CN217404138U - 测量平台与检测设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测量平台与检测设备，测量平台包括测量底座，测量支架以及至少一个探测装置，测量支架与测量底座垂直设置，测量平台还包括第一支架，第一支架具有通孔；探测装置包括镜头、固定架以及探测器，固定架的一端与镜头连接，另一端与探测器连接，镜头贯穿第一支架的通孔设置；测量平台还包括组合位移台，组合位移台的一端与测量支架连接，另一端与探测装置连接，组合位移台用于调整探测器的位置、俯仰角度以及旋转角度的至少一项。通过组合位移台对探测装置的设置位置与设置角度进行调整，从而降低了对探测装置的调节难度，提高对探测装置的调节精度，提高了检测设备的调节精度。

Description

测量平台与检测设备

技术领域

本申请涉及检测技术领域，尤其涉及一种测量平台与检测设备。

背景技术

在光学检测领域中，通常是通过光源对待测件进行照射，待测件反射或漫反射后的光线进入探测器后，由探测器根据采集到的检测图像对待测件进行检测，在对待测件进行检测前，首先需要检测设备的探测装置能够获得清晰的待测件的检测图像，因此需要在进行检测前调整探测装置的位置与探测角度。

现有技术中，当检测设备有多个探测装置时，由于探测装置的重量较重，因此在对探测装置进行调节时，经常会出现调节误差较大的问题，从而导致检测设备的检测结果误差较大，检测效率低的问题。

实用新型内容

本申请实施例提供一种测量平台与检测设备。

第一方面，本申请实施例提供一种测量平台，所述测量平台包括测量底座，测量支架以及至少一个探测装置，所述测量支架与所述测量底座连接，所述测量支架与所述测量底座垂直设置；所述探测装置包括镜头、固定架以及探测器，所述固定架的一端与所述镜头连接，另一端与所述探测器连接，所述探测器的探测方向指向待测件；

所述测量平台还包括组合位移台，所述组合位移台的一端与所述测量支架连接，另一端与探测装置连接，所述组合位移台用于调整所述探测器的位置、俯仰角度以及旋转角度的至少一项。

可选的，所述组合位移台包括第一位移台，所述第一位移台的一端与所述测量支架连接，另一端与所述固定架连接，所述第一位移台用于调整所述探测装置沿第一方向的位置。

可选的，所述组合位移台还包括第二位移台，所述第二位移台的一端与所述第一位移台连接，另一端与所述探测装置连接，所述第二位移台用于控制所述固定架沿第二方向移动，所述第二方向与所述第一方向垂直。

可选的，所述组合位移台还包括第三位移台，所述第三位移台的一端与所述第二位移台连接，另一端与所述固定架连接，所述第三位移台用于调整所述探测装置的探测方向。

可选的，所述第一支架与所述测量底座固定连接，所述第一支架包括多个子支架，每个所述子支架与所述探测装置一一对应，多个所述子支架沿所述探测装置的排布方向依次连接。

可选的，多个所述子支架组合成一体式结构。

可选的，所述探测装置还包括转台，所述转台设于所述探测器与所述固定架之间，并与所述探测器以及所述固定架连接，所述转台用于带动所述探测器沿所述探测器的探测方向转动。

可选的，所述测量平台还包括第一支架，所述第一支架具有通孔，所述镜头贯穿所述第一支架的所述通孔设置。

可选的，所述测量平台包括多个所述探测装置，多个所述探测装置的探测方向均指向待测件，所述探测装置的倾斜角度等间隔分布。

第二方面，本申请实施例提供一种承载系统，所述承载系统包括如上述任一项实施方式所述的承载装置。

可以看出，在本申请实施例中，所述测量平台包括测量底座，测量支架以及至少一个探测装置，所述测量支架与所述测量底座连接，所述测量支架与所述测量底座垂直设置；所述探测装置包括镜头、固定架以及探测器，所述固定架的一端与所述镜头连接，另一端与所述探测器连接，所述探测器的探测方向指向待测件；所述测量平台还包括组合位移台，所述组合位移台的一端与所述测量支架连接，另一端与探测装置连接，所述组合位移台用于调整所述探测器的位置、俯仰角度以及旋转角度的至少一项。通过固定在所述测量支架上的组合位移台，能够对探测装置与测量底座之间的位置进行固定，并通过组合位移台对探测装置的设置位置与设置角度进行调整，从而降低了对所述探测装置的调节难度，提高对探测装置的调节精度，提高了所述检测设备的调节精度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的一种测量平台的结构示意图；

