CN217025953U - 一种用于核酸检测仪的温度测试辅助装置及系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开的一种用于核酸检测仪的温度测试辅助装置及系统。一种用于核酸检测仪的温度测试辅助系统，包括芯片仓和温度测试辅助装置。该温度测试辅助装置包括：支架，其能够被放置于所述核酸检测仪的加热装置处；接触件，其用于容置温度传感器或连接温度传感器，所述接触件能够移动地设置于所述支架上；及弹性件，其设置于所述接触件和所述支架之间以为所述接触件提供压紧所述加热装置的弹性力。本实用新型的温度测试辅助装置操作方便，测试效率较高。

Description

一种用于核酸检测仪的温度测试辅助装置及系统

技术领域

本实用新型属于核酸检测仪制造及测试领域，具体涉及一种用于核酸检测仪的温度测试辅助装置及系统。

背景技术

目前，核酸扩增检测技术是一种较为成熟的病原体筛查手段，基于该技术设计了核酸检测仪。在进行核酸扩增反应时，往往需要对反应体系进行加热，例如进行环介导等温扩增时，反应的温度需要维持在55～65℃。因此，核酸检测仪需要集成加热装置，以能够对微流控芯片(提供扩增反应的腔室以及预存扩增用酶等试剂)的反应区域(通常为扩增反应腔)进行加热等。核酸检测仪在出厂前需要对其加热装置的加热性能进行测试评价，以确保其能够达到预设的加热温度(如55～65℃)；然而，目前没有专用于核酸检测仪的测温装置，往往需要手动将温度传感器贴合在加热装置的加热面上，测试过程较为复杂，不够方便，检测效果较低，且容易引入人为误差。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型的一个目的是提供一种用于核酸检测仪的温度测试辅助装置，其操作方便，测试效率较高。

本实用新型的另一个目的是提供一种用于核酸检测仪的温度测试辅助系统，其具有上述的温度测试辅助装置，能够方便地测试核酸检测仪的加热装置的加热性能。

为达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种用于核酸检测仪的温度测试辅助装置，包括：

支架，其能够被放置于所述核酸检测仪的加热装置处；

接触件，其用于容置温度传感器或连接温度传感器，所述接触件能够移动地设置于所述支架上；及

弹性件，其设置于所述接触件和所述支架之间以为所述接触件提供压紧所述加热装置的弹性力。

优选地，所述接触件能够移动地插设于所述支架中，用于使接触件适应加热装置的位置及形状而能够始终和加热装置贴合。

更优选地，所述接触件包括接触部和限位部，所述接触部固定连接于所述限位部的一端部；所述支架包括第一支架和第二支架，所述第一支架上设有可供所述接触部穿过的通孔，所述第一支架和所述第二支架形成有用于容置所述限位部的空间，所述限位部能够移动地设置于所述空间内且不能够自所述通孔穿过，所述接触部的至少部分位于所述通孔之外。通过限位部保证接触件不会自支架上脱落，接触部能够在通孔内滑动且能够和加热装置贴合。

更优选地，所述接触部上设有用于供温度传感器插入的容置孔。

更优选地，所述接触部由导热材料制成。进一步地，所述接触部的材料为铜、铝、铜合金或铝合金。这些材料具有较好的导热率，从而使接触部上/内的温度传感器能够较为准确地感测到加热装置的温度。

优选地，所述弹性件设于所述限位部和所述第二支架之间。可选地，所述弹性件设于所述限位部和所述第一支架之间。

优选地，接触件还包括导杆部，所述导杆部的一端部与所述限位部的另一端部固定连接或一体成型，所述弹性件套设于所述导杆部上且一端抵在所述限位部上而另一端抵在所述第二支架上。具体地，所述弹性件为压簧。

更优选地，所述第二支架上还设有定位孔，所述导杆部的另一端部插设于所述定位孔中。

优选地，所述接触件的数量为多个且设置于所述支架的不同位置，每个所述接触件对应至少一个所述弹性件。

优选地，所述支架包括至少一对定位凸起，所述接触件设于所述定位凸起之间。

本实用新型还采用如下技术方案：

一种用于核酸检测仪的温度测试辅助系统，包括用于容置微流控芯片的芯片仓，所述温度测试辅助系统还包括所述的温度测试辅助装置，所述温度测试辅助系统具有测试状态，在所述测试状态时，所述支架插入所述芯片仓内，所述接触件抵紧在所述核酸检测仪的加热装置上。

