CN216771893U - 一种带限位结构的芯片测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及芯片测试技术领域，且公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括上下水平设置的支撑板和底座，底座的上端中部固定连接有竖直的电动推杆，电动推杆的输出端与支撑板的下端中部固定连接，支撑板的上端通过缓冲机构固定连接有中空板，中空板的上侧外壁左右两端对称开设有条形孔，两个条形孔的内部均固定连接有水平的第一滑杆，两个第一滑杆的杆壁中部对称滑动套接有竖直的夹块，两个夹块的上下两端均延伸至条形孔的外部，且两个夹块的相对的一侧的侧壁下端均开设有斜面。本实用新型不仅便于对芯片进行限位，省时省力效率高，而且可在测试过程中对芯片提供有效缓冲，降低了芯片损坏的几率。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。
背景技术
芯片是一种将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路，集成电路芯片的测试分类包括：晶圆测试、芯片测试和封装测试，芯片测试是在晶圆经过切割、减薄工序，成为一片片独立的片之后的测试，其一般是将芯片放在测试平台上，用探针探到芯片中事先确定的测试点，探针上可以通过直流电流和交流信号，可以对其进行各种电气参数测试。
现有的芯片测试装置在使用时不便于对芯片进行限位固定，费时费力效率低，且不具备减震机构导致芯片在测试过程中容易被损坏，所以我们推出了一种带限位结构的芯片测试装置。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中在使用时不便于对芯片进行限位固定，费时费力效率低，且不具备减震机构导致芯片在测试过程中容易被损坏的问题，而提出的一种带限位结构的芯片测试装置。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种带限位结构的芯片测试装置，包括上下水平设置的支撑板和底座，所述底座的上端中部固定连接有竖直的电动推杆，所述电动推杆的输出端与支撑板的下端中部固定连接，所述支撑板的上端通过缓冲机构固定连接有中空板，所述中空板的上侧外壁左右两端对称开设有条形孔，两个所述条形孔的内部均固定连接有水平的第一滑杆，两个所述第一滑杆的杆壁中部对称滑动套接有竖直的夹块，两个所述夹块的上下两端均延伸至条形孔的外部，且两个夹块的相对的一侧的侧壁下端均开设有斜面，两个所述第一滑杆的杆壁远离通孔的一侧处均活动套接有第一弹簧，所述中空板的上侧外壁中部竖直开设有通孔，所述通孔的内部滑动连接有拉杆，所述拉杆的上下两端均延伸至通孔的外部，两个所述夹块的位于中空板内部的之间处设置有水平的限位板，所述拉杆的下端与限位板的上端固定连接。
优选的，所述缓冲机构包括两个第二弹簧、两个第二滑杆、两个套管、两个转动杆和两个限位杆，所述支撑板的上端位于中空板的左右两侧处对称开设有条形槽，两个所述第二滑杆分别水平固定设置在两个条形槽的内部，两个所述套管分别与两个第二滑杆的杆壁靠近中空板的一侧处滑动套接，两个所述第二弹簧分别与两个第二滑杆的杆壁远离中空板的一侧处活动套接，两个所述转动杆的一端分别与两个套管的上侧外管壁相铰接，且两个转动杆的另一端对称与中空板的下端左右两侧相铰接，所述支撑板的上端位于电动推杆的左右两侧处对称竖直开设有圆孔，两个所述限位杆的杆壁分别与两个圆孔的孔壁滑动连接，且两个限位杆的上端均延伸至圆孔的外部并与中空板的下端固定连接。
优选的，所述底座的上端位于支撑板的左右两侧处对称固定连接有竖直的挡板，所述支撑板的左右两侧壁对称开设有放置槽，两个所述挡板的相对的一侧的侧壁与两个放置槽的位置对应处均竖直开设有滑槽，两个所述放置槽的内部均滑动连接有球体，两个所述球体的相背离的一端均延伸至对应的滑槽内部。
优选的，所述限位板的左右两侧壁均开设有弧形面，两个所述夹块的相对的一侧的侧壁均开设有与两个弧形面相配合的弧形槽。
优选的，两个所述夹块的位于中空板外的相对的一侧的侧壁均固定连接有橡胶垫。
优选的，所述拉杆的上端固定连接有拉块，所述中空板的上侧外壁开设有与拉块相配合的凹槽。
与现有技术相比，本实用新型提供了一种带限位结构的芯片测试装置，具备以下有益效果：
1、该带限位结构的芯片测试装置，通过设有的第一滑杆、第一弹簧、夹块、限位板和拉杆，便于对芯片进行限位，省时省力效率高。
2、该带限位结构的芯片测试装置，通过设有的缓冲机构，可在测试过程中对芯片提供有效缓冲，降低了芯片损坏的几率。
该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本实用新型不仅便于对芯片进行限位，省时省力效率高，而且可在测试过程中对芯片提供有效缓冲，降低了芯片损坏的几率。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种带限位结构的芯片测试装置的结构示意图；
图2为图1中局部A部分的结构放大图。
