CN218885781U - 测试平台 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试平台。测试平台应用于热中子屏蔽性能测试，测试平台包括本体、发射部件和准直部件。本体包括沿第一方向贯穿本体的通孔，发射部件设置在通孔内，本体用于屏蔽部分发射部件的辐射；准直部件包括沿第一方向排列设置的第一部件和第二部件，第一部件上设置有沿第一方向贯穿第一部件的准直腔，准直腔用于对发射部件发射的中子提供准直效果，使中子聚集在实验区域，以降低测试结果的统计误差，提高实验结果的准确性；第二部件覆盖第一部件的至少部分第一表面，第二部件具有比第一部件更强的热中子吸收能力，第二部件能吸收部分准直中子周围的杂散中子，以降低杂散中子对实验结果的干扰，这提高了测试结果的可靠性和准确性。

Description

测试平台

技术领域

本申请属于核技术及应用技术领域，尤其涉及一种测试平台。

背景技术

当前，放射源在不同场所的使用越来越多，中子在核电、中子照相、活化分析及放射治疗等领域应用广泛，对中子辐照装置屏蔽性能测试的需求逐渐增加。在过去的十年中，材料科学的进步对辐射屏蔽技术产生了巨大的影响，如今很多新型辐射防护材料的热中子屏蔽性能需要测试和表征。

目前应用于热中子屏蔽性能测试的测试平台仍有待改进。

实用新型内容

本申请提供了一种测试平台，能够提高热中子屏蔽性能测试结果的准确性。

本申请实施例提供了一种测试平台，应用于热中子屏蔽性能测试，测试平台包括：本体，包括沿第一方向贯穿本体的通孔；发射部件，设置在通孔内，发射部件用于发射中子；准直部件，包括沿第一方向排列设置的第一部件和第二部件，至少部分第一部件设置在通孔内并和发射部件沿第一方向排列设置，第一部件上设置有沿第一方向贯穿第一部件的准直腔，第二部件与第一部件连接，第一部件在第一方向上背离发射部件的一侧表面为第一表面，且第二部件覆盖至少部分第一表面，第二部件具有比第一部件更强的热中子吸收能力。

在一些实施例中，第二部件覆盖整个第一表面，且第二部件上设置有与准直腔联通的开孔，以使准直腔能够通过开孔与外界联通。

在一些实施例中，至少部分第二部件延伸出第一表面，本体在第一方向的一端具有环绕通孔的端面，第二部分覆盖本体的至少部分端面。

在一些实施例中，第二部件和本体沿第一方向抵接。

在一些实施例中，第二部件的厚度在0.5mm-2mm之间。

在一些实施例中，开孔的直径大于等于30mm。

在一些实施例中，发射部件包括：柱体，沿第一方向可分离的设置在通孔内，柱体的侧壁上设置有容纳槽；安装块，可分离的设置在容纳槽中，安装块上设置有至少一个容纳放射源的安装槽。

在一些实施例中，发射部件包括：限位件，连接在柱体在第一方向上背离准直部件的一端，限位件沿第一方向抵接于本体。

在一些实施例中，发射部件还包括：保护件，沿第一方向延伸设置，且保护件可分离的设置在通孔内，测试平台包括工作状态和关闭状态，测试平台被配置为在工作状态至少部分准直部件和柱体沿第一方向排列设置在通孔内，在关闭状态柱体和至少部分保护件沿第一方向排列设置在通孔内。

