CN217900753U - 一种冲击试样缺口投影仪的测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种冲击试样缺口投影仪的测量装置，该冲击试样缺口投影仪的测量装置包括：测量板，所述测量板包括第一区域和/或第二区域；所述第一区域内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第一极限尺寸图样；所述第二区域内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第二极限尺寸图样和多个第二标准尺寸图样；所述标准缺口样板图样为冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样；所述第一极限尺寸图样和所述第二极限尺寸图样均是利用标准缺口样板图样的最大允许误差形成的最大极限尺寸图样或最小极限尺寸图样。本方案实现了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的快速准确的测量，提高了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的检测效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及仪器测量领域，具体涉及一种冲击试样缺口投影仪的测量装置。
背景技术
冲击试样缺口投影仪是一种对冲击试样缺口的要求而设计开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用测量仪器。该仪器通过测量试样以确定被检测试样的冲击试样缺口加工是否合格。
冲击试样缺口测量仪广泛应用于海洋工程、装备制造、冶金、锅炉压力容器和工程机械制造等行业。由于冲击试样缺口的加工质量和测量精度直接决定材料冲击性能试验的正确判断，而冲击试样缺口测量仪作为其主要参数的检测仪器，该仪器测量的准确与否关系到材料试验结果的有效性以及生产制造工艺的确定与改进；但是目前对冲击试验缺口试样投影仪上标准缺口样板图样的测量较为繁琐，测量光学型冲击试验缺口试样投影仪标准样板上V型缺口和U型缺口时，需要将标准样板从投影仪上拆下，然后使用万能工具显微镜多次进行读数、测量然后计算才能得出检测结果，导致工作效率不高，不利于对冲击试验缺口试样投影仪进行快速准确的校准，同时，数码型冲击试样缺口投影仪示值误差的测量没有专用标准器，从而导致其示值无法溯源。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种冲击试样缺口投影仪的测量装置，实现了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的快速准确的测量，提高了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的检测效率。
为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案如下：
本实用新型的实施例提供一种冲击试样缺口投影仪的测量装置，包括：
测量板，所述测量板包括第一区域和/或第二区域；
所述第一区域内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第一极限尺寸图样；
所述第二区域内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第二极限尺寸图样和多个第二标准尺寸图样；
所述标准缺口样板图样为冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样；
所述第一极限尺寸图样和所述第二极限尺寸图样均是利用标准缺口样板图样的最大允许误差形成的最大极限尺寸图样或最小极限尺寸图样。
可选的，所述测量板的材料为光学玻璃或石英玻璃。
可选的，所述第一极限尺寸图样包括：第一V型尺寸图样和/或第一U型尺寸图样；其中，所述第一V型尺寸图样包括：第一V型最小极限图样和第一V型最大极限图样；
所述第一V型最小极限图样设置在所述第一V型最大极限图样的内部，且在所述第一V型最大极限图样和所述第一V型最小极限图样之间形成标准缺口样板图样的第一公差带；
所述第一U型尺寸图样包括：第一U型最小极限图样和第一U型最大极限图样；
所述第一U型最小极限图样设置在所述第一U型最大极限图样的内部，且在所述第一U型最大极限图样和所述第一U型最小极限图样之间形成标准缺口样板图样的第二公差带。
可选的，所述第一V型尺寸图样还包括：
第一中垂线，所述第一中垂线平分所述第一V型最小极限图样和第一V型最大极限图样。
可选的，所述第一U型尺寸图样还包括：
第二中垂线，所述第二中垂线平分所述第一U型最小极限图样和第一U型最大极限图样。
