CN219143030U - 一种激光器芯片的耐温性测试台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及测试台技术领域,尤其是一种激光器芯片的耐温性测试台,包括:测试台,用于对芯片进行测试;底座,固定于测试台的顶部;清理机构,位于测试台的顶部;所述清理机构包括空槽板,所述空槽板的内部转动设置有丝杆,所述空槽板的外壁固定安装有电机,有益效果在于:当竖杆移动的时候带动刮板在测试台的内部移动,测试台的内部设置有清水,清水会在测试台的内壁留下水垢,在清理的时候需要将测试台内的水从排杂槽排出,之后当刮板移动的时候杂质被刮除并从排杂槽排出,之后第一圆杆移动的时候带动第二圆杆移动,第二圆杆上的齿轮在齿条上,所以会带动第二圆杆旋转移动,之后通过刷毛有利于将测试台顶部的灰尘与杂质清理。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试台技术领域,尤其涉及一种激光器芯片的耐温性测试台。
背景技术
激光器具有体积小重量轻电光转换效率高等特点,在材料加工、医疗美容、军工、通信等领域作为光源或者泵浦光源得到广泛应用,激光器芯片需要经过封装之后才得以使用。
在需要测试的时候将芯片放到测试台的顶部,之后通过测试器对芯片进行检测,以此保证芯片的良品率。
测试台的顶部会有灰尘或者其他细小的杂质附着,现有测试台的顶部缺少对杂质清理的机构。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种激光器芯片的耐温性测试台。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
设计一种激光器芯片的耐温性测试台,包括:
测试台,用于对芯片进行测试;
底座,固定于测试台的顶部;
清理机构,位于测试台的顶部;
固定机构,位于底座的内部;
所述清理机构包括空槽板,所述空槽板的内部转动设置有丝杆,所述空槽板的外壁固定安装有电机,所述测试台顶部的一侧固定设置有齿条,所述丝杆的外部位于空槽板的内部转动设置有螺母,所述测试台的顶部设置有第一开槽,所述测试台的顶部位于第一开槽的一侧固定设置有挡板,所述挡板的一侧设置有贯穿挡板的第二开槽,所述螺母的一侧固定设置有第一圆杆,所述第一圆杆的底部设置有贯穿第一开槽并延伸至测试台内部的竖杆,所述第一圆杆的一侧转动连接有第二圆杆,所述第二圆杆的一侧固定设置有齿轮,所述第二圆杆的底部设置有刷毛。
优选的,所述竖杆的一侧固定设置有刮板,所述刮板与测试台内腔的顶部与底部接触。
优选的,所述测试台的一侧设置有进水口,所述测试台的另一侧设置有排杂槽,所述排杂槽的一侧设置有密封板。
优选的,所述齿轮位于齿条的顶部,所述齿轮与齿条啮合,所述第二圆杆贯穿第二开槽。
优选的,所述底座的前侧设置有箱门,所述箱门与底座通过合页连接。
本实用新型提出的一种激光器芯片的耐温性测试台,有益效果在于:通过设置的清理机构,然后启动电机带动丝杆转动,丝杆转动的时候带动螺母在空槽板的内部移动,螺母移动的时候带动第一圆杆移动,然后第一圆杆底部的竖杆在第一开槽的内部移动,然后当竖杆移动的时候带动刮板在测试台的内部移动,测试台的内部设置有清水,清水会在测试台的内壁留下水垢,在清理的时候需要将测试台内的水从排杂槽排出,之后当刮板移动的时候杂质被刮除并从排杂槽排出,之后第一圆杆移动的时候带动第二圆杆移动,第二圆杆上的齿轮在齿条上,所以会带动第二圆杆旋转移动,之后通过刷毛有利于将测试台顶部的灰尘与杂质清理。
附图说明
图1为本实用新型提出的整体外观结构示意图;
图2为本实用新型提出的测试台结构示意图;
图3为本实用新型提出的A处结构示意图。
图中:1、测试台;2、底座;3、空槽板;4、丝杆;5、电机;6、齿条;7、螺母;8、第一开槽;9、挡板;10、第二开槽;11、第一圆杆;12、竖杆;13、第二圆杆;14、齿轮;15、刷毛。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“设置”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义,下面根据本实用新型的整体结构,对其实施例进行说明。
请着重参照图1-3,一种激光器芯片的耐温性测试台,包括:
测试台1,用于对芯片进行测试;
底座2,固定于测试台1的顶部;
清理机构,位于测试台1的顶部;
清理机构包括空槽板3,空槽板3的内部转动设置有丝杆4,空槽板3的外壁固定安装有电机5,丝杆4的外部位于空槽板3的内部转动设置有螺母7,测试台1的顶部设置有第一开槽8,测试台1的顶部位于第一开槽8的一侧固定设置有挡板9,挡板9的一侧设置有贯穿挡板9的第二开槽10,螺母7的一侧固定设置有第一圆杆11,第一圆杆11的底部设置有贯穿第一开槽8并延伸至测试台1内部的竖杆12,测试台1的一侧设置有进水口,测试台1的另一侧设置有排杂槽,排杂槽的一侧设置有密封板;
