和所述电阻R22的一端均与所述电阻R14的一端连接，所述电容C8的另一端接地，所述电阻R22的另一端接地，所述电阻R14的另一端与3.3V电源连接；

所述放大器U1D的正向输入端与所述电阻R13的一端连接，所述电阻R13的另一端接地。

根据本实用新型提供的具体实施例，本实用新型公开了以下技术效果：

本实用新型的晶体管测试仪具有示波器功能，可检测并显示外部波形信号。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型波形检测单元电路图；

图2为本实用新型一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪的电路原理框图。

符号说明：

电源模块-1，红外接收模块-2，晶体管检测模块-3，PWM输出模块-4，波形检测单元-5，数字显示模块-6，MCU控制模块-7，按键模块-8，USB输入接口-11，电池-12，DC-DC升压电路-13，LDO稳压电路-14，晶体检测电路-31，测试插槽-32,耦合电路-51，一次衰减电路-52，二次衰减电路-53，偏置放大电路-54，可编制芯片-71，无源晶振-72，复位电路-73。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型的目的是提供一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪，通过波形检测单元检测波形信息并显示到晶体管测试仪本体上。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

如图1所示，本实用新型是通过将所述输入信号经过耦合、衰减和偏置放大后，得到输出信号，并所述输出信号显示到晶体管测试仪本体上。

波形检测单元和晶体管测试仪本体；

所述波形检测单元，包括:耦合电路、一次衰减电路、二次衰减电路和偏置放大电路；

所述耦合电路与所述一次衰减电路连接，所述耦合电路用于对输入信号进行耦合，得到耦合信号；

所述一次衰减电路与所述二次衰减电路连接，所述一次衰减电路用于缩小所述耦合信号的幅值，得到一次衰减信号；

所述二次衰减电路与所述偏置放大电路连接，所述二次衰减电路用于缩小所述耦合信号的幅值，得到二次衰减信号；

所述偏置放大电路与所述晶体管检测仪本体连接，所述偏置放大电路用于对所述二次衰减信号进行偏置放大，得到输出信号；

所述晶体管测试仪本体用于接收并显示所述输出信号。

所述耦合电路包括：固态继电器光耦(型号为KAQY214S_KAQY)、电容C4和电阻R25；所述固态继电器光耦的第一输入端与所述电阻R25一端连接，所述电阻R25另一端用于输入第一控制信号CH1-AC/DC，所述固态继电器光耦的第二输入端接地(即模拟地SGND)，所述固态继电器光耦的第一输出端与所述电容C4一端均与信号输入端口连接，所述固态继电器光耦的第二输出端和所述电容C4另一端均与所述一次衰减电路连接。首先手动输入所述第一控制信号CH1-AC/DC控制所述固态继电器光耦的导通与关断，当所述固态继电器光耦关断时，则为交流耦合，信号通过电容C4流向一次衰减电路；当所述固态继电器光耦导通时，此时光耦会短路电容，信号直接通过光耦流向一次衰减电路，此时为直流耦合。

所述一次衰减电路具体包括：电阻R5、电阻R8、电阻R10、电阻R17、电阻R26、电容C2、电容C5、电容C9、电容CT1、信号继电器(型号为G6K-2F-Y)和三极管(型号为SS8050)。

所述电容C5的一端与所述耦合电路连接，所述电容C5的另一端与所述电容CT1的一端连接，所述电容CT1的另一端与所述电容C9的一端连接，所述电容C9的另一端接地(即模拟地SGND)。

所述电阻R10的一端与所述耦合电路连接，所述电阻R10的另一端与所述电阻R17的一端连接，所述电阻R17的另一端和所述电阻R26的一端均与信号继电器的第一输入端连接，所述电阻R26的另一端接地(即模拟地SGND)。

所述电容C2的一端和所述电阻R5的一端均与所述耦合电路连接，所述电容C2的另一端和所述电阻R5的另一端均与所述信号继电器的第二输入端连接。

所述信号继电器的第三输入端与5V_MM电源连接，所述信号继电器的第四输入端与所述三极管的集电极连接，所述信号继电器的输出端与所述二次衰减电路连接，所述三极管的基极与所述电阻R8的一端连接，所述三极管的发射极接地(即数字地GND)，所述电阻R8的另一端用于连接第二控制信号CH1-ATT，所述双串联开关二极管的第三端口、信号继电器的第五输入端均与所述二次衰减电路的放大器U1B(型号为TL084)的正向输入端连接，所述双串联开关二极管的第一端口与-5V电源连接，所述双串联开关二极管的第二端口与5V_CH电源连接。

