CN217689165U - 一种非接触式方阻及电阻率探头装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及到一种非接触式方阻及电阻率探头装置，包括分体设置的第一检测机构和第二检测机构，第一检测机构和第二检测机构之间形成用于放置待检测物体的待检测区；第一检测机构包括第一金属检测壳以及第一检测探头，还包括设置在第一金属检测壳内的第一控制电路板，第一控制电路板与第一检测探头连接；第一检测机构和第二检测机构的结构基本对称，将第一检测探头和第一控制电路板固定在一起后，组成探头检测模块；通过承载台承接并调整待测物体的位置，然后将第一检测机构和第二检测机构分别悬空固定在待测物体上方和下方，搭建出测定装置，再通过设置在控制电路板上的软件和电路结构控制此装置测定待测物体的电阻率。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种电阻探测装置，特别涉及一种非接触式方阻及电阻率探头装置。
背景技术
方阻仪是用来测量物体方阻的，电阻仪是用来测量物体电阻的，无论是方阻仪还是电阻仪，都包括测量主机以及探测探头，目前市场上的测定探头均为手持式的便携式探头，其主测探头与控制电路是分体的，以至于其间存在一定长度线路，此线路受外界干扰较大，且信噪比低，控制电路与探头通过一段线缆相接，使得二者距离远，检测探头装置的精度和稳定性差。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种非接触式方阻及电阻率探头装置。
本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种非接触式方阻及电阻率探头装置，包括分体设置的第一检测机构和第二检测机构，所述第一检测机构和第二检测机构之间形成用于放置待检测物体的待检测区；所述第一检测机构包括第一金属检测壳以及第一检测探头，还包括设置在第一金属检测壳内的第一控制电路板，所述第一控制电路板与第一检测探头连接；
所述第二检测机构包括第二金属检测壳以及第二检测探头，还包括设置在第二金属检测壳内的第二控制电路板，所述第二控制电路板与第二检测探头连接。
通过采用上述技术方案，第一检测机构和第二检测机构的结构基本对称，将第一检测探头和第一控制电路板固定在一起后，组成探头检测模块，随后在将探头检测模块放置在第一金属检测壳中进行固定；同理，将第二检测探头和第二控制电路板固定在一起后，组成探头检测模块，随后在将探头检测模块放置在第二金属检测壳中进行固定。
通过承载台承接并调整待测物体的位置，然后将第一检测机构和第二检测机构分别悬空固定在待测物体上方和下方，搭建出测定装置，再通过设置在控制电路板上的软件和电路结构控制此装置测定待测物体的电阻率。
作为优选，所述第一金属检测壳、第二金属检测壳为方形。
作为优选，所述第一检测探头和第二检测探头设置有多组。
通过采用上述技术方案，这种方形的检测机构，可以设置多组检测探头，同时测量物体多处的电阻率，提高测量效率和准确率。
作为优选，所述第一金属检测壳、第二金属检测壳为圆柱形。
作为优选，所述第一金属检测壳背离第一检测探头的端部设置有防水拧头。
作为优选，所述第二金属检测壳背离第二检测探头的端部设置有金属壳堵头。
作为优选，所述防水拧头采用不锈钢。
综上所述，本实用新型具有以下有益效果：
1、第一检测机构和第二检测机构的结构基本对称，将第一检测探头和第一控制电路板固定在一起后，组成探头检测模块，随后在将探头检测模块放置在第一金属检测壳中进行固定；同理，将第二检测探头和第二控制电路板固定在一起后，组成探头检测模块，随后在将探头检测模块放置在第二金属检测壳中进行固定；通过承载台承接并调整待测物体的位置，然后将第一检测机构和第二检测机构分别悬空固定在待测物体上方和下方，搭建出测定装置，再通过设置在控制电路板上的软件和电路结构控制此装置测定待测物体的电阻率。
附图说明
图1是实施例1中整体结构示意图；
图2是实施例1中整体结构爆炸图；
图3是实施例2中整体结构爆炸图。
图中，1、第一检测机构；11、第一金属检测壳；12、第一检测探头；13、第一控制电路板；14、防水拧头；2、第二检测机构；21、第二金属检测壳；22、第二检测探头；23、第二控制电路板；24、金属壳堵头；3、待检测区。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。
本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释，其并不是对本实用新型的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。
实施例1：
