CN219475725U - 一种能检测精密电阻的检测电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种能检测精密电阻的检测电路,其包括运算放大器A、同相电路、反相电路、参考电路，所述参考电路连接在所述参考电路运算放大器A上，参考电路包括运算放大器B，运算放大器B输出端经滤波电容C1、C2连接所述参考电路运算放大器A的同相输入端，运算放大器B上跨接有负反馈电阻R2，运算放大器B同相输入端经电阻R12输出模拟信号，运算放大器B反向输入端经电阻R3接地。本电路采取运算放大器两输入端参数对称的原理来实现检测电阻阻值，只需将元件接入电路同相输入端，电路就会对元器件的阻值进行实时监测，简化电路结构的同时使结果输出具备实时性和连续性，同时还能够实现对元器件自身温度以及工作环境的监控。

Description

一种能检测精密电阻的检测电路

技术领域

本实用新型涉及电子元件检测技术领域，具体涉及一种能检测精密电阻的检测电路。

背景技术

传统测量元件阻值的方式多种多样，但普遍存在电路结构繁琐、结果输出滞后及不连续等问题。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是：克服传统元件阻值测量技术的电路结构复杂、结果输出滞后及不连续等问题，提供一种能检测精密电阻的检测电路。其采取运算放大器两输入端参数对称的原理来实现检测电阻阻值，只需将元件接入电路同相输入端，电路就会对元器件的阻值进行实时监测，简化电路结构的同时使结果输出具备实时性和连续性，同时还能够实现对元器件自身温度以及工作环境的监控。

本能检测精密电阻的检测电路包括运算放大器A，连接在所述运算放大器A的同相输入端上、用于连接被测元件的同相电路，连接在所述运算放大器A反相输入端上、用于与同相电路形成对称的反相电路，为运算放大器A正极提供参考电压的参考电路，其中，所述参考电路连接在所述运算放大器A上，参考电路包括运算放大器B，运算放大器B输出端经滤波电容C1、C2连接所述运算放大器A的同相输入端，为运算放大器A正极提供参考电压，运算放大器B上跨接有负反馈电阻R2，通过改变R2的大小可以改变参考电压的的大小，运算放大器B同相输入端经电阻R12输出模拟信号，通过该4-20ma的模拟量输出信号对元器件以及工作环境温度进行监控，运算放大器B反向输入端经电阻R3接地。

具体的，所述同相电路经电阻R6后，一路电阻R11连接被测元件，另一路经分压电阻R10接地。

具体的，所述反相电路经电阻R5后，一路经分压电阻R7连接测试电源，另一路经电阻R9接地。

具体的，所述运算放大器A反向输入端与输出端之间跨接有负反馈电阻R4，并于电阻R4后级设有滤波电容C4、C5。

具体的，形成对称电路的所述同相电路与反相电路之间设有隔离电容C6。

进一步的，所述运算放大器A与运算放大器B集成在LM358模块上。

本实用新型一种能检测精密电阻的检测电路，克服了传统元件阻值测量技术的电路结构复杂、结果输出滞后及不连续等问题，其采取运算放大器两输入端参数对称的原理来实现检测电阻阻值，只需将元件接入电路同相输入端，电路就会对元器件的阻值进行实时监测，简化电路结构的同时使结果输出具备实时性和连续性，同时还能够实现对元器件自身温度以及工作环境的监控。

附图说明

下面结合附图对本实用新型一种能检测精密电阻的检测电路作进一步说明：

图1是本能检测精密电阻的检测电路的逻辑结构连接线框图；

图2是本能检测精密电阻的检测电路实施方式1的等效电路图；

图3是本能检测精密电阻的检测电路实施方式3的电路图。

图中：

1-同相电路、2-反相电路、3-参考电路。

具体实施方式

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系均为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

