CN219040075U - 一种内存颗粒测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于内存颗粒测试领域，尤其是一种内存颗粒测试设备，针对现有的设备的功能较为单一，只能对内存颗粒的性能进行检测，不能模拟温度环境，内存颗粒一般为拔插式，多次使用容易对内存颗粒造成磨损的问题，现提出如下方案，其包括设备主体，所述设备主体的表面安装有铰接的防护盖，所述防护盖的顶部内壁固定连接有加热管，所述防护盖的一侧外壁固定连接有控制面板，所述设备主体的表面固定连接有多个活动插槽；所述活动插槽包括固定座，所述固定座固定连接在设备主体的表面，本实用新型中，可以模拟温度环境，提高检测数据的真实性，可以降低对内存颗粒和设备造成的磨损，还可以测量温度，避免灰尘进入。

Description

一种内存颗粒测试设备

技术领域

本实用新型涉及内存颗粒测试技术领域，尤其涉及一种内存颗粒测试设备。

背景技术

内存颗粒又称为内存芯片或内存条，是连接CPU和其他设备的通道，能够起到缓存和数据交换的作用，对电脑等电子设备的稳定性及性能起到至关重要的影响，在内存颗粒生产出来后，经常需要随机抽取部分进行多项指标测试。

现有的测试设备主要包括电脑和测试冶具，该设备可以对内存颗粒的运行性能进行测试，但是该设备仍然存在以下不足：

1、设备的功能较为单一，只能对内存颗粒的性能进行检测，不能模拟温度环境，需要另外设置程序和设备进行测试；

2、内存颗粒一般为拔插式，多次使用容易对内存颗粒造成磨损。

针对上述问题，本实用新型文件提出了一种内存颗粒测试设备。

实用新型内容

本实用新型提供了一种内存颗粒测试设备，解决了现有技术中存在设备的功能较为单一，只能对内存颗粒的性能进行检测，不能模拟温度环境，内存颗粒一般为拔插式，多次使用容易对内存颗粒造成磨损的缺点。

本实用新型提供了如下技术方案：

一种内存颗粒测试设备，包括：

设备主体，所述设备主体的表面安装有铰接的防护盖，所述防护盖的顶部内壁固定连接有加热管，所述防护盖的一侧外壁固定连接有控制面板，所述设备主体的表面固定连接有多个活动插槽；

所述活动插槽包括固定座，所述固定座固定连接在设备主体的表面，所述固定座的一侧转动连接有活动板，所述固定座和活动板的一侧均设有多个检测触点，所述固定座的两侧均开设有滑槽，两个滑槽之间滑动连接有限位块。

在一种可能的设计中，所述防护盖的顶部内壁固定连接有安装架，安装架的底部固定连接有散热扇，所述防护盖的两侧外壁均开设有通风口，两个所述通风口内均插接有插板。

在一种可能的设计中，所述防护盖的一侧外壁开设有贯穿的测温孔，所述测温孔内插接有金属温度计。

在一种可能的设计中，所述防护盖的一侧内壁固定连接有固定管，且固定管和测温孔相连通，所述金属温度计的一端位于固定管内。

在一种可能的设计中，所述固定管的材质为硅胶。

在一种可能的设计中，所述设备主体的一侧开设有导线槽，所述设备主体的表面固定连接有导线板。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本实用新型。

本实用新型中，通过防护盖、加热管和金属温度计的设置，可以利用加热管对防护盖内部进行加热，模拟内存颗粒运行时周围的环境温度，提高了检测数据的真实性，不需要另设程序；

本实用新型中，通过固定座、活动板和限位块的设置，在安装内存颗粒时，首先转动活动板展开，然后将内存颗粒放置到固定座上，然后转动活动板夹紧内存颗粒，最后利用限位块对活动板进行限位，操作简单方便，并且降低了结构之间的摩擦，进而降低了摩擦造成的磨损；

