CN218767050U - 一种高耐久性的射频同轴连接器测试件 - Google Patents
一种高耐久性的射频同轴连接器测试件 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，包括母头外导体和公头外导体，母头外导体内朝向公头外导体的一端设置有硬性接触件，硬性接触件与公头外导体的内部过盈配合连接，硬性接触件和母头外导体之间形成插拔槽，公头外导体内对应插拔槽的位置处设置有插接件，插接件和插拔槽相适配，本实用新型采用一体式金属结构的硬性接触件，接触方式由径向接触改为轴向接触，将射频同轴连接器上的电气基准面和机械基准面进行合并，提高射频同轴连接器的连接稳定性，增强连接器弹性耐久度和强度，大幅度提高测试件测试三阶互调的耐久性，减少射频同轴连接器测试件的报废率，降低互调失真可能性，延长使用寿命，节约生产成本。
Description
技术领域
本实用新型属于射频同轴连接器技术领域，具体涉及一种高耐久性的射频同轴连接器测试件。
背景技术
射频同轴连接器是装接在电缆上或安装在仪器上的一种元件，作为传输线电气连接或分离的元件，它属于机电一体化产品，简单的讲它主要起桥梁作用。
射频同轴连接器测试件作为测试接头时需频繁插拔以快速安装连接或者拆卸退出，射频同轴连接器测试件一般采用弹性接触件与插孔配合实现同轴连接，且现有射频同轴连接器测试件为径向接触，其中的电气基准面和机械基准面是分离的，如图3所示，弹性接触件的弹性爪套通过凸点与插孔内壁卡接，弹性接触件多次插拔后弹性易降低，接触头的弹性会下降，进而影响了互调性能，增加了互调失真的可能性，尤其是该接头用作仪器仪表或者精密测试负载上时，寿命不长，且更换难度较大费用较高，为此我们提出一种高耐久性的射频同轴连接器测试件。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，包括母头外导体和公头外导体，所述母头外导体和所述公头外导体之间通过连接螺套连接，所述母头外导体内朝向所述公头外导体的一端设置有硬性接触件，所述硬性接触件与所述公头外导体的内部过盈配合连接，所述硬性接触件和所述母头外导体之间形成插拔槽，所述公头外导体内对应所述插拔槽的位置处设置有插接件，所述插接件和所述插拔槽相适配。
优选的，所述插接件上朝向所述母头外导体的一端内侧为斜坡结构，且所述插接件和所述插拔槽相插接连接。
优选的，所述插接件和所述插拔槽的连接处设置有密封环，所述插接件上设置有用于放置所述密封环的环形槽。
优选的，所述插接件上对应所述硬性接触件的位置处设置有接触台阶，所述硬性接触件和所述接触台阶过盈配合连接。
优选的，所述母头外导体和所述公头外导体的内部通过所述硬性接触件轴向接触连接。
优选的，所述硬性接触件为一体式金属接触件。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、本实用新型采用一体式金属结构的硬性接触件，且该硬性接触件与母头外导体内的接触台阶过盈配合，使得接触方式由现有的径向接触改为本实用新型的轴向接触，通过硬性接触件与母头外导体内的接触台阶过盈配合，将射频同轴连接器上的电气基准面和机械基准面进行合并，进一步提高射频同轴连接器的连接稳定性，采用一体式金属结构的硬性接触件的射频同轴连接，作为测试件使用，不会出现接触件弹性下降的问题，进而增强连接器弹性耐久度和强度，大幅度提高测试件测试三阶互调的耐久性，减少射频同轴连接器测试件的报废率，降低互调失真可能性，延长射频同轴连接器作为测试件的使用寿命，节约生产成本；
2、本实用新型中插接件上朝向母头外导体的一端内侧为斜坡结构，且插接件和插拔槽的连接处设置有密封环，方便插接件插接入插拔槽内的顺畅性，且密封环提高母头外导体和公头外导体之间的连接密封性，进而提高插接配合效率和射频同轴连接器的导电接触可靠性。
附图说明
图1为本实用新型的主视剖视结构示意图；
图2为本实用新型的母头外导体的剖视结构示意图；
图3为现有射频同轴连接器的连接结构示意图。
图中：1、母头外导体；2、公头外导体；3、连接螺套；4、硬性接触件；5、插拔槽；6、插接件；7、密封环；8、环形槽；9、接触台阶。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-图2，本实用新型提供的高耐久性的射频同轴连接器测试件，包括母头外导体1和公头外导体2，母头外导体1和公头外导体2之间通过连接螺套3连接，母头外导体1内朝向公头外导体2的一端设置有硬性接触件4，硬性接触件4与公头外导体2的内部过盈配合连接，硬性接触件4为一体式金属接触件，插接件6上对应硬性接触件4的位置处设置有接触台阶9，硬性接触件4和接触台阶9过盈配合连接，硬性接触件4和母头外导体1之间形成插拔槽5，公头外导体2内对应插拔槽5的位置处设置有插接件6，插接件6和插拔槽5相适配，母头外导体1和公头外导体2的内部通过硬性接触件4轴向接触连接；
