CN218069787U - 一种集成电路封装测试仪器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种集成电路封装测试仪器，包括集成电路测试仪，集成电路测试仪的表面固定连接有缓冲垫。本实用新型通过设置集成电路测试仪、缓冲垫、分散震片、吸震弹片、导震片、吸震套、防护片、吸震海绵、弧角吸震块和防护盖的配合使用，解决了现有的集成电路测试仪在使用时的防护效果还有待提高，当集成电路测试仪边角受到物体的磕碰或集成电路测试仪掉落时，集成电路测试仪不能有效阻止外界的冲击力进入集成电路测试仪的内部对集成电路测试仪内部的电子器件造成影响，严重可导致集成电路测试仪发生损坏影响使用，降低了集成电路测试仪安全性的问题，具备了防护效果好的优点，提高了集成电路测试仪的安全性。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路技术领域，具体为一种集成电路封装测试仪器。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，在集成电路加工过程中会用到集成电路测试仪对集成电路进行检测，集成电路测试仪是集成电路封装测试仪器的一种，但是现有的集成电路测试仪在使用时的防护效果还有待提高，当集成电路测试仪边角受到物体的磕碰或集成电路测试仪掉落时，集成电路测试仪不能有效阻止外界的冲击力进入集成电路测试仪的内部对集成电路测试仪内部的电子器件造成影响，严重可导致集成电路测试仪发生损坏影响使用，降低了集成电路测试仪的安全性。
实用新型内容
为解决上述背景技术中提出的问题，本实用新型的目的在于提供一种集成电路封装测试仪器，具备了防护效果好的优点，解决了现有的集成电路测试仪在使用时的防护效果还有待提高，当集成电路测试仪边角受到物体的磕碰或集成电路测试仪掉落时，集成电路测试仪不能有效阻止外界的冲击力进入集成电路测试仪的内部对集成电路测试仪内部的电子器件造成影响，严重可导致集成电路测试仪发生损坏影响使用，降低了集成电路测试仪安全性的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路封装测试仪器，包括集成电路测试仪；
所述集成电路测试仪的表面固定连接有缓冲垫，所述缓冲垫的表面固定连接有分散震片，所述分散震片的表面活动镶嵌有吸震弹片，所述分散震片的表面设置有位于吸震弹片外侧的导震片，所述吸震弹片的表面与导震片的表面接触，所述导震片的表面固定连接有吸震套，所述吸震套靠近集成电路测试仪的一侧与集成电路测试仪的表面固定连接，所述吸震套的表面固定连接有防护片，所述分散震片的表面固定连接有吸震海绵，所述分散震片的表面固定连接有弧角吸震块，所述吸震海绵和弧角吸震块的表面均与导震片的表面固定连接，所述集成电路测试仪的正面设置有位于防护片外侧的防护盖。
作为本实用新型优选的，所述集成电路测试仪的两侧均设置有与分散震片固定连接的防护条一，所述防护条一由聚氨酯制成。
作为本实用新型优选的，所述集成电路测试仪的顶部与底部均设置有分散震片固定连接的防护条二，所述防护条二的材质与防护条一的材质相同。
作为本实用新型优选的，所述防护片的表面固定连接有弧度卡块，所述弧度卡块与防护盖配合使用。
作为本实用新型优选的，所述吸震海绵的数量为若干个，且若干个吸震海绵呈等距离均匀分布，所述弧角吸震块由橡胶制成。
作为本实用新型优选的，所述防护条一和防护条二靠近集成电路测试仪的一侧均与集成电路测试仪的表面固定连接，所述防护条一和防护条二的形状均为矩形。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：
1、本实用新型通过设置集成电路测试仪、缓冲垫、分散震片、吸震弹片、导震片、吸震套、防护片、吸震海绵、弧角吸震块和防护盖的配合使用，解决了现有的集成电路测试仪在使用时的防护效果还有待提高，当集成电路测试仪边角受到物体的磕碰或集成电路测试仪掉落时，集成电路测试仪不能有效阻止外界的冲击力进入集成电路测试仪的内部对集成电路测试仪内部的电子器件造成影响，严重可导致集成电路测试仪发生损坏影响使用，降低了集成电路测试仪安全性的问题，具备了防护效果好的优点，提高了集成电路测试仪的安全性。
