CN217787677U - 一种电源测试的瞬态负载生成电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种电源测试的瞬态负载生成电路，包括有U3运放，所述U3运放的OUT端口与连接有INN端口之间串接有增益电路；所述增益电路包括有栅极与U3运放的OUT端口连接的Q7mos管，所述Q7mos管的源极与U3运放的INN端口之间串接有用于调节阻值的RX7可调电阻，所述Q7mos管的漏极用于输出瞬态负载；所述U3运放的INN端口与地之间串接有用于调节阻值的RX5可调电阻，所述U3运放的INN端口与电源之间串接有用于调节接入电压的RX5可调电阻。本实用新型能够降低导线上寄生电感对激励信号的影响。

Description

一种电源测试的瞬态负载生成电路

技术领域

本实用新型涉及瞬态负载生成技术领域，具体涉及一种电源测试的瞬态负载生成电路。

背景技术

电源管理器件的负载瞬态响应测试过程中，需要在被测器件输出端提供阶跃的负载电流。但实际的测试时，激励信号需要通过较长的导线和若干中间器件，使得线路上的寄生电感难以控制和获取，过大的寄生电感会破坏器件自身的负载瞬态响应性能，影响检测结果，因此利用电子负载自带的阶跃功能进行测试，无法实现准确的检测电源管理器件的性能。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型要解决的问题是提供一种电源测试的瞬态负载生成电路，能够降低导线上寄生电感对激励信号的影响。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：

一种电源测试的瞬态负载生成电路，包括有U3运放，所述U3运放的 OUT端口与连接有INN端口之间串接有增益电路，所述增益电路包括有栅极与U3运放的OUT端口连接的Q7mos管，所述Q7mos管的源极与U3运放的INN端口电连接，所述Q7mos管的漏极用于输出瞬态负载，以与被测器件直接连接。

进一步的，所述U3运放的INN端口与地之间串接有用于调节阻值的 RX6可调电阻，所述U3运放的INN端口与电源之间串接有用于调节接入电压的RX5可调电阻。

进一步的，所述Q7mos管的源极与U3运放的INN端口之间串接有用于调节阻值的RX7可调电阻；

所述U3运放的OUT端口与Q7mos管的栅极之间分别串接有D9二极管、R9电阻和RX8可调电阻。

进一步的，所述U3运放的INP端口接有A1运放的输出端口，所述A1 运放的输出端口与一个输入端口短接，另一个输入端口与电源之间串接有用于调节阻值的RX9可调电阻。

进一步的，所述U3运放的INP端口连接有用于提供输入信号的 FPGA-IO1端口。

进一步的，所述U3运放的ON端口和SD端口均连接有旋钮开关电路；

所述旋钮开关电路包括有2端口与U3运放连接的S旋钮开关，所述S 旋钮开关的1端口连接有AM二极管的输入端和电源正极，所述AM二极管的输出端连接电源负极。

进一步的，所述Q7mos管的漏极通过铝壳电阻直接与负载端口连接。

进一步的，所述U3运放的型号可为ADA4870。

本实用新型具有的优点和积极效果是：

通过将输出激励信号的生成电路的输出端直接与被测器件的端口连接，激励信号直接输入被测器件，可降低传输过程中寄生电感对激励信号的影响，且生成电路的输出端直接与被测器件连接，也便于获取激励信号传输过程中产生的寄生电感，有效的降低导线上寄生电感对激励信号的影响。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1是本实用新型的一种电源测试的瞬态负载生成电路的整体电路图；

图2是本实用新型的一种电源测试的瞬态负载生成电路中A1运放的连接电路图；

图3是本实用新型的一种电源测试的瞬态负载生成电路的旋钮开关电路图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

如图1至图2所示，本实用新型提供一种电源测试的瞬态负载生成电路，生成电路包括有U3运放，U3运放的INP端口与FPGA-IO1端口连接，FPGA-IO1端口用于与控制端连接，U3运放通过INP端口接收控制端给出的输入信号。U3运放的OUT端口和INN端口之间接有增益电路，通过控制增益电路上电阻的阻值(控制增益)，改变增益电路上电流的大小；且增益电路上串接有Q7mos管，通过调整电流和电压大小控制Q7mos管的导通和导通电流。优选的，U3运放的型号可为ADA4870，该型号的运放具有1A 的高输出电流，能轻易的驱动大功率MOS的栅极寄生电容，使MOS管导通。

Q7mos管的漏极与被测器件的接口电路连接，通过控制Q7mos管是否导通以使Q7mos管的漏极是否输出瞬态阶跃的负载电流。U3运放接的增益电路为电流反馈型增益电路，ADA4870具有高压摆率的特点，能够承载大信号带宽为52MHz，小信号带宽为70MHz，能够输出满足负载电流快速阶跃的输出电流。

Q7mos管漏极输出的瞬态激励信号直接输入至被测器件，可有效的避免中间器件影响激励信号的性能。优选的，生成电路的输出端通过铝壳电阻直接与负载端口连接，结合PCB布线可直观获取线路寄生电感的大小，提高测试结果的准确性。

为便于线性控制Q7mos管的导通，增益电路上串接有RX7可调电阻， U3运放的OUT端口与Q7mos管的栅极之间分别串接有D9二极管、R9电阻和RX8可调电阻(D9二极管、R9电阻和RX8可调电阻相互之间并联)。调整RX7可调电阻接入线圈长度调整接入阻值，调整RX8可调电阻的接入阻值，通过调整Q7mos管栅极接入电阻的阻值，改变Q7mos管栅极和源极串接的电阻的大小，来控制Q7mos管是否导通。

