CN219641912U - 一种探针支撑装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种探针支撑装置，用于测量永磁体表磁，包括基座本体，基座本体上设有永磁体，永磁体远离基座本体侧具有测量等待区；探针支架设于永磁体远离基座本体侧，检测探针具有第一状态和第二状态，第一状态下，检测探针的探头与永磁体的表面接触，测量永磁体的表磁值，第二状态下，检测探针的探头设于测量等待区；驱动机构用于驱动检测探针在第一状态和第二状态之间切换。该方案可保证每一次的检测中检测探针与永磁体的接触程度一致，探针支架和基座本体也可以解放双手，从而实现测量的准确度提升，每次测量的相互参考价值提升，也能节约人力成本，提升测量效率。

Description

一种探针支撑装置

技术领域

本申请涉及磁场强度测量技术领域，具体涉及一种探针支撑装置。

背景技术

永磁体主要是利用其在空间形成稳定磁感应场的特性来工作，磁感应场的磁场强度大小是永磁体使用的关键指标，因此测量永磁体的磁场强度是永磁体检验判定的关键，但由于探针具有金属材质，表面容易吸合，探针针头和永磁体表面的接触程度又会影响测定准确度。

现有技术中，检测人员一只手持有探针，另一只手持有永磁体，用探针的针头接触永磁体表面进行表磁测量，接触过重时频繁检测会损坏探头结构，接触过轻时又无法达到探头探测的阈值，且人手操作每次移动距离和接触力度不同所带来的测量误差以及引入新的变量会导致每次测量结果之间缺少对比基础，这会使测量结果准确度低，测量效率低，不同次测量值之间的可参考性低。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，本申请旨在提供一种探针支撑装置，用于测量永磁体表磁，包括：

基座本体，所述基座本体上设有待测量表磁的永磁体，所述永磁体远离所述基座本体侧具有测量等待区；

探针支架，所述探针支架设于所述永磁体远离所述基座本体侧，所述探针支架用于支撑检测探针，所述检测探针具有第一状态和第二状态，所述第一状态下，所述检测探针的探头与所述永磁体的表面接触，测量所述永磁体的表磁值，所述第二状态下，所述检测探针的探头设于所述测量等待区；

驱动机构，所述驱动机构用于驱动所述检测探针在所述第一状态和所述第二状态之间切换。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述探针支架具有第一通孔，所述第一通孔的轴线方向为第一方向，所述检测探针可在所述第一通孔内沿所述第一方向移动。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述驱动机构包括：

第一滑杆，所述第一滑杆的延伸方向为所述第一方向；

测量组件，所述测量组件套设于所述滑竿组外且可沿着所述第一滑杆滑动，所述测量组件用于测量所述检测探针在所述第一方向的移动距离；

第一连接组件，所述第一连接组件与所述测量组件连接，所述第一连接组件远离所述测量组件侧与所述检测探针的外壁连接。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述测量组件上设有第一锁紧件，所述第一锁紧件用于锁紧所述测量组件。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述测量组件具有控制面板，所述控制面板用于显示所述检测探针的移动距离。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述第一滑杆外还套设有防脱组件，所述防脱组件上设有第三锁紧件，所述防脱组件设于所述测量组件靠近所述第一滑杆端部，所述防脱组件沿所述第一方向移动至所述第一滑杆端部后，所述第三锁紧件锁紧所述防脱组件。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述检测探针具有抓取部和检测部，所述抓取部设于所述第一通孔内，所述检测部远离所述抓取部侧设有所述永磁体，所述探针支架具有第二锁紧件，所述第二锁紧件用于锁紧所述抓取部。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述抓取部远离所述检测部侧外接有磁通机构，所述磁通机构用于读取所述表磁量。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述检测探针的探头上设有霍尔传感器。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述第一滑杆外套设有限位组件，所述限位组件设于所述测量组件远离所述防脱组件侧。