在一些实施例中，测试平台被配置为在关闭状态，保护件和柱体沿第一方向抵接，且在第一方向上，安装块位于通孔的中部。

在一些实施例中，第一部件和发射部件之间设置有慢化部件，慢化部件用于慢化发射部件发射的中子。

在一些实施例中，沿第一方向，安装块和慢化部件靠近准直部件的一侧表面之间的距离为5.5cm-6.5cm。

在一些实施例中，本体的外壁设置有防护层，防护层用于屏蔽至少部分发射部件的辐射。

在本申请实施例的技术方案中，测试平台应用于热中子屏蔽性能测试，测试平台包括本体、发射部件和准直部件。本体包括沿第一方向贯穿本体的通孔，发射部件设置在通孔内，本体用于屏蔽至少部分发射部件的辐射，这提高了测试平台的安全性；准直部件包括沿第一方向排列设置的第一部件和第二部件，第一部件上设置有沿第一方向贯穿第一部件的准直腔，准直腔用于对发射部件发射的中子提供准直效果，使中子聚集在实验区域，以降低测试结果的统计误差，提高实验结果的准确性；第二部件与第一部件连接，第一部件在第一方向上背离发射部件的一侧表面为第一表面，且第二部件覆盖至少部分第一表面，第二部件具有比第一部件更强的热中子吸收能力，第二部件能够吸收部分准直中子周围的杂散中子，以降低杂散中子对实验结果的干扰，这提高了测试结果的可靠性和准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的测试平台的剖面结构示意图；

图2为本申请实施例提供的测试平台的准直部件的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的测试平台的准直部件的正视图；

图4为本申请实施例提供的测试平台的柱体的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的测试平台的安装块的结构示意图；

图6为本申请实施例提供的测试平台的保护件的结构示意图；

图7为本申请另一实施例提供的测试平台的剖面结构示意图。

附图标记说明：

1、测试平台；2、本体；3、发射部件；4、准直部件；21、通孔；41、第一部件；42、第二部件；411、准直腔；412、第一表面；421、开孔；22、端面；31、柱体；311、容纳槽；32、安装块；321、安装槽；33、限位件；34、保护件；341、定位件；5、慢化部件；23、防护层；24、外壁；25、内壁。

具体实施方式

下面将详细描述本申请的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本申请进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅意在解释本申请，而不是限定本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本申请的示例来提供对本申请更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

当前，放射源在不同场所的使用越来越多，中子在核电、中子照相、活化分析及放射治疗等领域应用广泛，对中子辐照装置屏蔽性能测试的需求逐渐增加。在过去的十年中，材料科学的进步对辐射屏蔽技术产生了巨大的影响，如今很多新型辐射防护材料的热中子屏蔽性能需要测试和表征。

本申请发明人注意到，在现有技术的热中子屏蔽性能测试中，放射源放置在屏蔽体中，在放射源和探测器之间设置有慢化体和准直机构，慢化体可以提高热中子数量和占比，但是无论慢化体、准直机构还是屏蔽体都不能完全屏蔽发射源发射的中子，这导致通过准直机构处理过的准直中子周围有大量的杂散中子，而这些杂散中子会影响测试结果的准确性。

基于发明人发现的上述问题，发明人设计了一种应用于热中子屏蔽性能测试的测试平台，测试平台包括本体、发射部件和准直部件。本体包括沿第一方向贯穿本体的通孔，发射部件设置在通孔内，本体用于屏蔽至少部分发射部件的辐射，这提高了测试平台的安全性；准直部件包括沿第一方向排列设置的第一部件和第二部件，第一部件上设置有沿第一方向贯穿第一部件的准直腔，准直腔用于对发射部件发射的中子提供准直效果，使中子聚集在实验区域，以降低测试结果的统计误差，提高实验结果的准确性；第二部件与第一部件连接，第一部件在第一方向上背离发射部件的一侧表面为第一表面，且第二部件覆盖至少部分第一表面，第二部件具有比第一部件更强的热中子吸收能力，第二部件能够吸收部分准直中子周围的杂散中子，以降低杂散中子对实验结果的干扰，这提高了测试结果的可靠性和准确性。

请参阅图1和图2，图1为本申请实施例提供的测试平台1的剖面结构示意图，图2为本申请实施例提供的测试平台1的准直部件4的结构示意图。

本申请实施例提供了一种测试平台1，如图1和图2所示，测试平台1应用于热中子屏蔽性能测试，测试平台1包括本体2、发射部件3和准直部件4，本体2包括沿第一方向X贯穿本体2的通孔21；发射部件3设置在通孔21内，发射部件3用于发射中子；准直部件4包括沿第一方向X排列设置的第一部件41和第二部件42，至少部分第一部件41设置在通孔21内并和发射部件3沿第一方向X排列设置，第一部件41上设置有沿第一方向X贯穿第一部件41的准直腔411，第二部件42与第一部件41连接，第一部件41在第一方向X上背离发射部件3的一侧表面为第一表面412，且第二部件42覆盖至少部分第一表面412，第二部件42具有比第一部件41更强的热中子吸收能力。

