CN219245682U - 一种环网箱配套用航插端子测试仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种环网箱配套用航插端子测试仪，包括核心板单片机模块、测试信号输出接口扩展电路、反馈信号输入接口扩展电路、焊接短路状态显示电路、被测件端子接口、被测件、被测件引线接口及焊接断线状态显示电路；其中，核心板单片机模块分别与测试信号输出接口扩展电路、反馈信号输入接口扩展电路保持连接。本实用新型通过以接线端子测试工装的设计目的是对焊接好的端子进行测试，检测管脚的连焊、虚焊或线号错误等质量缺陷；使用该测试工装可以对接线端子实现半自动化测试，可以提高测试效率，降低产品的不良率，降低生产成本。

Description

一种环网箱配套用航插端子测试仪

技术领域

本实用新型涉及环网柜测试技术领域，具体来说，涉及一种环网箱配套用航插端子测试仪。

背景技术

智能配电网是提高城配网供电可靠性的重要手段，是电力系统现代化发展的必然趋势。近年来，全国智能配电网建设呈现出较快的发展趋势，智能配电网示范工程规模大、周期长，往往一个地市城区智能配电网改造就长达1-2年，涉及的部门、设备、物资、材料、厂家远远超出以前配网工程的数量，工作量成倍数的增加，工程计划制定难度大，具有其他常规工程项目不可比拟的规模及复杂性。

环网箱是配电系统的重要组成部分，为保证设备可靠运行，提高供电可靠性，需要进行全部或抽样检测。因为缺乏专用设备，当前检测都是用零散检测仪器，通过人工逐项测试，自动化水平低；测试效率低下，无法应对环网箱的大量检测需求；测试人员劳动强度大、人员专业性要求高、人员易出错，测试结果的客观性有时难以保证。

目前行业内和市面上没有可用的测试设备或者仪器，全靠人工两个人配合点对点测试，效率低，误差大，成本高、操作繁琐、不稳定、错误率高、反应速度慢等。

针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了环网箱配套用航插端子测试仪，具备连接方便快捷、显示直观清晰，且功能全面操作简单的优点，进而传统测试过程仅能依靠人工手动检测，步骤冗余困难的问题。

(二)技术方案

为实现上述连接方便快捷、显示直观清晰，且功能全面操作简单的优点，本实用新型采用的具体技术方案如下：

一种环网箱配套用航插端子测试仪，包括核心板单片机模块、测试信号输出接口扩展电路、反馈信号输入接口扩展电路、焊接短路状态显示电路、被测件端子接口、被测件、被测件引线接口及焊接断线状态显示电路；

其中，核心板单片机模块分别与测试信号输出接口扩展电路、反馈信号输入接口扩展电路保持连接，测试信号输出接口扩展电路依次与焊接短路状态显示电路、被测件端子接口、被测件、被测件引线接口及焊接断线状态显示电路保持连接，焊接短路状态显示电路与测试信号输出接口扩展电路之间保持连接。

进一步的，核心板单片机模块包括单片机核心板电路、电源模块电路及按键控制电路。

进一步的，单片机核心板电路包括芯片STM32F103、电阻R132及发光二极管D70，电源模块包括电源接口P1、主供电模块HLK1、副供电模块HLK2、电容C5及电容C6，按键控制电路包括电阻R131、复位按键K1及测试按键K2；

其中，芯片STM32F103的VB引脚与3.3引脚与直流电源保持连接，芯片STM32F103的5V引脚与主供电模块HLK1的+5V引脚、电容C5的一端保持连接，芯片STM32F103的R引脚输出RST信号且与复位按键K1一端保持连接，芯片STM32F103的A9引脚输出KSCS信号且与测试按键K2一端、电阻R131一端保持连接，芯片STM32F103的A15引脚输出ZTXS信号且与电阻R132一端保持连接，电阻R132另一端与发光二极管D70阴极保持连接，复位按键K1另一端与测试按键K2另一端保持连接且接地，主供电模块HLK1与电源接口P1保持串联连接，副供电模块HLK2与主供电模块HLK1保持并联连接。

进一步的，测试信号输出接口扩展电路包括并口扩展芯片U1、并口扩展芯片U2、并口扩展芯片U3、并口扩展芯片U4、电容C1及电容C2；

其中，并口扩展芯片U1的OE引脚与芯片STM32F103的B1引脚保持连接，并口扩展芯片U2的OE引脚与芯片STM32F103的B0引脚保持连接，并口扩展芯片U3的OE引脚与芯片STM32F103的B7引脚保持连接，并口扩展芯片U4的OE引脚与芯片STM32F103的A10引脚保持连接，电容C1一端与并口扩展芯片U1的DIR引脚、VCC引脚保持连接，电容C1另一端接地，电容C2一端与并口扩展芯片U3的DIR引脚、VCC引脚保持连接，电容C2另一端接地。

