CN219590350U - 基于导通测试仪的测试模块通讯结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开的基于导通测试仪的测试模块通讯结构，包括：导通测试主机，具有主机MCU以及分别与之连接的主机数据信号输出端、主机数据信号输入端；导通测试点板，具有多个通讯接口，每个所述通讯接口均通过对应的第一开关连接测试总线，通过对应的第二开关接地；多个通讯节点模块，具有模块指示灯、节点MCU以及与之连接的节点数据信号输入端、节点数据信号输出端，模块指示灯、节点数据信号输入端、节点数据信号输出端均通过模块指示灯控制线连接对应的通讯接口，模块指示灯还通过指示灯使能信号线与主机MCU连接。此结构将所有测试模块组成通讯网络，实现测试主机可读取测试模块的测试结果和参数设置并保存，实现测试产品的追溯。

Description

基于导通测试仪的测试模块通讯结构

技术领域

本实用新型涉及线束测试系统技术领域，尤其涉及一种基于导通测试仪的测试模块通讯结构。

背景技术

线束测试是对电路中连接各电器设备的接线部件以及绝缘包扎材料等进行测试，以找出可能的问题，一般需要测试的参数包括线束的导通、绝缘、耐压及电阻等。

线束测试系统主要由上位计算机、测试主机、测试点板、测试模块，现有的测试模块内的传感器的数据无法上传到计算机进行保存，同时也不能对测试模块的传感器参数进行设置，计算机也无法获取传感器的设置结果，错误的传感器的设置将导致不良产品通过测试，因而实际上测试模块没有实现联网，只能根据测试模块输出的合格开关信号判断是否合格。

有鉴于此，本发明人在现有线束测试系统的基础上增加通讯结构，研究出一种基于导通测试仪的测试模块通讯结构。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种基于导通测试仪的测试模块通讯结构，通过在测试模块的基础上增加通讯接口，利用原来模块的错误指示线路兼当通讯线路，在不增加接线的情况下，将每个测试模块组成通讯网络，实现测试主机可以读取测试模块的测试结果和参数设置，并将这些数据进行保存，实现测试产品的追溯。

为达到上述技术目的，本实用新型采用以下一种技术方案：

基于导通测试仪的测试模块通讯结构，包括导通测试主机、导通测试点板、多个通讯节点模块，每个所述通讯节点模块为一个测试节点；

所述导通测试主机具有主机MCU以及分别与主机MCU连接的主机数据信号输出端、主机数据信号输入端；

所述导通测试点板具有多个通讯接口，每个所述通讯接口均通过对应的第一开关连接测试总线，同时通过对应的第二开关接地；第一开关打开时为通讯状态，所述导通测试主机可以向对应的测试节点发送及接收数据信号，在通讯状态下所述第二开关处于关闭状态；

所述通讯节点模块具有模块指示灯、节点MCU以及与节点MCU连接的节点数据信号输入端、节点数据信号输出端、传感器，所述模块指示灯、节点数据信号输入端、节点数据信号输出端均通过模块指示灯控制线连接对应的通讯接口，所述模块指示灯还通过指示灯使能信号线与所述主机MCU连接。

进一步的，所述第一开关和所述第二开关均为MOS管开关电路，所述第一开关和所述第二开关分别由导通测试主机生成的两列串行数据经导通测试点板上的串转并集成电路控制，以控制第一开关和所述第二开关打开/关闭。

进一步的，所述主机数据信号输出端包括与所述主机MCU依次连接的主机反相器、主机信号输出开关，所述主机信号输出开关的漏极与测试总线连接并经过一个限流电阻与电源正极连接，主机信号输出开关的源极接地，使得测试总线电平跟随主机数据信号输出端电平变化。

进一步的，所述主机数据信号输入端包括一主机比较器，所述测试总线连接所述主机比较器一个输入端，主机比较器另一个输入端为基准电压输入，主机比较器输出端连接所述主机MCU。

进一步的，所述节点数据信号输出端包括与所述节点MCU依次连接的节点反相器、节点信号输出开关，所述节点信号输出开关的漏极通过指示灯控制线连接对应的通讯接口，节点信号输出开关的源极接地。