综上所述，本申请提出一种探针支撑装置，用于测量永磁体表磁，包括基座本体，所述基座本体上设有待测量表磁的永磁体，所述永磁体远离所述基座本体侧具有测量等待区；探针支架，所述探针支架设于所述永磁体远离所述基座本体侧，所述探针支架用于支撑检测探针，所述检测探针具有第一状态和第二状态，所述第一状态下，所述检测探针的探头与所述永磁体的表面接触，测量所述永磁体的表磁值，所述第二状态下，所述检测探针的探头设于所述测量等待区；驱动机构，所述驱动机构用于驱动所述检测探针在所述第一状态和所述第二状态之间切换。该方案通过所述驱动机构驱动所述检测探针在接触所述永磁体表面和处于所述测量等待区之间状态切换，且固定永磁体的放置位置，可保证每一次的检测中所述探针与所述永磁体的接触程度一致，所述探针支架和所述基座本体也可以解放双手，从而实现测量的准确度提升，每次测量的相互参考价值提升，也能节约人力成本，提升测量效率。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种探针支撑装置的结构示意图。

图中所述文字标注表示为：

1、测量组件；2、检测探针；21、检测部；22、抓取部；3、探针支架；4、基座本体；5、永磁体；6、第一滑杆；7、第二锁紧件；8、控制面板；9、防脱组件；10、磁通机构；11、滑杆底座；12、第一连接组件；13、第一锁紧件。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关发明，而非对该发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与发明相关的部分。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

诚如背景技术中提到的，针对现有技术中的问题，本申请提出了一种探针支撑装置，用于测量永磁体5表磁，包括：

基座本体4，所述基座本体4上设有待测量表磁的永磁体5，所述永磁体5远离所述基座本体4侧具有测量等待区；

探针支架3，所述探针支架3设于所述永磁体5远离所述基座本体4侧，所述探针支架3用于支撑检测探针2，所述检测探针2具有第一状态和第二状态，所述第一状态下，所述检测探针2的探头与所述永磁体5的表面接触，测量所述永磁体5的表磁值，所述第二状态下，所述检测探针2的探头设于所述测量等待区；

驱动机构，所述驱动机构用于驱动所述检测探针2在所述第一状态和所述第二状态之间切换。

在一优选实施例中，所述驱动机构包括：

第一滑杆6，所述第一滑杆6的延伸方向为所述第一方向；

测量组件1，所述测量组件1套设于所述第一滑杆6外且可沿着所述第一滑杆6滑动，所述测量组件1用于测量所述检测探针2在所述第一方向的移动距离；

第一连接组件12，所述第一连接组件12与所述测量组件1连接，所述第一连接组件12远离所述测量组件1侧与所述检测探针2的外壁连接。

在一优选实施例中，所述抓取部22远离所述检测部21侧外接有磁通机构10，所述磁通机构10用于读取所述表磁量。

请参考图1所示，所述基座本体固定在检测桌上，所述基座本体4为铝制永磁体固定底座，待检测的所述永磁体5可拆卸设置于所述基座本体4上，在某种特定的场景中，所述探针支架3也固定在所述检测桌上，所述探针支架3的设置位置保证支撑的所述检测探针2沿第一方向与所述永磁体的待检测点相对，所述第一滑杆6具有滑杆底座11，所述滑杆底座11放置在所述检测桌上，检测时，先将所述永磁体5放在所述基座本体4上，此时所述检测探针2处于所述第二状态，处于所述测量等待区内，然后驱动所述测量组件1沿着所述第一方向向下滑动，所述测量组件1由所述第一连接组件12带动着所述检测探针2向下运动，所述第一方向垂直于地面，所述测量组件1在初始时已通过多次测量过程确定了测量的最佳运动距离，所述最佳运动距离为所述检测探针2从所述测量等待区到所述检测探针2与所述永磁体5表面接触所要移动的距离，当下移所述最佳运动距离后，所述检测探针2处于所述第一状态。