以下用具体实施例对本实用新型技术方案做进一步描述，但本实用新型的保护范围不限制于下列实施例。

实施方式1：如图1、2所示，本能检测精密电阻的检测电路包括运算放大器A，连接在所述运算放大器A的同相输入端上、用于连接被测元件的同相电路1，连接在所述运算放大器A反相输入端上、用于与同相电路1形成对称的反相电路2，为运算放大器A正极提供参考电压的参考电路3，其中，所述参考电路3连接在所述运算放大器A上，参考电路3包括运算放大器B，运算放大器B输出端经滤波电容C1、C2连接所述运算放大器A的同相输入端，为运算放大器A正极提供参考电压，运算放大器B上跨接有负反馈电阻R2，通过改变R2的大小可以改变参考电压的的大小，运算放大器B同相输入端经电阻R12输出模拟信号，通过该4-20ma的模拟量输出信号对元器件以及工作环境温度进行监控，运算放大器B反向输入端经电阻R3接地。

实施方式2：如图2所示，本能检测精密电阻的检测电路所述同相电路1经电阻R6后，一路电阻R11连接被测元件，另一路经分压电阻R10接地。所述反相电路2经电阻R5、R9接地。所述运算放大器A反向输入端与输出端之间跨接有负反馈电阻R4，并于电阻R4后级设有滤波电容C4、C5。形成对称电路的所述同相电路1与反相电路2之间设有隔离电容C6。其余结构和部件如实施方式1所述，不再重复描述。

实施方式3：如图3所示，本能检测精密电阻的检测电路所述运算放大器A与运算放大器B集成在LM358模块上。其余结构和部件如实施方式1所述，不再重复描述。

运行时：同相电路前级连接被测元件，与反相电路构成对比电路，为运算放大器A的正极提供参考电压，通过改变R2的大小可以改变参考电压的的大小。当被测元件的阻值与R11的阻值5k相加恰好等于R7的阻值46k时，运算放大器A的正负极电路完全对称，则V_out与参考电压相等；当被测元件的阻值与R11的阻值5k相加之和小于R7的阻值46k时，正极R10的分压能力变强，这时V_out变大；当被测元件的阻值与R11的阻值5k相加之和大于R7的阻值46k时，正极R10的分压能力变弱，这时V_out变小；最后通过V_out的输出值可以精准得读出被测元件的电阻值。

本能检测精密电阻的检测电路克服了传统元件阻值测量技术的电路结构复杂、结果输出滞后及不连续等问题，其采取运算放大器两输入端参数对称的原理来实现检测电阻阻值，只需将元件接入电路同相输入端，电路就会对元器件的阻值进行实时监测，简化电路结构的同时使结果输出具备实时性和连续性，同时还能够实现对元器件自身温度以及工作环境的监控。

以上描述显示了本实用新型的主要特征、基本原理，以及本实用新型的优点。对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施方式或者实施例的细节，且在不背离本实用新型的精神或者基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此应将上述实施方式或者实施例看作示范性的，且非限制性的。本实用新型的范围由所附权利要求而非上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (6)

1.一种能检测精密电阻的检测电路，其特征是：包括运算放大器A，连接在所述运算放大器A的同相输入端上、用于连接被测元件的同相电路（1），连接在所述运算放大器A反相输入端上、用于与同相电路（1）形成对称的反相电路（2），为运算放大器A正极提供参考电压的参考电路（3），其中，

所述参考电路（3）连接在所述运算放大器A上，参考电路（3）包括运算放大器B，运算放大器B输出端经滤波电容C1、C2连接所述运算放大器A的同相输入端，为运算放大器A正极提供参考电压，运算放大器B上跨接有负反馈电阻R2，运算放大器B同相输入端经电阻R12输出模拟信号，运算放大器B反向输入端经电阻R3接地。

2.根据权利要求1所述的能检测精密电阻的检测电路，其特征是：所述同相电路（1）经电阻R6后，一路电阻R11连接被测元件，另一路经分压电阻R10接地。

3.根据权利要求2所述的能检测精密电阻的检测电路，其特征是：所述反相电路（2）经电阻R5后，一路经分压电阻R7连接测试电源，另一路经电阻R9接地。

4.根据权利要求3所述的能检测精密电阻的检测电路，其特征是：所述运算放大器A反向输入端与输出端之间跨接有负反馈电阻R4，并于电阻R4后级设有滤波电容C4、C5。

5.根据权利要求4所述的能检测精密电阻的检测电路，其特征是：形成对称电路的所述同相电路（1）与反相电路（2）之间设有隔离电容C6。

6.根据权利要求4所述的能检测精密电阻的检测电路，其特征是：所述运算放大器A与运算放大器B集成在LM358模块上。