进一步的，所述节点数据信号输入端包括一节点比较器，所述节点比较器的一个输入端通过连接指示灯控制线连接对应的通讯接口，节点比较器的另一个输入端为基准电压输入，节点比较器的输出端与节点MCU连接。

进一步的，所述节点数据信号输入端包括第一节点输入MOS管开关、第二节点输入MOS管开关、第三节点输入MOS管开关，所述第一节点输入MOS管开关的栅极连接指示灯使能信号线，第一节点输入MOS管开关的源极连接第二节点输入MOS管开关的栅极，第一节点输入MOS管开关的漏极通过一稳压二极管连接指示灯控制线，所述第二节点输入MOS管开关的漏极连接第三节点输入MOS管开关的栅极，第三节点输入MOS管开关的漏极连接节点MCU，第二节点输入MOS管开关的源极与第三节点输入MOS管开关的源极均接地，第二节点输入MOS管开关的漏极与第三节点输入MOS管开关的漏极分别接上拉电阻后接电源正极，所述节点数据信号输出端包括第一节点输出MOS管开关、第二节点输出MOS管开关，所述第一节点输出MOS管开关的栅极连接节点MCU并通过上拉电阻接电源正极，第一节点输出MOS管开关的漏极连接第二节点输出MOS管开关的栅极并通过电阻连接到电源正极，第二节点输出MOS管开关的漏极经过电阻连接到指示灯控制线，第一节点节点输出MOS管开关的源极与第二节点输出MOS管开关的源极均接地。

进一步的，与所述导通测试点板上的通讯接口连接的指示灯控制线既可以作为模块测试结果的反馈线路，也可以作为向通讯节点模块发送和接收数据的通讯线路；所述导通测试点板的每个通讯接口可以用于测试线路的导通、电阻、电容，还可以作为通讯接口向通讯节点模块发送和接收数据。

为达到上述技术目的，本实用新型还提出以下另一种技术方案：

基于导通测试仪的测试模块通讯结构，包括导通测试主机以及多个通讯节点模块，每个所述通讯节点模块为一个测试节点；

所述导通测试主机具有主机MCU以及分别与主机MCU连接的主机数据信号输出端、主机数据信号输入端，所述主机数据信号输出端、主机数据信号输入端均连接通讯总线；

所述通讯节点模块具有节点MCU以及与节点MCU连接的节点数据信号输入端、节点数据信号输出端、传感器，所述节点数据信号输入端、节点数据信号输出端均连接通讯总线，节点MCU还通过通讯使能信号线连接主机MCU。

进一步的，所述主机数据信号输出端包括与所述主机MCU依次连接的主机反相器、主机信号输出开关，所述主机信号输出开关的漏极与通讯总线连接并经过一个限流电阻与电源正极连接，主机信号输出开关的源极接地，使得通讯总线电平发生变化；

所述主机数据信号输入端包括一主机比较器，所述通讯总线连接所述主机比较器一个输入端，主机比较器另一个输入端为基准电压输入，主机比较器输出端连接所述主机MCU。

进一步的，所述节点数据信号输出端包括与所述节点MCU依次连接的节点反相器、节点信号输出开关，所述节点信号输出开关的漏极连接通讯总线，节点信号输出开关的源极接地；

进一步的，所述节点数据信号输入端包括一节点比较器，所述节点比较器的一个输入端连接通讯总线，节点比较器的另一个输入端为基准电压输入，节点比较器的输出端与节点MCU连接。

基于上述第一种技术方案，本实用新型的基于导通测试仪的测试模块通讯结构具有以下两种工作模式：

通讯模式：当导通测试主机需要与指定通讯节点模块进行通讯时，则由导通测试主机控制打开与相应的通讯接口连接的第一开关，导通测试主机的主机MCU通过信号输出端输出信号，在测试总线上形成脉冲信号，这些信号一次经第一开关、模块指示灯控制线后，通过节点比较器转化为节点MCU可以接受的串口输入信号(即串口数据)，导通测试主机发送信号结束后等待接收通讯节点模块输出的串口信号。节点MCU从传感器获取测试数据，在同一条测试总线下的每个测试模块(即所述通讯节点模块)依照设定的时间节点，逐个将导通测试主机要求的数据经节点信号输出端输出，信号经反相器、节点输出开关、第一开关后，在测试总线上形成脉冲信号，脉冲信号经主机比较器后转化为主机MCU可接受的串口输入信号。

