CN215866787U - 一种半导体器件测试用接电机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及测试接电机构技术领域,具体为一种半导体器件测试用接电机构,包括垫板,所述垫板的表面设置有嵌入式触电组件,垫板的顶面设置有防护件,所述防护件的内侧设置有压合件,所述压合件的上方设置有牵引导向件,所述牵引导向件和防护件之间设置有弹性牵引件,所述弹性牵引件包括弹性牵引带,弹性牵引带的两端均设置有拉环,两组拉环分别固定在边槽和牵引导向件表面,边槽开设在围护架的外环面;有益效果为:本实用提出的半导体器件测试用接电机构在垫板表面嵌入安装接电触板,将半导体器件的接电触脚塞入压板和接电触板之间,接电触板通电后即可对半导体器件进行通电检测,如此夹持式接电机构使用范围广。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试接电机构技术领域,具体为一种半导体器件测试用接电机构。
背景技术
半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间,利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件,可用来产生、控制、接收、变换、放大信 号和进行能量转换。半导体器件的半导体材料是硅、锗或砷化镓,可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材。为了与集成电路相区别,有时也称为分立器件。
现有技术中,半导体器件出厂测试时,需要检测半导体器件通电是否正常,由于,半导体器件种类繁多,不同的半导体器件的接电触脚不同,如此造成接电机构适用性低;为此,本实用新型提出一种半导体器件测试用接电机构用于解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种半导体器件测试用接电机构,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种半导体器件测试用接电机构,包括垫板,所述垫板的表面设置有嵌入式触电组件,垫板的顶面设置有防护件,所述防护件的内侧设置有压合件,所述压合件的上方设置有牵引导向件,所述牵引导向件和防护件之间设置有弹性牵引件,所述弹性牵引件包括弹性牵引带,弹性牵引带的两端均设置有拉环,两组拉环分别固定在边槽和牵引导向件表面,边槽开设在围护架的外环面。
优选的,所述嵌入式触电组件包括嵌入槽以及安装在嵌入槽内部的接电触板,嵌入槽开设在垫板的顶面,接电触板的表面设置有导线,导线贯穿垫板的侧壁。
优选的,所述压合件包括压板以及固定在压板底面的绝缘胶垫,压板的侧壁设置有滑轮。
优选的,所述防护件包括围护架,围护架围护在压板的外侧,且围护架固定在垫板的顶面,拉环的高度小于围护架的高度。
优选的,所述牵引导向件包括牵引板,牵引板呈“L”形板状结构,牵引板固定在压板的顶面,牵引板设置有两组,两组牵引板的顶面连接有手柄杆。
优选的,所述弹性牵引带未被拉伸时,压板挤压绝缘胶垫贴附接电触板的顶面,此时牵引板顶部板体搭接在围护架的顶面。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1.本实用提出的半导体器件测试用接电机构在垫板表面嵌入安装接电触板,将半导体器件的接电触脚塞入压板和接电触板之间,接电触板通电后即可对半导体器件进行通电检测,如此夹持式接电机构使用范围广;
2.本实用提出的半导体器件测试用接电机构在压板上部加设牵引板,牵引板和边槽的底面之间通过弹性牵引带牵引连接,如此被抬升的压板被弹性牵引带牵引实现弹性回弹,便于压板和接电触板之间稳定的夹持不同类型的接电触脚。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为图1中A处结构放大示意图。