可选的，所述第一公差带和所述第二公差带做透光处理，所述第一区域上除所述第一公差带和所述第二公差带以外的部分做黑化处理。
可选的，所述第一V型最小极限图样和第一V型最大极限图样的线宽为预设值；
所述第一U型最小极限图样和第一U型最大极限图样的线宽为预设值。
可选的，所述第二极限尺寸图样包括：第二V型极限尺寸图样和/或第二U型极限尺寸图样；
所述第二标准尺寸图样包括：第二V型标准尺寸图样和第二U型标准尺寸图样。
可选的，所述第二V型极限尺寸图样包括：第二V型最小极限图样和第二V型最大极限图样；
所述第二U型极限尺寸图样包括：第二U型最小极限图样和第二U型最大极限图样。
可选的，所述第二V型最小极限图样、第二V型最大极限图样、所述第二V型标准尺寸图样、第二U型最小极限图样和第二U型最大极限图样以及所述第二U型标准尺寸图样做黑化处理；
所述第二区域上除所述第二V型最小极限图样、第二V型最大极限图样、所述第二V型标准尺寸图样、第二U型最小极限图样和第二U型最大极限图样以及所述第二U型标准尺寸图样以外的部分做透光处理。
本实用新型的上述方案至少包括以下有益效果：
本实用新型所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，包括：测量板，所述测量板包括第一区域和/或第二区域；所述第一区域内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第一极限尺寸图样；所述第二区域内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第二极限尺寸图样和多个第二标准尺寸图样；所述标准缺口样板图样为冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样；所述第一极限尺寸图样和所述第二极限尺寸图样均是利用标准缺口样板图样的最大允许误差形成的最大极限尺寸图样或最小极限尺寸图样。解决了现有冲击试样缺口投影仪上标准缺口样板图样的测量工序繁琐、效率低以及测量示值无法溯源的问题。实现了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的快速准确的测量，提高了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的检测效率。
附图说明
图1是本实用新型的冲击试样缺口投影仪的测量装置的结构示意图；
图2是本实用新型的冲击试样缺口投影仪的测量装置的第一V型尺寸图样；
图3是本实用新型的冲击试样缺口投影仪的测量装置的第一V型尺寸图样的局部放大图；
图4是本实用新型的冲击试样缺口投影仪的测量装置的第一U型尺寸图样；
图5是本实用新型的冲击试样缺口投影仪的测量装置的第一V型尺寸图样的工作图；
图6是本实用新型的冲击试样缺口投影仪的测量装置的第一V型尺寸图样的工作图的局部放大图；
图7是本实用新型的光学型冲击试样缺口投影仪的投影屏上的标准样板示意图；
其中，1、测量板；2、第一区域；21、第一V型尺寸图样；22、第一U型尺寸图样；211、第一V型最小极限图样；212、第一V型最大极限图样；213、第一公差带；214、第一中垂线214；221、第一U型最小极限图样；222、第一U型最大极限图样；223、第二公差带；224、第二中垂线；3、第二区域；311、第二V型最小极限图样；312、第二V型最大极限图样；313、第二V型标准尺寸图样；321、第二U型最小极限图样；322、第二U型最大极限图样；323、第二U型标准尺寸图样；61、第一V型标准尺寸图样；62、第八V型标准尺寸图样；63、第三V型标准尺寸图样；64、第四U型标准尺寸图样；65、第五U型标准尺寸图样；66、第六U型标准尺寸图样；67、第七标准尺寸图样。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本实用新型的示例性实施例。虽然附图中显示了本实用新型的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本实用新型而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本实用新型，并且能够将本实用新型的范围完整的传达给本领域的技术人员。
如图1所示，本实用新型的实施例提供一种冲击试样缺口投影仪的测量装置，包括：
测量板1，所述测量板1包括第一区域2和/或第二区域3；
所述第一区域2内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第一极限尺寸图样；
所述第二区域3内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第二极限尺寸图样和多个第二标准尺寸图样；
所述标准缺口样板图样为冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样；