非通讯模式：在该模式下，导通测试主机的主机MCU也可以控制打开指定第二开关，即测试模块(即所述通讯节点模块)的模块指示灯控制线所连接的测试点的第二开关，从而将该测试点与地线接通，进而点亮模块指示灯，实现模块指示功能。

采用上述方案后，本实用新型具有以下有益效果：

一、本实用新型在测试模块的基础上增加通讯接口，利用原来测试模块的错误指示线路(即测试总线和指示灯控制线)兼当通讯线路，在不增加接线的情况下，将每个测试模块组成通讯网络，即每个测试模块兼当通讯节点模块，实现导通测试主机可以读取测试模块的测试结果和参数设置，并将这些数据进行保存，实现测试产品的追溯；此外，在非通讯模式下，测试模块还能够与地线接通，进而点亮模块指示灯，实现模块指示功能。

二、本实用新型的通讯结构也可以应用在其它领域，实现统一地线情况下，通过单根线实现串口通讯。

三、一台导通测试主机可以同时连接几万个测试节点，每个测试节点均可以连接对应的通讯节点模块，导通测试主机可以分批打开测试点板上的第一开关，实现与所有的通讯节点模块进行通讯。

四、连接在导通测试点板上测试点(通讯接口)的指示灯控制线既可以作为模块测试结果的反馈线路，用于控制模块指示灯，也可以用向通讯节点模块发送和接收数据的通讯线路；导通测试点板的每个测试点，不仅可以用于测试线路的导通、电阻、电容等，还可以作为通讯接口向通讯节点模块发送和接收数据。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的变形形式。

图1是本实用新型实施例一通讯节点通过导通测试点板组网结构图；

图2是本实用新型实施例一通讯节点模块的通讯实现电路。

图3是本实用新型实施例二通讯节点直接组网结构图；

标号说明

通测试主机10，主机MCU11，主机反相器12，主机信号输出开关13，主机比较器14；

导通测试点板20，通讯接口21，第一开关22；第二开关23；

通讯节点模块30，模块指示灯31，节点MCU32，节点反相器33，节点信号输出开关34，节点比较器35，传感器36；

测试总线40，指示灯控制线50，指示灯使能信号线51，通讯使能信号线52，通讯总线60。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例一

如图1所示，本实用新型实施例一揭示的基于导通测试仪的测试模块通讯结构，包括导通测试主机10、导通测试点板20、多个通讯节点模块30，每个所述通讯节点模块30为一个测试节点；

所述导通测试主机10具有主机MCU11以及分别与主机MCU11连接的主机数据信号输出端、主机数据信号输入端；

所述导通测试点板20具有多个通讯接口21，每个所述通讯接口21均通过对应的第一开关22连接测试总线40，同时通过对应的第二开关23接地；第一开关22打开时为通讯状态，所述导通测试主机可以向对应的测试节点发送和接收数据信号，在通讯状态下所述第二开关23处于关闭状态；本实施中，具体的，所述第一开关22和所述第二开关23均为MOS管开关电路，所述第一开关22和所述第二开关23分别由导通测试主机10生成的两列串行数据经导通测试点板20上的串转并集成电路控制，以控制第一开关22和所述第二开关23打开/关闭。与所述导通测试点板20上的通讯接口21连接的指示灯控制线50既可以作为模块测试结果的反馈线路，也可以作为向通讯节点模块发送和接收数据的通讯线路；所述导通测试点板20的每个通讯接口21可以用于测试线路的导通、电阻、电容，还可以作为通讯接口向通讯节点模块30发送和接收数据。

所述通讯节点模块30具有模块指示灯、节点MCU以及与节点MCU连接的节点数据信号输入端、节点数据信号输出端、传感器，所述模块指示灯、节点数据信号输入端、节点数据信号输出端均通过模块指示灯控制线连接对应的通讯接口21，所述模块指示灯还通过指示灯使能信号线与所述主机MCU11连接。

