CN215813178U - 检测电路 - Google Patents

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蔡晓
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Abstract

本实用新型公开了一种检测电路,该检测电路包括:电压抑制模块,用于连接待检测的目标电路,并在所述目标电路的电压超过电压阈值时导通;降压输出模块,连接于所述电压抑制模块,用于将所述目标电路的高电压转变为低电压,并输出检测信号,以便依据检测信号确定所述目标电路是否正常工作。本实施例利用电压抑制模块,减少了检测电路导通的时长,从而能够降低功率,使检测电路小型化。

Description

检测电路
技术领域
本实用新型涉及电子领域,尤其涉及检测电路。
背景技术
如图1所示,控制器检测交流电220V通断电原理:交流电220V经整流二极管Q1转换为直流电,直流电经限流电阻R2限流后通过光电耦合器OC 光-电-光转换后传输至MCU控制器,在有交流电220V输入时,光电耦合器 OC导通,MCU控制器检测出是低电平,在无交流电220V输入时,光电耦合器OC断开,MCU控制器检测出是高电平。但是这种电路对于小型化的控制器应用系统主要存在以下问题,限流电阻小,散热不够,得安装功率大的电阻,因而导致检测电路难以小型化。
实用新型内容
本实用新型实施例提供一种检测电路,以解决现在技术检测电路如何小型化的问题。
为了解决上述技术问题,本实用新型是这样实现的:
第一方面,提供了一种检测电路,该检测电路包括:
电压抑制模块,用于连接待检测的目标电路,并在所述目标电路的电压超过电压阈值时导通;
降压输出模块,连接于所述电压抑制模块,用于将所述目标电路的高电压转变为低电压,并输出检测信号,以便依据检测信号确定所述目标电路是否正常工作。
可选地,该检测电路还包括:
检测模块,连接所述降压输出模块,用于接收检测信号,以便输出表征所述目标电路是否正常工作的提示信号。
可选地,所述电压抑制模块,包括:
瞬态电压抑制二极管,反相端连接所述目标电路的一端,正相端连接所述降压输出模块。
可选地,所述电压抑制模块,包括:
稳压二极管,反相端连接所述目标电路的一端,正相端连接于所述降压输出模块。
可选地,所述降压输出模块包括:
整流二极管,正相端连接所述电压抑制模块的正相端;
限流电阻,一端连接所述整流二极管的反相端;
第一电阻,一端连接所述限流电阻,另一端连接所述目标电路的另一端;
光耦模块,用于降压,包括:高压单元和低压单元,所述高压单元与所述第一电阻并联,所述低压单元,用于输出检测信号;
上拉电阻,与所述低压单元并联。
可选地,所述高压单元包括发光二极管,所述低压单元包括光感三极管。
可选地,所述检测模块包括:mcu控制器。
可选地,所述上拉电阻的阻值为10KΩ。
在本实用新型实施例中,该检测电路包括:电压抑制模块,用于连接待检测的目标电路,并在所述目标电路的电压超过电压阈值时导通;降压输出模块,连接于所述电压抑制模块,用于将所述目标电路的高电压转变为低电压,并输出检测信号,以便依据检测信号确定所述目标电路是否正常工作。本实施例利用电压抑制模块,减少了检测电路导通的时长,从而能够降低功率,使检测电路小型化。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,构成本实用新型的一部分,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
图1是本实用新型的背景技术的检测电路的电路示意图;
图2是本实用新型的一个实施例的检测电路的结构示意图;
图3是本实用新型的一个实施例的交流电的波形图;
图4是本实用新型的另一个实施例的检测电路的结构示意图;
图5是本实用新型的一个实施例的检测电路的电路示意图;
图6是本实用新型的另一个实施例的检测电路的电路示意图;
图例:1-电压抑制模块,2-降压输出模块,3-检测模块。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
图2是本实用新型的一个实施例的检测电路的结构示意图,本实施例提供了一种检测电路,如图2所示,该检测电路包括:
电压抑制模块1,用于连接待检测的目标电路,并在目标电路的电压超过电压阈值时导通;
降压输出模块2,连接于电压抑制模块1,用于将目标电路的高电压转变为低电压,并输出检测信号,以便依据检测信号确定目标电路是否正常工作。
可以理解的是,目标电路输出的电压为正弦交流电220V。若目标电路的电压大于电压抑制模块1的电压阈值,则可以将目标电路输出的电压确认为高电压,反之,若目标电路的电压小于或等于电压抑制模块1的电压阈值,则可以将目标电路输出的电压确定为低电压。
上述检测电路的工作原理:电压抑制模块1获取目标电路输出的电压,若目标电路输出的电压大于电压抑制模块1的电压阈值时,则电压抑制模块1导通,降压输出模块2接收到目标电路的高电压,以及将接到的高电压转变为低电压,并输出检测信号;若目标电路输出的电压小于或等于电压抑制模块1的电压阈值时,则电压抑制模块1断开,降压输出模块2无法工作,即整个检测电路处于非工作状态,不能输出检测信号。若电压抑制模块1时导通时断开的状态,则确定目标电路正常工作;若电压抑制模块1长时间断开状态,则确定目标电路非正常工作,简而言之,根据输出检测信号的时长确定目标电路是否正常工作。在电压抑制模块1导通的情况下,检测电路处于工作状态,如图3 所示的阴影部分表示检测电路有功率时,在电压抑制模块1断开的情况下,检测电路处于非工作状态,即检测电路没有电流,也就是没有功率,如图3所示非阴影部分表示检测电路无功率时。本实施例通过利用电压抑制模块1,减少检测电路的工作时长,从而能够降低功率。
可选地,该检测电路还包括:
检测模块,连接降压输出模块2,用于接收检测信号,以便输出表征目标电路是否正常工作的提示信号。
具体地,检测模块包括:mcu控制器。
当然,应理解,检测模块可以根据实际需求而设定。
在一些实施例中,如图4所示,降压输出模块2的输出端连接有检测模块 3,用于接收检测信号并输出提示信号,若检测电路正常工作时,则检测模块3 接收到检测信号并输出提示信号,工作人员可以直接根据提示信号确定检测电路处于工作状态。若检测电路非正常工作时,即目标电路的电压小于或等于电压抑制模块1的电压阈值时,则电压抑制模块1不导通,也就是说一些干扰电压就无法通过电压抑制模块1、降压输出模块2传输至检测模块3,降低干扰电压对检测模块3检测时产生不好影响,提高检测模块3检测时的抗干扰能力。
可选地,电压抑制模块1,包括:
瞬态电压抑制二极管,反相端连接目标电路的一端,正相端连接降压输出模块2。
在另一些实施例中,如图5所示,电压抑制模块1包括瞬态电压抑制二极管TVS,瞬态电压抑制二极管TVS反向串联在目标电路与降压输出模块2之间,具体地,瞬态电压抑制二极管TVS的反相端连接目标电路的交流电火线端(AC-L),瞬态电压抑制二极管TVS的正相端连接降压输出模块2的输入端。其中,瞬态电压抑制二极管TVS的作用是抑制干扰电压,提高检测电路的抗干扰性,同时降低了功率,瞬态电压抑制二极管TVS的成本低,又能满足检测电路检测时的可靠性。
可选地,电压抑制模块1,包括:
稳压二极管,反相端连接目标电路的一端,正相端连接于降压输出模块2。
在一些实施例中,如图6所示,电压抑制模块1包括稳压二极管D,稳压二极管D反向串联在目标电路与降压输出模块2之间,具体地,稳压二极管D 的反相端连接目标电路的交流电火线端(AC-L),稳压二极管的正相端连接降压输出模块2的输入端。其中稳压二极管D的成本也低,相对于瞬态电压抑制二极管TVS的稳压值较低。
可选地,降压输出模块2包括:
整流二极管,正相端连接电压抑制模块1的正相端;
限流电阻,一端连接整流二极管的反相端;
第一电阻,一端连接限流电阻,另一端连接目标电路的另一端;
光耦模块,用于降压,包括:高压单元和低压单元,高压单元与第一电阻并联,低压单元,用于输出检测信号;
上拉电阻,与低压单元并联。
具体地,光耦模块OC的高压单元包括发光二极管,光耦模块OC的低压单元包括光感三极管。上拉电阻的阻值为10KΩ,其中,光耦模块OC的作用是隔离、抗干扰。
在一些实施例中,如图5所示,电压抑制模块1包括瞬态电压抑制二极管TVS,光耦模块OC包括高压单元和低压单元,高压单元包括发光二极管,低压单元包括光感三极管。发光二极管的正极依次经限流电阻R2、整流二极管 Q1连接瞬态电压抑制二极管TVS的正相端,瞬态电压抑制二极管TVS的反相端连接目标电路的交流电火线端(AC-L),发光二极管的负极连接目标电路的交流电零线端(AC-N),发光二极管的正负两极并联第一电阻R1,光感三极管的集电极经上拉电阻R3连接VCC高电平,光感三极管的集电极还连接检测模块3,光感三极管的发射极接地。
降压输出模块2的工作原理:在电压抑制模块1导通的情况下,电压抑制模块1输出的交流电经整流二极管Q1整流后得到直流电,直流电经限流电阻 R2限流后输入光耦模块OC,光耦模块OC将高电压转变为低电压,并向检测模块3输出检测信号。
以上仅为本实用新型的实施例而已,并不用于限制本实用新型。对于本领域技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的权利要求范围之内。

