CN219040077U - 一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，包括壳体组件；活动设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件侧边的升降组件，其带动载具上的多个nand Flash存储芯片在纵向运动与测试控制组件接触电气连接；固定设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件正面的温控组件、按键组件和指示灯组件；固定设置在所述壳体组件中的多个风扇组件，其对所述壳体组件中的温度进行调节。本实用新型通过升降组件带动多个nand Flash存储芯片与测试控制组件电气连接，实现对多个nand Flash存储芯片高温RDT测试，提升了测试效率，一定程度上降低了人工测试成本，同时具有绿色环保低压高温功能。

Description

一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试装置技术领域，特别涉及一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置。

背景技术

随着科技社会的不断发展，电子数码设备早已成为人们日常生活必不可少的物品，而随着电子设备的不断改进，为满足人们对电子设备的轻量化与便携式需求，人们对闪存的要求也在不断提升。但由于不同制造商生产的闪存质量有所不同，且仅由闪存的外观无法辨别其质量优劣，因此需要对闪存进行测试筛选，但面对市场上种类繁多且数量较多的闪存，传统单路检测的方法效率较低，需要消耗大量的人力物力。因此，如何通过有效措施提高对闪存的测试筛选效率。

公开号为CN214588041U提供了一种多路闪存测试筛选系统，该系统包括分流模块及若干个多路测试筛选模块，分流模块的输入端与上位机的输出端连接，分流模块的输出端与各多路测试筛选模块的输入端连接，各多路测试筛选模块的输出端均与上位机的输入端连接，分流模块，用于接收上位机发送的控制通讯信号，并将控制通讯信号分流成多路子控制通讯信号，多路测试筛选模块，用于接收对应的子控制通讯信号，并基于子控制通讯信号执行多路闪存测试筛选操作，并将测试筛选操作结果发送至上位机进行结果显示。虽然通过该技术方案能够实现对一定数量闪存的多路测试筛选操作，但是整个设备的体积较大，使得运输和搬运不方便；故提供一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，用于解决现有技术中多个nand Flash存储芯片不能同步进行测试的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的之一在于提供一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，以便于解决现有技术中多个存储显存不能同步进行测试的问题。

本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置可以通过下列技术方案来实现：

本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置包括壳体组件，其为中空腔体，所述壳体组件的正面设置有开口；活动设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件侧边的升降组件，其带动载具上的多个nand Flash存储芯片在纵向运动与测试控制组件接触电气连接；固定设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件正面的温控组件、按键组件和指示灯组件；所述温控组件对所述壳体组件中的温度进行实时监测和显示；所述指示灯组件显示多个所述nand Flash存储芯片的测试情况；固定设置在所述壳体组件中的多个风扇组件，其对所述壳体组件中的温度进行调节。

在其中一种实施方式中，所述升降组件包括支撑机构和升降机构，所述支撑机构固定设置在所述壳体组件中；所述升降机构活动设置在所述支撑机构中且依次贯穿所述支撑机构、所述壳体组件的侧边。

在其中一种实施方式中，所述升降机构包括多根导杆、两个下滑动座、摇杆、两个传动杆、两个上滑动座和支撑板；多根所述导杆对称设置在所述支撑机构中；两个所述下滑动座分别对称活动设置在相对应的所述导杆上；所述摇杆活动设置在两个所述下滑动座上且依次贯穿所述支撑机构、所述壳体组件的侧边；两个所述传动杆的两端分别连接相对应的所述下滑动座、所述上滑动座；两个所述上滑动座分别对称活动设置在相对应的所述导杆上且设置在相对应的所述下滑动座的上方；所述支撑板分别设置在两个所述上滑动座的上方且与两个所述上滑动座固定连接。

在其中一种实施方式中，所述升降机构进一步包括两个凸轮和两个限位块；两个所述凸轮对称固定设置在所述摇杆上；两个所述限位块对称设置在所述支撑板的下方且与相对应的所述凸轮的位置相对应。

在其中一种实施方式中，所述摇杆包括摇杆主体和摇杆手柄；所述摇杆主体设置在两个所述下滑动座之间且依次贯穿所述支撑机构、所述壳体组件的侧边。

在其中一种实施方式中，所述测试控制组件包括电源板和多块测试主板；所述电源板分别与多块所述测试主板电气连接；多块所述测试主板贯穿设置在所述支撑机构上，其能够与相对应的nand Flash存储芯片接触电气连接。

在其中一种实施方式中，所述温控组件包括温控器和显示面板，所述温控器固定设置在所述壳体组件中且与所述测试控制组件电气连接；所述显示面板与所述温控器电气连接且贯穿所述壳体组件的正面。