本实施例中，具体的，所述主机数据信号输出端包括与所述主机MCU11依次连接的主机反相器12、主机信号输出开关13，所述主机信号输出开关13的漏极与测试总线40连接并经过电阻与电源正极连接，主机信号输出开关13的源极接地，使得测试总线40电平跟随主机数据信号输出端电平变化，该主机信号输出端工作过程：主机数据信号输出端经主机反相器12更改相位后，当主机数据信号输出端高电平时，经主机反相器12转化为低电平，无法驱动主机信号输出开关13，主机信号输出开关13处于关闭状态，测试总线40电平被电源正极上拉为高电平，当主机数据信号输出端低电平时经主机反相器12转化为高电平，驱动主机信号输出开关13处于打开状态，测试总线40电平被主机信号输出开关13拉低为低电平。

具体的，所述主机数据信号输入端包括一主机比较器14，所述测试总线40连接所述主机比较器14的一个输入端，主机比较器14另一个输入端为基准电压输入，主机比较器14的输出端连接所述主机MCU11。

本实施例中，具体的，所述节点数据信号输出端包括与所述节点MCU32依次连接的节点反相器33、节点信号输出开关34，所述节点信号输出开关的漏极通过指示灯控制线50连接对应的通讯接口21，节点信号输出开关34的源极接地。该节点信号输出以及主机数据信号输入工作过程：指示灯控制线50根据节点数据输出信号发生电平变化，进而通过该节点对应导通测试点板20上处于打开状态的第一开关22影响测试主机比较器14输入端的电平，经与基准电压对比后在主机比较器14输出端形成串行数据。指示灯控制线50受节点数据输出信号控制的具体过程：节点数据信号输出端经反相器更改相位后，当节点数据信号输出端高电平时，经反相器转化为低电平，无法驱动节点信号输出开关34，节点信号输出开关34处于关闭状态，指示灯控制线50的电平保持为高电平，当节点数据信号输出端低电平时经反相器转化为高电平，驱动节点信号输出开关34处于打开状态，指示灯控制线50电平被节点信号输出开关34拉低为低电平。

所述节点数据信号输入端包括一节点比较器35，所述节点比较器35的一个输入端通过连接指示灯控制线50连接对应的通讯接口21，节点比较器35的另一个输入端为基准电压输入，节点比较器35的输出端与节点MCU32连接，该阶段数据信号输入端工作过程：节点比较器35从指示灯控制线50这一路获取测试总线40的电平，以及从另一路获取基准电压，该电平经与基准电压比较后在比较器输出端形成串行数据，最终输入输入节点MCU32。

如图2所示，本实施例一的通讯节点模块30可通过该通讯电路满足通讯需求，通讯节点模块30具有模块指示灯31、节点MCU32以及与节点MCU32连接的节点数据信号输入端、节点数据信号输出端、传感器36，所述模块指示灯31连接指示灯使能信号线51；所述节点数据信号输入端包括第一节点输入MOS管开关Q1、第二节点输入MOS管开关Q2、第三节点输入MOS管开关Q3，所述第一节点输入MOS管开关Q1的栅极连接指示灯使能信号线51，第一节点输入MOS管开关Q1的源极连接第二节点输入MOS管开关Q2的栅极，第一节点输入MOS管开关Q1的漏极通过一稳压二极管D1连接指示灯控制线50，所述第二节点输入MOS管开关Q2的漏极连接第三节点输入MOS管开关Q3的栅极，第三节点输入MOS管开关Q3的漏极连接节点MCU32，第二节点输入MOS管开关Q2的源极与第三节点输入MOS管开关Q3的源极均接地，第二节点输入MOS管开关Q2的漏极与第三节点输入MOS管开关Q3的漏极分别接上拉电阻后接电源正极，所述节点数据信号输出端包括第一节点输出MOS管开关Q4、第二节点输入MOS管开关Q5，所述第一节点输出MOS管开关Q4的栅极连接节点MCU32并通过上拉电阻接电源正极，第一节点输出MOS管开关Q4的漏极连接第二节点输入MOS管开关Q5的栅极并通过电阻连接到电源正极，第二节点输入MOS管开关Q5的漏极经过电阻连接到指示灯控制线50，第一节点节点输出MOS管开关Q4的源极与第二节点输出MOS管开关Q5的源极均接地。基于上述电通讯电路，其工作过程为：当指示灯使能信号线51输入高电平时，指示灯控制线50经稳压二极管D1减压后以消除指示灯使能信号对指示灯控制线50的影响，当指示灯控制线50高电平时，信号通过第一节点输入MOS管开关Q1后，打开第二节点输入MOS管开关Q2从而关闭第三节点输入MOS管开关Q3，节点MCU32收到高电平信号，当指示灯控制线50低电平时第二节点输入MOS管开关Q2关闭，第三节点输入MOS管开关Q3打开，节点MCU32收到低电平信号。节点MCU32输出高电平信号，第一节点输出MOS管开关Q4打开从而第二节点输出MOS管开关Q5关闭，指示灯控制线50维持高电平信号，节点MCU32输出低电平信号时，第一节点输出MOS管开关Q4关闭，从而打开第二节点输出MOS管开关Q5，指示灯控制线50对地接通变为低电平。

