CN217155247U - 一种专用检测半圆深度简易检具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种专用检测半圆深度简易检具，包括基座和千分表，所述千分表的测量端垂直向下穿过基座后延伸至校准标准底座；所述基座的下方设置有连接机构；所述连接机构的宽度大小可根据被测量半圆槽的宽度大小进行调节。该实用新型将千分表固定在基座上，并在宽度调节机构的螺杆上设置导程相同、旋向相反螺纹的第一螺纹段和第二螺纹段；检测时将基座放于工件的半圆槽中，转动螺杆使左凸块和右凸块可以对称的远离螺杆的对称轴，使左凸块和右凸块与半圆槽紧密配合并自动找到半圆槽中心最低点，不仅可以快速、精确、稳定的调节左凸块和右凸块到目标位置并进行固定，而且可以直接得出测量数据，提高检测效率，适用于多种不同宽度半圆槽的深度检测。

Description

一种专用检测半圆深度简易检具

技术领域

本实用新型涉及检测工具技术领域，特别是涉及一种专用检测半圆深度简易检具。

背景技术

传统测量工具没法快速测量产品半圆槽的深度，以及无法快速找到圆槽中心最低点导致测量不准确；如果采用三坐标、投影仪测量成本高且效率慢。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型目的在于提供一种专用检测半圆深度简易检具，将千分表固定在基座上，并在宽度调节机构的螺杆上设置导程相同、旋向相反螺纹的第一螺纹段和第二螺纹段；检测时将基座放于工件的半圆槽中，转动螺杆使左凸块和右凸块可以对称的远离螺杆的对称轴，使左凸块和右凸块与半圆槽紧密配合并自动找到半圆槽中心最低点，不仅可以快速、精确、稳定的调节左凸块和右凸块到目标位置并进行固定，而且可以直接得出测量数据，提高检测效率，适用于多种不同宽度半圆槽的深度检测。

本实用新型所采用的技术方案如下：

一种专用检测半圆深度简易检具，包括基座和千分表，其特征在于，所述千分表的测量端垂直向下穿过基座后延伸至基座的外部；

所述基座的下方设置有用于测量半圆槽深度时与半圆槽紧密配合的连接机构；所述连接机构的宽度大小可根据被测量半圆槽的宽度大小进行调节。

优选的，所述连接机构包括左右对称设置的左凸块和右凸块；所述左凸块和右凸块均与基座滑动连接；

还包括用于驱动左凸块和右凸块对称的远离或靠近的宽度调节机构。

优选的，所述基座与左凸块和右凸块滑动连接处分别开设有“T”型滑槽；所述“T”型滑槽内均设置有滑块；所述滑块分别与左凸块和右凸块固定连接；其中一所述转轴远离螺杆的一端设置有握把。

所述宽度调节机构通过驱动与左凸块连接的滑块和与右凸块连接的滑块对称的远离或靠近基座的中轴线。

优选的，所述基座位于“T”型滑槽的口部均设置有连接板；

所述宽度调节机构包括两个或以上的螺杆；所述螺杆的其中一端依次穿过与左凸块连接的滑块、基座内部和与右凸块连接的滑块后与右侧的连接板转动连接，另一端与左侧的连接板转动连接；

所述螺杆与左凸块连接的滑块和与右凸块连接的滑块使用螺纹连接；

所述螺杆的两端分别设置有转轴，通过转轴分别与左侧和右侧的连接板转动连接。

优选的，所述螺杆包括限位段；所述限位段的两侧分别设置有第一螺纹段和第二螺纹段；

所述第一螺纹段和第二螺纹段上设置有导程相同、旋向相反的螺纹；所述第一螺纹段和第二螺纹段分别与和左凸块连接的滑块以及和右凸块连接的滑块使用螺纹连接。

优选的，所述第一螺纹段和第二螺纹段为多线螺纹。

优选的，还包括校准标准底座；所述校准标准底座上设置有凹槽。

相比现有技术，本实用新型的有益效果在于：

该实用新型将千分表固定在基座上，并在宽度调节机构的螺杆上设置导程相同、旋向相反螺纹的第一螺纹段和第二螺纹段；检测时将基座放于工件的半圆槽中，转动螺杆使左凸块和右凸块可以对称的远离螺杆的对称轴，使左凸块和右凸块与半圆槽紧密配合并自动找到半圆槽中心最低点，不仅可以快速、精确、稳定的调节左凸块和右凸块到目标位置并进行固定，而且可以直接得出测量数据，提高检测效率，适用于多种不同宽度半圆槽的深度检测。

附图说明

图1为本实用新型的整体立体结构示意图；

图2为本实用新型的主视图；

图3为图2中A-A剖面结构示意图；

图4为本实用新型中螺杆的结构示意图；

其中：基座1、千分表2、连接机构3、宽度调节机构4、滑块5、连接板6、校准标准底座7、“T”型滑槽11、左凸块31、右凸块32、螺杆41、握把411、限位段41a、第一螺纹段41b、第二螺纹段41c。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳的实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定在”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“前”、“后”、“左”、“右”、“上”、“下”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

下面，结合附图以及具体实施方式，对本实用新型做进一步描述：

一种专用检测半圆深度简易检具，包括基座1和千分表2，其特征在于，所述千分表2的测量端垂直向下穿过基座1后延伸至基座1的外部；

所述基座1的下方设置有用于测量半圆槽深度时与半圆槽紧密配合的连接机构3；所述连接机构3的宽度大小可根据被测量半圆槽的宽度大小进行调节。

进一步的，所述连接机构3包括左右对称设置的左凸块31和右凸块32；所述左凸块31和右凸块32均与基座1滑动连接；

还包括用于驱动左凸块31和右凸块32对称的远离或靠近的宽度调节机构4。

在该实施例中，所述左凸块31和右凸块32与基座1采用滑动连接的结构设置，可以快速、方便的调节左凸块31和右凸块32相对基座1的左右位置。

进一步的，所述基座1与左凸块31和右凸块32滑动连接处分别开设有”T”型滑槽11；所述”T”型滑槽11内均设置有滑块5；所述滑块5分别与左凸块31和右凸块32固定连接；