进一步的，反馈信号输入接口扩展电路包括并口扩展芯片U5、并口扩展芯片U6、并口扩展芯片U7、并口扩展芯片U8、电容C3及电容C4；

其中，并口扩展芯片U5的OE引脚与芯片STM32F103的A8引脚保持连接，并口扩展芯片U6的OE引脚与芯片STM32F103的B5引脚保持连接，并口扩展芯片U7的OE引脚与芯片STM32F103的A12引脚保持连接，并口扩展芯片U8的OE引脚与芯片STM32F103的A11引脚保持连接，电容C3一端与并口扩展芯片U5的VCC引脚保持连接，电容C1另一端接地，电容C4一端与并口扩展芯片U6的VCC引脚保持连接，电容C1另一端接地。

进一步的，焊接短路状态显示电路包括电阻R9、电阻R13、发光二极管D1及反馈隔离光耦G2；

其中，电阻R9一端接地，电阻R9另一端与反馈隔离光耦G2接收端E极保持连接，反馈隔离光耦G2发射端负极与电阻R13一端保持连接，电阻R13另一端与发光二极管D1正极连接，发光二极管D1负极接地。

进一步的，被测件端子接口包括输出隔离光耦G1与电阻R5；

其中，输出隔离光耦G1的接收端E极与反馈隔离光耦G2的发射端正极保持连接，输出隔离光耦G1的发射端正极与电阻R5一端连接。

进一步的，焊接断线状态显示电路包括管脚线端口P4、管脚线端口P5、电阻RX1、电阻RX2、电阻RX3、电阻RX4、电阻RX5、电阻RX6、电阻RX7、电阻RX8、电阻RX9、电阻RX10、电阻RX11、电阻RX12、电阻RX13、电阻RX14、电阻RX15、电阻RX16、电阻RX17、电阻RX18、电阻RX19、电阻RX20、电阻RX21、电阻RX22、电阻RX23、电阻RX24、电阻RX25、电阻RX26、电阻RX27、电阻RX28、电阻RX29、电阻RX30、电阻RX31、电阻RX32、发光二极管DX1、发光二极管DX2、发光二极管DX3、发光二极管DX4、发光二极管DX5、发光二极管DX6、发光二极管DX7、发光二极管DX8、发光二极管DX9、发光二极管DX10、发光二极管DX11、发光二极管DX12、发光二极管DX13、发光二极管DX14、发光二极管DX15、发光二极管DX16、发光二极管DX17、发光二极管DX18、发光二极管DX19、发光二极管DX20、发光二极管DX21、发光二极管DX22、发光二极管DX23、发光二极管DX24、发光二极管DX25、发光二极管DX26、发光二极管DX27、发光二极管DX28、发光二极管DX29、发光二极管DX30、发光二极管DX31及发光二极管DX32；

其中，管脚线端口P4由第16引脚至第1引脚依次与发光二极管DX1正极、发光二极管DX2正极、发光二极管DX3正极、发光二极管DX4正极、发光二极管DX5正极、发光二极管DX6正极、发光二极管DX7正极、发光二极管DX8正极、发光二极管DX9正极、发光二极管DX10正极、发光二极管DX11正极、发光二极管DX12正极、发光二极管DX13正极、发光二极管DX14正极、发光二极管DX15正极、发光二极管DX16正极保持连接，发光二极管DX1负极与电阻RX1一端连接，电阻RX1另一端接地，发光二极管DX2负极与电阻RX2一端连接，电阻RX2另一端接地，发光二极管DX3负极与电阻RX3一端连接，电阻RX3另一端接地，发光二极管DX4负极与电阻RX4一端连接，电阻RX4另一端接地，发光二极管DX5负极与电阻RX5一端连接，电阻RX5另一端接地，发光二极管DX6负极与电阻RX6一端连接，电阻RX6另一端接地，发光二极管DX7负极与电阻RX7一端连接，电阻RX7另一端接地，发光二极管DX8负极与电阻RX8一端连接，电阻RX8另一端接地，发光二极管DX9负极与电阻RX9一端连接，电阻RX9另一端接地，发光二极管DX10负极与电阻RX10一端连接，电阻RX10另一端接地，发光二极管DX11负极与电阻RX11一端连接，电阻RX11另一端接地，发光二极管DX12负极与电阻RX12一端连接，电阻RX12另一端接地，发光二极管DX13负极与电阻RX13一端连接，电阻RX13另一端接地，发光二极管DX14负极与电阻RX14一端连接，电阻RX14另一端接地，发光二极管DX15负极与电阻RX15一端连接，电阻RX15另一端接地，发光二极管DX16负极与电阻RX16一端连接，电阻RX16另一端接地；