基于实施例一的技术方案，本实用新型的基于导通测试仪的测试模块通讯结构具有以下两种工作模式：

通讯模式：当导通测试主机10需要与指定通讯节点模块30进行通讯时，则由导通测试主机10控制打开与相应的通讯接口21连接的第一开关22，导通测试主机10的主机MCU11通过信号输出端输出信号，在测试总线40上形成脉冲信号，这些信号一次经第一开关22、模块指示灯控制线50后，通过节点比较器35转化为节点MCU32可以接受的串口输入信号(即串口数据)，导通测试主机10发送信号结束后等待接收通讯节点模块30输出的串口信号。节点MCU32从传感器36获取测试数据，在同一条测试总线40下的每个测试模块(即所述通讯节点模块30)依照设定的时间节点，逐个将导通测试主机10要求的数据经节点信号输出端输出，信号经节点反相器33、节点输出开关34、第一开关22后，在测试总线40上形成脉冲信号，脉冲信号经主机比较器14后转化为主机MCU11可接受的串口输入信号。

非通讯模式：在该模式下，导通测试主机10的主机MCU11也可以控制打开指定第二开关23，即测试模块(即所述通讯节点模块30)的模块指示灯控制线所连接的测试点的第二开关23，从而将该测试点与地线接通，进而点亮模块指示灯31，实现模块指示功能。

本实用新型由于具有上述两种工作模式，因此优点如下：本实施例通过在测试模块的基础上增加通讯接口21，连接在导通测试点板20上测试点(通讯接口21)的指示灯控制线50既可以作为模块测试结果的反馈线路，用于控制模块指示灯31，也可以用作向通讯节点模块30发送和接收数据的通讯线路；导通测试点板20的每个测试点，不仅可以用于测试线路的导通、电阻、电容等，还可以作为通讯接口向通讯节点模块发送和接收数据，因而，利用原来测试模块的错误指示线路(即测试总线40和指示灯控制线50)兼当通讯线路，在不增加接线的情况下，将每个测试模块组成通讯网络，即每个测试模块兼当通讯节点模块30，实现导通测试主机10可以读取测试模块的测试结果和参数设置，并将这些数据进行保存，实现测试产品的追溯；此外，在非通讯模式下，测试模块还能够与地线接通，进而点亮模块指示灯，实现模块指示功能。

实施例二

如图3所示，本实用新型实施例二揭示的一种基于导通测试仪的测试模块通讯结构，包括导通测试主机10以及多个通讯节点模块30，每个所述通讯节点模块30为一个测试节点；

所述导通测试主机10具有主机MCU11以及分别与主机MCU11连接的主机数据信号输出端、主机数据信号输入端，所述主机数据信号输出端、主机数据信号输入端均连接通讯总线；