2、本实用新型通过设置防护条一，能够加强分散震片与集成电路测试仪两侧的稳定性，使分散震片能够稳定的带动缓冲垫与集成电路测试仪的两侧进行固定。
3、本实用新型通过设置防护条二，能够加强分散震片与集成电路测试仪顶部与底部的稳定性，使分散震片与集成电路测试仪的稳定性有效的提高。
4、本实用新型通过设置弧度卡块，能够与防护盖配合，使防护盖盖在集成电路测试仪正面时，能够有效与防护片的表面进行摩擦，提高了防护盖的稳定性。
5、本实用新型通过将吸震海绵的数量设置为若干个，能够使吸震海绵能够均匀的分布对导震片传导的震动力进行吸收。
6、本实用新型通过将防护条一和防护条二的形状均设置为矩形，能够使防护条一和防护条二更好与集成电路测试仪的表面进行接触。
附图说明
图1为本实用新型结构的主视示意图；
图2为本实用新型结构防护盖的主视示意图；
图3为本实用新型结构图1中A处放大示意图；
图4为本实用新型结构吸震弹片的立体示意图。
图中：1、集成电路测试仪；2、缓冲垫；3、分散震片；4、吸震弹片；5、导震片；6、吸震套；7、防护片；8、吸震海绵；9、弧角吸震块；10、防护盖；11、防护条一；12、防护条二；13、弧度卡块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
如图1至图4所示，本实用新型提供的一种集成电路封装测试仪器，包括集成电路测试仪1；
集成电路测试仪1的表面固定连接有缓冲垫2，缓冲垫2的表面固定连接有分散震片3，分散震片3的表面活动镶嵌有吸震弹片4，分散震片3的表面设置有位于吸震弹片4外侧的导震片5，吸震弹片4的表面与导震片5的表面接触，导震片5的表面固定连接有吸震套6，吸震套6靠近集成电路测试仪1的一侧与集成电路测试仪1的表面固定连接，吸震套6的表面固定连接有防护片7，分散震片3的表面固定连接有吸震海绵8，分散震片3的表面固定连接有弧角吸震块9，吸震海绵8和弧角吸震块9的表面均与导震片5的表面固定连接，集成电路测试仪1的正面设置有位于防护片7外侧的防护盖10。
参考图3，集成电路测试仪1的两侧均设置有与分散震片3固定连接的防护条一11，防护条一11由聚氨酯制成。
作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置防护条一11，能够加强分散震片3与集成电路测试仪1两侧的稳定性，使分散震片3能够稳定的带动缓冲垫2与集成电路测试仪1的两侧进行固定。
参考图3，集成电路测试仪1的顶部与底部均设置有分散震片3固定连接的防护条二12，防护条二12的材质与防护条一11的材质相同。
作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置防护条二12，能够加强分散震片3与集成电路测试仪1顶部与底部的稳定性，使分散震片3与集成电路测试仪1的稳定性有效的提高。
参考图3，防护片7的表面固定连接有弧度卡块13，弧度卡块13与防护盖10配合使用。
作为本实用新型的一种技术优化方案，通过设置弧度卡块13，能够与防护盖10配合，使防护盖10盖在集成电路测试仪1正面时，能够有效与防护片7的表面进行摩擦，提高了防护盖10的稳定性。
参考图1，吸震海绵8的数量为若干个，且若干个吸震海绵8呈等距离均匀分布，弧角吸震块9由橡胶制成。
作为本实用新型的一种技术优化方案，通过将吸震海绵8的数量设置为若干个，能够使吸震海绵8能够均匀的分布对导震片5传导的震动力进行吸收。
参考图1，防护条一11和防护条二12靠近集成电路测试仪1的一侧均与集成电路测试仪1的表面固定连接，防护条一11和防护条二12的形状均为矩形。
作为本实用新型的一种技术优化方案，通过将防护条一11和防护条二12的形状均设置为矩形，能够使防护条一11和防护条二12更好与集成电路测试仪1的表面进行接触。
