CN219475422U - 一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及膜材缺陷检测结构，为了解决卷料膜类材料检测装置(结构)存在无法高速检测大宽幅膜类卷料可能存在的表面划伤类缺陷，且存在体积大、布局不合理和检测效果一般的问题，提供一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构，包括至少一个检测模块，每个检测模块均包括一台相机和一个光源，所述相机和光源均成角度的设置在膜材的一侧，光线从光源射出照射在膜材上，并在膜材上产生一个光斑，相机朝向光斑，相机的成像点位于光斑的边缘位置，本实用新型具有检测宽度宽、能快速检测出膜类卷料可能存在的表面划伤类缺陷、准确率高、布局合理和整机体积小的特点。

Description

一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构

技术领域

本实用新型涉及膜材缺陷检测结构，尤其是一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构。

背景技术

现有客户端卷料膜类材料的表面划伤缺陷，通过缺陷成像和系统处理后，可检出对应缺陷，可检出的难点在于：

1)产品尺寸受限无法适用于较大(检测幅宽需要2.5m)的卷料膜类材料，一个相机无法对应2.5m的检测视野。

2)线扫相机对膜材产品表面划伤的成像效果一般。

3)卷料产品行进速度较快(MAX60m/min)现有的检测结构存在漏检率过高的问题。

4)客户要求在保证检测质量和检测速度的前提下，整机体积越小越好，导致现有布局无法满足客户的要求。

综上所述现有的卷料膜类材料检测装置(结构)存在无法高速检测大宽幅膜类卷料可能存在的表面划伤类缺陷，且存在体积大、布局不合理和检测效果一般的问题。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是：为了解决卷料膜类材料检测装置(结构)存在无法高速检测大宽幅膜类卷料可能存在的表面划伤类缺陷，且存在体积大、布局不合理和检测效果一般的问题，提供一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构，包括至少一个检测模块，每个检测模块均包括一台相机和一个光源，所述相机和光源均成角度的设置在膜材的一侧，光线从光源射出照射在膜材上，并在膜材上产生一个光斑，相机朝向光斑，相机的成像点位于光斑的边缘位置。

进一步，所述光斑靠近相机一侧为光斑前端，靠近光源一侧为光斑后端，相机的成像点位于光斑前端的边缘位置。

进一步，所述检测模块为多个时，检测模块成V形、W形或一字形排列。

进一步，所述光源为高亮度的条形光源，光源与膜材之间存在夹角β，β的角度为70°±20°。

进一步，所述相机为黑白线扫相机，相机与膜材之间存在夹角α，α的角度为60°±5°。

本实用新型的有益效果是，本实用新型的一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构，

1)、在相机和光源均在产品一侧的条件下，采用高亮条光光源的反射暗场打光方式，多个相机视野组合，组合成超宽(超2.5m)的检测视野，使膜材表面划伤缺陷可以成像。

2)、使用高亮条光的反射成像方式，使成像点位于光斑边缘，呈现暗场效果，将缺陷成像，便于人员的成像查看，方便准确检测出产品缺陷，为客户提供了高质量产品和节约了产线检测人员。

3)、使用线扫相机检测，实现检测速度和成像精度的完美结合。

综上所述本实用新型具有检测宽度宽、能快速检测出膜类卷料可能存在的表面划伤类缺陷、准确率高、布局合理和整机体积小的特点。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型单个检测模块的结构示意图。

图2是本实用新型多个检测模块的排列分布图。

图中：1.相机、2.光源、3.膜材、4.光斑。

具体实施方式

现在结合附图和优选实施例对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。

如图1和图2所示的一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构，包括五个检测模块，五个检测模块根据被检测膜材(卷料膜材)的宽度进行排列，常见的排列方式有V形、W形和一字形排列，通常宽幅较小时采用V形排列，宽幅中等时采用W形排列，宽幅较大时采用一字形排列；考虑通风散热的问题可以通过增加检测模块的数量并采用W形排列来匹配被检测膜材的宽度，图中采用的是一字形排列。

每个检测模块均包括一台相机1和一个光源2，相机1和光源2均通过安装架安装在膜材3的一侧，如膜材3的上表面一侧，光源2市购高亮度的条形光源，光源2与膜材3之间存在夹角β，β的角度在70°±20°，图中为70°，光线从光源2射出照射在膜材3上，并在膜材3上产生一个光斑4，相机1对准光斑4，相机1的成像点位于光斑4的边缘，图中相机1的成像点位于光斑4前端的边缘，前端和后端是相对于相机1和光源2的位置来进行限定的，光斑4靠近相机1一侧为光斑4前端，靠近光源2一侧为光斑4后端。

相机1为市购的E2v8K黑白线扫相机，相机1与膜材3之间存在夹角α，α的角度为60°±5°，图中为60°。

上述采用到的暗场原理是：使用光源2发出的衍射光对缺陷进行照射成像选择光斑4边缘位置，因为检测缺陷为膜材表面划伤，划伤缺陷需要有侧面光照射才会有成像，所以选择使用暗场成像，光斑边缘的衍射光最强，成像效果最佳；让衍射光成像的操作称为暗场操作，所成的像称为暗场成像。

实际使用时

当膜材3开始检测时，通过编码器传输信号给相机1，相机1开始采图拍照，将图像传输给PC，通过软件算法处理，通过MAP地图输出检测结果；相机1工作期间光源2保持常亮状态。

以上说明书中描述的只是本实用新型的具体实施方式，各种举例说明不对本实用新型的实质内容构成限制，所属技术领域的普通技术人员在阅读了说明书后可以对以前所述的具体实施方式做修改或变形，而不背离实用新型的实质和范围。

Claims (5)

1.一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构，其特征在于：包括至少一个检测模块，每个检测模块均包括一台相机和一个光源，所述相机和光源均成角度的设置在膜材的一侧，光线从光源射出照射在膜材上，并在膜材上产生一个光斑，相机朝向光斑，相机的成像点位于光斑的边缘位置。

2.如权利要求1所述的一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构，其特征在于：所述光斑靠近相机一侧为光斑前端，靠近光源一侧为光斑后端，相机的成像点位于光斑前端的边缘位置。

3.如权利要求1所述的一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构，其特征在于：所述检测模块为多个时，检测模块成V形、W形或一字形排列。

4.如权利要求1所述的一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构，其特征在于：所述光源为高亮度的条形光源，光源与膜材之间存在夹角β，β的角度为70°±20°。

5.如权利要求1所述的一种针对膜材表面划伤缺陷检测成像结构，其特征在于：所述相机为黑白线扫相机，相机与膜材之间存在夹角α，α的角度为60°±5°。