所述第一极限尺寸图样和所述第二极限尺寸图样均是利用标准缺口样板图样的最大允许误差形成的最大极限尺寸图样或最小极限尺寸图样。
所述测量板1的材料为光学玻璃或石英玻璃。
本实施例中，所述测量板1上可以根据需求同时设置第一区域2和第二区域3，也可以只设置所述第一区域2或所述第二区域3，同时所述第一区域2上的第一极限尺寸图样也可设置单个或者多个图样，所述第二区域3上的第二极限尺寸图样和第二标准尺寸图样也均可设置单个或者多个图样，如图1所示，图1为该测量装置的最优设计，图1中同时设置了所述第一区域2和所述第二区域3，且所述第一区域2内设置了多个所述第一极限尺寸图样，所述第二区域3内设置了多个所述第二极限尺寸图样和多个所述第二标准尺寸图样，所述第一区域2主要用于对光学型冲击试样缺口投影仪的投影屏标准样板上的V型缺口图样和U型缺口图样的测量，所述第二区域3主要用于对数码投影仪的仪器上的V型缺口图样和U型缺口图样的测量。
该实施例中，所述冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样指的是通过相关金属材料夏比摆锤冲击试验方法确定的已知的预设图样，所述第一极限尺寸图样和所述第二极限尺寸图样是按照冲击试样尺寸公差的三分之一分别得出了光学型冲击试样缺口投影仪和数码型冲击试样缺口投影仪示值的最大允许误差，通过仪器示值的最大允许误差的三分之一来形成最大极限尺寸图样和最小极限尺寸图样。
如图1、如图2、图3以及图4所示，本实用新型的一可选的实施例中，所述第一极限尺寸图样包括：第一V型尺寸图样21和/或第一U型尺寸图样22；其中，所述第一V型尺寸图样21包括：第一V型最小极限图样211和第一V型最大极限图样212；
所述第一V型最小极限图样211设置在所述第一V型最大极限图样212的内部，且在所述第一V型最大极限图样212和所述第一V型最小极限图样211之间形成标准缺口样板图样的第一公差带213；
所述第一U型尺寸图样22包括：第一U型最小极限图样221和第一U型最大极限图样222；
所述第一U型最小极限图样221设置在所述第一U型最大极限图样222的内部，且在所述第一U型最大极限图样222和所述第一U型最小极限图样221之间形成标准缺口样板图样的第二公差带223。
所述第一V型尺寸图样21还包括：
第一中垂线214，所述第一中垂线214平分所述第一V型最小极限图样211和第一V型最大极限图样212。
所述第一U型尺寸图样22还包括：
第二中垂线224，所述第二中垂线224平分所述第一U型最小极限图样221和第一U型最大极限图样222。
所述第一公差带213和所述第二公差带223做透光处理，所述第一区域2上除所述第一公差带213和所述第二公差带223以外的部分做黑化处理。
所述第一V型最小极限图样211和第一V型最大极限图样212的线宽为预设值；
所述第一U型最小极限图样221和第一U型最大极限图样222的线宽为预设值。
本实施例中，所述第一V型尺寸图样21和所述第一U型尺寸图样22均可设计为单个或多个，所述第一V型最小极限图样211和第一V型最大极限图样212的线宽为0.003mm；所述第一U型最小极限图样221和第一U型最大极限图样222的线宽为0.003mm。所述第一公差带213和所述第二公差带223做透光处理，所述第一区域2的除所述第一公差带213和所述第二公差带223以外的部分做黑化处理的目的是为了在使用时能够将更清楚的在所述投影屏标准样板上显示所述第一公差带213和所述第二公差带223从而便于观察，所述第一中垂线214和所述第二中垂线224的作用是为测量过程中提供基准线。
该实施例中，所述第一V型最小极限图样211和所述第一V型最大极限图样212所形成第一公差带213，用于测量光学型冲击试样缺口投影仪的投影屏标准样板上的V型标准尺寸图样是否合格，测量方式是将第一公差带213投影到所述投影屏标准样板上，通过观察所述投影屏标准样板上的V型标准尺寸图样是否在第一公差带213之内来判断所述投影屏标准样板上的V型标准尺寸图样是否合格；对于光学型冲击试样缺口投影仪的投影屏标准样板上的U型标准尺寸图样的测量和所述V型标准尺寸图样的测量方式相同，通过观察所述投影屏标准样板上的U型标准尺寸图样是否在第二公差带223之内来判断所述投影屏标准样板上的U型标准尺寸图样是否合格。
具体使用过程将以图5、图6以及图7来进行举例说明，图7为需要测量的光学型冲击试样缺口投影仪的投影屏标准样板示意图，图7中的61是用于测量缺口夹角为43度的V型试样的第一V型标准尺寸图样，62是用于测量缺口夹角为45度的V型试样的第八V型标准尺寸图样，63是用于测量缺口夹角为47度的V型试样的第三V型标准尺寸图样，64是用于测量根部半径为0.93mm的U型试样的第四U型标准尺寸图样，65是用于测量根部半径为1.0mm的U型试样的第五U型标准尺寸图样，66是用于测量根部半径为1.07mm的第六U型试样的U型标准尺寸图样，67是用于测量缺口深度的第七标准尺寸图样；图5是测量板1上的用于校准第一V型标准尺寸图样61的第一极限尺寸图样。