所述宽度调节机构4通过驱动与左凸块31连接的滑块5和与右凸块32连接的滑块5对称的远离或靠近基座1的中轴线。

在该实施例中，采用“T”型结构的滑槽可以提升滑块5与滑槽滑动过程的平稳、可靠，从而减少测量半圆槽深度时产生的误差。

进一步的，所述基座1位于”T”型滑槽11的口部均设置有连接板6；

所述宽度调节机构4包括两个或以上的螺杆41；所述螺杆41的其中一端依次穿过与左凸块31连接的滑块5、基座1内部和与右凸块32连接的滑块5后与右侧的连接板6转动连接，另一端与左侧的连接板6转动连接；

所述螺杆41与左凸块31连接的滑块5和与右凸块32连接的滑块5使用螺纹连接；

所述螺杆41的两端分别设置有转轴，通过转轴分别与左侧和右侧的连接板6转动连接；其中一所述转轴远离螺杆41的一端设置有握把411。

在该实施例中，通过手动转动螺杆41就可以驱动左凸块31和右凸块32在”T”型滑槽11内相对基座1向左或向右移动；从而可以根据工件的半圆槽的宽度大小调节左凸块31与右凸块32间的距离，使左凸块31与右凸块32紧贴合于工件的半圆槽的口部，然后再通过千分表2测量半圆槽的深度，因此，适用于测量不同宽度半圆槽的深度。

进一步的，所述螺杆41包括限位段41a；所述限位段41a的两侧分别设置有第一螺纹段41b和第二螺纹段41c；

所述第一螺纹段41b和第二螺纹段41c上设置有导程相同、旋向相反的螺纹；所述第一螺纹段41b和第二螺纹段41c分别与和左凸块31连接的滑块5以及和右凸块32连接的滑块5使用螺纹连接。

在该实施例中，通过旋向相反的螺纹连接，使螺杆41在转动时，带动左凸块31和右凸块32对称的靠近或远离螺杆41的对称轴；防止左凸块31和右凸块32定位时使左凸块31和右凸块32整体偏离中心，影响检测的准确性，同时可以快速、精确、稳定的调节左凸块31和右凸块32到目标位置并进行固定。

进一步的，所述第一螺纹段41b和第二螺纹段41c为多线螺纹；多线螺纹可以快速旋进的同时具有良好的自锁性。

进一步的，还包括校准标准底座7；所述校准标准底座7上设置有凹槽。

在该实施例中，检测前将基座1和千分表2放于校准标准底座7上校准清零；提升测量的准确性。

对本领域的技术人员来说，可根据以上描述的技术方案以及构思，做出其它各种相应的改变以及形变，而所有的这些改变以及形变都应该属于本实用新型专利权利要求的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种专用检测半圆深度简易检具，包括基座和千分表，其特征在于，所述千分表的测量端垂直向下穿过基座后延伸至基座的外部；

所述基座的下方设置有用于测量半圆槽深度时与半圆槽紧密配合的连接机构；所述连接机构的宽度大小可根据被测量半圆槽的宽度大小进行调节。

2.根据权利要求1所述的一种专用检测半圆深度简易检具，其特征在于，所述连接机构包括左右对称设置的左凸块和右凸块；所述左凸块和右凸块均与基座滑动连接；

还包括用于驱动左凸块和右凸块对称的远离或靠近的宽度调节机构。

3.根据权利要求2所述的一种专用检测半圆深度简易检具，其特征在于，所述基座与左凸块和右凸块滑动连接处分别开设有“T”型滑槽；所述“T”型滑槽内均设置有滑块；所述滑块分别与左凸块和右凸块固定连接；

所述宽度调节机构通过驱动与左凸块连接的滑块和与右凸块连接的滑块对称的远离或靠近基座的中轴线。

4.根据权利要求3所述的一种专用检测半圆深度简易检具，其特征在于，所述基座位于“T”型滑槽的口部均设置有连接板；

所述宽度调节机构包括两个或以上的螺杆；所述螺杆的其中一端依次穿过与左凸块连接的滑块、基座内部和与右凸块连接的滑块后与右侧的连接板转动连接，另一端与左侧的连接板转动连接；

所述螺杆与左凸块连接的滑块和与右凸块连接的滑块使用螺纹连接；

所述螺杆的两端分别设置有转轴，通过转轴分别与左侧和右侧的连接板转动连接；其中一所述转轴远离螺杆的一端设置有握把。

5.根据权利要求4所述的一种专用检测半圆深度简易检具，其特征在于，所述螺杆包括限位段；所述限位段的两侧分别设置有第一螺纹段和第二螺纹段；

所述第一螺纹段和第二螺纹段上设置有导程相同、旋向相反的螺纹；所述第一螺纹段和第二螺纹段分别与和左凸块连接的滑块以及和右凸块连接的滑块使用螺纹连接。

6.根据权利要求5所述的一种专用检测半圆深度简易检具，其特征在于，所述第一螺纹段和第二螺纹段为多线螺纹。

7.根据权利要求1所述的一种专用检测半圆深度简易检具，其特征在于，还包括校准标准底座；所述校准标准底座上设置有凹槽。

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