CN216014819U - 一种Nand flash自动测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种Nand flash自动测试设备，包括主体，所述主体的前端外表面设置有触摸控制装置，所述主体的上端外表面设置有检测柜，所述检测柜的两侧内表面设置有温控装置，所述温控装置的下端内表面设置有接触检测装置。本实用新型所述的一种Nand flash自动测试设备，通过设置的接触检测装置、固定盖、按压块、检测块、检测点、磁吸固定环和传输装置，有利于对Nand flash起到固定作用并对其接触点进行检测，通过设置的温控装置、排热器、半导体制冷片、导热硅脂层、导热板和电流转换控制器，有利于检测Nand flash在不通过温度的情况下的读写速度和耐热性，此设备不但结构简单，而且操作方便，带来更好的使用前景。

Description

一种Nand flash自动测试设备

技术领域

本实用新型涉及储存装置测试领域，特别涉及一种Nand flash自动测试设备。

背景技术

Nand-flash内存是flash内存的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案，Nand-flash存储器具有容量较大，改写速度快等优点，适用于大量数据的存储，因而在业界得到了越来越广泛的应用，如嵌入式产品中包括数码相机、MP3随身听记忆卡、体积小巧的U盘等，在Nand-flash是在使用前要对其进行测试，但现有的Nand flash自动测试设备无法满足人们的需求。

目前，申请号CN202020585189.6的中国专利公开了了一种nand flash储存芯片测试治具，包括治具主体，使用时新型无法对Nand flash进行温差测试，同时固定方式在安装和拆卸时比较繁琐，为此，我们提出一种Nand flash自动测试设备。

发明内容

本实用新型的主要目的在于提供一种Nand flash自动测试设备，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种Nand flash自动测试设备，包括主体，所述主体的前端外表面设置有触摸控制装置，所述主体的上端外表面设置有检测柜，所述检测柜的两侧内表面设置有温控装置，所述温控装置的下端内表面设置有接触检测装置，所述接触检测装置包括固定盖、按压块、检测块、检测点、磁吸固定环和传输装置。

优选的，所述固定盖的下端外表面设置有按压块，所述按压块的下端外表面设置有检测块，所述检测块的下端内表面设置有检测点，所述检测块的四周外表面设置有磁吸固定环，所述检测块的下端外表面设置有传输装置。

优选的，所述固定盖与按压块之间设置有固定槽和复位弹簧，所述固定盖的上端内表面通过固定槽和复位弹簧与按压块的上端外表面可拆卸连接，所述检测块与检测点之间设置有检测板和安装槽，所述检测块的下端内表面通过检测板和安装槽与检测点的外壁固定连接，所述固定盖与检测块之间设置有磁吸环，所述固定盖的下端外表面通过磁吸环和磁吸固定环与检测块的上端外表面可拆卸连接，所述检测点和传输装置电性连接。

优选的，所述温控装置包括排热器、半导体制冷片、导热硅脂层、导热板和电流转换控制器，所述排热器的一侧外表面设置有半导体制冷片，所述半导体制冷片与导热板之间设置有导热硅脂层，所述半导体制冷片的上端外表面设置有电流转换控制器。

优选的，所述排热器与半导体制冷片之间设置有安装架和安装螺丝，所述排热器的一侧外表面通过安装架和安装螺丝与半导体制冷片的一侧外表面可拆卸连接，所述半导体制冷片与导热板之间设置有固定螺丝和固定孔，所述半导体制冷片的另一侧外表面通过导热硅脂层、固定螺丝和固定孔与导热板的一侧外表面可拆卸连接，所述排热器、半导体制冷片、电流转换控制器电性连接。

优选的，所述主体与检测柜之间设置有固定板和数据传输孔，所述主体的上端外表面通过固定板和数据传输孔与检测柜的下端外表面固定连接，所述检测柜的两侧外表面通过导热板与温控装置的一侧外表面可拆卸连接，所述检测柜与接触检测装置之间设置有固定卡槽，所述检测柜的下端内表面通过固定卡槽和接触检测装置下端外表面可拆卸连接。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：通过设置的接触检测装置、固定盖、按压块、检测块、检测点、磁吸固定环和传输装置，在使用时将Nand flash的焊点对准检测点放置在检测块内，在将固定盖通过磁吸固定环与检测块进行磁性连接，通过按压块对Nand flash启到下压力使Nand flash和检测点贴合更加紧密，并将检测情况通过传输装置传出，有利于对Nand flash起到固定作用并对其接触点进行检测，通过设置的温控装置、排热器、半导体制冷片、导热硅脂层、导热板和电流转换控制器，在使用时通过控制电流转换控制器实现对半导体制冷片进行制冷和制热的控制，并通过导热硅脂层和导热板对检测柜内部的温度进行调控，并通过排热器对半导体制冷片的温度进行控制，有利于检测Nandflash在不通过温度的情况下的读写速度和耐热性，整个一种Nand flash自动测试设备结构简单，操作方便，使用的效果相对于传统方式更好。