第二部件42具有比第一部件41更强的热中子吸收能力，指的是第二部件42相比第一部件41在热中子能量范围内有更高的吸收截面，以使第二部件42可以吸收部分第一部件41散溢的热中子。

可选的，本体2中设置有用于安置发射部件3的通孔21，本体2用于屏蔽发射部件3的辐射，本体2应能够将发射部件3的辐射值限定到安全限值之内。可选的，发射部件3的发射源为Cf-252中子源或镅铍中子源，本体2为聚乙烯材料或其它具有屏蔽中子辐射能力的材料。

可选的，本体2包括外壁24和内壁25，通孔21由内壁25围设而成，内壁25和外壁24之间的最小尺寸L1大于等于20cm，示例性的L1为25cm或30cm或40cm。

可选的，本体2呈边长为60cm的正方体结构，或者，本体2呈直径和第一方向X的高度均为60cm的圆柱体结构，以确保本体2有足够的中子屏蔽能力，提高了测试平台1的安全性。

可选的，通孔21的形状和尺寸应和发射部件的形状和尺寸匹配，也就是在不影响发射部件3和本体2装配的条件下，发射部件3和通孔21的内壁25抵接。

可选的，第一部件41为聚乙烯材料。

第一部件41和通孔21内壁25抵接，第一部件41上设置有沿第一方向X贯穿第一部件41的准直腔411，准直腔411用于为发射部件3发射的中子提供准直效果，沿第一方向X穿过准直腔411的中子为准直中子，准直中子之外的中子为杂散中子，准直中子和杂散中子主要为热中子。

可选的，第二部件42的材质为镉、锂或硼等在热中子能量范围内有较高的吸收截面的物质。

可选的，第二部件42包括层叠设置的镉材料层和镍材料层，镍在快中子能量范围内有较高的吸收截面，镍材料层用以吸收部分第一部件散溢的快中子。

可选的，第一部件41和第二部件42的连接方式为卡接、粘接或螺栓连接等。

在本申请实施例的技术方案中，测试平台1应用于热中子屏蔽性能测试，测试平台1包括本体2、发射部件3和准直部件4。本体2包括沿第一方向X贯穿本体2的通孔21，发射部件3设置在通孔1内，本体2用于屏蔽至少部分发射部件3的辐射，这提高了测试平台1的安全性；准直部件4包括沿第一方向X排列设置的第一部件41和第二部件42，第一部件41上设置有沿第一方向X贯穿第一部件41的准直腔411，准直腔411用于对发射部件3发射的中子提供准直效果，使中子聚集在实验区域，以降低测试结果的统计误差，提高测试结果的准确性；第二部件42与第一部件41连接，第一部件41在第一方向X上背离发射部件3的一侧表面为第一表面412，且第二部件42覆盖至少部分第一表面412，第二部件2具有比第一部件41更强的热中子吸收能力，第二部件42能够吸收部分准直中子周围的杂散中子，以降低杂散中子对实验结果的干扰，这提高了测试结果的可靠性和准确性。

在一些实施例中，如图1和图2所示，第二部件42覆盖整个第一表面412，且第二部件42上设置有与准直腔411联通的开孔，以使准直腔411能够通过开孔421与外界联通。

可选的，第二部件42的开孔421的表面积应小于发射部件3的截面积。可选的，准直腔411的截面积和第二部件42的开孔421的表面积均小于发射部件3的截面积。

可选的，准直腔411在第一表面412上的开口和第二部件42的开孔421形状和尺寸相同，开孔421的形状为圆形或三角形或多边形等，可根据实际需要设定第二部件42的开孔421形状。

在这些实施例中，第二部件42上设置有与准直腔411联通的开孔421，以使准直腔411能够通过开孔421与外界联通，以使中子可以经过准直腔411后通过开孔421发射到外界，第二部件42覆盖整个第一表面412，进一步提高第二部件42吸收准直中子周围的杂散中子的能力，以降低杂散中子对实验结果的干扰，这提高了测试结果的可靠性和准确性。