一种非接触式方阻及电阻率探头装置，如图1、2所示，包括分体设置的第一检测机构1和第二检测机构2，第一检测机构1和第二检测机构2之间形成用于放置待检测物体的待检测区3；第一检测机构1包括第一金属检测壳11以及第一检测探头12，还包括设置在第一金属检测壳11内的第一控制电路板13，第一控制电路板13与第一检测探头12连接。
如图1、2所示，第二检测机构2包括第二金属检测壳21以及第二检测探头22，还包括设置在第二金属检测壳21内的第二控制电路板23，第二控制电路板23与第二检测探头22连接。
如图1所示，第一金属检测壳11、第二金属检测壳21为圆柱形。
如图1所示，第一金属检测壳11背离第一检测探头12的端部设置有防水拧头14。
如图1所示，第二金属检测壳21背离第二检测探头22的端部设置有金属壳堵头24。
如图1所示，防水拧头14采用不锈钢。
工作原理：
第一检测机构和第二检测机构的结构基本对称，将第一检测探头和第一控制电路板固定在一起后，组成探头检测模块，随后在将探头检测模块放置在第一金属检测壳中进行固定；同理，将第二检测探头和第二控制电路板固定在一起后，组成探头检测模块，随后在将探头检测模块放置在第二金属检测壳中进行固定；通过承载台承接并调整待测物体的位置，然后将第一检测机构和第二检测机构分别悬空固定在待测物体上方和下方，搭建出测定装置，再通过设置在控制电路板上的软件和电路结构控制此装置测定待测物体的电阻率。
实施例2：
实施例2的结构与实施例1的结构基本相同，如图3所示，第一金属检测壳11、第二金属检测壳21为方形。
如图3所示，第一检测探头12和第二检测探头22设置有多组。
实施例2的工作原理与实施例1的工作原理基本相同，在此不做赘述。
Claims (7)
1.一种非接触式方阻及电阻率探头装置，其特征在于：包括分体设置的第一检测机构(1)和第二检测机构(2)，所述第一检测机构(1)和第二检测机构(2)之间形成用于放置待检测物体的待检测区(3)；所述第一检测机构(1)包括第一金属检测壳(11)以及第一检测探头(12)，还包括设置在第一金属检测壳(11)内的第一控制电路板(13)，所述第一控制电路板(13)与第一检测探头(12)连接；
所述第二检测机构(2)包括第二金属检测壳(21)以及第二检测探头(22)，还包括设置在第二金属检测壳(21)内的第二控制电路板(23)，所述第二控制电路板(23)与第二检测探头(22)连接。
2.根据权利要求1所述一种非接触式方阻及电阻率探头装置，其特征在于：所述第一金属检测壳(11)、第二金属检测壳(21)为方形。
3.根据权利要求2所述一种非接触式方阻及电阻率探头装置，其特征在于：所述第一检测探头(12)和第二检测探头(22)设置有多组。
4.根据权利要求1所述一种非接触式方阻及电阻率探头装置，其特征在于：所述第一金属检测壳(11)、第二金属检测壳(21)为圆柱形。
5.根据权利要求3或4所述一种非接触式方阻及电阻率探头装置，其特征在于：所述第一金属检测壳(11)背离第一检测探头(12)的端部设置有防水拧头(14)。
6.根据权利要求5所述一种非接触式方阻及电阻率探头装置，其特征在于：所述第二金属检测壳(21)背离第二检测探头(22)的端部设置有金属壳堵头(24)。
7.根据权利要求5所述一种非接触式方阻及电阻率探头装置，其特征在于：所述防水拧头(14)采用不锈钢。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202220106083.2U CN217689165U (zh) | 2022-01-14 | 2022-01-14 | 一种非接触式方阻及电阻率探头装置 |
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Publications (1)
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| CN217689165U true CN217689165U (zh) | 2022-10-28 |
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| CN202220106083.2U Active CN217689165U (zh) | 2022-01-14 | 2022-01-14 | 一种非接触式方阻及电阻率探头装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
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2022
- 2022-01-14 CN CN202220106083.2U patent/CN217689165U/zh active Active
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