所述一次衰减电路的作用是为了缩小所述耦合信号的幅值，首先手动输入所述第二控制信号CH1-ATT，控制所述信号继电器选择是否衰减，当耦合信号的范围在±2伏范围内时不进行衰减，直接输出所述第一衰减信号，当信号超过±2伏时把耦合信号衰减50倍输出所述第一衰减信号。

所述二次衰减电路具体包括：

放大器U1B、电阻R32、电阻R30、电阻R9、电阻R12、电阻R18、电阻R23、电阻R19、电阻R27、电阻R29和模拟开关(型号为CD4051BM96)。

所述放大器U1B的正向输入端与所述一次衰减电路连接。

所述放大器U1B的负向输入端和所述电阻R32的一端均与所述电阻R30的一端连接。

所述放大器U1B的输出端、所述电阻R30的另一端和所述电阻R9的一端均与所述模拟开关的第一输入端连接。

所述电阻R32的另一端接地(即模拟地SGND)。

所述模拟开关的第二输入端和所述电阻R9的另一端均与所述电阻R12的一端连接。

所述模拟开关的第三输入端和电阻R12的另一端均与所述电阻R18的一端连接。

所述模拟开关的第四输入端和电阻R18的另一端均与所述电阻R23的一端连接。

所述电阻R23的另一端与所述电阻R19的一端连接。

所述模拟开关的第五输入端和电阻R19的另一端均与所述电阻R27的一端连接。

所述模拟开关的第六输入端和电阻R27的另一端均与所述电阻R29的一端连接。

所述电阻R29的另一端接地(即模拟地SGND)。

所述模拟开关的第七输入端接地(即模拟地SGND)。

所述模拟开关的第一输入端对应Y0端。

所述模拟开关的第二输入端对应Y1端。

所述模拟开关的第三输入端对应Y2端。

所述模拟开关的第四输入端对应Y3端。

所述模拟开关的第五输入端对应Y4端。

所述模拟开关的第六输入端对应Y5端。

所述模拟开关的第七输入端对应Y6端。

所述模拟开关的Z端与偏置放大电路连接。

所述模拟开关的S0端用于连接第三控制信号74HC-S0。

所述模拟开关的S1端用于连接第四控制信号74HC-S1。

所述模拟开关的S2端用于连接第五控制信号74HC-S2。

所述模拟开关的VCC端与5V_CH电源连接。

所述模拟开关的E端接地(即模拟地SGND)。

所述模拟开关的VEE端与-5V电源连接。

所述模拟开关的GND端接地(即模拟地SGND)。

所述模拟开关的第一输入端对应Y0引脚。

所述模拟开关的第二输入端对应Y1引脚。

所述模拟开关的第三输入端对应Y2引脚。

所述模拟开关的第四输入端对应Y3引脚。

所述模拟开关的第五输入端对应Y4引脚。

所述模拟开关的第六输入端对应Y5引脚。

所述模拟开关的第七输入端对应Y6引脚。

所述模拟开关的输出端对应Z引脚。

所述模拟开关的第一控制信号输入端对应S0引脚。

所述模拟开关的第一控制信号输入端对应S1引脚。

所述模拟开关的第一控制信号输入端对应S2引脚。

所述模拟开关的第一电源输入端对应VCC引脚。

所述模拟开关的第一接地端对应E引脚。

所述模拟开关的第二电源输入端对应VEE引脚。

所述模拟开关的第二接地端对应GND引脚。

所述二次衰减电路是对所述依次衰减信号的进一步衰减，增大可控的衰减等级，由于是一次衰减单路只有两档(衰减和不衰减)，如果衰减的跨度太大，会造成测量精度变差。首先经过手动输入所述第三控制信号74HC-S0、所述第四控制信号74HC-S1和所述第五控制信号74HC-S2，三个控制信号组成为三位二进制代码，用于控制所述模拟开关的第一输入端、所述模拟开关的第二输入端、所述模拟开关的第三输入端、所述模拟开关的第四输入端、所述模拟开关的第五输入端、所述模拟开关的第六输入端、所述模拟开关的第七输入端的通断，进而调节不同的衰减等级，所述第一衰减信号经二次衰减后，输出第二衰减信号。

