CN217156640U - 一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路 - Google Patents

一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路 Download PDF

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Abstract

本实用新型公开了一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,包括输入电路、采样电路和触发电路,所述输入电路与采样电路通过电压互感器连接,所述触发电路用于检测上升沿信号,所述触发电路通过MCU触发采样电路采样;所述电压互感器包括一次绕组N1和二次绕组N2,所述一次绕组N1设置于输入电路,所述一次绕组N1与二次绕组N2通过软磁体连接;所述触发电路包括二次绕组N2、二极管D1和电阻R1,所述二次绕组N2与二极管D1串联;所述二极管D1串联有电容C1,所述电容C1与二次绕组N2并联,所述电阻R1与二极管D1串联;所述采样电路与电阻R1并联,与二极管D1串联;解决了该输入电压监测电路的及时性和精准采样问题。

Description

一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路
技术领域
本实用新型涉及电力设备技术领域,具体涉及一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路。
背景技术
目前的隔离电源对输入电压的检测需要在输入侧连接MCU,通过绕组对信号进行RC滤波后,进行电压检测;常规的检测是检测RC滤波后的平均信号,并且该平均信号带有大量的干扰信号和脉冲信号,RC滤波越大,采样延时就越大,不能精准的及时的检测到输入电压。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是不能及时、精准的采样到输入电压,目的在于提供一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,解决不能对输入电压及时、精准采样的问题。
本实用新型通过下述技术方案实现:
一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,包括输入电路、采样电路和触发电路,上述输入电路与采样电路通过电压互感器连接,上述触发电路用于检测上升沿信号,上述触发电路通过MCU触发采样电路采样。
上述触发电路检测到从输入电路传来的上升沿信号,通过MCU触发采样电路采集此时的输入电压,此时的输入电压为耦合时的输入电压,干扰信号最少,未检测到上升沿信号不对其输入电压进行采样,每一个周期都能够精准的采集到耦合时的输入电压,大大降低了采集信号中的干扰信号,提高了采集的输入电压的精准度。
通过上升沿信号触发MCU进行采集,实现了快速采样。
进一步的,上述电压互感器包括一次绕组N1和二次绕组N2,上述一次绕组N1设置于输入电路,上述一次绕组N1与二次绕组N2通过软磁体连接。
上述输入电路中的NMOS管导通时,电流通过上述一次绕组N1,产生磁场,并且一次绕组N1端电压为输入电压;根据电磁感应原理,上述一次绕组N1产生的磁场穿过二次绕组N2,使二次绕组N2产生电流,此时二极管D1导通,小容量电容C1充电,并且二次绕组N2的产生的感应电动势大小等于输入电压除以匝比;
上述输入电路中的NMOS管断开时,通过上述一次绕组N1的电流减小,产生方向相反的磁场,其中一次绕组N1产生的感应电动势为VCC电压乘以匝比,方向反向;二次绕组N2产生感应电动势方向反向,此时二极管D1截止,小容量电容C1通过R3快速放电至0V。
进一步的,上述触发电路包括二次绕组N2和二极管D1,上述二次绕组N2与二极管D1串联。
上述二次绕组N2产生的电流从二极管D1的正极流向负极被导通;上述二次绕组N2产生的电流从二极管D1的负极流向正极被截止,将交流电整流成直流脉冲信号,用于后续上升沿信号的检测。
进一步的,上述二极管D1串联有电容C1,上述电容C1与二次绕组N2并联。
上述二极管D1将交流电整流成直流脉冲信号,上述直流脉冲信号经过小容量电容C1再一次滤除高频噪声,检测滤除后的直流脉冲信号的上升沿,若检测到上升沿信号,则触发MCU对该时刻的平台电压进行采样,该时刻的电压为耦合时的输入电压,干扰信号最少,降低了采样信号中的干扰信号,提高了采集的输入电压的精准度。
进一步的,上述触发电路还包括电阻R1,上述电阻R1与二极管D1串联。
上述电阻R1用于检测上升沿信号,若检测到上升沿信号,则将该信号发送至MCU,触发采样电路。