本实用新型采用以上方案，相比现有技术具有如下优点：

本实用新型的用于核酸检测仪的温度测试辅助装置，可将温度传感器搭载在接触件上，弹性件能够为接触件提供压紧加热装置的弹性力，从而接触件能够适应核酸检测仪的加热装置而自动抵接在加热装置上，从而贴合加热装置，使温度传感器和加热装置直接贴合或间接接触，能够较为准确地感测加热装置的加热温度，操作方便，提高了测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为根据本实用新型实施例的温度测试辅助装置的第一视角的立体示意图；

图2为根据本实用新型实施例的温度测试辅助装置的第二视角的立体示意图；

图3为根据本实用新型实施例的温度测试辅助装置的分解示意图；

图4为核酸检测仪的芯片仓及加热装置的立体示意图。

其中，

101、加热装置；102、芯片仓；

1、支架；11、第一支架；111、通孔；112、主体部；113、底端部；12、第二支架；121、定位孔；122、孔；13、定位凸起；2、接触件；21、接触部；211、容置孔；22、限位部；23、导杆部；3、弹性件。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域的技术人员理解。在此需要说明的是，对于这些实施方式的说明用于帮助理解本实用新型，但并不构成对本实用新型的限定。此外，下面所描述的本实用新型各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以互相结合。

本实施例提供一种用于核酸检测仪的温度测试辅助装置，其对温度传感器进行辅助定位，用于和温度传感器配合使用来对核酸检测仪的加热装置进行测温，以评价加热装置的加热性能。本实施例还提供一种基于该温度测试辅助装置的温度测试辅助系统，其包括用于容置微流控芯片的芯片仓102(如图4所示)以及温度测试辅助装置(如图1至图3所示)。参照图1至图3所示，该用于核酸检测仪的温度测试辅助装置包括支架1、接触件2以及弹性件3。其中，接触件2的数量为多个且设置于支架1的不同位置，接触件2能够移动的插设于支架1中，每个接触件2对应至少一个弹性件3。

进一步地说，接触件2包括接触部21、限位部22和导杆部23。接触部21的形状为圆柱形，限位部22的形状整体为立方体。接触部21的制成材料具有良好的导热性，接触部21的材料可以为铜、铝、铜合金或铝合金。本实施例中，接触部21的材料为铜。限位部22的一端部通过螺纹固定连接于接触部21，限位部22的另一端部与导杆部23的一端部一体成型。接触部21上设有用于供温度传感器插入的容置孔211；具体地说，容置孔211自接触部21的上表面向下延伸，以便于温度传感器自上而下插入到容置孔211内。

结合图1和图2所示，支架1包括第一支架11和第二支架12，第一支架11上设有手柄部112和主体部113。手柄部112位于主体部113的上方且与主体部113一体成型，手柄部112的可以使其便于被操作，能够方便地进出芯片仓102。第二支架12和主体部113相对，且在两端部通过螺钉紧固连接，第二支架12的两端部上各有一个螺钉孔122。

更具体地，第一支架11的主体部113上设有多个可供接触件2的接触部21穿过的通孔111。各接触件2的接触部21移动的插设于与其相对对应的一个通孔111中；接触部21可进出通孔111，而限位部22则不能通过该通孔111。第二支架12上设有多个定位孔121，各通孔111和个定位孔121的位置和数量一一对应。接触件2的导杆部23的上述另一端部插设于定位孔121中，弹性件3套设于导杆部23上且一端抵在限位部22上而另一端抵在第二支架12上。当接触部21受到外界的挤压时，导杆部23上的弹性件3发生形变，产生一定的压缩变形量；挤压消失后，导杆部23上的弹性件3恢复原状。

第一支架11的一侧表面上形成有至少一对定位凸起13，多个接触件2设于定位凸起13之间。第一支架11的另一侧表面和第二支架12形成有用于容置限位部22和导杆部23的空间，为了使接触件2不轻易脱离支架1，限位部22能够移动地设置于空间内且不能够自通孔111穿过，导杆部23抵在第二支架12的定位孔121内，接触部21的至少部分位于通孔111之外。本实施例中，弹性件3具体设置于限位部22和第二支架12之间；而在在其它实施例中，弹性件3还可设于限位部22和第一支架11之间。