在一些实施例中，如图1和图2所示，至少部分第二部件42延伸出第一表面412，本体2在第一方向X的一端具有环绕通孔21的端面22，第二部分42覆盖本体2的至少部分端面22。

本体2可以起到屏蔽部分发射部件3的中子的作用，但部分中子仍可以从本体2散溢到外界成为影响测试结果的杂散中子，为了降低这部分杂散中子对测试结果的影响，所以设置了第二部件42覆盖本体的至少部分端面22，以降低这部分杂散分子对测试结果的影响。

可选的，第二部分42覆盖本体2的全部端面22。

在这些实施例中，第二部分42至少覆盖本体2的部分端面22，第二部分42能够吸收部分发射部件3从本体2散溢出的杂散中子，以降低杂散中子对实验结果的干扰，这提高了测试结果的可靠性和准确性。

在一些实施例中，如图1和图2所示，第二部件42和本体2沿第一方向X抵接。

第一部件41的第一表面412和端面22平齐，第二部件42连接在第一部件41上，且部分第二部件42和本体2的端面22抵接。第二部件42和本体2的端面22抵接，降低了中子从本体2的端面22与第二部件42之间的间隙散溢到环境中的风险，提高了测试平台1的安全性。

在这些实施例中，第二部件42和本体2沿第一方向X抵接，降低了中子从本体2的端面22与第二部件42之间的间隙散溢到环境中的风险，提高了测试平台1的安全性；且第二部件42为第一部件41提供限位作用，方便准直部件4的安装，提高了测试平台1的实用性。

请参阅图3，图3为本申请实施例提供的测试平台1的准直部件4的正视图。

在一些实施例中，如图3所示，第二部件42的厚度d1在0.5mm-2mm之间。

在这些实施例中，第二部件42的厚度d1在0.5mm-2mm之间，这改善了第二部件42过薄，导致第二部件42对杂散中子吸收能力不足，以致杂散中子影响测试结果的问题；也改善了第二部件42过厚，导致准直部件4过重，且成本升高的问题。

在一些实施例中，如图1和图3，开孔421的直径d2大于等于30mm。

可选的，第二部件42为圆环状，其中开孔421直径d2不小于30mm，圆环外圈直径d3不小于30cm。

可选的，为确保准直部件4的聚集功能，开孔421尺寸不应大于发射部件31柱体横截面的尺寸。

在这些实施例中，开孔421的直径d2大于等于30mm，改善了由于开孔421直径过小，导致热中子数量不足，影响测试结果可靠性的问题。

请一并参阅图1、图4和图5，图4为本申请实施例提供的测试平台1的柱体31的结构示意图，图5为本申请实施例提供的测试平台1的安装块32的结构示意图。

在一些实施例中，如图1、图4和图5所示，发射部件3包括柱体31和安装块32，柱体31沿第一方向X可分离的设置在通孔21内，柱体31的侧壁上设置有容纳槽311；安装块32可分离的设置在容纳槽311中，安装块32上设置有至少一个容纳放射源的安装槽321。

可选的，容纳槽311设置在柱体31沿所述第一方向X靠近所述准直部件4的一端。在保证容纳槽311结构稳定性的前提下，容纳槽311与柱体31靠近准直部件4的一侧表面之间的尺寸应足够小。

可选的，在第一方向X上，柱体31长度L2为400mm-500mm。

可选的，柱体31为圆柱体，柱体31尺寸和通孔21匹配。

可选的，安装块32安装在容纳槽311中，至少一个安装槽321与柱体31轴线重合。

可选的，柱体31和安装块32均为聚乙烯材料。

在这些实施例中，发射部件3包括柱体31和安装块32，柱体31沿第一方向X可分离的设置在通孔21内，安装块32可分离的设置在柱体31的容纳槽311中，以方便发射部件3的更换和组装，提高了测试平台1的实用性；安装块32上设置有至少一个容纳放射源的安装槽321，可以根据不同的测试环境，在安装块32上安置不同数量的放射源，使测试平台1可以适应不同的测试条件，提高了测试平台1的兼容性。

在一些实施例中，如图1、图4和图5所示，发射部件3包括限位件33，限位件33连接在柱体31在第一方向X上背离准直部件4的一端，限位件33沿第一方向X抵接于本体2。

