CN215497143U - 一种用于检验试验的分岔母线 - Google Patents
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Abstract
本实用新型用于检验试验的分岔母线，在壳体顶板上设置窗口，窗口上方设置相线导体分岔组，相线导体分岔组下端穿过窗口伸入至壳体内部并固定连接于相线导体组上，相线导体分岔组上段交错设置有导体连接结构；在母线槽壳体顶板上通过铣切去除部分材料构成窗口，通过窗口设置相线导体分岔组，相线导体分岔组上段交错设置导体连接结构，空间大，互不干扰，安装连接操作方便，无需调整位置，结构简单。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种用于检验试验的分岔母线。
背景技术
电力传输行业中的电流传输一般依靠母线槽产品实现，母线槽产品的质量直接关系到电力系统安全性能，因此母线槽产品在研发试制、定型、生产、出厂等过程中都需对母线槽进行检验试验；母线检验试验过程中需要将相线导体连接至试验设备，传统方法中通过软连接或者电缆直接连接，母线槽的相线导体端部之间空间有限，需要安置在特定位置才能连接操作，并且母线槽产品的壳体和导体原材料材质都为重金属，体积大而笨重，搬运移动、安装连接操作不方便。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是，提供一种安装连接操作方便，无需调整位置，结构简单，用于检验试验的分岔母线。
本实用新型用于检验试验的分岔母线，包括有左侧盖板和右侧盖板围成的壳体，壳体内腔安装有相线导体组，其特征在于：壳体顶板上设置有窗口，窗口上方设置有相线导体分岔组，相线导体分岔组下端穿过窗口伸入至壳体内部并固定连接于相线导体组上，相线导体分岔组上段交错设置有导体连接结构。
所述相线导体分岔组包括有数量与相线导体组的相数一致的分岔导体，每根分岔导体下端分别固定连接至相应相的相线导体上，每根分岔导体上端设置有连接平台，导体连接结构固定设置于连接平台上。
每根分岔导体下端通过焊接、铆接或者齿槽过盈配合固定连接至相应相的相线导体上。
每根分岔导体分别包括一根竖直延伸段和一根水平段，使得每根分岔导体均为倒置L形结构，每根分岔导体的水平段构成连接平台。
所述相线导体分岔组的多根分岔导体水平段两两成组对称设置，每组高度不相同。
所述相线导体组包括有A相导体、B相导体、C相导体、N相导体和PE排，其中PE排的PE分岔导体的水平段高度最低，A相导体的A相分岔导体和N相导体的N相分岔导体对称设置且高度高于PE分岔导体；C相导体的C相分岔导体和B相导体的B相分岔导体对称设置，且C相导体的C相分岔导体和B相导体的B相分岔导体高度高于A相导体的A相分岔导体和N相导体的N相分岔导体的高度。
所述A相分岔导体的水平段宽度＝B相分岔导体的水平段宽度=C相分岔导体的水平段宽度= N相分岔导体的水平段宽度＝PE分岔导体的水平段宽度。
所述导体连接结构为接线柱或者铜排连接片。
每个连接平台上分别设置有四个接线柱。
所述分岔导体和相线导体的材料为铜、铝或者铜包铝。
本实用新型用于检验试验的分岔母线，在母线槽壳体顶板上通过铣切去除部分材料构成窗口，通过窗口设置相线导体分岔组，相线导体分岔组上段交错设置导体连接结构，空间大，互不干扰，安装连接操作方便，无需调整位置，结构简单。
附图说明
图1是本实用新型实施例用于检验试验的分岔母线结构示意图；
图2是图1的俯视图；
图3是图1的C-C剖面结构示意图；
图4是本实用新型实施例用于检验试验的分岔母线截去分岔导体后结构示意图。
具体实施方式
如图所示，一种用于检验试验的分岔母线，主体结构基于常规连体侧盖板母线槽结构，首先由左侧盖板1和右侧盖板2围成壳体，左侧盖板1和右侧盖板2为完全相同的结构互相旋转180°后插接配合组成壳体整体结构，在壳体内腔安装相线导体组3；本实用新型关键技术方案是在壳体的顶板上设置一窗口4，在窗口4的上方设置相线导体分岔组，相线导体分岔组的下端穿过窗口4后伸入至壳体内部并固定连接于相线导体组3上，在相线导体分岔组上段交错设置导体连接结构9，空间大，互不干扰，安装连接操作方便，无需调整位置，结构简单。
进一步地，相线导体分岔组包括数量与相线导体组的相数一致的分岔导体，将每根分岔导体的下端分别固定连接至相应相的相线导体上，在每根分岔导体上端分别设置一连接平台，每个导体连接结构固定设置于连接平台上，连接平台相邻之间间隔一定距离，为导体连接结构提供安置空间，和检验试验线路安装连接操作空间。