现有的射频同轴连接器中的接触件一般采用弹性材料（例如：QSn6.5-0.1）制备的弹性接触件,结构设计的时候为同轴直通设计（如图3所示），本实用新型采用一体式金属结构的硬性接触件4，且该硬性接触件4与母头外导体1内的接触台阶9过盈配合，使得接触方式由现有的径向接触改为本实用新型的轴向接触，且现有的射频同轴连接器上的电气基准面和机械基准面之间是分离的（如图3所示），在本实用新型中通过硬性接触件4与母头外导体1内的接触台阶9过盈配合，将射频同轴连接器上的电气基准面和机械基准面进行合并，进一步提高射频同轴连接器的连接稳定性，采用一体式金属结构的硬性接触件4的射频同轴连接，作为测试件使用，不会出现接触件弹性下降的问题，进而增强连接器弹性耐久度和强度，大幅度提高测试件测试三阶互调的耐久性，减少射频同轴连接器测试件的报废率，降低互调失真可能性，延长射频同轴连接器作为测试件的使用寿命，节约生产成本。
本实施例中，如图1和图2所示，插接件6上朝向母头外导体1的一端内侧为斜坡结构，且插接件6和插拔槽5相插接连接，插接件6和插拔槽5的连接处设置有密封环7，插接件6上设置有用于放置密封环7的环形槽8；
本实用新型中插接件6上朝向母头外导体1的一端内侧为斜坡结构，且插接件6和插拔槽5的连接处设置有密封环7，方便插接件6插接入插拔槽5内的顺畅性，且密封环7提高母头外导体1和公头外导体2之间的连接密封性，进而提高插接配合效率和射频同轴连接器的导电接触可靠性。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，其特征在于，包括母头外导体（1）和公头外导体（2），所述母头外导体（1）和所述公头外导体（2）之间通过连接螺套（3）连接，所述母头外导体（1）内朝向所述公头外导体（2）的一端设置有硬性接触件（4），所述硬性接触件（4）与所述公头外导体（2）的内部过盈配合连接，所述硬性接触件（4）和所述母头外导体（1）之间形成插拔槽（5），所述公头外导体（2）内对应所述插拔槽（5）的位置处设置有插接件（6），所述插接件（6）和所述插拔槽（5）相适配。
2.根据权利要求1所述的一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，其特征在于：所述插接件（6）上朝向所述母头外导体（1）的一端内侧为斜坡结构，且所述插接件（6）和所述插拔槽（5）相插接连接。
3.根据权利要求1所述的一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，其特征在于：所述插接件（6）和所述插拔槽（5）的连接处设置有密封环（7），所述插接件（6）上设置有用于放置所述密封环（7）的环形槽（8）。
4.根据权利要求1所述的一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，其特征在于：所述插接件（6）上对应所述硬性接触件（4）的位置处设置有接触台阶（9），所述硬性接触件（4）和所述接触台阶（9）过盈配合连接。
5.根据权利要求1所述的一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，其特征在于：所述母头外导体（1）和所述公头外导体（2）的内部通过所述硬性接触件（4）轴向接触连接。
6.根据权利要求1所述的一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，其特征在于：所述硬性接触件（4）为一体式金属接触件。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202223159982.8U CN218767050U (zh) | 2022-11-28 | 2022-11-28 | 一种高耐久性的射频同轴连接器测试件 |
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Publications (1)
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| CN202223159982.8U Active CN218767050U (zh) | 2022-11-28 | 2022-11-28 | 一种高耐久性的射频同轴连接器测试件 |
Country Status (1)
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2022
- 2022-11-28 CN CN202223159982.8U patent/CN218767050U/zh active Active
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