图2是本申请实施例提供的一种测量平台的正视图；

图3是本申请实施例提供的一种探测装置与组合位移台的结构示意图。

附图标号说明：

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

以下分别进行详细说明。

本申请的说明书和权利要求书及所述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

请参见图1至图3，图1是本申请实施例提供的一种测量平台，测量支架20以及至少一个探测装置30，所述测量支架20与所述测量底座10连接，所述测量支架20与所述测量底座10垂直设置，具体的，所述测量支架20架设于所述测量底座10上；所述探测装置30包括镜头31、固定架32以及探测器33，所述固定架32的一端与所述镜头31连接，另一端与所述探测器33连接，所述探测器33的探测方向指向待测件。

优选的，所述测量底座10为多孔面包板，所述多孔面板板包括多个安装孔，所述测量平台上的其他零件能够通过所述测量底座10上的安装孔与所述测量底座10固定连接。

优选的，所述测量支架20的一侧边缘与所述测量底座10连接，优选实施方式中，所述测量支架20也为多孔面包板，所述测量支架20的一侧边缘通过所述测量底座10的安装孔与所述测量底座10连接。

所述测量平台还包括组合位移台40，所述组合位移台40的一端与所述测量支架20连接，另一端与探测装置30连接，所述组合位移台40用于调整所述探测器33的位置、俯仰角度以及旋转角度的至少一项。在一具体实施方式中，所述组合位移台40可以由一个多功能位移台进行控制，还可以为多个用于单方向调整或单角度调整的位移台组合使用进行控制。

在本申请实施例中，所述测量平台包括测量底座10，测量支架20以及至少一个探测装置30，所述测量支架20与所述测量底座10连接，所述测量支架20与所述测量底座10垂直设置；所述探测装置30包括镜头31、固定架32以及探测器33，所述固定架32的一端与所述镜头31连接，另一端与所述探测器33连接，所述探测器33的探测方向指向待测件；所述测量平台还包括组合位移台40，所述组合位移台40的一端与所述测量支架20连接，另一端与探测装置30连接，所述组合位移台40用于调整所述探测器33的位置、俯仰角度以及旋转角度的至少一项。通过固定在所述测量支架20上的组合位移台40，能够对探测装置30与测量底座10之间的位置进行固定，并通过组合位移台40对探测装置30的设置位置与设置角度进行调整，从而降低了对所述探测装置30的调节难度，提高对探测装置30的调节精度，提高了所述检测设备的调节精度。

在可选的实施方式中，请参照图1，所述测量平台还包括第一支架50，所述第一支架50 具有通孔51，所述镜头31贯穿所述第一支架50的所述通孔51设置。优选实施方式中，所述第一支架50的通孔51数量与所述检测平台上探测装置30的数量相等，每个所述探测装置 30的镜头31均贯穿所述第一支架50上的一个通孔51。

其中，为了方便对所述探测装置30进行固定，所述测量底座10与所述第一支架50均为刚性结构，优选的，所述测量底座10与所述第一支架50均为不锈钢材料。

其中，为了方便测量底座10与第一支架50进行固定连接，所述测量底座10为具有多个安装孔的面包板，所述第一支架50通过所述面包板上的安装孔与所述测量底座10连接。

在可选的实施方式中，请参照图1至图3，所述组合位移台40包括第一位移台41；

所述第一位移台41的一端与所述测量支架20连接，另一端与所述探测装置30连接；

所述第一位移台41用于控制所述探测装置30沿第一方向的位置，优选实施方式中，所述第一方向与所述镜头31的光轴方向相平行。

具体的，为了方便对所述探测装置30进行控制，所述第一位移台41为单向位移台，当所述第一方向与所述镜头31的光轴方向相同时，所述第一位移台41用于调整所述探测装置 30与待测件之间的距离，从而调整所述探测装置30相对于待测件的聚焦程度。