所述偏置放大电路具体包括：

放大器U1C(型号为TL084)、放大器U1D(型号为TL084)、电阻R7、电阻R11、电阻R13、电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R20、电阻R21、电阻R22、电阻R24、电容C6、电容C8、电容C10、电容C11和电容C12。

所述放大器U1C的正向输入端与二次衰减电路连接，所述放大器U1C的负向输入端、所述电阻R15的一端和所述电阻R16的一端均与所述电阻R21的一端连接，所述放大器U1C的输出端和所述电阻R16的另一端均与电阻R7的一端连接；所述电阻R21的另一端接地(即模拟地SGND)；所述电阻R7的另一端、所述电阻R11的一端和所述电容C6的一端均与所述输出信号连接，所述电阻R11的另一端接地(即模拟地SGND)，所述电容C6的另一端接地(即模拟地SGND)。

所述电阻R15的另一端、所述电容C10的一端、所述电容C11的一端、所述电容C12的一端和所述电阻R24的一端均与所述放大器U1D的输出端连接，所述电容C10的另一端接地(即模拟地SGND)，所述电容C11的另一端接地(即模拟地SGND)，所述电容C12的另一端接地(即模拟地SGND)；所述电阻R24的另一端和所述电阻R20的一端均与所述放大器的负向输入端连接，所述电阻R20的另一端、所述电容C8的一端和所述电阻R22的一端均与所述电阻R14的一端连接，所述电容C8的另一端接地(即模拟地SGND)，所述电阻R22的另一端接地(即模拟地SGND)，所述电阻R14的另一端与3.3V电源连接。

所述放大器U1D的正向输入端与所述电阻R13的一端连接，所述电阻R13的另一端接地(即模拟地SGND)。

所述偏置放大电路有2个作用，一个是把输入信号提升到所述晶体管测试仪本体可接受的范围，二是对信号进行固定放大倍数的放大，和所述二次衰减电路配合，放大所述第二衰减信号，使所述第二衰减信号尽量达到所述晶体管测试仪本体允许输入的满量程，此时测量精度最高。所述二次衰减信号经过所述放大器U1D和所述放大器U1C组合放大后得到输出信号。

所述晶体管测试仪本体接收到所述输出信号后并进行显示。

所述晶体管测试仪本体除了可以示波外，还可以自动检测和测量诸如电阻、电容、电感、二极管、三极管、场效应管等常用晶体管和交直流信号的类型和参数，并且具备红外解码、PWM输出、电压输入检测功能。

如图2所示，主电路包括：所述USB输入接口11、所述电池12、所述DC-DC升压电路13、所述LDO稳压电路14、所述MCU控制模块7、所述红外接收模块2、所述数字显示模块6、所述晶体管检测模块3、所述PWM输出模块4、所述波形检测单元5、所述按键模块8。

所述电源模块1负责为整个系统的供电，外部电源通过所述USB输入接口11，通入系统中，先经过所述电池12，为所述电池12充电，存储电能，由于当前电压较低，当前输入的3.7V电压需要经过所述DC-DC升压电路13进行升压，升压后再经所述LDO稳压电路14稳压，所述LDO稳压电路14采用最大输入电压12V，输出5V的宽输入固定输出电压的LDO，为系统提供稳定的工作电压，以确保测量晶体管的精准度。此外，USB输入接口11所述MCU控制模块7相连接，两者通过USB通讯协议进行通讯，用于产品固件升级。

所述红外接收模块2，其采用单总线的方式与所述MCU控制模块7通讯，当接收到红外信号后，把每一个高低电平的时间长度都记录下来并传递给所述MCU控制模块7，所述MCU控制模块7通过红外光高低电平的时间长度进行解码，并将解码信息显示到所述数字显示模块6上。

所述晶体管检测模块3在工作时要先假设被测晶体管是某个器件，将被测晶体管的引脚插入测试插槽32中通过晶体管检测电路31测试。晶体管测试过程如下，首先假设元器件是某个器件，通过设置不同引脚的排列组合，使元器件处于导通或者截止状态，没有接入的悬空脚位则是输出和输入相等，然后读取器件导通状态的值如场效应管导通漏极电压≈源极电压，如果值成立，则假设成立，否则假设不成立，进入下一个假设，直到条件成立来确定是电阻、电容、电感、二极管、三极管、场效应管中的哪个元器件，在通过计算该元器件的参数。以下以电阻、电容、电感、二极管这4个器件再次说明：