具体的,启动电机5带动丝杆4转动,丝杆4转动的时候带动螺母7在空槽板3的内部移动,螺母7移动的时候带动第一圆杆11移动,然后第一圆杆11底部的竖杆12在第一开槽8的内部移动,然后当竖杆12移动的时候带动刮板在测试台1的内部移动,测试台1的内部设置有清水,清水会在测试台1的内壁留下水垢,在清理的时候需要将测试台1内的水从排杂槽排出,之后当刮板移动的时候杂质被刮除并从排杂槽排出。
其中,测试台1顶部的一侧固定设置有齿条6,第一圆杆11的一侧转动连接有第二圆杆13,第二圆杆13的一侧固定设置有齿轮14,第二圆杆13的底部设置有刷毛15,齿轮14位于齿条6的顶部,齿轮14与齿条6啮合,第二圆杆13贯穿第二开槽10,竖杆12的一侧固定设置有刮板,刮板与测试台1内腔的顶部与底部接触;
具体的,第一圆杆11移动的时候带动第二圆杆13移动,第二圆杆13上的齿轮14在齿条6上,所以会带动第二圆杆13旋转移动,之后通过刷毛15有利于将测试台1顶部的灰尘与杂质清理。
工作原理:夏天的时候在测试台1的内部装入冷水冬天的时候装入热水,此举能够调节测试台1的温度,在使用测试台1之前启动电机5带动丝杆4转动,丝杆4转动的时候带动螺母7在空槽板3的内部移动,螺母7移动的时候带动第一圆杆11移动,然后第一圆杆11底部的竖杆12在第一开槽8的内部移动,然后当竖杆12移动的时候带动刮板在测试台1的内部移动,水会在测试台1的内壁留下水垢,在清理的时候需要将测试台1内的水从排杂槽排出,之后当刮板移动的时候杂质被刮除并从排杂槽排出,之后第一圆杆11移动的时候带动第二圆杆13移动,第二圆杆13上的齿轮14在齿条6上,所以会带动第二圆杆13旋转移动,之后通过刷毛15将测试台1顶部的灰尘与杂质清理,最后将芯片放到测试台上通过仪器进行测试。
以上,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种激光器芯片的耐温性测试台,包括:
测试台(1),用于对芯片进行测试;
底座(2),固定于测试台(1)的顶部;
清理机构,位于测试台(1)的顶部;
其特征在于:所述清理机构包括空槽板(3),所述空槽板(3)的内部转动设置有丝杆(4),所述空槽板(3)的外壁固定安装有电机(5),所述测试台(1)顶部的一侧固定设置有齿条(6),所述丝杆(4)的外部位于空槽板(3)的内部转动设置有螺母(7),所述测试台(1)的顶部设置有第一开槽(8),所述测试台(1)的顶部位于第一开槽(8)的一侧固定设置有挡板(9),所述挡板(9)的一侧设置有贯穿挡板(9)的第二开槽(10),所述螺母(7)的一侧固定设置有第一圆杆(11),所述第一圆杆(11)的底部设置有贯穿第一开槽(8)并延伸至测试台(1)内部的竖杆(12),所述第一圆杆(11)的一侧转动连接有第二圆杆(13),所述第二圆杆(13)的一侧固定设置有齿轮(14),所述第二圆杆(13)的底部设置有刷毛(15)。
2.根据权利要求1所述的一种激光器芯片的耐温性测试台,其特征在于,所述竖杆(12)的一侧固定设置有刮板,所述刮板与测试台(1)内腔的顶部与底部接触。
3.根据权利要求1所述的一种激光器芯片的耐温性测试台,其特征在于,所述测试台(1)的一侧设置有进水口,所述测试台(1)的另一侧设置有排杂槽,所述排杂槽的一侧设置有密封板。
4.根据权利要求1所述的一种激光器芯片的耐温性测试台,其特征在于,所述齿轮(14)位于齿条(6)的顶部,所述齿轮(14)与齿条(6)啮合,所述第二圆杆(13)贯穿第二开槽(10)。
5.根据权利要求1所述的一种激光器芯片的耐温性测试台,其特征在于,所述底座(2)的前侧设置有箱门,所述箱门与底座(2)通过合页连接。
Priority Applications (1)
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CN202223030935.3U Active CN219143030U (zh) | 2022-11-15 | 2022-11-15 | 一种激光器芯片的耐温性测试台 |
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- 2022-11-15 CN CN202223030935.3U patent/CN219143030U/zh active Active
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