在可选的实施方式中，所述组合位移台40还包括第二位移台42，所述第二位移台42的一端与所述第一位移台41连接，另一端与所述探测装置30器连接，所述第二位移台42用于控制所述探测装置30器沿第二方向移动，所述第二方向与所述第一方向垂直，所述第一方向与所述第二方向组成的平面与所述探测装置30的探测方向平行。

具体的，所述第二位移台42与所述第一位移台41均为单向位移台，所述第一位移台41 用于带动所述第二位移台42与所述探测装置30共同移动，所述第二位移台42带动所述探测装置30沿第二方向移动，具体用于调整所述探测装置30的探测面的位置，从而方便所述探测装置30准确的采集检测图像。

在可选的实施方式中，所述组合位移台40还包括第三位移台，所述第三位移台的一端与所述第二位移台42连接，另一端与所述探测装置30器连接，所述第三位移台用于调整所述探测装置30器的俯仰角度。

其中，所述第三位移台为转动位移台，具体的，所述转动位移台是用来在小角度范围内精确旋转物体的装置，它绕着空间中的一个固定点进行旋转，从而带动所述探测装置30共同进行转动，通过所述第三位移台，能够调整所述探测装置30的俯仰角度，从而调整所述探测装置30检测到的不同区域的光斑的聚焦程度，从而提高所述探测装置30接收到的光斑的均匀性。

在可选的实施方式中，所述组合位移台40还包括第四位移台，所述第四位移台的一端与所述第三位移台连接，另一端与所述探测器33连接，所述第四位移台用于带动所述固定架 32沿第三方向移动，所述第三方向与所述测量支架20所在的平面垂直。

在一具体实施方式，所述第一方向与所述第二方向组成的平面与所述测量支架20所在的平面平行，所述第三方向与所述测量支架20所在的平面垂直，所述第三方向与所述第二方向垂直，为了方便调整所述探测装置30的探测位置，可以通过所述第二位移台42以及所述第四位移台对所述探测装置30的检测位置进行调整。

在可选的实施方式中，所述第一支架50与所述测量底座10固定连接，所述第一支架50 包括多个子支架，每个所述子支架与所述探测装置30一一对应，多个所述子支架沿所述探测装置30的排布方向依次连接。

其中，所述子支架为不锈钢材料，所述子支架与所述探测装置30对应设置，所述子支架上设有一个通孔51。

具体的，多个所述探测装置30的探测方向均指向所述承载装置，所述探测装置30的倾斜角度等间隔分布，具体的，所述检测平台包括上四个探测装置30，一个所述探测装置30 与相邻的探测装置30等间隔设置，如图1所示，四个探测装置30的探测方向均指向待测件，四个与所述探测装置30一一对应的所述子支架沿所述探测装置30的分布方向依次连接。

在一具体实施方式中，四个所述子支架为一体式结构，在对探测装置30进行调节时，可以优先对四个探测装置30之间的相对位置与相对角度进行调节，在调节完成后再全部的探测装置30进行整体调节，通过一体式结构的第一支架50，能够避免需要对每个所述子支架分别进行多次调节，从而提高对所述探测装置30的调节效率。

在一具体实施方式中，四个所述子支架为相互独立的结构，每个子支架在进行调节时不会对其他子支架产生影响，在对一个所述子支架进行调节时，可以避免相邻的子支架共同移动，通过对每个子支架单独进行调节的方式，能够提高对所述探测装置30的调节效率。