首先将测量板1放到光学型冲击试样缺口投影仪的工作台上，然后通过光学型冲击试样缺口投影仪将测量板1上的第一极限尺寸图样投到光学型冲击试样缺口投影仪的投影屏标准样板上，然后调整测量板1使第一极限尺寸图样中的第一中垂线214与投影屏标准样板上的第七标准尺寸图样67两者重合，然后观察第一V型标准尺寸图样61是否在第一公差带213内，如若在所述第一公差带213内，则第一V型标准尺寸图样61合格，如若不在则为不合格。
如图1所示，图1中的第一V型尺寸图样21内的第一极限尺寸图样从左往右依次可测量第一V型标准尺寸图样61、第八V型标准尺寸图样62、第三V型标准尺寸图样63，第一U型尺寸图样22内的第一极限尺寸图样从左往右依次可测量第四U型标准尺寸图样64、第五U型标准尺寸图样65、第六U型标准尺寸图样66；表1、表2和表3为图1中的第一区域2内的图样的具体技术要求表，其中表1为第一极限尺寸图样的缺口根部半径技术要求表；表2为第一极限尺寸图样的缺口角度技术要求表，表3为第一极限尺寸图样的缺口深度技术要求表。
表1，第一极限尺寸图样的缺口根部半径技术要求表
表2，第一极限尺寸图样的缺口角度技术要求表
表3，第一极限尺寸图样的缺口深度技术要求表
本实用新型的一可选的实施例中，所述第二极限尺寸图样包括：第二V型极限尺寸图样和/或第二U型极限尺寸图样；
所述第二标准尺寸图样包括：第二V型标准尺寸图样313和第二U型标准尺寸图样323。
所述第二V型极限尺寸图样包括：第二V型最小极限图样311和第二V型最大极限图样312；
所述第二U型极限尺寸图样32包括：第二U型最小极限图样321和第二U型最大极限图样322。
所述第二V型最小极限图样311、第二V型最大极限图样312、所述第二V型标准尺寸图样313、第二U型最小极限图样321和第二U型最大极限图样322以及所述第二U型标准尺寸图样323做黑化处理；
所述第二区域3上除所述第二V型最小极限图样(311)、第二V型最大极限图样312、所述第二V型标准尺寸图样(313)、第二U型最小极限图样321和第二U型最大极限图样322以及所述第二U型标准尺寸图样323以外的部分做透光处理。
如图1所示，本实施例中，所述第二V型最小极限图样311、第二V型最大极限图样312以及第二V型标准尺寸图样313用于测量数码投影仪上的V型标准缺口图样；所述第二U型最大极限图样322、第二U型最大极限图样322以及第二U型标准尺寸图样323用于测量数码投影仪上的U型标准缺口图样；所述第二V型最小极限图样311、第二V型最大极限图样312、所述第二V型标准尺寸图样313、第二U型最小极限图样321和第二U型最大极限图样322以及所述第二U型标准尺寸图样323做黑化处理，其余以外的部分做透光处理的目的是为了能让数码投影仪的仪器能够更好的识别，所述数码投影仪的仪器的校准主要是通过在原有的第二标准尺寸图样基础上增加测量点(所述增加的测量点指的是第二V型最小极限图样311、第二V型最大极限图样312、第二U型最小极限图样321以及第二U型最大极限图样322)的方式来多次测量，从而使得数码投影仪示值误差的检定更为全面。
图表4为第二区域U型图样技术要求表，表中记载了第二U型最小极限图样321和第二U型最大极限图样322以及所述第二U型标准尺寸图样323的技术要求。图表5为第二区域V型图样技术要求表，表中记载了所述第二V型最小极限图样311、第二V型最大极限图样312以及第二V型标准尺寸图样313的技术要求。
表4，第二区域U型图样技术要求表
表5，第二区域V型图样技术要求表
本实用新型的冲击试样缺口投影仪的测量装置，通过第一极限尺寸图样和第二极限图样的设计使得在检测光学型冲击试验缺口试样投影仪的投影屏标准样板上V型缺口和U型缺口图样时，无需将所述投影屏标准样板从投影仪上拆下，然后使用万能工具显微镜多次进行读数、测量然后计算的方式来检测；检测数码投影仪的仪器时通过增加测量点的方式来对数码投影仪的仪器进行多次测量，使得数码投影仪示值误差的检定更为全面，解决了现有冲击试样缺口投影仪上标准缺口样板图样的测量工序繁琐、效率低以及测量示值无法溯源的问题。实现了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的快速准确的测量，提高了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的检测效率。
以上所述是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (10)
1.一种冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，包括：
测量板(1)，所述测量板(1)包括第一区域(2)和/或第二区域(3)；