本实用新型的温度测试辅助系统具有测试状态，结合图4所示，在测试状态时，在每个接触部21上分别插入一个温度传感器，再将温度测试辅助装置插入芯片仓102内，直至到达芯片仓102的底端，由于接触部21为滑动设置，且通过弹性件3来为接触部21提供压紧力，在插入的过程中，接触件2的接触部21能够自动抵紧在核酸检测仪100的加热装置101上，通过接触部21将热量传导至其上的温度传感器，操作较为简单。当测试结束后，将温度测试辅助装置自芯片仓102中拔出，接触部21脱离加热装置101后，弹性件3恢复至初始状态。

本实施例的用于核酸检测仪的温度测试辅助装置，可将温度传感器搭载在接触件2上，弹性件3能够为接触件2提供压紧加热装置101的弹性力，从而接触件2能够适应核酸检测仪的加热件而自动抵接在加热装置101上，从而贴合加热装置101，使温度传感器和加热装置101直接贴合或间接接触，能够较为准确地感测加热装置101的加热温度，操作方便，提高了测试效率。需要说明的是，该温度测试辅助装置能够一次搭载多个温度传感器，对加热装置101进行多点测温，获得更为准确的评价结果。

如本说明书和权利要求书中所示，术语“包括”与“包含”仅提示包括已明确标识的步骤和元素，而这些步骤和元素不构成一个排它性的罗列，方法或者设备也可能包含其他的步骤或元素。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的组合。

需要说明的是，如无特殊说明，当某一特征被称为“固定”、“连接”在另一个特征，它可以直接固定、连接在另一个特征上，也可以间接地固定、连接在另一个特征上。此外，本实用新型中所使用的上、下、左、右等描述仅仅是相对于附图中本实用新型各组成部分的相互位置关系来说的。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，是一种优选的实施例，其目的在于熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限定本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型的原理所作的等效变换或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种用于核酸检测仪的温度测试辅助装置，其特征在于，包括：

支架，其能够被放置于所述核酸检测仪的加热装置处；

接触件，其用于容置温度传感器或连接温度传感器，所述接触件能够移动地设置于所述支架上；及

弹性件，其设置于所述接触件和所述支架之间以为所述接触件提供压紧所述加热装置的弹性力。

2.根据权利要求1所述的温度测试辅助装置，其特征在于，所述接触件能够移动地插设于所述支架中。

3.根据权利要求2所述的温度测试辅助装置，其特征在于，所述接触件包括接触部和限位部，所述接触部固定连接于所述限位部的一端部；所述支架包括第一支架和第二支架，所述第一支架上设有可供所述接触部穿过的通孔，所述第一支架和所述第二支架形成有用于容置所述限位部的空间，所述限位部能够移动地设置于所述空间内且不能够自所述通孔穿过，所述接触部的至少部分位于所述通孔之外。

4.根据权利要求3所述的温度测试辅助装置，其特征在于，所述接触部上设有用于供温度传感器插入的容置孔；和/或，所述接触部的材料为铜、铝、铜合金或铝合金。

5.根据权利要求3所述的温度测试辅助装置，其特征在于，所述弹性件设于所述限位部和所述第一支架或所述限位部和所述第二支架之间。

6.根据权利要求5所述的温度测试辅助装置，其特征在于，所述接触件还包括导杆部，所述导杆部的一端部与所述限位部的另一端部固定连接或一体成型，所述弹性件套设于所述导杆部上且一端抵在所述限位部上而另一端抵在所述第二支架上。

7.根据权利要求6所述的温度测试辅助装置，其特征在于，所述第二支架上还设有定位孔，所述导杆部的另一端部插设于所述定位孔中。

8.根据权利要求1至7任一项所述的温度测试辅助装置，其特征在于，所述接触件的数量为多个且设置于所述支架的不同位置，每个所述接触件对应至少一个所述弹性件。

9.根据权利要求1至7任一项所述的温度测试辅助装置，其特征在于，所述支架包括至少一对定位凸起，所述接触件设于所述定位凸起之间。

10.一种用于核酸检测仪的温度测试辅助系统，包括用于容置微流控芯片的芯片仓，其特征在于，所述温度测试辅助系统还包括如权利要求1至9任一项所述的温度测试辅助装置，所述温度测试辅助系统具有测试状态，在所述测试状态时，所述支架插入所述芯片仓内，所述接触件抵紧在所述核酸检测仪的加热装置上。

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