CN218788077U - 一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及集成电路技术领域，具体为一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，包括用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的测试仪，测试仪顶部设有若干排测试区，测试仪左侧安装有待检区，测试仪右侧安装有测后区，测试仪上方安装有顶板，顶板下方安装有夹具；本实用新型通过在测试仪一侧设置待检区，在测试前可以将集成电路摆放于待检区上，并通过夹具将集成电路移至测试区上，在测试的过程中可以继续在待检区上摆放集成电路，可以节省一定的时间，同时在配合直线电机使用时，夹具可以将集成电路准确的安装在测试区上，节省了人工对齐的时间。

Description

一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，具体为一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备。

背景技术

集成电路是将复杂的电路小型化的结果，集成电路使得电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，快速瞬变脉冲群是指数量有限且清晰可辨的脉冲序列或持续时间有限的振荡，其为集成电路是否合格的常规测试内容，在测试快速瞬变脉冲时，需要使用到与之对应的测试仪。

申请号为CN202122587197.1的专利公开了一种集成电路测试设备，涉及集成电路技术领域。包括底座、调节机构和放置平台，放置平台位于底座的顶部固定连接，调节机构位于放置平台的一侧且与底座固定连接，调节机构包括手柄和调节单元。

虽然该技术方案在使用时通过调节两个齿条相背端之间的距离，从而适应测试点，向下压手柄使套筒跟随其下降，可进行测试多个集成电路，解决了手动改变两引脚的距离，较为麻烦的问题；通过将橡胶块固定在顶板上，防止在测试过程中电路板滑动，解决了直接放置在桌面容易造成电路板磨损的问题，但是该测试装置只能够同时测试一个集成电路，并且在将集成电路放置在测试仪器的测试区上时，需要逐个的摆放，而集成电路需要与测试区精确对准，进而又增加了摆放难度，同时只有在一次测试结束后才能够进行集成电路的摆放，进而导致浪费了在测试仪器测试时的时间。鉴于此，我们提出一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备。

实用新型内容

为了弥补以上不足，本实用新型提供了一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备。

本实用新型的技术方案是：

一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，包括用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的测试仪，所述测试仪顶部设有若干排测试区，所述测试仪左侧安装有待检区，所述测试仪右侧安装有测后区，所述测试仪上方安装有顶板，所述顶板下方安装有夹具，所述夹具底部开设有与测试区布局完全相同的若干个夹持区并在每个夹持区内均安装有一个夹持结构，所述顶板上安装有用于驱动夹具左右移动的直线电机，所述直线电机的滑块上安装有用于驱动夹具上下移动的液压缸，所述顶板底部安装有两个底部分别固定于待检区和测后区上的支撑杆。

作为优选的技术方案，所述测试仪在测试区后侧设有与测试区布局形状相同的若干个故障指示灯，所述待检区上设有与测试区布局完全相同的若干个放置区。

作为优选的技术方案，所述测后区顶部开设有一个放置凹陷，所述放置凹陷内安装有软垫。

作为优选的技术方案，所述夹具顶部位于每个夹持区上方均安装有一个用于驱动夹持结构的夹持电机。

作为优选的技术方案，所述夹持结构包括四个能够同步向夹持区中心处运动的夹板以及固定于夹持区内壁四角处的限位块，相邻的两个限位块之间形成有用于限制夹板运动方向的夹持通道。

作为优选的技术方案，所述夹持区内位于限位块下方安装有驱动块，所述驱动块上开设有四条呈用于驱动限位块运动的驱动凹槽，所述驱动块与夹持电机输出轴同轴固定。

作为优选的技术方案，所述夹板呈T字形，且底部穿过夹持通道伸至驱动凹槽内并与驱动凹槽内壁滑动连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型通过在测试仪一侧设置待检区，在测试前可以将集成电路摆放于待检区上，并通过夹具将集成电路移至测试区上，在测试的过程中可以继续在待检区上摆放集成电路，可以节省一定的时间，同时在配合控制直线电机使用时，夹具可以将集成电路准确的安装在测试区上，节省了人工对齐的时间。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型中图1的正视图；