所述第一区域(2)内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第一极限尺寸图样；
所述第二区域(3)内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第二极限尺寸图样和多个第二标准尺寸图样；
所述标准缺口样板图样为冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样；
所述第一极限尺寸图样和所述第二极限尺寸图样均是利用标准缺口样板图样的最大允许误差形成的最大极限尺寸图样或最小极限尺寸图样。
2.根据权利要求1所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，所述测量板(1)的材料为光学玻璃或石英玻璃。
3.根据权利要求1所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，所述第一极限尺寸图样包括：第一V型尺寸图样(21)和/或第一U型尺寸图样(22)；其中，所述第一V型尺寸图样(21)包括：第一V型最小极限图样(211)和第一V型最大极限图样(212)；
所述第一V型最小极限图样(211)设置在所述第一V型最大极限图样(212)的内部，且在所述第一V型最大极限图样(212)和所述第一V型最小极限图样(211)之间形成标准缺口样板图样的第一公差带(213)；
所述第一U型尺寸图样(22)包括：第一U型最小极限图样(221)和第一U型最大极限图样(222)；
所述第一U型最小极限图样(221)设置在所述第一U型最大极限图样(222)的内部，且在所述第一U型最大极限图样(222)和所述第一U型最小极限图样(221)之间形成标准缺口样板图样的第二公差带(223)。
4.根据权利要求3所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，所述第一V型尺寸图样(21)还包括：
第一中垂线(214)，所述第一中垂线(214)平分所述第一V型最小极限图样(211)和第一V型最大极限图样(212)。
5.根据权利要求3所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，所述第一U型尺寸图样(22)还包括：
第二中垂线(224)，所述第二中垂线(224)平分所述第一U型最小极限图样(221)和第一U型最大极限图样(222)。
6.根据权利要求3所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，所述第一公差带(213)和所述第二公差带(223)做透光处理，所述第一区域(2)上除所述第一公差带(213)和所述第二公差带(223)以外的部分做黑化处理。
7.根据权利要求6所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，所述第一V型最小极限图样(211)和第一V型最大极限图样(212)的线宽为预设值；
所述第一U型最小极限图样(221)和第一U型最大极限图样(222)的线宽为预设值。
8.根据权利要求1所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，
所述第二极限尺寸图样包括：第二V型极限尺寸图样和/或第二U型极限尺寸图样；
所述第二标准尺寸图样包括：第二V型标准尺寸图样(313)和第二U型标准尺寸图样(323)。
9.根据权利要求8所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，所述第二V型极限尺寸图样包括：第二V型最小极限图样(311)和第二V型最大极限图样(312)；
所述第二U型极限尺寸图样(32)包括：第二U型最小极限图样(321)和第二U型最大极限图样(322)。
10.根据权利要求9所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，所述第二V型最小极限图样(311)、第二V型最大极限图样(312)、所述第二V型标准尺寸图样(313)、第二U型最小极限图样(321)和第二U型最大极限图样(322)以及所述第二U型标准尺寸图样(323)做黑化处理；
所述第二区域(3)上除所述第二V型最小极限图样(311)、第二V型最大极限图样(312)、所述第二V型标准尺寸图样(313)、第二U型最小极限图样(321)和第二U型最大极限图样(322)以及所述第二U型标准尺寸图样(323)以外的部分做透光处理。
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|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
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