所述通讯节点模块30具有节点MCU32以及与节点MCU32连接的节点数据信号输入端、节点数据信号输出端、传感器36，所述节点数据信号输入端、节点数据信号输出端均连接通讯总线60，节点MCU32还通过通讯使能信号线52连接主机MCU11。

具体的，所述主机数据信号输出端包括与所述主机MCU11依次连接的主机反相器12、主机信号输出开关13，所述主机信号输出开关13的漏极与通讯总线60连接并经过电阻后与电源正极连接，主机信号输出开关13的源极接地，使得通讯总线60电平依照主机数据信号输出端的电平发生变化；所述主机数据信号输入端包括一主机比较器14，所述通讯总线60连接所述主机比较器14一个输入端，主机比较器14另一个输入端为基准电压输入，主机比较器14输出端连接所述主机MCU11。

具体的，所述节点数据信号输出端包括与所述节点MCU32依次连接的节点反相器33、节点信号输出开关34，所述节点信号输出开关34的漏极连接通讯总线60，节点信号输出开关34的源极接地；所述节点数据信号输入端包括一节点比较器35，所述节点比较器35的一个输入端连接通讯总线60，节点比较器35的另一个输入端为基准电压输入，节点比较器的输出端与节点MCU32连接。

基于实施例二的技术方案，本实用新型的基于导通测试仪的测试模块通讯结构工作过程为：

当导通测试主机10需要与多个通讯节点模块30进行通讯时，则由导通测试主机10的主机MCU11通过信号输出端输出信号，在通讯总线60上形成脉冲信号，通过节点比较器35转化为节点MCU32可以接受的串口输入信号(即串口数据)，导通测试主机10发送信号结束后等待接收通讯节点模块30输出的串口信号。节点MCU32从传感器36获取测试数据，在同一条通讯总线60下的每个测试模块(即所述通讯节点模块30)依照设定的时间节点，逐个将导通测试主机10要求的数据经节点信号输出端输出，信号经节点反相器33、节点输出开关34后，在通讯总线60上形成脉冲信号，脉冲信号经主机比较器14后转化为主机MCU11可接受的串口输入信号。该实施例二的技术方案相较于实施例一的组网结构更为简洁，通讯效率高。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”或“一可选实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述的实施方式，并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在该技术方案的保护范围之内。

Claims (10)

1.基于导通测试仪的测试模块通讯结构，其特征在于：包括导通测试主机、导通测试点板、多个通讯节点模块，每个所述通讯节点模块为一个测试节点；

所述导通测试主机具有主机MCU以及分别与主机MCU连接的主机数据信号输出端、主机数据信号输入端；

所述导通测试点板具有多个通讯接口，每个所述通讯接口均通过对应的第一开关连接测试总线，同时通过对应的第二开关接地；第一开关打开时为通讯状态，所述导通测试主机向对应的测试节点发送及接收数据信号，在通讯状态下所述第二开关处于关闭状态；

所述通讯节点模块具有模块指示灯、节点MCU以及与节点MCU连接的节点数据信号输入端、节点数据信号输出端、传感器，所述模块指示灯、节点数据信号输入端、节点数据信号输出端均通过模块指示灯控制线连接对应的通讯接口，所述模块指示灯还通过指示灯使能信号线与所述主机MCU连接。

2.如权利要求1所述的基于导通测试仪的测试模块通讯结构，其特征在于：所述第一开关和所述第二开关均为MOS管开关电路，所述第一开关和所述第二开关分别由导通测试主机生成的两列串行数据经导通测试点板上的串转并集成电路控制，以控制第一开关和所述第二开关打开/关闭。

3.如权利要求1所述的基于导通测试仪的测试模块通讯结构，其特征在于：所述主机数据信号输出端包括与所述主机MCU依次连接的主机反相器、主机信号输出开关，所述主机信号输出开关的漏极与测试总线连接并经过一个限流电阻与电源正极连接，主机信号输出开关的源极接地，使得测试总线电平跟随主机数据信号输出端电平变化。

4.如权利要求1所述的基于导通测试仪的测试模块通讯结构，其特征在于：所述主机数据信号输入端包括一主机比较器，所述测试总线连接所述主机比较器一个输入端，主机比较器另一个输入端为基准电压输入，主机比较器输出端连接所述主机MCU。