管脚线端口P5由第16引脚至第1引脚依次与发光二极管DX17正极、发光二极管DX18正极、发光二极管DX19正极、发光二极管DX20正极、发光二极管DX21正极、发光二极管DX22正极、发光二极管DX23正极、发光二极管DX24正极、发光二极管DX25正极、发光二极管DX26正极、发光二极管DX27正极、发光二极管DX28正极、发光二极管DX29正极、发光二极管DX30正极、发光二极管DX31正极、发光二极管DX32正极保持连接，发光二极管DX17负极与电阻RX17一端连接，电阻RX17另一端接地，发光二极管DX18负极与电阻RX18一端连接，电阻RX18另一端接地，发光二极管DX19负极与电阻RX19一端连接，电阻RX19另一端接地，发光二极管DX20负极与电阻RX20一端连接，电阻RX20另一端接地，发光二极管DX21负极与电阻RX21一端连接，电阻RX21另一端接地，发光二极管DX22负极与电阻RX22一端连接，电阻RX22另一端接地，发光二极管DX23负极与电阻RX23一端连接，电阻RX23另一端接地，发光二极管DX24负极与电阻RX24一端连接，电阻RX24另一端接地，发光二极管DX25负极与电阻RX25一端连接，电阻RX25另一端接地，发光二极管DX26负极与电阻RX26一端连接，电阻RX26另一端接地，发光二极管DX27负极与电阻RX27一端连接，电阻RX27另一端接地，发光二极管DX28负极与电阻RX28一端连接，电阻RX28另一端接地，发光二极管DX29负极与电阻RX29一端连接，电阻RX29另一端接地，发光二极管DX30负极与电阻RX30一端连接，电阻RX30另一端接地，发光二极管DX31负极与电阻RX31一端连接，电阻RX31另一端接地，发光二极管DX32负极与电阻RX32一端连接，电阻RX32另一端接地。

(三)有益效果

与现有技术相比，本实用新型提供了环网箱配套用航插端子测试仪，具备以下有益效果：

(1)通过以接线端子测试工装的设计目的是对焊接好的端子进行测试，检测管脚的连焊、虚焊或线号错误等质量缺陷；使用该测试工装可以对接线端子实现半自动化测试，可以提高测试效率，降低产品的不良率，降低生产成本。

(2)通过以STM32单片机为核心，实现相应的自动测试控制；设计测试按钮，实现方便的测试控制；设计LED发光二极管，实现测试状态的直观显示；设计隔离稳压电源，保证操作的安全可靠。

(3)本实用新型具有标准的端子接口，方便被测端子连接；具有清晰的测试状态和测试结果显示功能；具有测试按钮，实现测试控制。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪的原理框图；

图2是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中核心板单片机模块的电源模块电路原理图；

图3是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中核心板单片机模块的按键控制电路原理图；

图4是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中核心板单片机模块的单片机核心板电路原理图；

图5是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中测试信号输出接口扩展电路原理图；

图6是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中反馈信号输入接口扩展电路原理图；

图7是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中焊接短路状态显示电路原理图；

图8是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中焊接短路状态显示电路其余接口原理图之一；

图9是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中焊接短路状态显示电路其余接口原理图之二；

图10是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中被测件端子接口原理图；

图11是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中被测件端子接口其余电路原理图之一；

图12是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中被测件端子接口其余电路原理图之二；

图13是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中被测件端子接口其余电路原理图之三；

图14是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中被测件引线接口原理图；

图15是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中被测件原理图；

图16是根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪中焊接断线状态显示电路原理图。

图中：

1、核心板单片机模块；2、测试信号输出接口扩展电路；3、反馈信号输入接口扩展电路；4、焊接短路状态显示电路；5、被测件端子接口；6、被测件；7、被测件引线接口；8、焊接断线状态显示电路。

具体实施方式

为进一步说明各实施例，本实用新型提供有附图，这些附图为本实用新型揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理，配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本实用新型的优点，图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。

根据本实用新型的实施例，提供了一种环网箱配套用航插端子测试仪。

现结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明，如图1-图16所示，根据本实用新型实施例的环网箱配套用航插端子测试仪，包括核心板单片机模块1、测试信号输出接口扩展电路2、反馈信号输入接口扩展电路3、焊接短路状态显示电路4、被测件端子接口5、被测件6、被测件引线接口7及焊接断线状态显示电路8；

其中，核心板单片机模块1分别与测试信号输出接口扩展电路2、反馈信号输入接口扩展电路3保持连接，测试信号输出接口扩展电路2依次与焊接短路状态显示电路4、被测件端子接口5、被测件6、被测件引线接口7及焊接断线状态显示电路8保持连接，焊接短路状态显示电路4与测试信号输出接口扩展电路2之间保持连接。

在一个实施例中，如图2-4所示，核心板单片机模块1包括单片机核心板电路、电源模块电路及按键控制电路。

本实用新型采用220V交流电源供电，电路板需要220/5V隔离直流电源，为了保证操作的安全可靠，端子部分需要另外一个与主电源相隔离的5V电源，可以采用另外一个220/5V隔离电源实现。

在一个实施例中，如图2-4所示，单片机核心板电路包括芯片STM32F103、电阻R132及发光二极管D70，电源模块包括电源接口P1、主供电模块HLK1、副供电模块HLK2、电容C5及电容C6，按键控制电路包括电阻R131、复位按键K1及测试按键K2；