可选的，限位件33为聚乙烯材质或者不锈钢。

可选的，限位件33和柱体31一体成型或者限位件33和柱体31分体设置，限位件33和柱体31之间卡接或粘接。

可选的，通孔21在第一方向X上的正投影在限位件33内。

在这些实施例中，发射部件3包括限位件33，限位件33连接在柱体31在第一方向X上背离准直部件4的一端，限位件33起到了为柱体31限位的作用，方便柱体31的安装和拆卸，这提高了测试平台1的实用性。

请参阅图6，图6为本申请实施例提供的测试平台1的保护件34的结构示意图。

在一些实施例中，如图1、图4和图6所示，发射部件3还包括保护件34，保护件34沿第一方向X延伸设置，且保护件34可分离的设置在通孔21内，测试平台1包括工作状态和关闭状态，测试平台1被配置为在工作状态至少部分准直部件4和柱体31沿第一方向X排列设置在通孔21内，在关闭状态柱体和至少部分保护件34沿第一方向X排列设置在通孔21内。

可选的，保护件34呈圆柱形，保护件34尺寸和通孔21尺寸匹配。

当测试平台1处于工作状态时，准直部件4设置在通孔21内，发射部件3发射的中子经过准直部件4发射到测试样品或检测装置上，当测试平台1处于关闭状态时，此时发射部件3发射的中子仍从通孔21内向外界发射，为了降低测试平台1的中子辐射，将准直部件4从通孔21内撤出，并将保护件34插入通孔21内，以达到阻塞发射部件3通过通孔21向外界发射的中子的效果。

在这些实施例中，发射部件3还包括保护件34，当测试平台1处于关闭状态，保护件34设置在通孔21内，以达到阻塞发射部件3通过通孔21向外界发射的中子的效果，提高了测试平台1的安全性。

在一些实施例中，如图1、图4和图6所示，测试平台1被配置为在关闭状态，保护件34和柱体31沿第一方向X抵接，且在第一方向X上，安装块32位于通孔21的中部。

可选的，在第一方向X上，保护件34的尺寸L3不低于30cm。

可选的，柱体31和保护件34均可以在通孔21内沿第一方向X移动，保护件34从通孔21设置准直部件4的一端插入，保护件34和柱体31沿第一方向X抵接，随着保护件34沿第一方向X插入通孔21，部分柱体31沿第一方向X退出通孔21，直至安装块32位于通孔21在第一方向X上的中部，此时放射源周向的屏蔽效果均匀。

在这些实施例中，测试平台1被配置为在关闭状态，保护件34和柱体31沿第一方向X抵接，且在第一方向X上，安装块32位于通孔21的中部，安装块32周围结构对安装块32的中子辐射防护能力均匀，降低了因测试平台1某个部位防护能力差，造成安全事故的风险，这提高了测试平台1的安全性。

请参阅图7，图7为本申请另一实施例提供的测试平台1的剖面结构示意图。

在一些实施例中，如图7所示，第一部件41和发射部件3之间设置有慢化部件5，慢化部件5用于慢化发射部件3发射的中子。

慢化部件5位于发射部件3一侧，慢化部件5和发射部件3发射的中子发生弹性散射等相互作用，从而使中子损失能量，将其慢化到热中子能量范围，以提高热中子数量和占比，同时不会产生过量的高能中子或γ射线。

可选的，慢化部件5为聚乙烯、氟化镁、氟化铝、氟化钙、重水或石墨等。

可选的，沿所述第一方向X慢化部件5和发射部件3抵接。

在这些实施例中，第一部件41和发射部件3之间设置有慢化部件5，慢化部件5用于降低发射部件3发射出的中子的能量，以提高热中子占比和/或热中子数量，以提高测试结果的可靠性。

在一些实施例中，如图7所示，沿第一方向X，安装块32和慢化部件5靠近准直部件4的一侧表面之间的距离L4为5.5cm-6.5cm。

示例性的，安装块32和慢化部件5靠近准直部件4的一侧表面之间的距离L4为5.5cm、6cm或6.5cm。

在这些实施例中，安装块32和慢化部件5靠近准直部件4的一侧表面之间的距离L4为5.5cm-6.5cm，即改善了安装块32和慢化部件5靠近准直部件4的一侧表面之间的距离过小，导致热中子占比过小，导致测试结果不准确的问题，也改善了安装块32和慢化部件5靠近慢化部件5的一侧表面之间的距离过大，导致热中子数量过少，导致测试结果可靠性差的问题。