在其中一种实施方式中，所述指示灯组件包括转接板、多个测试LED灯和多个功能指示灯，所述转接板固定设置在所述壳体组件中且与所述测试控制组件电气连接；多个所述测试LED灯、多个功能指示灯分别设置在所述转接板上且分别贯穿所述壳体组件的正面；多个所述测试LED灯的数量与所述载具上nand Flash存储芯片的数量一致。

在其中一种实施方式中，所述载具上均匀等距设置有多个容纳腔，所述容纳腔的尺寸与nand Flash存储芯片的尺寸匹配。

在其中一种实施方式中，所述容纳腔镂空设置。

与现有技术相比，本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置的有益效果为：

本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置通过升降组件带动多个nand Flash存储芯片与测试控制组件接触电气连接，通过测试控制组件对多个nandFlash存储芯片的同步测试，进而提高了nand Flash存储芯片测试筛选的工作效率；解决了现有技术中多个存储显存不能同步进行测试的问题，提高了测试效率，一定程度上降低了人工成本；

本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置通过温控组件对壳体组件中的温度进行实时监测和显示，调节壳体组件内的温度，维持nand Flash存储芯片的模拟工作状态，增强了nand Flash存储芯片的测试的可靠性；

同时本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置通过把380V电压降到12V电压，使其同时具备高温功能，实现绿色环保低压高温功能；同时本装置结构紧凑和占用空间较小，便于携带和转运，具有一定的市场推广潜力。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置的立体结构示意图；

图2是图1所示本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置的内部立体结构示意图，包括升降组件和载具；

图3是图1所示本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置另一侧面的内部立体结构示意图；

图4是图2所示本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置中升降组件的结构示意图，包括升降机构；

图5是图4所示升降机构的结构示意图；

图6是图4所示升降机构另一视角的结构示意图；

图7是图2所示本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置中载具的结构示意图。

图中标示：11，壳体组件；111，开口；112，卡扣机构；113，垫脚；12，升降组件；121,支撑机构；122，升降机构；1221，导杆；1222，下滑动座；1223，摇杆；12231，摇杆主体；12232，摇杆手柄；1224，传动杆；1225，上滑动座；1226，支撑板；1227，凸轮；1228，限位块；13，测试控制组件；131，电源板；132，测试主板,1321，支撑架；14，温控组件；141，温控器；142，显示面板；15，按键组件；16，指示灯组件；17，风扇组件；20，载具；201，容纳腔。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部位实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和展示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-图3，本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置主要应用于SSD固态硬盘方案的RDT测试设备，其包括壳体组件11、升降组件12、测试控制组件13、温控组件14、按键组件15、指示灯组件16和多个风扇组件17；所述壳体组件11为中空腔体，其正面设置有开口111，通过所述开口111便于把设置有多个nand Flash存储芯片的载具20放置到所述壳体组件11中进行测试；所述升降组件12活动设置在所述壳体组件11中且贯穿所述壳体组件11的侧边，其带动所述载具20上的多个nand Flash存储芯片分别与所述测试控制组件13接触电气连接，从而实现多个nand Flash存储芯片同步进行测试；所述温控组件14、所述按键组件15、所述指示灯组件16固定设置在所述壳体组件11中且贯穿所述壳体组件11的正面，所述温控组件14对所述壳体组件11中的温度进行实时监测和显示，调节所述壳体组件11内的温度维持在nand Flash存储芯片的模拟工作状态，通过所述按键组件15控制电源的开关以及功能设置，所述指示灯组件16显示多个所述nand Flash存储芯片的测试情况，通过所述指示灯组件16中多个指示灯的不同颜色显示，用户可以观察多个所述nand Flash存储芯片的测试状况；多个所述风扇组件17固定设置在所述壳体组件11中，其分别对所述壳体组件11中的温度进行调节，从而使得所述壳体组件11内的温度维持在nand Flash存储芯片的模拟工作状态。

请参阅图1，在本实施例中，所述壳体组件11包括多块组合板，多块所述组合板围成一个方形中空腔体，两两相邻所述组合板分别通过卡扣机构112连接；所述壳体组件11的下端设置有多个垫脚113，具体地，所述垫脚113的材质为橡胶，优选地，所述垫脚113的材质为硅胶。

请参阅图4-图6，在本实施例中，所述升降组件12包括支撑机构121和升降机构122，所述支撑机构121固定设置在所述壳体组件11中；所述升降机构122活动设置在所述支撑机构121中且依次贯穿所述支撑机构121、所述壳体组件11的侧边，通过所述升降机构122带动所述载具20上的多个nand Flash存储芯片分别与所述测试控制组件13接触电气连接，从而实现多个nand Flash存储芯片同步进行测试操作。在本实施例中，所述支撑机构121有多块电木板组合而成。