其中，芯片STM32F103的VB引脚与3.3引脚与直流电源保持连接，芯片STM32F103的5V引脚与主供电模块HLK1的+5V引脚、电容C5的一端保持连接，芯片STM32F103的R引脚输出RST信号且与复位按键K1一端保持连接，芯片STM32F103的A9引脚输出KSCS信号且与测试按键K2一端、电阻R131一端保持连接，芯片STM32F103的A15引脚输出ZTXS信号且与电阻R132一端保持连接，电阻R132另一端与发光二极管D70阴极保持连接，复位按键K1另一端与测试按键K2另一端保持连接且接地，主供电模块HLK1与电源接口P1保持串联连接，副供电模块HLK2与主供电模块HLK1保持并联连接。

如图2所示，右侧P1为电源接入口，接220V市电；HLK1将220V交流电转换为5V直流电供电路板单片机部分和外围电路使用；+5V和GND是主控板的核心逻辑电路部分的电源和地。HLK2是端子管脚的供电模块，为测试端子管脚提供5V的直流电压，这部分与核心板的电源部分隔离，保证操作安全，并防止核心板单片机部分收到干扰，提高系统的工作稳定性，+5V1和GND1是对外测试电路部分的5V电源和地。

如图3所示，按键部分电路的功能是接收操作控制命令，为简化操作，本装置设置了两个按键，分别为“测试”按键和“复位”按键；为了在测试工装上操作方便，在电路板上除了测试按钮之外，还设计了外部按钮接口。

“测试”按键接到单片机的KSCS(A9)管脚，按下该按键，测试工装启动测试过程；复位按键接到单片机的复位管脚，测试中如果检测到管家间有短路的情况，则工装会运行在端子焊接错误状态显示界面下，按下“复位”键则显示清空，可以重新启动下一次测试流程。

为了便于测试人员对测试过程的控制，下边的“P_CS”接口和“P_FW”接口可以用来接外部的测试按钮，测试按钮装与测试工装的箱体上，实现相应的控制。

如图4所示，单片机采用GD32F103C8T6单片机核心板，该核心板采用5V电源供电，具有40个对外管脚，实现信号的输入和控制；各个管脚的功能定义如图4所示，单片机核心板共用了8个开出接口、8个开入接口、4个开出控制接口、4个开入控制接口、1个状态显示接口、一个复位接口。状态显示接口通过输出状态控制D70发光二极管闪烁，实现工作状态的显示。

在一个实施例中，如图5所示，测试信号输出接口扩展电路2包括并口扩展芯片U1、并口扩展芯片U2、并口扩展芯片U3、并口扩展芯片U4、电容C1及电容C2；

其中，并口扩展芯片U1的OE引脚与芯片STM32F103的B1引脚保持连接，并口扩展芯片U2的OE引脚与芯片STM32F103的B0引脚保持连接，并口扩展芯片U3的OE引脚与芯片STM32F103的B7引脚保持连接，并口扩展芯片U4的OE引脚与芯片STM32F103的A10引脚保持连接，电容C1一端与并口扩展芯片U1的DIR引脚、VCC引脚保持连接，电容C1另一端接地，电容C2一端与并口扩展芯片U3的DIR引脚、VCC引脚保持连接，电容C2另一端接地。

在一个实施例中，如图6所示，反馈信号输入接口扩展电路3包括并口扩展芯片U5、并口扩展芯片U6、并口扩展芯片U7、并口扩展芯片U8、电容C3及电容C4；

其中，并口扩展芯片U5的OE引脚与芯片STM32F103的A8引脚保持连接，并口扩展芯片U6的OE引脚与芯片STM32F103的B5引脚保持连接，并口扩展芯片U7的OE引脚与芯片STM32F103的A12引脚保持连接，并口扩展芯片U8的OE引脚与芯片STM32F103的A11引脚保持连接，电容C3一端与并口扩展芯片U5的VCC引脚保持连接，电容C1另一端接地，电容C4一端与并口扩展芯片U6的VCC引脚保持连接，电容C1另一端接地。

如图5-6所示，本测试工装需要测32个端子，也就是需要32个输出口和32个输入接口，核心板的接口数量不能满足要去，因此在测试工装核心板上通过74HC245芯片实现I/O口的扩展，74HC245是一款常用的并口扩展芯片，可以工作在输出或输入模式下；图5中的U1、U2、U3、U4工作在输出模式下，KC1～KC8接到单片机管脚，当KCKZ1管脚输出低电平的情况下，U1输出使能，KC1～KC8的控制状态传到O1～O8，实现对前8路输出的信号输出；同理，KCKZ2控制O9～O16的信号输出控制，KCKZ3实现O17～O24的输出控制，KCKZ4实现O25～O32的输出控制。

图6中的U5～U8工作在输入状态下，当KRKZ1管脚为低电平的情况下，I1～I8的输入信号传到KR1～KR8管脚，由单片机可以读取到I1～I8的输入信号；同理，KRKZ2控制I9～I16的输入读取，KRKZ3控制I17～I24输入信号的读取，KRKZ4控制I25到I32信号的读取。