试验前需找到所述最佳运动距离，所述磁通机构10为磁通测量仪，所述磁通测量仪放置在检测桌上，所述磁通测量仪与所述检测探针2电连接，所述驱动机构即为带有工装的高度尺，所述高度尺可选择有刻度游标卡尺类型，也可选择电子尺，所述高度尺可直接读出所述检测探针2的下移距离，首先固定所述永磁体5在所述基座本体4上，固定所述检测探针2在所述测量等待区，然后向下移动所述测量组件1，随之所述检测探针2向下移动，在逐渐下移的过程中同时观察所述磁通测量仪的读数，当所述磁通测量仪产生读数时放慢下移速度，且随时记录高度尺显示的下移距离，当所述磁通测量仪的读数在一定时间T(初始时刻为T1，结束时刻为T1+T)不变时，说明该读数即为所述永磁体5的表磁值，此时找到所述高度尺在T1时刻时的下移高度H1，H1即为所述最佳运动距离，在以后的测试中，可直接控制所述高度尺下降H1的距离，读取所述磁通测量仪的读数即可。

上述操作可避免所述检测探针2和所述永磁体5表面接触过重造成的所述检测探针2针头损坏的情况，可也规避人手操作每次移动距离和接触力度不同所带来的测量误差以及引入新的变量导致的每次测量结果缺少参考价值的问题，可也有效保护所述检测探针2针头以及所述永磁体5表面的结构完整度，提升测量结果的准确性，提升测量效率。

在一优选实施例中，所述探针支架3具有第一通孔，所述第一通孔的轴线方向为第一方向，所述检测探针2可在所述第一通孔内沿所述第一方向移动。

在一优选实施例中，所述测量组件1上设有第一锁紧件13，所述第一锁紧件13用于锁紧所述测量组件1。

请参考图1所示，所述探针支架3为两个长方体结构，相对面具有半圆形凹槽，相配形成具有所述第一通孔的所述探针支架3，所述第一通孔与所述永磁体5的检测点相对，所述第一锁紧件13为锁紧螺丝，安装所述检测探针2之前，松开所述第一锁紧件13，将所述检测探针2放入后，拧动所述第一锁紧件13使得所述检测探针2不掉下且可沿着所述第一方向移动。

在一优选实施例中，所述测量组件1具有控制面板8，所述控制面板8用于显示所述检测探针2的移动距离。

请参考图1所示，上述获得所述最佳运动距离为H1，随后的测量时即可直接下移所述测量组件1使得所述控制面板8上显示下移高度为H1即可读取所述磁通测量仪的读数。当有检测沿所述第一方向所述检测探针2距离所述永磁体5不同高度时的磁场强度时，也可控制所述测量组件1不同的下移距离。

在一优选实施例中，所述第一滑杆6外还套设有防脱组件9，所述防脱组件9上设有第三锁紧件，所述防脱组件9设于所述测量组件1靠近所述第一滑杆6端部，所述防脱组件9沿所述第一方向移动至所述第一滑杆6端部后，所述第三锁紧件锁紧所述防脱组件9。

请参考图1所示，所述防脱组件9滑动到端部后即将所述第一滑杆6的端部包覆住，避免所述测量组件1从所述第一滑杆6上滑脱。

在一优选实施例中，所述检测探针2具有抓取部22和检测部21，所述抓取部22设于所述第一通孔内，所述检测部21远离所述抓取部22侧设有所述永磁体5，所述探针支架3具有第二锁紧件7，所述第二锁紧件7用于锁紧所述抓取部22。

请参考图1所示，所述第一连接组件12连接于所述抓取部22，所述抓取部22沿所述第一方向的长度需大于最佳下移高度H1，保证在所述检测探针2下移过程中所述抓取部22会一直保持在所述第一通孔内移动。

在一优选实施例中，所述检测探针2的探头上设有霍尔传感器。

在一优选实施例中，所述第一滑杆6外套设有限位组件，所述限位组件设于所述测量组件1远离所述防脱组件9侧。

在某种特定的场景中，所述限位组件上设有第三锁紧件，当确定所述检测探针2的所述最佳运动距离后，调节所述限位组件的位置后锁紧所述第三锁紧件，使得所述测量组件1向下移动所述最佳运动距离后恰好卡在所述限位组件上端，无法再向下移动，规避人工每次移动所述测量组件1的延迟和误差，简化批量检测的工作量；由于所述基座本体4和所述探针支架3的位置相对固定，对于相同规格的所述永磁体5，调节并固定一次所述限位组件的位置后即可适用后续的检测，此时所述测量组件1可以进行复核，在每次移动后观察所述控制面板8上显示的距离值是否为所述最佳运动距离，保证检测准确度。

