CN217424311U - 一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置 - Google Patents
一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN217424311U CN217424311U CN202221322239.7U CN202221322239U CN217424311U CN 217424311 U CN217424311 U CN 217424311U CN 202221322239 U CN202221322239 U CN 202221322239U CN 217424311 U CN217424311 U CN 217424311U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- module
- lens
- light
- display screen
- focusing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 238000012372 quality testing Methods 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012576 optical tweezer Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置，包括依次同轴设置的测试激光发生器、准直模块、被测锥透镜、聚焦镜模块、聚焦镜模块；还包括与相机模块电连接的显示屏。由测试激光发生器发出带有发散角且为高斯光束的检测光，经过准直模块后形成平行光，再经过被测锥透镜后形成大圆环光斑的贝塞尔光束，再经过聚焦镜模块后形成小圆环光斑的贝塞尔光束并射到相机模块上，最后通过与相机模块电连接的显示屏显示出来，在整个过程中不需要与被测锥透镜直接接触，能有效避免出现锥透镜表面损伤的情况，还能将通过被测锥透镜后的贝塞尔光束在显示屏上显示出来。
Description
技术领域
本实用新型属于透镜面型质量检测技术领域，具体涉及一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置。
背景技术
锥透镜是一种重要的光学元器件，它可以将入射光线按照一定的角度进行折射。通过这些折射后的光束之间的干涉和衍射，使得锥透镜的焦线可以变得很长，能沿着光轴产生的一条长的焦距线。当一束高斯光束透过锥透镜时，会变成一束贝塞尔光束，这种光束可以随着距离增加直径而保持光环的宽度，在短距离内几乎没有衍射，在通过障碍物后可以自己复原，用于科研、测量、校准、精密加工、医疗，尤其是显微镜、光镊和眼睛的激光手术，使用也越来越广泛。但是锥透镜的面型质量直接影响形成贝塞尔光束的质量。
现有技术中，对于锥透镜面型质量的检测，暂无有效方法，通常是通过对锥透镜的锥面进行检测，并且锥面的检测方法在机械制造领域比较成熟，有各种直接和间接的测量方法，例如，锥度环规，锥度塞规，但是这些方法应用到光学锥透镜的测量，具有以下缺点：1、容易刮伤零件的锥表面；2、测量的精度不高，测的表面面型只能达到3μ左右，而光学产品的表面面型要求必须达到是μ级以内；3、测量方式效率低，角度，对称性与面型必须单独测量。
实用新型内容
本实用新型拟提供一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置，在整个过程中不需要与被测锥透镜直接接触，能有效避免出现锥透镜表面损伤的情况，还能将通过被测锥透镜后的贝塞尔光束在显示屏上显示出来。
为此，本实用新型所采用的技术方案为：一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置，包括测试激光发生器，所述测试激光发生器用于发出带有发散角且为高斯光束的检测光；还包括准直模块，所述准直模块用于将检测光校准为平行光后射入到被测锥透镜上；还包括聚焦镜模块，所述聚焦镜模块用于将由被测锥透镜射出的大圆环状光斑的贝塞尔光束聚焦成小圆环光斑的贝塞尔光束；还包括相机模块，所述相机模块用于接收小圆环光斑的贝塞尔光束；还包括显示屏，所述显示屏与相机模块电连接，所述显示屏用于将相机模块接收到小圆环光斑的贝塞尔光束显示出来；所述测试激光发生器、准直模块、被测锥透镜、聚焦镜模块、聚焦镜模块依次同轴设置，且被测锥透镜的底面朝向准直模块，锥面朝向后聚焦镜模块。
本实用新型的有益效果：由测试激光发生器发出带有发散角且为高斯光束的检测光，经过准直模块后形成平行光，再经过被测锥透镜后形成大圆环光斑的贝塞尔光束，再经过聚焦镜模块后形成小圆环光斑的贝塞尔光束并射到相机模块上，最后通过与相机模块电连接的显示屏显示出来；不仅能将通过被测锥透镜后的贝塞尔光束在显示屏上显示出来，用于后续对被测锥透镜进行面型质量检测；与现有技术相比，其不需要与被测锥透镜直接接触，能有效避免出现锥透镜表面损伤的情况。
附图说明
图1为本实用新型的示意图。
具体实施方式
下面通过实施例并结合附图，对本实用新型作进一步说明：
如图1所示，一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置，主要由测试激光发生器1、准直模块2、聚焦镜模块4、相机模块5和显示屏(图中未示出)组成，其中测试激光发生器1用于发出带有发散角且为高斯光束的检测光，准直模块2用于将检测光校准为平行光后射入到被测锥透镜3上，聚焦镜模块4用于将由被测锥透镜3射出的大圆环状光斑的贝塞尔光束聚焦成小圆环光斑的贝塞尔光束，相机模块5用于接收小圆环光斑的贝塞尔光束，显示屏与相机模块电连接，用于将相机模块5接收到的小圆环光斑的贝塞尔光束显示出来，再结合光斑分析软件对小圆环光斑的直径、线径、圆度和能量分布进行识别，判断被测锥透镜的对称度、面度面型、锥度，最终判断被测锥透镜的锥面质量。
测试激光发生器1、准直模块2、被测锥透镜3、聚焦镜模块4、聚焦镜模块4依次同轴设置，且被测锥透镜3的底面朝向准直模块2，锥面朝向后聚焦镜模块4。
在具体测试时，将被测锥透镜3置于准直模块2与聚焦镜模块4之间，再将相机模块5与处理器的输入端电连接，处理器与显示屏电连接。用测试激光发生器1发出带有发散角且为高斯光束的检测光，然后经过准直模块2后，将检测光校准成平行光，然后平行光从被测锥透镜3的底面射入，经过被测锥透镜3的锥面后形成大圆环状光斑的贝塞尔光束，大圆环状光斑的贝塞尔光束再经过一个聚焦镜模块4聚焦后形成小圆环光斑的贝塞尔光束并射到相机模块5上，相机模块5将接收到的光束传输到处理器中，再通过显示屏将接收光束显出，同时通过处理器对接收到的光束进行直径、线径、圆度和能量分布的识别，将识别的结果一并在显示屏中显示。
Claims (1)