图3为本实用新型中夹具的底部结构示意图；

图4为本实用新型中夹持结构的结构示意图；

图5为本实用新型中夹具和夹持结构的结构示意图。

图中各个标号的意义为：

1、测试仪；10、测试区；11、故障指示灯；2、待检区；20、放置区；3、测后区；30、放置凹陷；31、软垫；4、顶板；40、直线电机；41、液压缸；42、夹具；420、夹持区；43、夹持结构；430、限位块；431、夹板；432、夹持通道；433、驱动块；434、驱动凹槽；44、夹持电机；5、支撑杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

请参阅图1-5，本实用新型提供一种技术方案：

一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，包括用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的测试仪1，测试仪1顶部设有若干排测试区10，测试仪1左侧安装有待检区2，测试仪1右侧安装有测后区3，测试仪1上方安装有顶板4，顶板4下方安装有夹具42，夹具42底部开设有与测试区10布局完全相同的若干个夹持区420并在每个夹持区420内均安装有一个夹持结构43，顶板4上安装有用于驱动夹具42左右移动的直线电机40，直线电机40的滑块上安装有用于驱动夹具42上下移动的液压缸41，顶板4底部安装有两个底部分别固定于待检区2和测后区3上的支撑杆5。通过在测试仪1一侧设置待检区2，在测试前可以将集成电路摆放于待检区2上，并通过夹具42将集成电路移至测试区10上，在测试的过程中可以继续在待检区2上摆放集成电路，可以节省一定的时间，同时在配合控制直线电机40使用时，夹具42可以将集成电路准确的安装在测试区10上，节省了人工对齐的时间。

作为本实施例的优选，测试仪1在测试区10后侧设有与测试区10布局形状相同的若干个故障指示灯11，故障指示灯11可以精准的显示出故障的测试区10的位置，待检区2上设有与测试区10布局完全相同的若干个放置区20，设置的放置区20则便于放置的集成电路与夹具42底部的夹持区420对齐，进而便于使用夹持结构43将集成电路夹持。

作为本实施例的优选，测后区3顶部开设有一个放置凹陷30，放置凹陷30内安装有软垫31。设置的放置凹陷30便于对合格的集成电路进行回收，软垫31可以对集成电路进行一定的保护。

作为本实施例的优选，夹具42顶部位于每个夹持区420上方均安装有一个用于驱动夹持结构43的夹持电机44。

需要说明的是，本实用新型中的故障指示灯11、直线电机40、夹持电机44和液压缸41均通过PLC单片机控制，具体实现以下动作：通过PLC单片机控制直线电机40滑块拥有三个停止点，三个停止点分别位于放置区20正上方、测试区10正上方和放置凹陷30正上方，当直线电机40滑块位于放置区20正上方时，通过PLC单片机伸长液压缸41活塞杆带动夹具42向下移动，当集成电路位于夹持区420内时，启动夹持电机44，通过夹持电机44将集成电路夹紧，接着收缩液压缸41活塞杆，并通过直线电机40滑块移动夹具42至测试区10正上方，然后通过液压缸41将集成电路放置在测试区10上，然后进行测试，在测试完成后，与显示故障的故障指示灯11对应的测试区10上的夹持电机44松开该测试区10上的集成电路，然后向上移动夹具42，并通过直线电机40移动夹具42至放置凹陷30正上方，然后集体松开剩下的集成电路至放置凹陷30内，夹具42在从放置凹陷30上方向左运动时，直接运动至放置区20的正上方。