测量电阻，由分压电路施加直流信号后，由ADC直接采样，则可以根据电路上的已知电阻通过分压比来计算出电阻的阻值。

测量电容，施加直流信号后，电流经过已知电阻(680Ω或者470KΩ),电容的电压会逐步升高，单片机启动定时器开始测量充电时间，单片机对电容两端的电压进行实时测量，当达到设定电压(2/3VCC)时,读取定时器的即使时间，此时间则为电容的充电时间，容量越大充电时间越长，通过测试已知容量的电容则可以知道标准电容的充电时间，这些标准时间放到单片机内部，用实际测量时间跟标准时间进行对比，就可以计算出电容的容量。

测量电感，施加直流信号后，电流经过已知电阻(680Ω或者470KΩ),电压信号逐步升高，单片机启动定时器开始测量充电时间，单片机对电感两端的电压进行实时测量，当达到设定电压(2/3VCC)时,读取定时器的即使时间，此时间则为电感的充电时间，感量越大充电时间越长，通过测试已知容量的电感则可以知道标准电感的充电时间，这些标准时间放到单片机内部，用实际测量时间跟标准时间进行对比，就可以计算出电感的感量。

测量二极管，先给二极管通过电阻施加正向电压，然后测量二极管两端的电压，此电压就是二极管的正向压降；然后给二极管通过电压施加反向电压，然后测量二极管两端的电压，如果此电压为VCC，说明二极管没有导通，符合二极管的单向导电性。在施加反向电压的时候，也测量流过串联电阻的电流，此电流为二极管的反向漏电流。

晶体管的种类和参数信息经所述MCU控制模块7处理并通过所述数字显示模块6显示出来。

其他晶体管的检测和测量方式与之类似。

所述PWM输出模块4通过所述MCU控制模块7的定时器输出频率、占空比可改变的PWM信号，通过增强其带载能力，生成正弦波、三角波、斜波，将所述可编制芯片71内部的波表数据模拟波形再由运放作为缓冲，增强信号的驱动能力，将输入电压的振幅转换成脉冲信号。

所述数字显示模块6与所述MCU控制模块7采用SPI通讯协议通讯，所述MCU控制模块7用于显示所述晶体管类型、参数信息和所述波形信息以及人机交互。

所述MCU控制模块7用于处理和传输整个电路的输入输出信号；其中所述可编制芯片71负责处理指令、执行操作、控制时间、处理数据；所述无源晶振72，可以产生震荡，生成时钟信号，为整个电路提供时钟信息；所述复位电路73，用于系统复位。

所述按键模块8可以结合所述数字显示模块6对晶体管测试仪发出启动、关闭、菜单选择、确认、暂停等命令，对晶体管测试仪进行相关设置和调整。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (6)

1.一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪，其特征在于，包括：

波形检测单元和晶体管测试仪本体；

所述波形检测单元，包括:耦合电路、一次衰减电路、二次衰减电路和偏置放大电路；

所述耦合电路与所述一次衰减电路连接，所述耦合电路用于对输入信号进行耦合，得到耦合信号；

所述一次衰减电路与所述二次衰减电路连接，所述一次衰减电路用于缩小所述耦合信号的幅值，得到一次衰减信号；

所述二次衰减电路与所述偏置放大电路连接，所述二次衰减电路用于缩小所述耦合信号的幅值，得到二次衰减信号；

所述偏置放大电路与所述晶体管检测仪本体连接，所述偏置放大电路用于对所述二次衰减信号进行偏置放大，得到输出信号；

所述晶体管测试仪本体用于接收并显示所述输出信号。

2.根据权利要求1所述的一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪，其特征在于，所述耦合电路具体包括：

固态继电器光耦、电容C4和电阻R25；

所述固态继电器光耦的第一输入端与所述电阻R25一端连接，所述电阻R25另一端用于输入第一控制信号，所述固态继电器光耦的第二输入端接地，所述固态继电器光耦的第一输出端与所述电容C4一端均与信号输入端口连接，所述固态继电器光耦的第二输出端和所述电容C4另一端均与所述一次衰减电路连接。

3.根据权利要求1所述的一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪，其特征在于，所述一次衰减电路具体包括：电阻R5、电阻R8、电阻R10、电阻R17、电阻R26、电容C2、电容C5、电容C9、电容CT1、信号继电器和三极管；

所述电容C5的一端与所述耦合电路连接，所述电容C5的另一端与所述电容CT1的一端连接，所述电容CT1的另一端与所述电容C9的一端连接，所述电容C9的另一端接地；

所述电阻R10的一端与所述耦合电路连接，所述电阻R10的另一端与所述电阻R17的一端连接，所述电阻R17的另一端和所述电阻R26的一端均与信号继电器的第一输入端连接，所述电阻R26的另一端接地；