图中：1底座、2挡板、3球体、4转动杆、5中空板、6限位杆、7第二弹簧、8第二滑杆、9电动推杆、10套管、11支撑板、12限位板、13拉杆、14第一滑杆、15夹块、16第一弹簧。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-2，一种带限位结构的芯片测试装置，包括上下水平设置的支撑板11和底座1，底座1的上端中部固定连接有竖直的电动推杆9，电动推杆9的输出端与支撑板11的下端中部固定连接，支撑板11的上端通过缓冲机构固定连接有中空板5，中空板5的上侧外壁左右两端对称开设有条形孔，两个条形孔的内部均固定连接有水平的第一滑杆14，两个第一滑杆14的杆壁中部对称滑动套接有竖直的夹块15，两个夹块15的上下两端均延伸至条形孔的外部，且两个夹块15的相对的一侧的侧壁下端均开设有斜面，两个第一滑杆14的杆壁远离通孔的一侧处均活动套接有第一弹簧16，中空板5的上侧外壁中部竖直开设有通孔，通孔的内部滑动连接有拉杆13，拉杆13的上下两端均延伸至通孔的外部，两个夹块15的位于中空板5内部的之间处设置有水平的限位板12，拉杆13的下端与限位板12的上端固定连接，缓冲机构包括两个第二弹簧7、两个第二滑杆8、两个套管10、两个转动杆4和两个限位杆6，支撑板11的上端位于中空板5的左右两侧处对称开设有条形槽，两个第二滑杆8分别水平固定设置在两个条形槽的内部，两个套管10分别与两个第二滑杆8的杆壁靠近中空板5的一侧处滑动套接，两个第二弹簧7分别与两个第二滑杆8的杆壁远离中空板5的一侧处活动套接，两个转动杆4的一端分别与两个套管10的上侧外管壁相铰接，且两个转动杆4的另一端对称与中空板5的下端左右两侧相铰接，支撑板11的上端位于电动推杆9的左右两侧处对称竖直开设有圆孔，两个限位杆6的杆壁分别与两个圆孔的孔壁滑动连接，且两个限位杆6的上端均延伸至圆孔的外部并与中空板5的下端固定连接，底座1的上端位于支撑板11的左右两侧处对称固定连接有竖直的挡板2，支撑板11的左右两侧壁对称开设有放置槽，两个挡板2的相对的一侧的侧壁与两个放置槽的位置对应处均竖直开设有滑槽，两个放置槽的内部均滑动连接有球体3，两个球体3的相背离的一端均延伸至对应的滑槽内部，限位板12的左右两侧壁均开设有弧形面，两个夹块15的相对的一侧的侧壁均开设有与两个弧形面相配合的弧形槽，两个夹块15的位于中空板5外的相对的一侧的侧壁均固定连接有橡胶垫，橡胶垫可为夹块提供缓冲，拉杆13的上端固定连接有拉块，中空板5的上侧外壁开设有与拉块相配合的凹槽。
本实用新型中，使用时，将芯片向下压动拉块，拉块通过拉杆13推动限位块6向下移动，限位块6的两端与斜面对应时，第一弹簧16推动夹块15对芯片进行夹持限位，在测试完成后，向上拉动拉块即可使限位机构复位，本实用新型不仅便于对芯片进行限位，省时省力效率高，而且可在测试过程中对芯片提供有效缓冲，降低了芯片损坏的几率。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括上下水平设置的支撑板(11)和底座(1)，其特征在于，所述底座(1)的上端中部固定连接有竖直的电动推杆(9)，所述电动推杆(9)的输出端与支撑板(11)的下端中部固定连接，所述支撑板(11)的上端通过缓冲机构固定连接有中空板(5)，所述中空板(5)的上侧外壁左右两端对称开设有条形孔，两个所述条形孔的内部均固定连接有水平的第一滑杆(14)，两个所述第一滑杆(14)的杆壁中部对称滑动套接有竖直的夹块(15)，两个所述夹块(15)的上下两端均延伸至条形孔的外部，且两个夹块(15)的相对的一侧的侧壁下端均开设有斜面，两个所述第一滑杆(14)的杆壁远离通孔的一侧处均活动套接有第一弹簧(16)，所述中空板(5)的上侧外壁中部竖直开设有通孔，所述通孔的内部滑动连接有拉杆(13)，所述拉杆(13)的上下两端均延伸至通孔的外部，两个所述夹块(15)的位于中空板(5)内部的之间处设置有水平的限位板(12)，所述拉杆(13)的下端与限位板(12)的上端固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述缓冲机构包括两个第二弹簧(7)、两个第二滑杆(8)、两个套管(10)、两个转动杆(4)和两个限位杆(6)，所述支撑板(11)的上端位于中空板(5)的左右两侧处对称开设有条形槽，两个所述第二滑杆(8)分别水平固定设置在两个条形槽的内部，两个所述套管(10)分别与两个第二滑杆(8)的杆壁靠近中空板(5)的一侧处滑动套接，两个所述第二弹簧(7)分别与两个第二滑杆(8)的杆壁远离中空板(5)的一侧处活动套接，两个所述转动杆(4)的一端分别与两个套管(10)的上侧外管壁相铰接，且两个转动杆(4)的另一端对称与中空板(5)的下端左右两侧相铰接，所述支撑板(11)的上端位于电动推杆(9)的左右两侧处对称竖直开设有圆孔，两个所述限位杆(6)的杆壁分别与两个圆孔的孔壁滑动连接，且两个限位杆(6)的上端均延伸至圆孔的外部并与中空板(5)的下端固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述底座(1)的上端位于支撑板(11)的左右两侧处对称固定连接有竖直的挡板(2)，所述支撑板(11)的左右两侧壁对称开设有放置槽，两个所述挡板(2)的相对的一侧的侧壁与两个放置槽的位置对应处均竖直开设有滑槽，两个所述放置槽的内部均滑动连接有球体(3)，两个所述球体(3)的相背离的一端均延伸至对应的滑槽内部。
4.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述限位板(12)的左右两侧壁均开设有弧形面，两个所述夹块(15)的相对的一侧的侧壁均开设有与两个弧形面相配合的弧形槽。
5.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，两个所述夹块(15)的位于中空板(5)外的相对的一侧的侧壁均固定连接有橡胶垫。
6.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述拉杆(13)的上端固定连接有拉块，所述中空板(5)的上侧外壁开设有与拉块相配合的凹槽。
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