作为本实施例的优选，夹持结构43包括四个能够同步向夹持区420中心处运动的夹板431以及固定于夹持区420内壁四角处的限位块430，相邻的两个限位块430之间形成有用于限制夹板431运动方向的夹持通道432。夹持区420内位于限位块430下方安装有驱动块433，驱动块433上开设有四条呈用于驱动限位块430运动的驱动凹槽434，驱动块433与夹持电机44输出轴同轴固定。夹板431呈T字形，且底部穿过夹持通道432伸至驱动凹槽434内并与驱动凹槽434内壁滑动连接。夹持结构43在工作时，夹持电机44带动驱动块433转动，并通过驱动块433上的驱动凹槽434带动夹板431向着夹持区420在夹持通道432内中心位置处运动，以将集成电路夹紧。

本实用新型的用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备在使用时，尤其是夹持结构43在工作时，夹持电机44带动驱动块433转动，并通过驱动块433上的驱动凹槽434带动夹板431向着夹持区420在夹持通道432内中心位置处运动，以将集成电路夹紧；操作人员首先将待检测的集成电路分别放置在放置区20上，然后通过PLC单片机控制直线电机40滑块位于放置区20正上方，此时再通过PLC单片机伸长液压缸41活塞杆带动夹具42向下移动，当集成电路位于夹持区420内时，启动夹持电机44，通过夹持电机44将集成电路夹紧，接着收缩液压缸41活塞杆，并通过直线电机40滑块移动夹具42至测试区10正上方，然后通过液压缸41将集成电路放置在测试区10上，然后进行测试，在测试完成后，与显示故障的故障指示灯11对应的测试区10上的夹持电机44松开用其夹紧的集成电路，其余的集成电路保持夹紧状态，然后向上移动夹具42，并通过直线电机40移动夹具42至放置凹陷30正上方，然后集体松开剩下的集成电路至放置凹陷30内，接着夹具42重新回至放置区20的正上方。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (7)

1.一种用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，包括用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的测试仪(1)，所述测试仪(1)顶部设有若干排测试区(10)，其特征在于：所述测试仪(1)左侧安装有待检区(2)，所述测试仪(1)右侧安装有测后区(3)，所述测试仪(1)上方安装有顶板(4)，所述顶板(4)下方安装有夹具(42)，所述夹具(42)底部开设有与测试区(10)布局完全相同的若干个夹持区(420)并在每个夹持区(420)内均安装有一个夹持结构(43)，所述顶板(4)上安装有用于驱动夹具(42)左右移动的直线电机(40)，所述直线电机(40)的滑块上安装有用于驱动夹具(42)上下移动的液压缸(41)，所述顶板(4)底部安装有两个底部分别固定于待检区(2)和测后区(3)上的支撑杆(5)。

2.如权利要求1所述的用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，其特征在于：所述测试仪(1)在测试区(10)后侧设有与测试区(10)布局形状相同的若干个故障指示灯(11)，所述待检区(2)上设有与测试区(10)布局完全相同的若干个放置区(20)。

3.如权利要求1所述的用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，其特征在于：所述测后区(3)顶部开设有一个放置凹陷(30)，所述放置凹陷(30)内安装有软垫(31)。

4.如权利要求1所述的用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，其特征在于：所述夹具(42)顶部位于每个夹持区(420)上方均安装有一个用于驱动夹持结构(43)的夹持电机(44)。

5.如权利要求4所述的用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，其特征在于：所述夹持结构(43)包括四个能够同步向夹持区(420)中心处运动的夹板(431)以及固定于夹持区(420)内壁四角处的限位块(430)，相邻的两个限位块(430)之间形成有用于限制夹板(431)运动方向的夹持通道(432)。

6.如权利要求5所述的用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，其特征在于：所述夹持区(420)内位于限位块(430)下方安装有驱动块(433)，所述驱动块(433)上开设有四条呈用于驱动限位块(430)运动的驱动凹槽(434)，所述驱动块(433)与夹持电机(44)输出轴同轴固定。

7.如权利要求6所述的用于测试集成电路快速瞬变脉冲群的一体设备，其特征在于：所述夹板(431)呈T字形，且底部穿过夹持通道(432)伸至驱动凹槽(434)内并与驱动凹槽(434)内壁滑动连接。

Images