实施例2

与实施例1相同之处不再赘述，不同之处在于所述测量组件1电连接有自动控制机构，当确定所述最佳运动距离后，向所述自动控制机构输入所述最佳运动距离，使其控制所述测量组件1向下移动所述最佳运动距离，规避人工操作带来的误差，简化操作流程，实现自动化、精准化控制。

本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。以上所述仅是本申请的优选实施方式，应当指出，由于文字表达的有限性，而客观上存在无限的具体结构，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以作出若干改进、润饰或变化，也可以将上述技术特征以适当的方式进行组合；这些改进润饰、变化或组合，或未经改进将发明的构思和技术方案直接应用于其他场合的，均应视为本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种探针支撑装置，用于测量永磁体(5)表磁，其特征在于，包括：

基座本体(4)，所述基座本体(4)上设有待测量表磁的永磁体(5)，所述永磁体(5)远离所述基座本体(4)侧具有测量等待区；

探针支架(3)，所述探针支架(3)设于所述永磁体(5)远离所述基座本体(4)侧，所述探针支架(3)用于支撑检测探针(2)，所述检测探针(2)具有第一状态和第二状态，所述第一状态下，所述检测探针(2)的探头与所述永磁体(5)的表面接触，测量所述永磁体(5)的表磁值，所述第二状态下，所述检测探针(2)的探头设于所述测量等待区；

驱动机构，所述驱动机构用于驱动所述检测探针(2)在所述第一状态和所述第二状态之间切换。

2.根据权利要求1所述的探针支撑装置，其特征在于：所述探针支架(3)具有第一通孔，所述第一通孔的轴线方向为第一方向，所述检测探针(2)可在所述第一通孔内沿所述第一方向移动。

3.根据权利要求2所述的探针支撑装置，其特征在于：所述驱动机构包括：

第一滑杆(6)，所述第一滑杆(6)的延伸方向为所述第一方向；

测量组件(1)，所述测量组件(1)套设于所述第一滑杆(6)外且可沿着所述第一滑杆(6)滑动，所述测量组件(1)用于测量所述检测探针(2)在所述第一方向的移动距离；

第一连接组件(12)，所述第一连接组件(12)与所述测量组件(1)连接，所述第一连接组件(12)远离所述测量组件(1)侧与所述检测探针(2)的外壁连接。

4.根据权利要求3所述的探针支撑装置，其特征在于：所述测量组件(1)上设有第一锁紧件(13)，所述第一锁紧件(13)用于锁紧所述测量组件(1)。

5.根据权利要求3所述的探针支撑装置，其特征在于：所述测量组件(1)具有控制面板(8)，所述控制面板(8)用于显示所述检测探针(2)的移动距离。

6.根据权利要求3所述的探针支撑装置，其特征在于：所述第一滑杆(6)外还套设有防脱组件(9)，所述防脱组件(9)上设有第三锁紧件，所述防脱组件(9)设于所述测量组件(1)靠近所述第一滑杆(6)端部，所述防脱组件(9)沿所述第一方向移动至所述第一滑杆(6)端部后，所述第三锁紧件锁紧所述防脱组件(9)。

7.根据权利要求2所述的探针支撑装置，其特征在于：所述检测探针(2)具有抓取部(22)和检测部(21)，所述抓取部(22)设于所述第一通孔内，所述检测部(21)远离所述抓取部(22)侧设有所述永磁体(5)，所述探针支架(3)具有第二锁紧件(7)，所述第二锁紧件(7)用于锁紧所述抓取部(22)。

8.根据权利要求7所述的探针支撑装置，其特征在于：所述抓取部(22)远离所述检测部(21)侧外接有磁通机构(10)，所述磁通机构(10)用于读取所述表磁量。

9.根据权利要求1所述的探针支撑装置，其特征在于：所述检测探针(2)的探头上设有霍尔传感器。

10.根据权利要求6所述的探针支撑装置，其特征在于：所述第一滑杆(6)外套设有限位组件，所述限位组件设于所述测量组件(1)远离所述防脱组件(9)侧。