1.一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置，其特征在于：包括测试激光发生器(1)，所述测试激光发生器(1)用于发出带有发散角且为高斯光束的检测光；
还包括准直模块(2)，所述准直模块(2)用于将检测光校准为平行光后射入到被测锥透镜(3)上；
还包括聚焦镜模块(4)，所述聚焦镜模块(4)用于将由被测锥透镜(3)射出的大圆环状光斑的贝塞尔光束聚焦成小圆环光斑的贝塞尔光束；
还包括相机模块(5)，所述相机模块(5)用于接收小圆环光斑的贝塞尔光束；
还包括显示屏，所述显示屏与相机模块(5)电连接，所述显示屏用于将相机模块(5)接收到小圆环光斑的贝塞尔光束显示出来；
所述测试激光发生器(1)、准直模块(2)、被测锥透镜(3)、聚焦镜模块(4)、聚焦镜模块(4)依次同轴设置，且被测锥透镜(3)的底面朝向准直模块(2)，锥面朝向后聚焦镜模块(4)。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202221322239.7U CN217424311U (zh) | 2022-05-30 | 2022-05-30 | 一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202221322239.7U CN217424311U (zh) | 2022-05-30 | 2022-05-30 | 一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN217424311U true CN217424311U (zh) | 2022-09-13 |
Family
ID=83190193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202221322239.7U Active CN217424311U (zh) | 2022-05-30 | 2022-05-30 | 一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN217424311U (zh) |
-
2022
- 2022-05-30 CN CN202221322239.7U patent/CN217424311U/zh active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN1075630C (zh) | 具有一个微反射镜的干涉仪及其中的滤光方法 | |
| US5471298A (en) | Method and apparatus for measuring size of particle or defect | |
| CN101140196A (zh) | 透镜焦距的测量装置及其测量方法和光学质量评估方法 | |
| KR101332786B1 (ko) | 결함 검출 및/또는 분류 방법 및 장치 | |
| CN102566048B (zh) | 一种基于象散的样品轴向漂移补偿方法和装置 | |
| US3877788A (en) | Method and apparatus for testing lenses | |
| EP0447067A1 (en) | Device for mapping corneal topography | |
| US20140150953A1 (en) | Device and method for performing and monitoring a plastic laser transmission welding process | |
| CN109959344B (zh) | 激光差动共焦原子力核聚变靶丸表面轮廓测量方法与装置 | |
| CN107356407A (zh) | 同步测量高功率光纤激光器功率、光谱和光束质量的装置 | |
| CN104198055A (zh) | 一种波面检测装置 | |
| CN115856833A (zh) | 基于分布式多通道并行探测的非视域成像系统 | |
| CN106092997B (zh) | 基于plif技术的火焰检测装置及方法 | |
| CN202916206U (zh) | 一种薄膜抗激光损伤能力测量与评价装置 | |
| CN104483105B (zh) | 一种像素间串扰检测系统及方法 | |
| CN112179920A (zh) | 一种芯片焊线缺陷的检测方法及系统 | |
| CN217424311U (zh) | 一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置 | |
| US11359994B2 (en) | Laser beam profiling system for use in laser processing systems | |
| CN112284984B (zh) | 一种基于光反射的固体表面能测定装置及方法 | |
| US11808931B2 (en) | Image pickup apparatus with rotation unit | |
| CN102252830A (zh) | 光学鬼像的检测装置及其检测方法 | |
| CN110986836B (zh) | 基于环形芯光纤的高精度粗糙度测量装置 | |
| CN108132142A (zh) | 大口径反射光学系统检测装置及方法 | |
| CN114295075B (zh) | 一种内凹型工件的内表面整体三维轮廓测量装置及方法 | |
| CN110726919B (zh) | 阵列apd光电参数测试系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20240131 Address after: 215000 Suzhou, Jiangsu Province, China (Jiangsu) Pilot Free Trade Zone Suzhou Area, Suzhou Industrial Park, No. 155 Suhong West Road Patentee after: Suzhou Carmen Hass Laser Technology Co.,Ltd. Country or region after: China Address before: 215201 155 Suhong West Road, Suzhou Industrial Park, Jiangsu Province Patentee before: CARMANHAAS LASER TECHNOLOGY (SUZHOU) CO.,LTD. Country or region before: China |
|
| TR01 | Transfer of patent right |