Claims (8)

1.一种检测电路,其特征在于,所述检测电路包括:
电压抑制模块,用于连接待检测的目标电路,并在所述目标电路的电压超过电压阈值时导通;
降压输出模块,连接于所述电压抑制模块,用于将所述目标电路的高电压转变为低电压,并输出检测信号,以便依据检测信号确定所述目标电路是否正常工作。
2.如权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述检测电路还包括:
检测模块,连接所述降压输出模块,用于接收检测信号,以便输出表征所述目标电路是否正常工作的提示信号。
3.如权利要求1或2所述的检测电路,其特征在于,所述电压抑制模块,包括:
瞬态电压抑制二极管,反相端连接所述目标电路的一端,正相端连接所述降压输出模块。
4.如权利要求1或2所述的检测电路,其特征在于,所述电压抑制模块,包括:
稳压二极管,反相端连接所述目标电路的一端,正相端连接于所述降压输出模块。
5.如权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述降压输出模块包括:
整流二极管,正相端连接所述电压抑制模块的正相端;
限流电阻,一端连接所述整流二极管的反相端;
第一电阻,一端连接所述限流电阻,另一端连接所述目标电路的另一端;
光耦模块,用于降压,包括:高压单元和低压单元,所述高压单元与所述第一电阻并联,所述低压单元,用于输出检测信号;
上拉电阻,与所述低压单元并联。
6.如权利要求5所述的检测电路,其特征在于,所述高压单元包括发光二极管,所述低压单元包括光感三极管。
7.如权利要求2所述的检测电路,其特征在于,所述检测模块包括:mcu控制器。
8.如权利要求5所述的检测电路,其特征在于,所述上拉电阻的阻值为10KΩ。
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