在一个实施例中，如图7所示，焊接短路状态显示电路4包括电阻R9、电阻R13、发光二极管D1及反馈隔离光耦G2；

其中，电阻R9一端接地，电阻R9另一端与反馈隔离光耦G2接收端E极保持连接，反馈隔离光耦G2发射端负极与电阻R13一端保持连接，电阻R13另一端与发光二极管D1正极连接，发光二极管D1负极接地。

在一个实施例中，如图10所示，被测件端子接口5包括输出隔离光耦G1与电阻R5；

其中，输出隔离光耦G1的接收端E极与反馈隔离光耦G2的发射端正极保持连接，输出隔离光耦G1的发射端正极与电阻R5一端连接。

如图7-图9及图10-图13所示，端子测试部分是对外接口，为了保证单片机及操作的安全，需要设置光耦隔离；各个端子测试部分电路完全相同。

图10中G1是输出隔离端子，左侧O1为单片机部分输出的控制信号，当O1输出低电平时，光耦G1导通，DZ1输出5V电压；G2为端子电压反馈隔离光耦，当DZ1有高电平信号时，G2导通，相应的发光二极管D1点亮，同时G2导通，则G2光耦的输出端I1变为高电平，单片机读取该管脚电压可以判断DZ1是否带电。

其他31路的电路与第一路的电路完全参数相同。

如图14所示，被测件引线接到测试工装的P4、P5，通过LED等显示是否断线被测件端子接口侧接到工装的信号输出接口，接受短接测试。

如图15所示，电路板最多可以测32个端子的接口，因此在电路板上需要设置一个32接口的端子，需要给端子输出电压信号，并读取各个端子上的电压；如果给某一个端子输出了一个电压，读取各个端子电压时再其他端子上读到了电压信号，则说明端子之间有连焊的情况；该部分端子由两个间距5mm的16P端子实现，图15中，DZ1～DZ32分别接到测试的接口端子座上，当端子座接上被测端子时，就可以实现对被测端子的测试，测试过程是对各个端子分别加上测试电压，通过反馈回路获得所有端子上的反馈电压；当给某一个端子上加测试电压后，如果在其他端子上读到了测试电压，则说明端子之间有连焊的情况。

在一个实施例中，如图16所示，焊接断线状态显示电路8包括管脚线端口P4、管脚线端口P5、电阻RX1、电阻RX2、电阻RX3、电阻RX4、电阻RX5、电阻RX6、电阻RX7、电阻RX8、电阻RX9、电阻RX10、电阻RX11、电阻RX12、电阻RX13、电阻RX14、电阻RX15、电阻RX16、电阻RX17、电阻RX18、电阻RX19、电阻RX20、电阻RX21、电阻RX22、电阻RX23、电阻RX24、电阻RX25、电阻RX26、电阻RX27、电阻RX28、电阻RX29、电阻RX30、电阻RX31、电阻RX32、发光二极管DX1、发光二极管DX2、发光二极管DX3、发光二极管DX4、发光二极管DX5、发光二极管DX6、发光二极管DX7、发光二极管DX8、发光二极管DX9、发光二极管DX10、发光二极管DX11、发光二极管DX12、发光二极管DX13、发光二极管DX14、发光二极管DX15、发光二极管DX16、发光二极管DX17、发光二极管DX18、发光二极管DX19、发光二极管DX20、发光二极管DX21、发光二极管DX22、发光二极管DX23、发光二极管DX24、发光二极管DX25、发光二极管DX26、发光二极管DX27、发光二极管DX28、发光二极管DX29、发光二极管DX30、发光二极管DX31及发光二极管DX32；

其中，管脚线端口P4由第16引脚至第1引脚依次与发光二极管DX1正极、发光二极管DX2正极、发光二极管DX3正极、发光二极管DX4正极、发光二极管DX5正极、发光二极管DX6正极、发光二极管DX7正极、发光二极管DX8正极、发光二极管DX9正极、发光二极管DX10正极、发光二极管DX11正极、发光二极管DX12正极、发光二极管DX13正极、发光二极管DX14正极、发光二极管DX15正极、发光二极管DX16正极保持连接，发光二极管DX1负极与电阻RX1一端连接，电阻RX1另一端接地，发光二极管DX2负极与电阻RX2一端连接，电阻RX2另一端接地，发光二极管DX3负极与电阻RX3一端连接，电阻RX3另一端接地，发光二极管DX4负极与电阻RX4一端连接，电阻RX4另一端接地，发光二极管DX5负极与电阻RX5一端连接，电阻RX5另一端接地，发光二极管DX6负极与电阻RX6一端连接，电阻RX6另一端接地，发光二极管DX7负极与电阻RX7一端连接，电阻RX7另一端接地，发光二极管DX8负极与电阻RX8一端连接，电阻RX8另一端接地，发光二极管DX9负极与电阻RX9一端连接，电阻RX9另一端接地，发光二极管DX10负极与电阻RX10一端连接，电阻RX10另一端接地，发光二极管DX11负极与电阻RX11一端连接，电阻RX11另一端接地，发光二极管DX12负极与电阻RX12一端连接，电阻RX12另一端接地，发光二极管DX13负极与电阻RX13一端连接，电阻RX13另一端接地，发光二极管DX14负极与电阻RX14一端连接，电阻RX14另一端接地，发光二极管DX15负极与电阻RX15一端连接，电阻RX15另一端接地，发光二极管DX16负极与电阻RX16一端连接，电阻RX16另一端接地；