本实用新型中，通过金属温度计和固定管的设置，金属温度计可以方便人们了解防护盖内部的温度，而固定管可以用于摆放金属温度计，在使用时可以对金属温度计进行固定，方便人们观看，未使用时，可以将金属温度计安装到防护盖内部备用，同时可以对测温孔进行封闭，避免灰尘进入。

本实用新型中，可以模拟温度环境，提高检测数据的真实性，可以降低对内存颗粒和设备造成的磨损，还可以测量温度，避免灰尘进入。

附图说明

图1为本实用新型实施例所提供的一种内存颗粒测试设备的三维结构示意图；

图2为本实用新型实施例所提供的一种内存颗粒测试设备的防护盖展开结构示意图；

图3为本实用新型实施例所提供的一种内存颗粒测试设备的活动插槽结构示意图。

附图标记：

1、设备主体；101、测温孔；102、导线槽；2、防护盖；201、通风口；3、活动插槽；301、固定座；302、活动板；303、滑槽；304、限位块；4、插板；5、金属温度计；6、固定管；7、安装架；8、散热扇；9、导线板；10、控制面板；11、加热管。

具体实施方式

下面结合本实用新型实施例中的附图对本实用新型实施例进行描述。

在本实用新型实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语、“连接”、“安装”应做广义理解，例如，“连接”可以是可拆卸地连接，也可以是不可拆卸地连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介间接连接。此外“连通”可以是直接连通，也可以通过中间媒介间接连通。其中，“固定”是指彼此连接且连接后的相对位置关系不变。本实用新型实施例中所提到的方位用语，例如，“内”、“外”、“顶”、“底”等，仅是参考附图的方向，因此，使用的方位用语是为了更好、更清楚地说明及理解本实用新型实施例，而不是指示或暗指所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型实施例的限制。

本实用新型实施例中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。

在本实用新型实施例中，“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

在本说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本实用新型的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。

实施例一

参照图1-图3，一种内存颗粒测试设备，包括设备主体1，设备主体1的构造和原理与公开号为CN112270948B的专利相同，因此对构造和原理不再赘述，设备主体1的表面安装有铰接的防护盖2，防护盖2的顶部内壁固定连接有加热管11，防护盖2的一侧外壁固定连接有控制面板10，设备主体1的表面固定连接有多个活动插槽3；活动插槽3包括固定座301，固定座301固定连接在设备主体1的表面，固定座301的一侧转动连接有活动板302，固定座301和活动板302的一侧均设有多个检测触点，固定座301的两侧均开设有滑槽303，两个滑槽303之间滑动连接有限位块304。

上述技术方案中，可以利用加热管11对防护盖2内部进行加热，模拟内存颗粒运行时的温度环境，可以利用活动插槽3对内存颗粒灵活安装，降低了对内存颗粒造成的磨损。

实施例二

参照图1-图3，一种内存颗粒测试设备，包括设备主体1，设备主体1的构造和原理与公开号为CN112270948B的专利相同，因此对构造和原理不再赘述，设备主体1的表面安装有铰接的防护盖2，防护盖2的顶部内壁固定连接有加热管11，防护盖2的一侧外壁固定连接有控制面板10，设备主体1的表面固定连接有多个活动插槽3；活动插槽3包括固定座301，固定座301固定连接在设备主体1的表面，固定座301的一侧转动连接有活动板302，固定座301和活动板302的一侧均设有多个检测触点，固定座301的两侧均开设有滑槽303，两个滑槽303之间滑动连接有限位块304。

上述技术方案中，可以利用加热管11对防护盖2内部进行加热，模拟内存颗粒运行时的温度环境，可以利用活动插槽3对内存颗粒灵活安装，降低了对内存颗粒造成的磨损。

参照图2，防护盖2的顶部内壁固定连接有安装架7，安装架7的底部固定连接有散热扇8，防护盖2的两侧外壁均开设有通风口201，两个通风口201内均插接有插板4。

上述技术方案中，在测试结束后或者测试中需要降低设备主体1表面的温度时，可以取下插板4，然后启动散热扇8对设备主体1进行散热。

参照图1，防护盖2的一侧外壁开设有贯穿的测温孔101，测温孔101内插接有金属温度计5。

上述技术方案中，人们可以利用金属温度计5测出防护盖2内的温度，方便人们记录，保证测试数据的精确性，进一步的，可以将金属温度计5替换为普通的温度计或者其他测温设备，可以达到同样的效果。