所述电容C2的一端和所述电阻R5的一端均与所述耦合电路连接，所述电容C2的另一端和所述电阻R5的另一端均与所述信号继电器的第二输入端连接；

所述信号继电器的第三输入端与5V_MM电源连接，所述信号继电器的第四输入端与所述三极管的集电极连接，所述信号继电器的输出端与所述二次衰减电路连接，所述三极管的基极与所述电阻R8的一端连接，所述三极管的发射极接地，所述电阻R8的另一端用于连接第二控制信号。

4.根据权利要求3所述的一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪，其特征在于，所述耦合电路还包括：双串联开关二极管；

所述双串联开关二极管的第三端口、信号继电器的第五输入端均与所述二次衰减电路的放大器U1B的正向输入端连接，所述双串联开关二极管的第一端口与-5V电源连接，所述双串联开关二极管的第二端口与5V_CH电源连接。

5.根据权利要求1所述的一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪，其特征在于，所述二次衰减电路具体包括：

放大器U1B、电阻R32、电阻R30、电阻R9、电阻R12、电阻R18、电阻R23、电阻R19、电阻R27、电阻R29和模拟开关；

所述放大器U1B的正向输入端与所述一次衰减电路连接；

所述放大器U1B的负向输入端和所述电阻R32的一端均与所述电阻R30的一端连接；

所述放大器U1B的输出端、所述电阻R30的另一端和所述电阻R9的一端均与所述模拟开关的第一输入端连接；

所述电阻R32的另一端接地；

所述模拟开关的第二输入端和所述电阻R9的另一端均与所述电阻R12的一端连接；

所述模拟开关的第三输入端和电阻R12的另一端均与所述电阻R18的一端连接；

所述模拟开关的第四输入端和电阻R18的另一端均与所述电阻R23的一端连接；

所述电阻R23的另一端与所述电阻R19的一端连接；

所述模拟开关的第五输入端和电阻R19的另一端均与所述电阻R27的一端连接；

所述模拟开关的第六输入端和电阻R27的另一端均与所述电阻R29的一端连接；

所述电阻R29的另一端接地；

所述模拟开关的第七输入端接地；

所述模拟开关的输出端与偏置放大电路连接；

所述模拟开关的第一控制信号输入端用于连接第三控制信号；

所述模拟开关的第一控制信号输入端用于连接第四控制信号；

所述模拟开关的第一控制信号输入端用于连接第五控制信号；

所述模拟开关的第一电源输入端与5V_CH电源连接；

所述模拟开关的第一接地端接地；

所述模拟开关的第二电源输入端与-5V电源连接；

所述模拟开关的第二接地端接地。

6.根据权利要求1所述的一种具有示波功能的多功能晶体管测试仪，其特征在于，所述偏置放大电路具体包括：

放大器U1C、放大器U1D、电阻R7、电阻R11、电阻R13、电阻R14、电阻R15、电阻R16、电阻R20、电阻R21、电阻R22、电阻R24、电容C6、电容C8、电容C10、电容C11和电容C12；

所述放大器U1C的正向输入端与二次衰减电路连接，所述放大器U1C的负向输入端、所述电阻R15的一端和所述电阻R16的一端均与所述电阻R21的一端连接，所述放大器U1C的输出端和所述电阻R16的另一端均与电阻R7的一端连接；所述电阻R21的另一端接地；所述电阻R7的另一端、所述电阻R11的一端和所述电容C6的一端均与所述输出信号连接，所述电阻R11的另一端接地，所述电容C6的另一端接地；

所述电阻R15的另一端、所述电容C10的一端、所述电容C11的一端、所述电容C12的一端和所述电阻R24的一端均与所述放大器U1D的输出端连接，所述电容C10的另一端接地，所述电容C11的另一端接地，所述电容C12的另一端接地；所述电阻R24的另一端和所述电阻R20的一端均与所述放大器的负向输入端连接，所述电阻R20的另一端、所述电容C8的一端和所述电阻R22的一端均与所述电阻R14的一端连接，所述电容C8的另一端接地，所述电阻R22的另一端接地，所述电阻R14的另一端与3.3V电源连接；

所述放大器U1D的正向输入端与所述电阻R13的一端连接，所述电阻R13的另一端接地。