CN217846582U - 一种连锡可靠性测试电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种连锡可靠性测试电路，包括用于接触引脚的检测探针A和检测探测B，电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7，比较器U，三极管Q，发光二极管D，当分别对应与检测探针A和检测探针B的引脚之间出现连锡现象时，比较器U在检测探针A和检测探针B的作用下输出高电平信号并将三极管Q导通，使发光二极管D处于开路状态，从而提示操作人员检测探针A和检测探针B之间可能存在因连锡导致的短路现象，从而提高了电子元件出厂的产品质量可靠性。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测电路的技术领域，具体涉及一种连锡可靠性测试电路。
背景技术
电子元器件的引脚在波峰焊后可能出现连锡现象，连锡的电子元件组装在电子设备上时会产生不良状况，轻则电子设备功能不良，严重时有短路烧毁电子设备的风险。
因此，电子元器件在波峰焊接后需要对焊锡可靠性进行检测。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服上述现有技术存在的不足，而提供一种连锡可靠性测试电路，旨在至少在一定程度上解决现有技术中的上述技术问题之一。
本实用新型的目的是这样实现的：
一种连锡可靠性测试电路，包括用于接触引脚的检测探针A 和检测探测B，电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7，比较器U，三极管Q，发光二极管D。
所述检测探针A与电阻R1的左端电性连接，电阻R1的右端分别与电阻R3的下端、电容C1的下端以及比较器U的1脚电性连接。
所述检测探针B与电阻R2的左端电性连接，电阻R2的右端分别与电阻R4的上端、电容C2的上端以及比较器U的2脚电性连接。
所述电阻R3的上端、电容C1的上端分别与比较器U的3脚和电阻R5的左端电性连接，电阻R4的下端、电容C2的下端分别与电阻R5的右端和三极管Q的基极电性连接。
所述三极管Q的发射极接地，三极管Q的集电极发光二极管D的负极电性连接，发光二极管D的正极与电阻R6的下端电性连接，所述电阻R6的上端与直流电源电性连接。
本实用新型的有益效果是：
当分别对应与检测探针A和检测探针B的引脚之间出现连锡现象时，比较器U在检测探针A和检测探针B的作用下输出高电平信号并将三极管Q导通，使发光二极管D处于开路状态，从而提示操作人员检测探针A和检测探针B之间可能存在因连锡导致的短路现象，从而提高了电子元件出厂的产品质量可靠性。
本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述部分中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
图1为本实用新型实施例的电路机构示意图。
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述。
参见图1，本连锡可靠性测试电路，包括用于接触引脚的检测探针A和检测探测B，电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7，比较器U，三极管Q，发光二极管D。
所述检测探针A与电阻R1的左端电性连接，电阻R1的右端分别与电阻R3的下端、电容C1的下端以及比较器U的1脚电性连接。
所述检测探针B与电阻R2的左端电性连接，电阻R2的右端分别与电阻R4的上端、电容C2的上端以及比较器U的2脚电性连接。
所述电阻R3的上端、电容C1的上端分别与比较器U的3脚和电阻R5的左端电性连接，电阻R4的下端、电容C2的下端分别与电阻R5的右端和三极管Q的基极电性连接。
所述三极管Q的发射极接地，三极管Q的集电极发光二极管 D的负极电性连接，发光二极管D的正极与电阻R6的下端电性连接，所述电阻R6的上端与直流电源电性连接。
当分别对应与检测探针A和检测探针B的引脚之间出现连锡现象时，比较器U通过比较检测探针A和检测探针B之间的电流输出高电平信号并将三极管Q导通，使发光二极管D导通，从而提示操作人员检测探针A和检测探针B之间可能存在因连锡导致的短路现象，从而提高了电子元件出厂的产品质量可靠性。
当分别对应与检测探针A和检测探针B的引脚之间正常时，比较器U无输出电流，三极管Q截止并使发光二极管D处于开路状态，发光二极管不发光，提示操作人员检测探针A和检测探针 B之间的引脚正常。
上述实施例只是本实用新型的优选方案，本实用新型还可有其他实施方案。本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可作出等同变形或替换，这些等同的变型或替换均包含在本申请权利要求所设定的范围内。
Claims (1)
1.一种连锡可靠性测试电路，其特征在于，包括用于接触引脚的检测探针A和检测探测B，电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6、R7，比较器U，三极管Q，发光二极管D；
所述检测探针A与电阻R1的左端电性连接，电阻R1的右端分别与电阻R3的下端、电容C1的下端以及比较器U的1脚电性连接；
所述检测探针B与电阻R2的左端电性连接，电阻R2的右端分别与电阻R4的上端、电容C2的上端以及比较器U的2脚电性连接；
所述电阻R3的上端、电容C1的上端分别与比较器U的3脚和电阻R5的左端电性连接，所述电阻R4的下端、电容C2的下端分别与电阻R5的右端和三极管Q的基极电性连接；
所述三极管Q的发射极接地，三极管Q的集电极发光二极管D的负极电性连接，所述发光二极管D的正极与电阻R6的下端电性连接，所述电阻R6的上端与直流电源电性连接。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202220888439.2U CN217846582U (zh) | 2022-04-16 | 2022-04-16 | 一种连锡可靠性测试电路 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN202220888439.2U CN217846582U (zh) | 2022-04-16 | 2022-04-16 | 一种连锡可靠性测试电路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN217846582U true CN217846582U (zh) | 2022-11-18 |
Family
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Family Applications (1)
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| CN202220888439.2U Active CN217846582U (zh) | 2022-04-16 | 2022-04-16 | 一种连锡可靠性测试电路 |
Country Status (1)
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2022
- 2022-04-16 CN CN202220888439.2U patent/CN217846582U/zh active Active
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