在一些实施例中，如图7所示，本体2的外壁24设置有防护层23，防护层23用于屏蔽至少部分发射部件的辐射。

可选的，防护层23为不锈钢或铅或其它可以屏蔽γ射线的材料。

可选的，防护层23的厚度不低于1mm。

在这些实施例中，本体2的外壁24设置有防护层23，以对发射部件3发射的γ射线，以及发射部件3发射的中子和本体2作用产生的γ射线进行屏蔽，这提高了测试平台1的安全性。

以上仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (13)

1.一种测试平台，应用于热中子屏蔽性能测试，其特征在于，所述测试平台包括：

本体，包括沿第一方向贯穿所述本体的通孔；

发射部件，设置在所述通孔内，所述发射部件用于发射中子；

准直部件，包括沿所述第一方向排列设置的第一部件和第二部件，至少部分所述第一部件设置在所述通孔内并和所述发射部件沿所述第一方向排列设置，所述第一部件上设置有沿所述第一方向贯穿所述第一部件的准直腔，

所述第二部件与所述第一部件连接，所述第一部件在所述第一方向上背离所述发射部件的一侧表面为第一表面，且所述第二部件覆盖至少部分所述第一表面，所述第二部件具有比所述第一部件更强的热中子吸收能力。

2.根据权利要求1所述的测试平台，其特征在于，所述第二部件覆盖整个所述第一表面，且所述第二部件上设置有与所述准直腔联通的开孔，以使所述准直腔能够通过所述开孔与外界联通。

3.根据权利要求2所述的测试平台，其特征在于，至少部分所述第二部件延伸出所述第一表面，

本体在第一方向的一端具有环绕通孔的端面，第二部分覆盖所述本体的至少部分所述端面。

4.根据权利要求3所述的测试平台，其特征在于，所述第二部件和所述本体沿所述第一方向抵接。

5.根据权利要求2所述的测试平台，其特征在于，所述第二部件的厚度在0.5mm-2mm之间。

6.根据权利要求2所述的测试平台，其特征在于，所述开孔的直径大于等于30mm。

7.根据权利要求1所述的测试平台，其特征在于，所述发射部件包括：

柱体，沿第一方向可分离的设置在所述通孔内，所述柱体的侧壁上设置有容纳槽；

安装块，可分离的设置在所述容纳槽中，所述安装块上设置有至少一个容纳放射源的安装槽。

8.根据权利要求7所述的测试平台，其特征在于，所述发射部件包括：

限位件，连接在所述柱体在所述第一方向上背离所述准直部件的一端，所述限位件沿所述第一方向抵接于所述本体。

9.根据权利要求8所述的测试平台，其特征在于，所述发射部件还包括：

保护件，沿所述第一方向延伸设置，且所述保护件可分离的设置在所述通孔内，

所述测试平台包括工作状态和关闭状态，所述测试平台被配置为在所述工作状态至少部分所述准直部件和所述柱体沿所述第一方向排列设置在所述通孔内，在所述关闭状态所述柱体和至少部分所述保护件沿所述第一方向排列设置在所述通孔内。

10.根据权利要求9所述的测试平台，其特征在于，所述测试平台被配置为在所述关闭状态，所述保护件和所述柱体沿所述第一方向抵接，且在所述第一方向上，所述安装块位于所述通孔的中部。

11.根据权利要求7所述的测试平台，其特征在于，所述第一部件和所述发射部件之间设置有慢化部件，所述慢化部件用于慢化所述发射部件发射的中子。

12.根据权利要求11所述的测试平台，其特征在于，沿所述第一方向，所述安装块和所述慢化部件靠近所述准直部件的一侧表面之间的距离为5.5cm-6.5cm。

13.根据权利要求1所述的测试平台，其特征在于，所述本体的外壁设置有防护层，所述防护层用于屏蔽至少部分发射部件的辐射。

Images