请参阅图5和图6，所述升降机构122包括多根导杆1221、两个下滑动座1222、摇杆1223、两个传动杆1224、两个上滑动座1225、支撑板1226、两个凸轮1227和两个限位块1228；多根所述导杆1221对称设置在所述支撑机构121中；两个所述下滑动座1222分别对称活动设置在相对应的所述导杆1221上；所述摇杆1223活动设置在两个所述下滑动座1222上且依次贯穿所述支撑机构121、所述壳体组件11的侧边，通过旋转所述摇杆1223分别同步带动两个所述下滑动座1222在多个所述导杆1221上纵向运动；两个所述传动杆1224的一端连接相对应的所述下滑动座1223，其另一端连接相对应的所述上滑动座1225；两个所述上滑动座1225分别对称活动设置在相对应的所述导杆1221上且设置在相对应的所述下滑动座1222的上方，其分别在相对应的所述传动杆1224的带动下，在多个所述导杆1221上纵向运动；所述支撑板1226分别与两个所述上滑动座1225固定连接且设置在两个所述上滑动座1225的上方，其跟随两个所述上滑动座1225的运动而运动，从而使得设置在其上的所述载具20上的多个nand Flash存储芯片分别与所述测试控制组件13接触电气连接，从而实现多个nandFlash存储芯片同步进行测试；两个所述凸轮1227对称固定设置在所述摇杆1223上，其跟随所述1223的转动而转动；两个所述限位块1228对称设置在所述支撑板1226的下方且与相对应的所述凸轮1227的位置相对应，其分别对相对应的所述凸轮1227进行限位，防止所述支撑板1226向上运动时，过度挤压nand Flash存储芯片，使得所述载具20上的多个nandFlash存储芯片损坏。在本实施例中，四根所述导杆1221对称设置在所述支撑机构121中。

请参阅图5和图6，在本实施例中，所述摇杆1223包括摇杆主体12231和摇杆手柄12232；所述摇杆主体12231设置在两个所述下滑动座1222之间且依次贯穿所述支撑机构121、所述壳体组件11的侧边，其带动两个所述下滑动座1222在纵向运动且；所述摇杆手柄12232设置在所述壳体组件11的外侧且与所述摇杆主体12231连接，通过旋转所述摇杆手柄12232带动所述摇杆主体12231转动。

请参阅图2和图3，在本实施例中，所述测试控制组件13包括电源板131和多块测试主板132，所述电源板131分别与多块所述测试主板132电气连接，所述电源板131把12V电压转化成5V电压分别给多块所述测试主板132供电；多块所述测试主板132贯穿设置在所述支撑机构121上，其能够与相对应的所述nand Flash存储芯片接触电气连接，从而对多个所述nand Flash存储芯片进行测试；具体地，所述支撑机构121的上方设置有支撑架1321，多块所述测试主板132的两端固定设置在所述支撑架1321上。在本实施例中，所述测试控制组件13分别与所述温控组件14、所述按键组件15、所述指示灯组件16、多个所述风扇组件17电气连接，其采用的是现有技术，故不再此赘述其具体的控制过程及采用的产品型号。

请参阅图2，在本实施例中，所述温控组件14包括温控器141和显示面板142，所述温控器141固定设置在所述壳体组件11中且与所述测试控制组件13电气连接，所述温控器141实时监测所述壳体组件11中的温度，调节所述壳体组件11内的温度维持在nand Flash存储芯片的模拟工作状态；所述显示面板142与所述温控器141电气连接且贯穿所述壳体组件11的正面，其对所述壳体组件11中的温度进行实时显示及调节功能设置。在本实施例中，所述按键组件15包括多个按键，多个按键贯穿所述壳体组件11的正面且与所述测试控制组件13电气连接，多个所述按键分别控制电源开关和功能设置。在本实施例中，所述指示灯组件16包括转接板、多个测试LED灯和多个功能指示灯，所述转接板固定设置在所述壳体组件11中且与所述测试控制组件13电气连接；多个所述测试LED灯均匀分布在所述转接板上且分别贯穿所述壳体组件11的正面，其数量与所述载具20上nand Flash存储芯片的数量一致，每个所述测试LED灯分别对应不同的nand Flash存储芯片，所述LED灯可以显示两种颜色分别为红色和黄色，当所述LED灯显示为红色时说明相对应的nand Flash存储芯片测试失败；当所述LED灯显示为绿色时说明相对应的nand Flash存储芯片测试正常；多个所述功能指示灯分布在所述转接板上且分别贯穿所述壳体组件11的正面，其对测试装置的功能状况进行不同的显示。

请参阅图2和图3，在本实施例中，多个所述风扇组件17设置在所述支撑机构121上，其对所述测试控制组件13进行散热，同时对壳体组件11中的温度进行调节；至少一个所述风扇组件17设置在所述支撑机构121内，其对与所述测试控制组件13电气连接的多个nand Flash存储芯片进行散热。