5.如权利要求1所述的基于导通测试仪的测试模块通讯结构，其特征在于：所述节点数据信号输出端包括与所述节点MCU依次连接的节点反相器、节点信号输出开关，所述节点信号输出开关的漏极通过指示灯控制线连接对应的通讯接口，节点信号输出开关的源极接地；

所述节点数据信号输入端包括一节点比较器，所述节点比较器的一个输入端通过连接指示灯控制线连接对应的通讯接口，节点比较器的另一个输入端为基准电压输入，节点比较器的输出端与节点MCU连接。

6.如权利要求1所述的基于导通测试仪的测试模块通讯结构，其特征在于：所述节点数据信号输入端包括第一节点输入MOS管开关、第二节点输入MOS管开关、第三节点输入MOS管开关，所述第一节点输入MOS管开关的栅极连接指示灯使能信号线，第一节点输入MOS管开关的源极连接第二节点输入MOS管开关的栅极，第一节点输入MOS管开关的漏极通过一稳压二极管连接指示灯控制线，所述第二节点输入MOS管开关的漏极连接第三节点输入MOS管开关的栅极，第三节点输入MOS管开关的漏极连接节点MCU，第二节点输入MOS管开关的源极与第三节点输入MOS管开关的源极均接地，第二节点输入MOS管开关的漏极与第三节点输入MOS管开关的漏极分别接上拉电阻后接电源正极，所述节点数据信号输出端包括第一节点输出MOS管开关、第二节点输出MOS管开关，所述第一节点输出MOS管开关的栅极连接节点MCU并通过上拉电阻接电源正极，第一节点输出MOS管开关的漏极连接第二节点输出MOS管开关的栅极并通过电阻连接到电源正极，第二节点输出MOS管开关的漏极经过电阻连接到指示灯控制线，第一节点节点输出MOS管开关的源极与第二节点输出MOS管开关的源极均接地。

7.如权利要求1所述的基于导通测试仪的测试模块通讯结构，其特征在于：与所述导通测试点板上的通讯接口连接的指示灯控制线既作为模块测试结果的反馈线路，也作为向通讯节点模块发送和接收数据的通讯线路；所述导通测试点板的每个通讯接口用于测试线路的导通、电阻、电容，还作为通讯接口向通讯节点模块发送和接收数据。

8.基于导通测试仪的测试模块通讯结构，其特征在于：包括导通测试主机以及多个通讯节点模块，每个所述通讯节点模块为一个测试节点；

所述导通测试主机具有主机MCU以及分别与主机MCU连接的主机数据信号输出端、主机数据信号输入端，所述主机数据信号输出端、主机数据信号输入端均连接通讯总线；

所述通讯节点模块具有节点MCU以及与节点MCU连接的节点数据信号输入端、节点数据信号输出端、传感器，所述节点数据信号输入端、节点数据信号输出端均连接通讯总线，节点MCU还通过通讯使能信号线连接主机MCU。

9.如权利要求8所述的基于导通测试仪的测试模块通讯结构，其特征在于：所述主机数据信号输出端包括与所述主机MCU依次连接的主机反相器、主机信号输出开关，所述主机信号输出开关的漏极与通讯总线连接并经过一个限流电阻与电源正极连接，主机信号输出开关的源极接地，使得通讯总线电平依照主机数据信号输出端的电平发生变化；

所述主机数据信号输入端包括一主机比较器，所述通讯总线连接所述主机比较器一个输入端，主机比较器另一个输入端为基准电压输入，主机比较器输出端连接所述主机MCU。

10.如权利要求8所述的基于导通测试仪的测试模块通讯结构，其特征在于：所述节点数据信号输出端包括与所述节点MCU依次连接的节点反相器、节点信号输出开关，所述节点信号输出开关的漏极连接通讯总线，节点信号输出开关的源极接地；

所述节点数据信号输入端包括一节点比较器，所述节点比较器的一个输入端连接通讯总线，节点比较器的另一个输入端为基准电压输入，节点比较器的输出端与节点MCU连接。