管脚线端口P5由第16引脚至第1引脚依次与发光二极管DX17正极、发光二极管DX18正极、发光二极管DX19正极、发光二极管DX20正极、发光二极管DX21正极、发光二极管DX22正极、发光二极管DX23正极、发光二极管DX24正极、发光二极管DX25正极、发光二极管DX26正极、发光二极管DX27正极、发光二极管DX28正极、发光二极管DX29正极、发光二极管DX30正极、发光二极管DX31正极、发光二极管DX32正极保持连接，发光二极管DX17负极与电阻RX17一端连接，电阻RX17另一端接地，发光二极管DX18负极与电阻RX18一端连接，电阻RX18另一端接地，发光二极管DX19负极与电阻RX19一端连接，电阻RX19另一端接地，发光二极管DX20负极与电阻RX20一端连接，电阻RX20另一端接地，发光二极管DX21负极与电阻RX21一端连接，电阻RX21另一端接地，发光二极管DX22负极与电阻RX22一端连接，电阻RX22另一端接地，发光二极管DX23负极与电阻RX23一端连接，电阻RX23另一端接地，发光二极管DX24负极与电阻RX24一端连接，电阻RX24另一端接地，发光二极管DX25负极与电阻RX25一端连接，电阻RX25另一端接地，发光二极管DX26负极与电阻RX26一端连接，电阻RX26另一端接地，发光二极管DX27负极与电阻RX27一端连接，电阻RX27另一端接地，发光二极管DX28负极与电阻RX28一端连接，电阻RX28另一端接地，发光二极管DX29负极与电阻RX29一端连接，电阻RX29另一端接地，发光二极管DX30负极与电阻RX30一端连接，电阻RX30另一端接地，发光二极管DX31负极与电阻RX31一端连接，电阻RX31另一端接地，发光二极管DX32负极与电阻RX32一端连接，电阻RX32另一端接地。

将端子的接线按照线号顺序连接相应的线号顺序指示灯，测试中，各个端子按顺序获得电压，各个相应的端子接线也会按顺序获得电压；正常情况下，测试过程中，线号顺序指示灯会顺序闪烁；如果没有虚焊或断线情况，则测给该端子加测试电压时，相应的线号顺序灯就会点亮，否则就不会点亮；如果线号错误，则线号顺序指示灯的闪烁顺序也会错误，这样通过测试人员观察线号顺序的指示情况就可以发现线号是否有错。

焊接断线状态显示电路8中，P4和P5端口用于连接被测接线端子的管脚线，通过连接接口连接到相应线号的端子线上，当管脚上有电时相应的指示灯会点亮，测试中如果发现指示灯没有点亮或点亮顺序错误，则说明线断了或线号错误。

综上所述，借助于本实用新型的上述技术方案，通过以接线端子测试工装的设计目的是对焊接好的端子进行测试，检测管脚的连焊、虚焊或线号错误等质量缺陷；使用该测试工装可以对接线端子实现半自动化测试，可以提高测试效率，降低产品的不良率，降低生产成本。通过以STM32单片机为核心，实现相应的自动测试控制；设计测试按钮，实现方便的测试控制；设计LED发光二极管，实现测试状态的直观显示；设计隔离稳压电源，保证操作的安全可靠。本实用新型具有标准的端子接口，方便被测端子连接；具有清晰的测试状态和测试结果显示功能；具有测试按钮，实现测试控制。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置”、“连接”、“固定”、“旋接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种环网箱配套用航插端子测试仪，其特征在于，包括核心板单片机模块(1)、测试信号输出接口扩展电路(2)、反馈信号输入接口扩展电路(3)、焊接短路状态显示电路(4)、被测件端子接口(5)、被测件(6)、被测件引线接口(7)及焊接断线状态显示电路(8)；

其中，所述核心板单片机模块(1)分别与所述测试信号输出接口扩展电路(2)、所述反馈信号输入接口扩展电路(3)保持连接，所述测试信号输出接口扩展电路(2)依次与所述焊接短路状态显示电路(4)、所述被测件端子接口(5)、所述被测件(6)、所述被测件引线接口(7)及所述焊接断线状态显示电路(8)保持连接，所述焊接短路状态显示电路(4)与所述测试信号输出接口扩展电路(2)之间保持连接。