每根分岔导体的下端通过焊接、铆接或者齿槽过盈配合等连接方式固定连接至相应相的相线导体上，无需特殊工艺，工艺简单。
进一步地，每根分岔导体分别由一根竖直延伸段和一根水平段构成，使得每根分岔导体均为倒置L形结构，每根分岔导体的水平段构成连接平台；即只通过一道折弯成型工序即可完成分岔导体生产工艺，结构简单，生产制造工艺简化。
将相线导体分岔组的多根分岔导体水平段两两成组对称设置，每组高度不相同，实现了连接平台相邻之间间隔一定距离，导体连接结构交错设置，为导体连接结构提供安置空间，和检验试验线路安装连接操作空间。
具体地，相线导体组包括有A相导体8、B相导体7、C相导体6、N相导体5和PE排10，其中PE排的PE分岔导体101的水平段高度最低，A相导体8的A相分岔导体81和N相导体5的N相分岔导体51对称设置且高度高于PE分岔导体101；C相导体6的C相分岔导体61和B相导体7的B相分岔导体71对称设置，且C相导体的C相分岔导体和B相导体的B相分岔导体高度高于A相导体的A相分岔导体和N相导体的N相分岔导体的高度。
A相分岔导体的水平段宽度＝B相分岔导体的水平段宽度=C相分岔导体的水平段宽度= D相分岔导体的水平段宽度＝PE分岔导体的水平段宽度,生产制造工艺参数统一，同时母线槽成品具有一定参差视觉效果，外形美观。
导体连接结构可以选择接线柱或者铜排连接片。
可以在每个连接平台上分别设置四个接线柱，安装连接稳定可靠。
分岔导体和相线导体的材料为铜、铝或者铜包铝，能够适用于各种于配电网、高层建筑、公共设施等低压输配电场所，确保系统运行稳定、安全可靠，且能提高市场竞争力。
本实用新型用于检验试验的分岔母线，在母线槽壳体顶板上通过铣切去除部分材料构成窗口，通过窗口设置相线导体分岔组，相线导体分岔组上段交错设置导体连接结构，空间大，互不干扰，安装连接操作方便，无需调整位置，结构简单。
Claims (10)
1.一种用于检验试验的分岔母线，包括有左侧盖板和右侧盖板围成的壳体，壳体内腔安装有相线导体组，其特征在于：壳体顶板上设置有窗口，窗口上方设置有相线导体分岔组，相线导体分岔组下端穿过窗口伸入至壳体内部并固定连接于相线导体组上，相线导体分岔组上段交错设置有导体连接结构。
2.根据权利要求1所述用于检验试验的分岔母线，其特征在于：所述相线导体分岔组包括有数量与相线导体组的相数一致的分岔导体，每根分岔导体下端分别固定连接至相应相的相线导体上，每根分岔导体上端设置有连接平台，导体连接结构固定设置于连接平台上。
3.根据权利要求2所述用于检验试验的分岔母线，其特征在于：每根分岔导体下端通过焊接、铆接或者齿槽过盈配合固定连接至相应相的相线导体上。
4.根据权利要求3所述用于检验试验的分岔母线，其特征在于：每根分岔导体分别包括一根竖直延伸段和一根水平段，使得每根分岔导体均为倒置L形结构，每根分岔导体的水平段构成连接平台。
5.根据权利要求4所述用于检验试验的分岔母线，其特征在于：所述相线导体分岔组的多根分岔导体水平段两两成组对称设置，每组高度不相同。
6.根据权利要求5所述用于检验试验的分岔母线，其特征在于：所述相线导体组包括有A相导体、B相导体、C相导体、N相导体和PE排，其中PE排的PE分岔导体的水平段高度最低，A相导体的A相分岔导体和B相导体的B相分岔导体对称设置且高度高于PE分岔导体；C相导体的C相分岔导体和N相导体的N相分岔导体对称设置，且C相导体的C相分岔导体和N相导体的N相分岔导体高度高于A相导体的A相分岔导体和B相导体的B相分岔导体的高度。
7.根据权利要求6所述用于检验试验的分岔母线，其特征在于：所述A相分岔导体的水平段宽度＝B相分岔导体的水平段宽度=C相分岔导体的水平段宽度= D相分岔导体的水平段宽度＝PE分岔导体的水平段宽度。
8.根据权利要求1所述用于检验试验的分岔母线，其特征在于：所述导体连接结构为接线柱或者铜排连接片。
9.根据权利要求8所述用于检验试验的分岔母线，其特征在于：每个连接平台上分别设置有四个接线柱。
10.根据权利要求2所述用于检验试验的分岔母线，其特征在于：所述分岔导体和相线导体的材料为铜、铝或者铜包铝。
Priority Applications (1)
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2021
- 2021-07-13 CN CN202121593615.1U patent/CN215497143U/zh active Active
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