参照图2，防护盖2的一侧内壁固定连接有固定管6，且固定管6和测温孔101相连通，金属温度计5的一端位于固定管6内。

上述技术方案中，可以直接将金属温度计5插在固定管6上，在测试时可以方便人们观看，在未测试时可以将金属温度计5收纳在防护盖2的内部，同时可以避免灰尘从测温孔101进入，简单便利。

参照图2，固定管6的材质为硅胶。

上述技术方案中，硅胶材质具有一定的弹性，适用于固定金属温度计5，进一步的，可以将硅胶替换为橡胶或其他类似材质。

参照图1和图2，设备主体1的一侧开设有导线槽102，设备主体1的表面固定连接有导线板9。

上述技术方案中，可以利用导线板9对导线进行收束和归纳，避免出现导线过于杂乱影响测试操作的情况。

然而，如本领域技术人员所熟知的，设备主体1的工作原理和接线方法是司空见惯的，其均属于常规手段或者公知常识，在此就不再赘述，本领域技术人员可以根据其需要或者便利进行任意的选配。

本技术方案的工作原理及使用流程为：首先安装内存颗粒，安装时，滑动限位块304离开活动板302，然后转动活动板302展开，然后将内存颗粒放置到固定座301和活动板302之间，然后转动活动板302夹住内存颗粒，然后滑动限位块304对活动板302进行限位，安装完成后，取下金属温度计5并将其安装到防护盖2的外侧，然后关闭防护盖2，然后启动设备主体1对内存颗粒进行测试，当需要模拟温度时，利用控制面板10打开加热管11对防护盖2内部进行加热即可，当测试完成后需要散热时，取下插板4，然后启动散热扇8对设备主体1进行散热即可。

以上，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内；在不冲突的情况下，本实用新型的实施例及实施例中的特征可以相互组合。因此，本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (6)

1.一种内存颗粒测试设备，其特征在于，包括：

设备主体(1)，所述设备主体(1)的表面安装有铰接的防护盖(2)，所述防护盖(2)的顶部内壁固定连接有加热管(11)，所述防护盖(2)的一侧外壁固定连接有控制面板(10)，所述设备主体(1)的表面固定连接有多个活动插槽(3)；

所述活动插槽(3)包括固定座(301)，所述固定座(301)固定连接在设备主体(1)的表面，所述固定座(301)的一侧转动连接有活动板(302)，所述固定座(301)和活动板(302)的一侧均设有多个检测触点，所述固定座(301)的两侧均开设有滑槽(303)，两个滑槽(303)之间滑动连接有限位块(304)。

2.根据权利要求1所述的一种内存颗粒测试设备，其特征在于，所述防护盖(2)的顶部内壁固定连接有安装架(7)，安装架(7)的底部固定连接有散热扇(8)，所述防护盖(2)的两侧外壁均开设有通风口(201)，两个所述通风口(201)内均插接有插板(4)。

3.根据权利要求1所述的一种内存颗粒测试设备，其特征在于，所述防护盖(2)的一侧外壁开设有贯穿的测温孔(101)，所述测温孔(101)内插接有金属温度计(5)。

4.根据权利要求3所述的一种内存颗粒测试设备，其特征在于，所述防护盖(2)的一侧内壁固定连接有固定管(6)，且固定管(6)和测温孔(101)相连通，所述金属温度计(5)的一端位于固定管(6)内。

5.根据权利要求4所述的一种内存颗粒测试设备，其特征在于，所述固定管(6)的材质为硅胶。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的一种内存颗粒测试设备，其特征在于，所述设备主体(1)的一侧开设有导线槽(102)，所述设备主体(1)的表面固定连接有导线板(9)。

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