本实用新型的工作原理及使用流程：使用时，集成电路测试仪1的表面受到磕碰时，防护盖10可以对集成电路测试仪1的正面进行防护，避免了集成电路测试仪1的表面受到磕碰发生损坏，防护片7能够对集成电路测试仪1的四角进行防护，避免了集成电路测试仪1的四角受到磕碰发生损坏，吸震套6能够对防护片7吸收后的冲击力进行吸收，使冲击力减弱，吸震海绵8能够对吸震套6吸收的冲击力进行缓冲，减小冲击力传导到分散震片3的强度，弧角吸震块9能够对分散震片3的表面进行缓冲，使外界的冲击力不易从集成电路测试仪1的四角传导到集成电路测试仪1的内部，吸震弹片4能够在吸震套6受到冲击力后发生弯曲，对冲击力进行吸收，使冲击力减弱，分散震片3能够对吸震弹片4传导的震动力进行吸收并分散后被缓冲垫2进一步吸收，使传导到集成电路测试仪1内部的冲击力和震动力有效的降低，能够有效的对集成电路测试仪1进行防护，从而达到防护效果好的优点。
综上所述：该集成电路封装测试仪器，通过设置集成电路测试仪1、缓冲垫2、分散震片3、吸震弹片4、导震片5、吸震套6、防护片7、吸震海绵8、弧角吸震块9和防护盖10的配合使用，解决了现有的集成电路测试仪在使用时的防护效果还有待提高，当集成电路测试仪边角受到物体的磕碰或集成电路测试仪掉落时，集成电路测试仪不能有效阻止外界的冲击力进入集成电路测试仪的内部对集成电路测试仪内部的电子器件造成影响，严重可导致集成电路测试仪发生损坏影响使用，降低了集成电路测试仪安全性的问题。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种集成电路封装测试仪器，包括集成电路测试仪(1)；
其特征在于：所述集成电路测试仪(1)的表面固定连接有缓冲垫(2)，所述缓冲垫(2)的表面固定连接有分散震片(3)，所述分散震片(3)的表面活动镶嵌有吸震弹片(4)，所述分散震片(3)的表面设置有位于吸震弹片(4)外侧的导震片(5)，所述吸震弹片(4)的表面与导震片(5)的表面接触，所述导震片(5)的表面固定连接有吸震套(6)，所述吸震套(6)靠近集成电路测试仪(1)的一侧与集成电路测试仪(1)的表面固定连接，所述吸震套(6)的表面固定连接有防护片(7)，所述分散震片(3)的表面固定连接有吸震海绵(8)，所述分散震片(3)的表面固定连接有弧角吸震块(9)，所述吸震海绵(8)和弧角吸震块(9)的表面均与导震片(5)的表面固定连接，所述集成电路测试仪(1)的正面设置有位于防护片(7)外侧的防护盖(10)。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路封装测试仪器，其特征在于：所述集成电路测试仪(1)的两侧均设置有与分散震片(3)固定连接的防护条一(11)，所述防护条一(11)由聚氨酯制成。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路封装测试仪器，其特征在于：所述集成电路测试仪(1)的顶部与底部均设置有分散震片(3)固定连接的防护条二(12)，所述防护条二(12)的材质与防护条一(11)的材质相同。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路封装测试仪器，其特征在于：所述防护片(7)的表面固定连接有弧度卡块(13)，所述弧度卡块(13)与防护盖(10)配合使用。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路封装测试仪器，其特征在于：所述吸震海绵(8)的数量为若干个，且若干个吸震海绵(8)呈等距离均匀分布。
6.根据权利要求3所述的一种集成电路封装测试仪器，其特征在于：所述防护条一(11)和防护条二(12)靠近集成电路测试仪(1)的一侧均与集成电路测试仪(1)的表面固定连接，所述防护条一(11)和防护条二(12)的形状均为矩形。
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| CN202221574882.9U CN218069787U (zh) | 2022-06-22 | 2022-06-22 | 一种集成电路封装测试仪器 |
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