图中:垫板1、嵌入槽2、接电触板3、导线4、围护架5、牵引板6、压板7、绝缘胶垫8、滑轮9、边槽10、拉环11、弹性牵引带12、手柄杆13。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1至图2,本实用新型提供一种技术方案:一种半导体器件测试用接电机构,包括垫板1,垫板1的表面设置有嵌入式触电组件,嵌入式触电组件包括嵌入槽2以及安装在嵌入槽2内部的接电触板3,嵌入槽2开设在垫板1的顶面,接电触板3的表面设置有导线4,导线4贯穿垫板1的侧壁,导线4把接电触板3接通电源后,半导体器件与通电的接电触板3接触,实现通电检测,上述夹持式试电机构使用范围广,且操作简单便捷,接电触板3嵌入式安装,安全性高;
垫板1的顶面设置有防护件,防护件的内侧设置有压合件,压合件包括压板7以及固定在压板7底面的绝缘胶垫8,压板7的侧壁设置有滑轮9,防护件包括围护架5,围护架5围护在压板7的外侧,且围护架5固定在垫板1的顶面,拉环11的高度小于围护架5的高度;压合件的上方设置有牵引导向件,牵引导向件包括牵引板6,牵引板6呈“L”形板状结构,牵引板6固定在压板7的顶面,牵引板6设置有两组,两组牵引板6的顶面连接有手柄杆13;
牵引导向件和防护件之间设置有弹性牵引件,弹性牵引件包括弹性牵引带12,弹性牵引带12的两端均设置有拉环11,两组拉环11分别固定在边槽10和牵引导向件表面,边槽10开设在围护架5的外环面,弹性牵引带12未被拉伸时,压板7挤压绝缘胶垫8贴附接电触板3的顶面,此时牵引板6顶部板体搭接在围护架5的顶面,手捏手柄杆13向上抽提牵引板6,牵引板6牵引压板7抬升,且此时的弹性牵引带12被张拉,将待检测的半导体器件的接电触脚塞入压板7和接电触板3之间后,松开手柄杆13,弹性牵引带12牵引压板7回弹,半导体器件的接电触脚夹持在绝缘胶垫8和接电触板3之间。
工作原理:实际使用时,参照附图1所示,手捏手柄杆13向上抽提牵引板6,牵引板6牵引压板7抬升,且此时的弹性牵引带12被张拉,将待检测的半导体器件的接电触脚塞入压板7和接电触板3之间后,松开手柄杆13,弹性牵引带12牵引压板7回弹,半导体器件的接电触脚夹持在绝缘胶垫8和接电触板3之间,导线4把接电触板3接通电源后,半导体器件与通电的接电触板3接触,实现通电检测,上述夹持式试电机构使用范围广,且操作简单便捷,接电触板3嵌入式安装,安全性高。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种半导体器件测试用接电机构,包括垫板(1),其特征在于:所述垫板(1)的表面设置有嵌入式触电组件,垫板(1)的顶面设置有防护件,所述防护件的内侧设置有压合件,所述压合件的上方设置有牵引导向件,所述牵引导向件和防护件之间设置有弹性牵引件,所述弹性牵引件包括弹性牵引带(12),弹性牵引带(12)的两端均设置有拉环(11),两组拉环(11)分别固定在边槽(10)和牵引导向件表面,边槽(10)开设在围护架(5)的外环面。
2.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试用接电机构,其特征在于:所述嵌入式触电组件包括嵌入槽(2)以及安装在嵌入槽(2)内部的接电触板(3),嵌入槽(2)开设在垫板(1)的顶面,接电触板(3)的表面设置有导线(4),导线(4)贯穿垫板(1)的侧壁。
3.根据权利要求1所述的一种半导体器件测试用接电机构,其特征在于:所述压合件包括压板(7)以及固定在压板(7)底面的绝缘胶垫(8),压板(7)的侧壁设置有滑轮(9)。
4.根据权利要求3所述的一种半导体器件测试用接电机构,其特征在于:所述防护件包括围护架(5),围护架(5)围护在压板(7)的外侧,且围护架(5)固定在垫板(1)的顶面,拉环(11)的高度小于围护架(5)的高度。
5.根据权利要求3所述的一种半导体器件测试用接电机构,其特征在于:所述牵引导向件包括牵引板(6),牵引板(6)呈“L”形板状结构,牵引板(6)固定在压板(7)的顶面,牵引板(6)设置有两组,两组牵引板(6)的顶面连接有手柄杆(13)。
6.根据权利要求4所述的一种半导体器件测试用接电机构,其特征在于:所述弹性牵引带(12)未被拉伸时,压板(7)挤压绝缘胶垫(8)贴附接电触板(3)的顶面,此时牵引板(6)顶部板体搭接在围护架(5)的顶面。
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