CN219842361U - X射线荧光光谱仪用样品支撑装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及X射线荧光光谱仪用样品支撑装置，包括样品固定装置，所述样品固定装置套设于原样品搭载平台上，与原样品搭载平台可拆卸连接；样品固定装置上表面设有凹槽，所述凹槽内填充脱水二氧化硅颗粒，脱水二氧化硅颗粒上放置样品。本实用新型的装置可满足底部不规则而待测试上表面是平面的样品的稳定摆放；将所述的样品搭载到真空腔体中，将样品上平面呈现至所述分析器的测试焦点区域，满足多个高度样品的一次性装载，实现不打开真空腔的连续测试采集，提高整体效率。
Description
技术领域
本实用新型属于检测设备技术领域，具体涉及X射线荧光光谱仪用样品支撑装置。
背景技术
X射线荧光光谱分析技术在医学、环境科学、食品安全、地质学、地球化学等领域有着非常广泛的应用。该项技术可以实现对被测样品表面元素的分析，包括点分析和面分析。其物理原理是通过激发源产生的初级X射线照射在样品表面，可以激发出样品元素特征X射线。而通过对特征X射线的分析能够得到样品表面的元素组成。
在测试过程中，使用实验室型X射线荧光光谱仪进行单点测试时需要将初级X射线聚焦至所测试的点，从而X射线探测器可以探测到样品被激发出的次级X射线。在面扫描（高密度点矩阵扫描）测试时，同样也要求样品表面被测试区域尽可能趋于水平状态，使得被测试的点矩阵均在焦平面一定范围内，从而使样品表面的每个点被激发出的次级X射线均可以被X射线探测器检测到。也就是说，在进行面扫描时，需要满足2个测试条件。条件1是样品的待测试表面需要较为平整，并且该条件很关键；条件2是样品表面被测区域要尽可能趋于水平，使之保持在仪器设备的容忍度范围内，以防止测试过程中有些点离焦太远而不能被X射线探测器测试到信号，无法测试到信号将导致测试无效。需要提到的是，容忍度会因为样品大小、被测试区域的大小、X射线光斑大小、探测器窗口大小而变化，通常来说在人眼视觉的范围内被测样品表面较为水平时，可以获得有效的测试结果。
而这其中存在的问题在于，第一，当前的X射线荧光光谱仪以及任意材料分析器中，通常配备的是一个水平的样品台平面供用户摆放样品，目前这样的样品台无法满足底部不规则而待测试上表面是平面的样品的摆放。许多用户的样品，满足测试的条件1，但由于底部不平整，无法满足测试条件2。这其中有多种原因，比如不方便对样品进行加工、样品不容易被加工成上下表面平行、样品加工时易碎而不能加工以及样品非常珍稀不允许破坏等。这导致这类要求样品表面趋于水平的仪器设备不能对前述的这类样品进行有效测试，限制了仪器的应用范围，同时也无法有效满足用户的测试需求。第二，当前的样品台在一次的测试中只能满足一个高度样品的测试采集，当改变样品时需要重新改变真空环境，并重新装载样品，使得整体效率降低。
在解决第一个问题时，目前普遍做法是使用橡皮泥垫在样品底部，并将它修成与样品上表面平行，放置于仪器自身的样品台上，但该方案依然有诸多缺点，并且没有普适性。具体有以下3个主要原因：第一，样品和橡皮泥最后会被一起放置在真空腔内，橡皮泥在真空中硬化会有形变，导致最终上表面不再水平。第二，橡皮泥不断地挥发出气体杂质常常使得样品腔的真空度无法达到要求，不能进行下一步的测试；第三：橡皮泥固化后如果从样品表面取下，因其有粘性容易将样品损坏。
因此任一要求样品上平面处于水平状态的分析器中用于承托样品的样品台，需要进一步的改进以满足所述底部不规则样品的摆放以获得分析测量结果，需要进一步的改进以满足所述若干不同高度样品的同时摆放以提高分析测量效率。
发明内容
本实用新型的目的在于针对上述现有技术存在的问题，提供X射线荧光光谱仪用样品支撑装置。
为实现上述技术目的，本实用新型采用如下技术方案：
一种X射线荧光光谱仪用样品支撑装置，包括样品固定装置，所述样品固定装置套设于原样品搭载平台上，与原样品搭载平台可拆卸连接；样品固定装置上表面设有凹槽，所述凹槽内填充脱水二氧化硅颗粒，脱水二氧化硅颗粒上放置样品。
作为一种优选的实施方式，所述脱水二氧化硅颗粒为烘干至变蓝的二氧化硅颗粒。二氧化硅颗粒必须预先烘干使得真空腔体保持干燥。
作为一种优选的实施方式，所述脱水二氧化硅颗粒粒径＜5mm。脱水二氧化硅颗粒粒径过大会影响调节水平的效果。
作为一种优选的实施方式，所述样品的上表面不低于二氧化硅颗粒的最高水平高度。
作为一种优选的实施方式，所述样品固定装置与原样品搭载平台材质相同。
作为一种优选的实施方式，所述凹槽的水平范围尺寸与原样品搭载平台上表面相同。