优选的，Q7mos管的栅极与U3运放的OUT端口连接，Q7mos管的源极接有RX7可调电阻的2端口，RX7可调电阻的1端口与U3运放的OUT 端口连接。

U3运放的INN端口与RX6可调电阻的1端口连接，RX6可调电阻的2 端口接地设置；同时U3运放的INN端口与电源之间串接有RX5可调电阻， RX5可调电阻的2拨片端口与INN端口连接，RX5可调电阻的1端口和3 端口分别与电源的正负极连接。通过调整RX5可调电阻2拨片端口的位置，控制U3运放的INN端口的电压值，同时调整RX6可调电阻的接入阻值，可线性控制增益电路上电流的大小。

RX5可调电阻可控制增益电路上电流大小，RX6可调电阻可控制电流的分流情况，通过RX5可调电阻和RX6可调电阻共同控制输入Q7mos管源极的电流大小，以满足不同被测器件的测试需求。

如图3所示，U3运放的INP端口接有A1运放的输出端口，A1运放的输出端口与一个输入端口短接，另一个输入端口与电源之间串接有RX9可调电阻的输出端，RX9可调电阻的输入端接电源设置，用于提供稳定的电压与输入信号叠加，用于增大接入U3运放的输入信号。优选的，RX9可调电阻的1端口接电源设置，RX9可调电阻的2端口与A1运放的正输入端口连接，A1运放的负输入端口与输出端口短接，A1运放的输出端接R2电阻后与U3运放的INP端口连接，A1运放输出端提供稳定的电压(可调节RX9 可调电阻的接入阻值控制A1运放输出端的电压值)，用于与FPGA-IO1端口的输入信号叠加。

U3运放上设有ON端口和SD端口，ON端口用于使U3运放复位或U3 运放短路保护，SD端口用于控制U3运放关断，ON端口和SD端口均连接有旋钮开关电路，通过旋钮开关控制U3运放动作。

旋钮开关电路包括有S旋钮开，S旋钮开关的1端口连接有电源正极， S旋钮开关的1端口还连接有AM二极管的输入端，AM二极管的输出端连接有电源负极，用于给S旋钮开关通电输入稳定的工作电压；旋钮开关的2 端口与U3运放连接，可通过S旋钮开关控制U3运放执行复位、短路保护或关断动作。

本实用新型的工作原理和工作过程如下：

转动S旋钮开管开启U3运放，输入信号从FPGA-IO1端口输入，并叠加A1运放输出端电压值以对输入信号作放大处理，RX7可调电阻1端口的电压值为放大后电压值，通过调整RX5可调电阻2端口的电压值，控制RX5 可调电阻和RX7可调电阻之间的电流值；调整RX6可调电阻的阻值控制电流进行分流，以控制输入Q7mos管源极电流的大小，可线性调控增益电路的负载电流。控制RX7可调电阻和RX8可调电阻，用于控制Q7mos管栅极和源极的电压值使Q7mos管的导通，Q7mos管的漏极输出特定电流值的瞬态响应电流，以满足特定被测器件的测试需求。

以上对本实用新型的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本专利涵盖范围之内。

Claims (8)

1.一种电源测试的瞬态负载生成电路，其特征在于，包括有U3运放，所述U3运放的OUT端口与连接有INN端口之间串接有增益电路，所述增益电路包括有栅极与U3运放的OUT端口连接的Q7mos管，所述Q7mos管的源极与U3运放的INN端口电连接，所述Q7mos管的漏极用于输出瞬态负载，以与被测器件直接连接。

2.根据权利要求1所述的一种电源测试的瞬态负载生成电路，其特征在于，所述U3运放的INN端口与地之间串接有用于调节阻值的RX6可调电阻，所述U3运放的INN端口与电源之间串接有用于调节接入电压的RX5可调电阻。

3.根据权利要求1所述的一种电源测试的瞬态负载生成电路，其特征在于，所述Q7mos管的源极与U3运放的INN端口之间串接有用于调节阻值的RX7可调电阻；

所述U3运放的OUT端口与Q7mos管的栅极之间分别串接有D9二极管、R9电阻和RX8可调电阻。

4.根据权利要求1所述的一种电源测试的瞬态负载生成电路，其特征在于，所述U3运放的INP端口接有A1运放的输出端口，所述A1运放的输出端口与一个输入端口短接，另一个输入端口与电源之间串接有用于调节阻值的RX9可调电阻。

5.根据权利要求1所述的一种电源测试的瞬态负载生成电路，其特征在于，所述U3运放的INP端口连接有用于提供输入信号的FPGA-IO1端口。

6.根据权利要求1所述的一种电源测试的瞬态负载生成电路，其特征在于，所述U3运放的ON端口和SD端口均连接有旋钮开关电路；

所述旋钮开关电路包括有2端口与U3运放连接的S旋钮开关，所述S旋钮开关的1端口连接有AM二极管的输入端和电源正极，所述AM二极管的输出端连接电源负极。

7.根据权利要求1所述的一种电源测试的瞬态负载生成电路，其特征在于，所述Q7mos管的漏极通过铝壳电阻直接与负载端口连接。

8.根据权利要求1所述的一种电源测试的瞬态负载生成电路，其特征在于，所述U3运放的型号可为ADA4870。

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