进一步的,上述采样电路与电阻R1并联,与二极管D1串联。
上述采样电路采集的是滤除高频噪声后的输入电压,在电阻R1检测到上升沿时,触发MCU对该时刻的电压进行采样,该时刻的电压为耦合时的输入电压(该时刻的采样电压等于输入电压除以匝比),干扰信号最少,降低了采样信号中的干扰信号,提高了采集的输入电压的精准度。
进一步的,上述采样电路还包括滤波器,上述滤波器包括电容C2和电阻R3,上述电容C2与电阻R3并联。
在二极管D1截止时,电容C1通过电阻R2、电阻R3快速放电至0V,为检测上升沿做准备。
将采集的输入电压进行滤波处理,进一步削弱高频干扰信号带来的影响,提高采集的输入电压的精准度。
进一步的,上述一次绕组N1的线圈匝数大于二次绕组N2的线圈匝数,上述一次绕组N1形成的一次回路电压高于二次绕组N2形成的二次回路电压。
进一步的,上述采样电路和触发电路接地属于保护接地,上述输入电压形成的回路为一次回路,上述采样电路和触发电路形成的回路为二次回路;因为一次回路、二次回路绝缘,如果一次回路损坏,则高电压将串联到二次回路,威胁人身和设备的安全,所以二次回路必须接地。
本实用新型与现有技术相比,具有如下的优点和有益效果:
上述输入电路与采样电路通过电压互感器连接,上述触发电路用于检测上升沿信号,上述触发电路通过MCU触发采样电路采样,实现了快速采样,解决了该输入电压监测电路的及时性问题;
上述触发电路检测到从输入电路传来的上升沿信号,通过MCU触发采样电路采集此时的输入电压,此时的输入电压为耦合时的输入电压,干扰信号最少,未检测到上升沿信号不对其输入电压进行采样,每一个周期都能够精准的采集到耦合时的输入电压,大大降低了采集信号中的干扰信号,提高了采集的输入电压的精准度,解决了该输入电压监测电路精准采样的问题。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本实用新型实施例的进一步理解,构成本申请的一部分,并不构成对本实用新型实施例的限定。在附图中:
图1为实施例1提供的输入电压监测电路图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面结合实施例和附图,对本实用新型作进一步的详细说明,本实用新型的示意性实施方式及其说明仅用于解释本实用新型,并不作为对本实用新型的限定。
实施例1
如图1所示,本实施例1提供一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,包括输入电路、采样电路和触发电路,上述输入电路与采样电路通过电压互感器连接,上述触发电路用于检测VF_EXT12上升沿信号,上述触发电路通过MCU触发采样电路采样,由于输入电路的NMOS管Q在周期性的PWM工作,通过VF_EXT12上升沿信号来控制MCU对VF_ADC信号的采样时机,实现快速采样。
上述触发电路检测到从输入电路传来的VF_EXT12上升沿信号,通过MCU触发采样电路采集此时的VF_ADC信号,此时的VF_ADC信号为耦合时的输入电压,干扰信号最少,未检测到VF_EXT12上升沿信号不对其VF_ADC信号进行采样,每一个周期都能够精准的采集到耦合时的输入电压,大大降低了采集信号中的干扰信号,提高了采集的输入电压的精准度。
具体的实施例,上述电压互感器包括一次绕组N1和二次绕组N2,上述一次绕组N1设置于输入电路,上述一次绕组N1与二次绕组N2通过软磁体连接,所述软磁体优选的有锰-锌铁氧体、镍-锌铁氧体等铁氧体材料。
上述输入电路中的NMOS管导通时,电流通过上述一次绕组N1,产生磁场;根据电磁感应原理,上述一次绕组N1产生的磁场穿过二次绕组N2,使二次绕组N2产生电流;
上述输入电路中的NMOS管Q断开时,通过上述一次绕组N1的电流减小,产生方向相反的磁场,使通过上述二次绕组N2电压反向。
具体的实施例,上述触发电路包括二次绕组N2和二极管D1,上述二次绕组N2与二极管D1串联。
上述二次绕组N2产生的电流从二极管D1的正极流向负极被导通;上述二次绕组N2产生的电流从二极管D1的负极流向正极被截止,将交流电整流成直流脉冲信号,用于后续VF_EXT12上升沿信号的检测。
具体的实施例,上述二极管D1串联有电容C1,上述电容C1与二次绕组N2并联。
上述二极管D1将交流电整流成直流脉冲信号,上述直流脉冲信号经过电容C1再一次滤除高频噪声,检测滤波后的直流脉冲信号的上升沿,若检测到VF_EXT12上升沿信号,则触发MCU对该时刻的电压进行采样,该时刻的电压为耦合时的输入电压,干扰信号最少,降低了采样信号中的干扰信号,提高了采集的输入电压的精准度。
具体的实施例,上述触发电路还包括电阻R1,上述电阻R1与二极管D1串联。