作为一种优选的实施方式，所述样品嵌入脱水二氧化硅颗粒中，样品上表面与X射线荧光光谱仪的探测头平面平行。
作为一种优选的实施方式，脱水二氧化硅颗粒上放置多个样品时，各样品间保留间距。
作为一种优选的实施方式，脱水二氧化硅颗粒上放置多个样品时，各样品上表面为同一水平高度。
作为一种优选的实施方式，所述样品为包含需测量所含元素的岩石、化石样品，样品至少有一个平整的待测断面。
本实用新型的装置具有如下优点：
1、满足底部不规则而待测试上表面是平面的样品的稳定摆放；
2、将所述的样品搭载到真空腔体中，将样品上平面呈现至所述分析器的测试焦点区域；
3、满足多个高度样品的一次性装载，实现不打开真空腔的连续测试采集，提高整体效率。
附图说明
图1是支撑装置的结构示意图；其中1为脱水二氧化硅颗粒，2为样品固定装置，3为原样品搭载平台，原样品搭载平台是实验室型X射线荧光光谱仪原有的样品搭载平台，4为化石样品。
具体实施方式
本实用新型的装置如图1所示，包括脱水二氧化硅颗粒1和样品固定装置2。样品固定装置2固定在原样品搭载平台3上，且与样品搭载平台3可拆卸连接，本实施例中样品固定装置2为一个套设在原样品搭载平台3的结构，在不使用时可以取下。样品固定装置2材质无特殊要求，可以与原样品搭载平台3一致。
样品固定装置2上有凹槽，凹槽覆盖的水平范围与原样品搭载平台3上表面相同或接近，确保样品整个上平面呈现至所述分析器的测试焦点区域。凹槽内填充脱水二氧化硅颗粒1，用于支撑样品。
使用时，例如将一个底面不平整岩石样品持放在样品固定装置2的脱水二氧化硅颗粒1上；调整样品的上表面使之与X射线荧光光谱仪的探测头平面趋于平行；样品上表面不得低于装置中二氧化硅颗粒的最高处，然后可以开始所需的测试实验。
当存在多个样品时，依次放入每个样品使得多个样品的上表面在视觉范围内趋于同一个高度，各样品间保留间距。
Claims (10)
1.一种X射线荧光光谱仪用样品支撑装置，其特征在于，包括样品固定装置（2），所述样品固定装置（2）套设于原样品搭载平台（3）上，与原样品搭载平台（3）可拆卸连接；样品固定装置（2）上表面设有凹槽，所述凹槽内填充脱水二氧化硅颗粒（1），脱水二氧化硅颗粒（1）上放置样品。
2.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪用样品支撑装置，其特征在于，所述脱水二氧化硅颗粒（1）为烘干至变蓝的二氧化硅颗粒。
3.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪用样品支撑装置，其特征在于，所述脱水二氧化硅颗粒（1）粒径＜5mm。
4.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪用样品支撑装置，其特征在于，所述样品的上表面不低于二氧化硅颗粒的最高水平高度。
5.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪用样品支撑装置，其特征在于，所述样品固定装置（2）与原样品搭载平台（3）材质相同。
6.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪用样品支撑装置，其特征在于，所述凹槽的水平范围尺寸与原样品搭载平台（3）上表面相同。
7.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪用样品支撑装置，其特征在于，所述样品嵌入脱水二氧化硅颗粒（1）中，样品上表面与X射线荧光光谱仪的探测头平面平行。
8.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪用样品支撑装置，其特征在于，脱水二氧化硅颗粒（1）上放置多个样品时，各样品间保留间距。
9.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪用样品支撑装置，其特征在于，脱水二氧化硅颗粒（1）上放置多个样品时，各样品上表面为同一水平高度。
10.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱仪用样品支撑装置，其特征在于，所述样品为包含需测量所含元素的岩石、化石样品，样品至少有一个平整的待测断面。
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