2.根据权利要求1所述的一种环网箱配套用航插端子测试仪，其特征在于，所述核心板单片机模块(1)包括单片机核心板电路、电源模块电路及按键控制电路。

3.根据权利要求2所述的一种环网箱配套用航插端子测试仪，其特征在于，所述单片机核心板电路包括芯片STM32F103、电阻R132及发光二极管D70，所述电源模块包括电源接口P1、主供电模块HLK1、副供电模块HLK2、电容C5及电容C6，所述按键控制电路包括电阻R131、复位按键K1及测试按键K2；

其中，所述芯片STM32F103的VB引脚与3.3引脚与直流电源保持连接，所述芯片STM32F103的5V引脚与所述主供电模块HLK1的+5V引脚、所述电容C5的一端保持连接，所述芯片STM32F103的R引脚输出RST信号且与所述复位按键K1一端保持连接，所述芯片STM32F103的A9引脚输出KSCS信号且与所述测试按键K2一端、所述电阻R131一端保持连接，所述芯片STM32F103的A15引脚输出ZTXS信号且与所述电阻R132一端保持连接，所述电阻R132另一端与所述发光二极管D70阴极保持连接，所述复位按键K1另一端与所述测试按键K2另一端保持连接且接地，所述主供电模块HLK1与所述电源接口P1保持串联连接，所述副供电模块HLK2与所述主供电模块HLK1保持并联连接。

4.根据权利要求3所述的一种环网箱配套用航插端子测试仪，其特征在于，所述测试信号输出接口扩展电路(2)包括并口扩展芯片U1、并口扩展芯片U2、并口扩展芯片U3、并口扩展芯片U4、电容C1及电容C2；

其中，所述并口扩展芯片U1的OE引脚与所述芯片STM32F103的B1引脚保持连接，所述并口扩展芯片U2的OE引脚与所述芯片STM32F103的B0引脚保持连接，所述并口扩展芯片U3的OE引脚与所述芯片STM32F103的B7引脚保持连接，所述并口扩展芯片U4的OE引脚与所述芯片STM32F103的A10引脚保持连接，所述电容C1一端与所述并口扩展芯片U1的DIR引脚、VCC引脚保持连接，所述电容C1另一端接地，所述电容C2一端与所述并口扩展芯片U3的DIR引脚、VCC引脚保持连接，所述电容C2另一端接地。

5.根据权利要求4所述的一种环网箱配套用航插端子测试仪，其特征在于，所述反馈信号输入接口扩展电路(3)包括并口扩展芯片U5、并口扩展芯片U6、并口扩展芯片U7、并口扩展芯片U8、电容C3及电容C4；

其中，所述并口扩展芯片U5的OE引脚与所述芯片STM32F103的A8引脚保持连接，所述并口扩展芯片U6的OE引脚与所述芯片STM32F103的B5引脚保持连接，所述并口扩展芯片U7的OE引脚与所述芯片STM32F103的A12引脚保持连接，所述并口扩展芯片U8的OE引脚与所述芯片STM32F103的A11引脚保持连接，所述电容C3一端与所述并口扩展芯片U5的VCC引脚保持连接，所述电容C1另一端接地，所述电容C4一端与所述并口扩展芯片U6的VCC引脚保持连接，所述电容C1另一端接地。

6.根据权利要求5所述的一种环网箱配套用航插端子测试仪，其特征在于，所述焊接短路状态显示电路(4)包括电阻R9、电阻R13、发光二极管D1及反馈隔离光耦G2；

其中，所述电阻R9一端接地，所述电阻R9另一端与所述反馈隔离光耦G2接收端E极保持连接，所述反馈隔离光耦G2发射端负极与所述电阻R13一端保持连接，所述电阻R13另一端与所述发光二极管D1正极连接，所述发光二极管D1负极接地。

7.根据权利要求6所述的一种环网箱配套用航插端子测试仪，其特征在于，所述被测件端子接口(5)包括输出隔离光耦G1与电阻R5；

其中，所述输出隔离光耦G1的接收端E极与所述反馈隔离光耦G2的发射端正极保持连接，所述输出隔离光耦G1的发射端正极与所述电阻R5一端连接。

8.根据权利要求7所述的一种环网箱配套用航插端子测试仪，其特征在于，所述焊接断线状态显示电路(8)包括管脚线端口P4、管脚线端口P5、电阻RX1、电阻RX2、电阻RX3、电阻RX4、电阻RX5、电阻RX6、电阻RX7、电阻RX8、电阻RX9、电阻RX10、电阻RX11、电阻RX12、电阻RX13、电阻RX14、电阻RX15、电阻RX16、电阻RX17、电阻RX18、电阻RX19、电阻RX20、电阻RX21、电阻RX22、电阻RX23、电阻RX24、电阻RX25、电阻RX26、电阻RX27、电阻RX28、电阻RX29、电阻RX30、电阻RX31、电阻RX32、发光二极管DX1、发光二极管DX2、发光二极管DX3、发光二极管DX4、发光二极管DX5、发光二极管DX6、发光二极管DX7、发光二极管DX8、发光二极管DX9、发光二极管DX10、发光二极管DX11、发光二极管DX12、发光二极管DX13、发光二极管DX14、发光二极管DX15、发光二极管DX16、发光二极管DX17、发光二极管DX18、发光二极管DX19、发光二极管DX20、发光二极管DX21、发光二极管DX22、发光二极管DX23、发光二极管DX24、发光二极管DX25、发光二极管DX26、发光二极管DX27、发光二极管DX28、发光二极管DX29、发光二极管DX30、发光二极管DX31及发光二极管DX32；