上述电阻R1用于检测VF_EXT12上升沿信号,若检测到VF_EXT12上升沿信号,则将该信号发送至MCU,触发采样电路;若未检测到VF_EXT12上升沿信号,则不对其VF_ADC信号进行采样,每一个周期都能够精准的采集到耦合时的输入电压,大大降低了采集信号中的干扰信号,提高了采集的输入电压的精准度。
具体的实施例,上述采样电路与电阻R1并联,与二极管D1串联。
上述采样电路采集的是滤除交流电后的输入电压,在电阻R1检测到VF_EXT12上升沿时,触发MCU对该时刻的电压进行采样,该时刻的电压为耦合时的输入电压,干扰信号最少,降低了采样信号中的干扰信号,提高了采集的输入电压的精准度。
具体的实施例,上述采样电路还包括滤波器,上述滤波器包括电容C2和电阻R3,上述电容C2与电阻R3并联。
将采集的输入电压进行滤波处理,进一步削弱干扰信号带来的影响,提高采集的输入电压的精准度。
具体的实施例,上述一次绕组N1的线圈匝数大于二次绕组N2的线圈匝数,上述一次绕组N1形成的一次回路电压高于二次绕组N2形成的二次回路电压。
具体的实施例,上述采样电路和触发电路接地属于保护接地,上述输入电压形成的回路为一次回路,上述采样电路和触发电路形成的回路为二次回路;因为一次回路、二次回路绝缘,如果一次回路损坏,则高电压将串联到二次回路,威胁人身和设备的安全,所以二次回路必须接地。
具体的实施例,该输入电压监测电路还包括另一个二次绕组N3,上述二次绕组N3连接有二极管D2,上述二极管D2串联有电容C3,上述电容C3与二次绕组N3并联,上述二极管D2连接有10V的电压。
具体的实施例,上述输入电路包括一次绕组N1、电容C4、二极管D3、NMOS管Q、电阻R4、电阻R5和电阻R6,上述NMOS管Q的漏极与二极管D3串联,上述二极管D3与电容C4串联,上述一次绕组N1与二极管D3、电容C4并联,上述电容C4并联有电阻R4,上述NMOS管Q的源极与电阻R5串联,上述电阻R5并联有电阻R6。
以上所述的具体实施方式,对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本实用新型的具体实施方式而已,并不用于限定本实用新型的保护范围,凡在本实用新型的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,其特征在于,包括输入电路、采样电路和触发电路,所述输入电路与采样电路通过电压互感器连接,所述触发电路用于检测上升沿信号,所述触发电路通过MCU触发采样电路采样。
2.根据权利要求1所述的一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,其特征在于,所述电压互感器包括一次绕组N1和二次绕组N2,所述一次绕组N1设置于输入电路,所述一次绕组N1与二次绕组N2通过软磁体连接。
3.根据权利要求2所述的一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,其特征在于,所述触发电路包括二次绕组N2和二极管D1,所述二次绕组N2与二极管D1串联。
4.根据权利要求3所述的一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,其特征在于,所述二极管D1串联有电容C1,所述电容C1与二次绕组N2并联。
5.根据权利要求3或4所述的一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,其特征在于,所述触发电路还包括电阻R1,所述电阻R1与二极管D1串联。
6.根据权利要求5所述的一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,其特征在于,所述采样电路与电阻R1并联,与二极管D1串联。
7.根据权利要求4所述的一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,其特征在于,所述采样电路包括电阻R2和所述电容C1,所述电阻R2和电容C1并联。
8.根据权利要求7所述的一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,其特征在于,所述采样电路还包括滤波器,所述滤波器包括电容C2和电阻R3,所述电容C2与电阻R3并联。
9.根据权利要求2所述的一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,其特征在于,所述一次绕组N1的线圈匝数大于二次绕组N2的线圈匝数。
10.根据权利要求1或9所述的一种基于隔离式绕组的输入电压监测电路,其特征在于,所述采样电路和触发电路接地。
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