附图说明

图1为本实用新型一种Nand flash自动测试设备的整体结构示意图；

图2为本实用新型一种Nand flash自动测试设备的内部结构示意图；

图3为本实用新型一种Nand flash自动测试设备图2中接触检测装置4的结构示意图；

图4为本实用新型一种Nand flash自动测试设备图1中温控装置5的结构示意图。

图中：1、主体；2、触摸控制装置；3、检测柜；4、接触检测装置；5、温控装置；401、固定盖；402、按压块；403、检测块；404、检测点；405、磁吸固定环；406、传输装置；501、排热器；502、半导体制冷片；503、导热硅脂层；504、导热板；505、电流转换控制器。

具体实施方式

为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例一：

如图1所示，一种Nand flash自动测试设备，包括主体1，主体1的前端外表面设置有触摸控制装置2，主体1的上端外表面设置有检测柜3，检测柜3的两侧内表面设置有温控装置5，温控装置5的下端内表面设置有接触检测装置4，接触检测装置4包括固定盖401、按压块402、检测块403、检测点404、磁吸固定环405和传输装置406。

实施例二：

在实施例一的基础之上，如图2、3所示，述固定盖401的下端外表面设置有按压块402，按压块402的下端外表面设置有检测块403，检测块403的下端内表面设置有检测点404，检测块403的四周外表面设置有磁吸固定环405，检测块403的下端外表面设置有传输装置406，有利于对Nand flash起到固定作用并对其接触点进行检测。

实施例三：

在实施例一的基础之上，如图2、3所示，固定盖401与按压块402之间设置有固定槽和复位弹簧，固定盖401的上端内表面通过固定槽和复位弹簧与按压块402的上端外表面可拆卸连接，检测块403与检测点404之间设置有检测板和安装槽，检测块403的下端内表面通过检测板和安装槽与检测点404的外壁固定连接，固定盖401与检测块403之间设置有磁吸环，固定盖401的下端外表面通过磁吸环和磁吸固定环405与检测块403的上端外表面可拆卸连接，检测点404和传输装置406电性连接，有利于保证Nand flash的接触性，同时便于拆卸和跟换。

实施例四：

在实施例一与实施例二的基础之上，如图1、4，温控装置5包括排热器501、半导体制冷片502、导热硅脂层503、导热板504和电流转换控制器505，排热器501的一侧外表面设置有半导体制冷片502，半导体制冷片502与导热板504之间设置有导热硅脂层503，半导体制冷片502的上端外表面设置有电流转换控制器505，有利于对Nand flash模拟不同的温度下的工作环境，检测Nand flash的在不同温度下的工作情况。

实施例五：

在实施例一与实施例三的基础之上，如图1、4，排热器501与半导体制冷片502之间设置有安装架和安装螺丝，排热器501的一侧外表面通过安装架和安装螺丝与半导体制冷片502的一侧外表面可拆卸连接，半导体制冷片502与导热板504之间设置有固定螺丝和固定孔，半导体制冷片502的另一侧外表面通过导热硅脂层503、固定螺丝和固定孔与导热板504的一侧外表面可拆卸连接，排热器501、半导体制冷片502、电流转换控制器505电性连接，有利于了解Nand flash在不同情况下的读写速度和耐热性。

实施例六：

在实施例一、实施例二与实施例三的基础之上，如图1-4，主体1与检测柜3之间设置有固定板和数据传输孔，主体1的上端外表面通过固定板和数据传输孔与检测柜3的下端外表面固定连接，检测柜3的两侧外表面通过导热板504与温控装置5的一侧外表面可拆卸连接，检测柜3与接触检测装置4之间设置有固定卡槽，检测柜3的下端内表面通过固定卡槽和接触检测装置4下端外表面可拆卸连接，有利于对整个检测设置进行控制。