其中，所述管脚线端口P4由第16引脚至第1引脚依次与所述发光二极管DX1正极、所述发光二极管DX2正极、所述发光二极管DX3正极、所述发光二极管DX4正极、所述发光二极管DX5正极、所述发光二极管DX6正极、所述发光二极管DX7正极、所述发光二极管DX8正极、所述发光二极管DX9正极、所述发光二极管DX10正极、所述发光二极管DX11正极、所述发光二极管DX12正极、所述发光二极管DX13正极、所述发光二极管DX14正极、所述发光二极管DX15正极、所述发光二极管DX16正极保持连接，所述发光二极管DX1负极与所述电阻RX1一端连接，所述电阻RX1另一端接地，所述发光二极管DX2负极与所述电阻RX2一端连接，所述电阻RX2另一端接地，所述发光二极管DX3负极与所述电阻RX3一端连接，所述电阻RX3另一端接地，所述发光二极管DX4负极与所述电阻RX4一端连接，所述电阻RX4另一端接地，所述发光二极管DX5负极与所述电阻RX5一端连接，所述电阻RX5另一端接地，所述发光二极管DX6负极与所述电阻RX6一端连接，所述电阻RX6另一端接地，所述发光二极管DX7负极与所述电阻RX7一端连接，所述电阻RX7另一端接地，所述发光二极管DX8负极与所述电阻RX8一端连接，所述电阻RX8另一端接地，所述发光二极管DX9负极与所述电阻RX9一端连接，所述电阻RX9另一端接地，所述发光二极管DX10负极与所述电阻RX10一端连接，所述电阻RX10另一端接地，所述发光二极管DX11负极与所述电阻RX11一端连接，所述电阻RX11另一端接地，所述发光二极管DX12负极与所述电阻RX12一端连接，所述电阻RX12另一端接地，所述发光二极管DX13负极与所述电阻RX13一端连接，所述电阻RX13另一端接地，所述发光二极管DX14负极与所述电阻RX14一端连接，所述电阻RX14另一端接地，所述发光二极管DX15负极与所述电阻RX15一端连接，所述电阻RX15另一端接地，所述发光二极管DX16负极与所述电阻RX16一端连接，所述电阻RX16另一端接地；

所述管脚线端口P5由第16引脚至第1引脚依次与所述发光二极管DX17正极、所述发光二极管DX18正极、所述发光二极管DX19正极、所述发光二极管DX20正极、所述发光二极管DX21正极、所述发光二极管DX22正极、所述发光二极管DX23正极、所述发光二极管DX24正极、所述发光二极管DX25正极、所述发光二极管DX26正极、所述发光二极管DX27正极、所述发光二极管DX28正极、所述发光二极管DX29正极、所述发光二极管DX30正极、所述发光二极管DX31正极、所述发光二极管DX32正极保持连接，所述发光二极管DX17负极与所述电阻RX17一端连接，所述电阻RX17另一端接地，所述发光二极管DX18负极与所述电阻RX18一端连接，所述电阻RX18另一端接地，所述发光二极管DX19负极与所述电阻RX19一端连接，所述电阻RX19另一端接地，所述发光二极管DX20负极与所述电阻RX20一端连接，所述电阻RX20另一端接地，所述发光二极管DX21负极与所述电阻RX21一端连接，所述电阻RX21另一端接地，所述发光二极管DX22负极与所述电阻RX22一端连接，所述电阻RX22另一端接地，所述发光二极管DX23负极与所述电阻RX23一端连接，所述电阻RX23另一端接地，所述发光二极管DX24负极与所述电阻RX24一端连接，所述电阻RX24另一端接地，所述发光二极管DX25负极与所述电阻RX25一端连接，所述电阻RX25另一端接地，所述发光二极管DX26负极与所述电阻RX26一端连接，所述电阻RX26另一端接地，所述发光二极管DX27负极与所述电阻RX27一端连接，所述电阻RX27另一端接地，所述发光二极管DX28负极与所述电阻RX28一端连接，所述电阻RX28另一端接地，所述发光二极管DX29负极与所述电阻RX29一端连接，所述电阻RX29另一端接地，所述发光二极管DX30负极与所述电阻RX30一端连接，所述电阻RX30另一端接地，所述发光二极管DX31负极与所述电阻RX31一端连接，所述电阻RX31另一端接地，所述发光二极管DX32负极与所述电阻RX32一端连接，所述电阻RX32另一端接地。

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