请参阅图7，所述载具20上均匀等距设置有多个容纳腔201，所述容纳腔201的尺寸与nand Flash存储芯片的尺寸匹配，使得nand Flash存储芯片能够放置在所述容纳腔201中；优选地，所述容纳腔201镂空设置，便于设置在所述容纳腔201中的nand Flash存储芯片散热。在本实施例中，所述载具20上均匀等距设置有56个所述容纳腔201，即56个nandFlash存储芯片可以放置在相对应的所述容纳腔201中进行同步测试；在其他实施例中，所述容纳腔201的数量也可以是24个、32个40个或者其他多数个，所述容纳腔201的数量可以根据实际需求进行设置。

需要说明的是，本实用新型一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置的工作过程为：先把多个nand Flash存储芯片放置在相对应的所述容纳腔201中，然后把所述载具20通过所述开口111放置到所述支撑板1226上，通过旋转所述摇杆1223带动两个所述下滑动座1222向上运动，通过相对应的所述传动杆1224带动两个所述上滑动座1225向上运动，所述支撑板1226跟随两个所述上滑动座1225向上运动，使得设置在所述支撑板1226上的所述载具20也向上运动，使得设置在所述载具20上的多个nand Flash存储芯片分别与相对应的所述测试主板132接触电气连接进行测试，同时由于所述凸轮1227和相对应的所述限位块1228的配合，对所述支撑板1226的上升高度进行限位，使得多个nand Flash存储芯片分别与相对应的所述测试主板132紧密贴合进行同步测试；同时通过所述温控组件14对所述壳体组件11中的温度进行实时监测和显示，调节所述壳体组件11内的温度维持在nandFlash存储芯片的模拟工作状态。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，包括壳体组件，其为中空腔体，所述壳体组件的正面设置有开口；活动设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件侧边的升降组件，其带动载具上的多个nand Flash存储芯片在纵向运动与测试控制组件接触电气连接；固定设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件正面的温控组件、按键组件和指示灯组件；所述温控组件对所述壳体组件中的温度进行实时监测和显示；所述指示灯组件显示多个所述nand Flash存储芯片的测试情况；固定设置在所述壳体组件中的多个风扇组件，其对所述壳体组件中的温度进行调节。

2.根据权利要求1所述的一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，所述升降组件包括支撑机构和升降机构，所述支撑机构固定设置在所述壳体组件中；所述升降机构活动设置在所述支撑机构中且依次贯穿所述支撑机构、所述壳体组件的侧边。

3.根据权利要求2所述的一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，所述升降机构包括多根导杆、两个下滑动座、摇杆、两个传动杆、两个上滑动座和支撑板；多根所述导杆对称设置在所述支撑机构中；两个所述下滑动座分别对称活动设置在相对应的所述导杆上；所述摇杆活动设置在两个所述下滑动座上且依次贯穿所述支撑机构、所述壳体组件的侧边；两个所述传动杆的两端分别连接相对应的所述下滑动座、所述上滑动座；两个所述上滑动座分别对称活动设置在相对应的所述导杆上且设置在相对应的所述下滑动座的上方；所述支撑板分别设置在两个所述上滑动座的上方且与两个所述上滑动座固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，所述升降机构进一步包括两个凸轮和两个限位块；两个所述凸轮对称固定设置在所述摇杆上；两个所述限位块对称设置在所述支撑板的下方且与相对应的所述凸轮的位置相对应。

5.根据权利要求3所述的一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，所述摇杆包括摇杆主体和摇杆手柄；所述摇杆主体设置在两个所述下滑动座之间且依次贯穿所述支撑机构、所述壳体组件的侧边。

6.根据权利要求2所述的一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，所述测试控制组件包括电源板和多块测试主板；所述电源板分别与多块所述测试主板电气连接；多块所述测试主板贯穿设置在所述支撑机构上，其能够与相对应的nand Flash存储芯片接触电气连接。

7.根据权利要求1所述的一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，所述温控组件包括温控器和显示面板，所述温控器固定设置在所述壳体组件中且与所述测试控制组件电气连接；所述显示面板与所述温控器电气连接且贯穿所述壳体组件的正面。

8.根据权利要求1所述的一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，所述指示灯组件包括转接板、多个测试LED灯和多个功能指示灯，所述转接板固定设置在所述壳体组件中且与所述测试控制组件电气连接；多个所述测试LED灯、多个功能指示灯分别设置在所述转接板上且分别贯穿所述壳体组件的正面；多个所述测试LED灯的数量与所述载具上nand Flash存储芯片的数量一致。

9.根据权利要求1-8任一项所述的一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，所述载具上均匀等距设置有多个容纳腔，所述容纳腔的尺寸与nand Flash存储芯片的尺寸匹配。

10.根据权利要求9所述的一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，所述容纳腔镂空设置。

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