需要说明的是，本实用新型为一种Nand flash自动测试设备，在使用前，通过设置的接触检测装置4、固定盖401、按压块402、检测块403、检测点404、磁吸固定环405和传输装置406，在使用时将Nand flash的焊点对准检测点404放置在检测块403内，在将固定盖401通过磁吸固定环405与检测块403进行磁性连接，通过按压块402对Nand flash启到下压力使Nand flash和检测点404贴合更加紧密，并将检测情况通过传输装置406传出，有利于对Nand flash起到固定作用并对其接触点进行检测，通过设置的温控装置5、排热器501、半导体制冷片502、导热硅脂层503、导热板504和电流转换控制器505，在使用时通过控制电流转换控制器505实现对半导体制冷片502进行制冷和制热的控制，并通过导热硅脂层503和导热板504对检测柜3内部的温度进行调控，并通过排热器501对半导体制冷片502的温度进行控制，有利于检测Nand flash在不通过温度的情况下的读写速度和耐热性，较为实用。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (6)

1.一种Nand flash自动测试设备，包括主体（1），其特征在于：所述主体（1）的前端外表面设置有触摸控制装置（2），所述主体（1）的上端外表面设置有检测柜（3），所述检测柜（3）的两侧内表面设置有温控装置（5），所述温控装置（5）的下端内表面设置有接触检测装置（4），所述接触检测装置（4）包括固定盖（401）、按压块（402）、检测块（403）、检测点（404）、磁吸固定环（405）和传输装置（406）。

2.根据权利要求1所述的一种Nand flash自动测试设备，其特征在于：所述固定盖（401）的下端外表面设置有按压块（402），所述按压块（402）的下端外表面设置有检测块（403），所述检测块（403）的下端内表面设置有检测点（404），所述检测块（403）的四周外表面设置有磁吸固定环（405），所述检测块（403）的下端外表面设置有传输装置（406）。

3.根据权利要求1所述的一种Nand flash自动测试设备，其特征在于：所述固定盖（401）与按压块（402）之间设置有固定槽和复位弹簧，所述固定盖（401）的上端内表面通过固定槽和复位弹簧与按压块（402）的上端外表面可拆卸连接，所述检测块（403）与检测点（404）之间设置有检测板和安装槽，所述检测块（403）的下端内表面通过检测板和安装槽与检测点（404）的外壁固定连接，所述固定盖（401）与检测块（403）之间设置有磁吸环，所述固定盖（401）的下端外表面通过磁吸环和磁吸固定环（405）与检测块（403）的上端外表面可拆卸连接，所述检测点（404）和传输装置（406）电性连接。

4.根据权利要求1所述的一种Nand flash自动测试设备，其特征在于：所述温控装置（5）包括排热器（501）、半导体制冷片（502）、导热硅脂层（503）、导热板（504）和电流转换控制器（505），所述排热器（501）的一侧外表面设置有半导体制冷片（502），所述半导体制冷片（502）与导热板（504）之间设置有导热硅脂层（503），所述半导体制冷片（502）的上端外表面设置有电流转换控制器（505）。

5.根据权利要求4所述的一种Nand flash自动测试设备，其特征在于：所述排热器（501）与半导体制冷片（502）之间设置有安装架和安装螺丝，所述排热器（501）的一侧外表面通过安装架和安装螺丝与半导体制冷片（502）的一侧外表面可拆卸连接，所述半导体制冷片（502）与导热板（504）之间设置有固定螺丝和固定孔，所述半导体制冷片（502）的另一侧外表面通过导热硅脂层（503）、固定螺丝和固定孔与导热板（504）的一侧外表面可拆卸连接，所述排热器（501）、半导体制冷片（502）、电流转换控制器（505）电性连接，所述检测柜（3）的两侧外表面通过导热板（504）与温控装置（5）的一侧外表面可拆卸连接。

6.根据权利要求1所述的一种Nand flash自动测试设备，其特征在于：所述主体（1）与检测柜（3）之间设置有固定板和数据传输孔，所述主体（1）的上端外表面通过固定板和数据传输孔与检测柜（3）的下端外表面固定连接，所述检测柜（3）与接触检测装置（4）之间设置有固定卡槽，所述检测柜（3）的下端内表面通过固定卡槽和接触检测装置（4）下端外表面可拆卸连接。

Images