在可选的实施方式中，所述测量平台包括多个所述探测装置30，多个所述探测装置30 的探测方向均指向待测件，所述探测装置30的倾斜角度等间隔分布。具体的，多个所述探测装置30的探测方向均与所述测量支架20平行，并且每个探测装置30的等角度间隔设置，从而能够从不同的角度对待测件进行检测。

在可选的实施方式中，所述探测装置30还包括转台34，所述转台34设于所述探测器33 与所述固定架32之间，并与所述探测器33以及所述固定架32连接，所述转台34用于带动所述探测器33沿所述探测器33的探测方向转动。具体的，所述转台34用于调整所述探测装置30中的探测器33的旋转角度，从而调整所述探测器33接收光斑的方向，具体的，当所述探测器33接收的检测图像中的光斑延伸方向为竖直方向时，为了方便后续对检测图像进行处理，可以通过所述第四位移台对所探测器33的旋转角度进行调整，当通过所述转台34将所述探测器33旋转90度时，所述检测图像中的光斑延伸方向为水平方向。通过所述转台34，能够方便调整所述探测器33接收检测图像的角度，从而避免后续再对检测图像进行旋转处理，从而提高了检测设备的检测效率。

本实用新型还提出一种检测设备，所述检测设备包括如上述任一实施方式所述的测量平台，该测量平台的具体结构参照上述实施例，由于该测量平台采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。

以上所述的具体实施方式，对本申请实施例的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本申请实施例的具体实施方式而已，并不用于限定本申请实施例的保护范围，凡在本申请实施例的技术方案的基础之上，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包括在本申请实施例的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测量平台，其特征在于，所述测量平台包括测量底座，测量支架以及至少一个探测装置，所述测量支架与所述测量底座连接，所述测量支架与所述测量底座垂直设置；所述探测装置包括镜头、固定架以及探测器，所述固定架的一端与所述镜头连接，另一端与所述探测器连接，所述探测器的探测方向指向待测件；

所述测量平台还包括组合位移台，所述组合位移台的一端与所述测量支架连接，另一端与探测装置连接，所述组合位移台用于调整所述探测器的位置、俯仰角度以及旋转角度的至少一项。

2.根据权利要求1所述的测量平台，其特征在于，所述测量平台还包括第一支架，所述第一支架具有通孔，所述镜头贯穿所述第一支架的所述通孔设置。

3.根据权利要求1所述的测量平台，其特征在于，所述组合位移台包括第一位移台，所述第一位移台的一端与所述测量支架连接，另一端与所述固定架连接，所述第一位移台用于调整所述探测装置沿第一方向的位置。

4.根据权利要求3所述的测量平台，其特征在于，所述组合位移台还包括第二位移台，所述第二位移台的一端与所述第一位移台连接，另一端与所述探测装置连接，所述第二位移台用于控制所述固定架沿第二方向移动，所述第二方向与所述第一方向垂直。

5.根据权利要求4所述的测量平台，其特征在于，所述组合位移台还包括第三位移台，所述第三位移台的一端与所述第二位移台连接，另一端与所述固定架连接，所述第三位移台用于调整所述探测装置的探测方向。

6.根据权利要求2所述的测量平台，其特征在于，所述第一支架与所述测量底座固定连接，所述第一支架包括多个子支架，每个所述子支架与所述探测装置一一对应，多个所述子支架沿所述探测装置的排布方向依次连接。

7.根据权利要求6所述的测量平台，其特征在于，多个所述子支架组合成一体式结构。

8.根据权利要求1所述的测量平台，其特征在于，所述探测装置还包括转台，所述转台设于所述探测器与所述固定架之间，并与所述探测器以及所述固定架连接，所述转台用于带动所述探测器沿所述探测器的探测方向转动。

9.根据权利要求1所述的测量平台，其特征在于，所述测量平台包括多个所述探测装置，多个所述探测装置的探测方向均指向待测件，所述探测装置的倾斜角度等间隔分布。

10.一种检测设备，其特征在于，所述检测设备包括如权利要求1-9任一项所述的测量平台。

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